本發(fā)明涉及電磁兼容性測試技術領域，尤其涉及一種大電流注入法測試裝置。

背景技術：

電池管理系統(tǒng)(Battery Management System，BMS)主要包括主機、CAN盒模塊、絕緣模塊、安全模塊、GPRS模塊以及均衡采集模塊。其中，在主機和其它各模塊中，電源濾波部分、變壓器、晶振、接插件、機殼內部及外部接地對輻射抗擾度的影響比較大。

現(xiàn)有的用于電磁兼容性(Electro Magnetic Compatibility，EMC)測試的方法為大電流注入(Bulk Current Injection，BCI)法。其中，大電流注入法通常包括替代法、閉環(huán)法、綜合法及TWC法。比較常用的是替代法及TWC法。BCI常用的測試設備包括：信號發(fā)生器、功放、功率探頭、耦合鉗、耦合器、夾具、監(jiān)視鉗、衰減器、人工電源網(wǎng)絡及線束等。

然而，現(xiàn)有的BCI測試方法僅僅是注重每個模塊部件的測試，且在不同的測試地點，不同的測試環(huán)境及不同的測試條件下會導致個別測試數(shù)據(jù)有比較大的明顯的差異，同時還要經(jīng)過多次反復測試，浪費測試時間和精力，進一步地，還不能確保電池管理系統(tǒng)的EMC測試順利通過。

鑒于此，實有必要提供一種新的大電流注入法測試裝置以克服上述缺陷。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種能夠減少測試時間與精力的大電流注入法測試裝置。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種大電流注入法測試裝置，其設置于屏蔽室中，所述屏蔽室內設置有試驗臺；所述大電流注入法測試裝置包括絕緣板、注入鉗、兩個人工網(wǎng)絡、負載、待測產(chǎn)品、RF信號發(fā)生器以及電源；所述絕緣板設置于所述試驗臺上；所述注入鉗設置于所述絕緣板上；所述注入鉗的一端分別與所述兩個人工網(wǎng)絡以及所述負載相連且另一端與所述待測產(chǎn)品相連；所述注入鉗還與所述RF信號發(fā)生器相連；所述兩個人工網(wǎng)絡還分別與所述電源的正極與負極相連；當需要測試所述待測產(chǎn)品對400MHz以上頻率范圍的抗電磁騷擾能力時，采用TWC法進行測試；當需要測試所述待測產(chǎn)品對400MHz以下頻率范圍的抗電磁騷擾能力時，采用替代法進行測試。

本發(fā)明提供的新的大電流注入法測試裝置，通過對所述待測產(chǎn)品的抗電磁騷擾能力進行判斷，并依據(jù)不同的頻率范圍采用不同的測試方法，對電池管理系統(tǒng)的每個模塊根據(jù)實際情況進行分別測試，進而使得所述電池管理系統(tǒng)的EMC測試能夠順利通過，從而減少了測試時間和精力。

【附圖說明】

圖1為本發(fā)明提供的大電流注入法測試裝置的示意圖。

【具體實施方式】

為了使本發(fā)明的目的、技術方案和有益技術效果更加清晰明白，以下結合附圖和具體實施方式，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應當理解的是，本說明書中描述的具體實施方式僅僅是為了解釋本發(fā)明，并不是為了限定本發(fā)明。

請參閱圖1，其為本發(fā)明提供的大電流注入法測試裝置100的示意圖。所述大電流注入法測試裝置100設置于屏蔽室200中。進一步地，所述屏蔽室200內設置有試驗臺210，所述大電流注入法測試裝置100設置于所述試驗臺210上?？梢岳斫猓谄渌麑嵤┓绞街?，所述屏蔽室200還可以用暗室替代。

所述大電流注入法測試裝置100包括絕緣板10、注入鉗20、兩個人工網(wǎng)絡30、負載40、待測產(chǎn)品(DUT)50、RF信號發(fā)生器60以及電源70。具體地，所述絕緣板10設置于所述試驗臺210上。所述注入鉗20設置于所述絕緣板10上。所述注入鉗20的一端分別與所述兩個人工網(wǎng)絡30以及所述負載40相連；所述注入鉗20的另一端與所述待測產(chǎn)品50相連；進一步地，所述注入鉗20還與所述RF信號發(fā)生器60相連。所述兩個人工網(wǎng)絡30還分別與所述電源70的正極與負極相連。在本實施方式中，所述絕緣板10、所述注入鉗20、所述兩個人工網(wǎng)絡30、所述負載40及所述待測產(chǎn)品50均設置于所述試驗臺210上。

進一步地，所述待測產(chǎn)品50與所述試驗臺210下邊沿的距離為190mm～210mm且與所述屏蔽室200上邊沿的側吸波材料的距離大于1000mm。

進一步地，所述負載40的線束的長度小于2000mm。在本實施方式中，所述負載40的線束的長度為1425mm～1575mm。

進一步地，所述注入鉗20與所述待測產(chǎn)品50的距離為450mm。

上述大電流注入法測試裝置100通過調整所述待測產(chǎn)品50與所述試驗臺210下邊沿的距離、所述負載40的線束的長度以及所述注入鉗20與所述待測產(chǎn)品50的距離，使得所述大電流注入法測試裝置100能夠對電池管理系統(tǒng)的每個模塊進行測試且無需多次測試即可確保所述電池管理系統(tǒng)的EMC順利通過測試。

進一步地，大電流注入法的測試時間大于0.5小時，在本實施方式中，所述大電流注入法的測試時間的為1小時。

當需要測試所述待測產(chǎn)品50對400MHz以上頻率范圍的抗電磁騷擾能力時，特別是頻率高達1GHz以上的范圍，例如，用到3G、GSM、UMTS、ISM等信號的產(chǎn)品和部件，使用TWC法進行測試。在本實施方式中，所述TWC方法的典型應用范圍是：400MHz～3GHz，由于TWC呈電容特性，使其在高頻部分擁有良好的響應，TWC注入法是模擬較高頻率射頻信號耦合到所述待測產(chǎn)品50的線束上。進一步地，由于頻率為3GHz的波長為10cm，在實際測試中，所述TWC測試方法適用于長度小于10cm或者已有完全屏蔽外殼的所述待測產(chǎn)品50。

當需要測試所述待測產(chǎn)品50對400MHz以下頻率范圍的抗電磁騷擾能力時，采用替代法進行測試。

本發(fā)明所提供的大電流注入法測試裝置100，通過對所述待測產(chǎn)品50的抗電磁騷擾能力進行判斷，并依據(jù)不同的頻率范圍采用不同的測試方法，對電池管理系統(tǒng)的每個模塊根據(jù)實際情況進行分別測試，進而使得所述電池管理系統(tǒng)的EMC測試能夠順利通過，從而減少了測試時間和精力。

本發(fā)明并不僅僅限于說明書和實施方式中所描述，因此對于熟悉領域的人員而言可容易地實現(xiàn)另外的優(yōu)點和修改，故在不背離權利要求及等同范圍所限定的一般概念的精神和范圍的情況下，本發(fā)明并不限于特定的細節(jié)、代表性的設備和這里示出與描述的圖示示例。