本公開涉及移動(dòng)終端技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種用于檢測(cè)終端設(shè)備的金屬結(jié)構(gòu)件不良品的檢測(cè)裝置及方法。

背景技術(shù)：

終端設(shè)備中包括多種金屬結(jié)構(gòu)件。比如，金屬中框，金屬背殼等等。

在實(shí)際生產(chǎn)中，生產(chǎn)廠商需要對(duì)金屬結(jié)構(gòu)件進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)，以篩選掉金屬結(jié)構(gòu)件中的不良品。其中，不良品是指質(zhì)量未達(dá)到設(shè)計(jì)要求的產(chǎn)品。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本公開實(shí)施例提供了一種用于檢測(cè)終端設(shè)備的金屬結(jié)構(gòu)件不良品的檢測(cè)裝置及方法，所述技術(shù)方案如下：

根據(jù)本公開實(shí)施例的第一方面，提供了一種用于檢測(cè)終端設(shè)備的金屬結(jié)構(gòu)件不良品的檢測(cè)裝置，所述裝置包括：

同軸接頭、第一金屬探針和第二金屬探針；

所述同軸接頭包括內(nèi)芯和外壁；

所述同軸接頭的內(nèi)芯通過(guò)第一延長(zhǎng)線與所述第一金屬探針電性連接；

所述同軸接頭的外壁通過(guò)第二延長(zhǎng)線與所述第二金屬探針電性連接。

可選地，在檢測(cè)過(guò)程中，所述第一金屬探針和所述第二金屬探針?lè)謩e與被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件接觸。

可選地，當(dāng)所述被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件為金屬中框時(shí)，所述第一金屬探針在順時(shí)針?lè)较蛏涎厮鼋饘僦锌虻牡谝徊糠峙c所述第二金屬探針電性連接，所述第一金屬探針在逆時(shí)針?lè)较蛏涎厮鼋饘僦锌虻牡诙糠峙c所述第二金屬探針電性連接；

所述同軸接頭的內(nèi)芯、所述第一延長(zhǎng)線、所述第一金屬探針、所述金屬中框的第一部分、所述第二金屬探針、所述第二延長(zhǎng)線和所述同軸接頭的外壁順次連接形成第一環(huán)形天線；

所述同軸接頭的內(nèi)芯、所述第一延長(zhǎng)線、所述第一金屬探針、所述金屬中框的第二部分、所述第二金屬探針、所述第二延長(zhǎng)線和所述同軸接頭的外壁順次連接形成第二環(huán)形天線。

可選地，所述裝置還包括：支架和設(shè)置于所述支架上的卡件組件；

所述卡件組件用于固定被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件；

所述支架上形成至少兩個(gè)固定孔，每一個(gè)金屬探針固定于一個(gè)固定孔中。

可選地，每一個(gè)固定孔中設(shè)置有橡膠圈，所述金屬探針穿過(guò)所述橡膠圈固定于所述固定孔中。

可選地，所述支架包括：底座以及形成于所述底座之上的第一固定板和第二固定板；

所述第一固定板和所述第二固定板相對(duì)設(shè)置；

所述卡件組件與所述第一固定板和所述第二固定板之間活動(dòng)連接。

可選地，所述卡件組件包括：4個(gè)卡件和4個(gè)固定件；

所述第一固定板上形成有第一滑槽，第一卡件的連接部從所述第一固定板與所述第二固定板相對(duì)的一面經(jīng)所述第一滑槽穿過(guò)所述第一固定板與第一固定件連接，第二卡件的連接部從所述第一固定板與所述第二固定板相對(duì)的一面經(jīng)所述第一滑槽穿過(guò)所述第一固定板與第二固定件連接；

所述第二固定板上形成有第二滑槽，第三卡件的連接部從所述第二固定板與所述第一固定板相對(duì)的一面經(jīng)所述第二滑槽穿過(guò)所述第二固定板與第三固定件連接，第四卡件的連接部從所述第二固定板與所述第一固定板相對(duì)的一面經(jīng)所述第二滑槽穿過(guò)所述第二固定板與第四固定件連接。

可選地，所述支架還包括：形成于所述底座之上的凸臺(tái)，所述凸臺(tái)用于放置所述被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件。

可選地，所述支架和所述卡件組件均由低介電常數(shù)材料制成。

根據(jù)本公開實(shí)施例的第二方面，提供了一種用于檢測(cè)終端設(shè)備的金屬結(jié)構(gòu)件不良品的檢測(cè)方法，所述方法應(yīng)用于與如第一方面所述的檢測(cè)裝置相連的檢測(cè)設(shè)備中，所述檢測(cè)裝置的同軸接頭與所述檢測(cè)設(shè)備相連，所述方法包括：

獲取被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)；

將所述被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)與金屬結(jié)構(gòu)件樣品對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)進(jìn)行比對(duì)；

根據(jù)比對(duì)結(jié)果確定所述被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件是否為不良品。

本公開實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果：

通過(guò)將同軸接頭的內(nèi)芯延展形成第一延長(zhǎng)線并與第一金屬探針相連，將同軸接頭的外壁延展形成第二延長(zhǎng)線并與第二金屬探針相連，使得在檢測(cè)過(guò)程中該檢測(cè)裝置能夠與被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件接觸形成環(huán)形天線；解決了相關(guān)技術(shù)中檢測(cè)裝置的設(shè)計(jì)難度較高，且一個(gè)檢測(cè)裝置無(wú)法適用于不同金屬結(jié)構(gòu)件中不良品的檢測(cè)的問(wèn)題。由于相較于單極子天線，環(huán)形天線的穩(wěn)定諧振波形更易被獲取到，對(duì)天線的長(zhǎng)度要求較低，因此降低了檢測(cè)裝置的設(shè)計(jì)難度。并且，針對(duì)不同的金屬結(jié)構(gòu)件，使用同一個(gè)檢測(cè)裝置與不同的金屬結(jié)構(gòu)件所形成的不同環(huán)形天線，均可獲取到較為穩(wěn)定的諧振波形，因此一個(gè)檢測(cè)裝置能夠適用于不同金屬結(jié)構(gòu)件中不良品的檢測(cè)。

應(yīng)當(dāng)理解的是，以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的，并不能限制本公開。

附圖說(shuō)明

此處的附圖被并入說(shuō)明書中并構(gòu)成本說(shuō)明書的一部分，示出了符合本公開的實(shí)施例，并與說(shuō)明書一起用于解釋本公開的原理。

圖1是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種用于檢測(cè)終端設(shè)備的金屬結(jié)構(gòu)件不良品的檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是根據(jù)另一示例性實(shí)施例示出的一種用于檢測(cè)終端設(shè)備的金屬結(jié)構(gòu)件不良品的檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種諧振波形的示意圖；

圖4是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種用于檢測(cè)終端設(shè)備的金屬結(jié)構(gòu)件不良品的檢測(cè)方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

這里將詳細(xì)地對(duì)示例性實(shí)施例進(jìn)行說(shuō)明，其示例表示在附圖中。下面的描述涉及附圖時(shí)，除非另有表示，不同附圖中的相同數(shù)字表示相同或相似的要素。以下示例性實(shí)施例中所描述的實(shí)施方式并不代表與本公開相一致的所有實(shí)施方式。相反，它們僅是與如所附權(quán)利要求書中所詳述的、本公開的一些方面相一致的裝置和方法的例子。

金屬中框也稱為金屬邊框，是位于終端設(shè)備側(cè)邊的一圈金屬。以檢測(cè)金屬中框的不良品為例，在相關(guān)技術(shù)中提供了如下檢測(cè)方式：設(shè)計(jì)用于檢測(cè)金屬中框中不良品的檢測(cè)裝置，該裝置能夠與被檢測(cè)的金屬中框形成單極子天線，采用獲取單極子天線的諧振頻點(diǎn)的方式來(lái)檢測(cè)金屬中框中的不良品。為了獲取單極子天線的諧振頻點(diǎn)，需要獲取單極子天線穩(wěn)定的諧振波形，通過(guò)設(shè)計(jì)長(zhǎng)度適宜的單極子天線，能夠獲取到較為穩(wěn)定的諧振波形。上述相關(guān)技術(shù)提供的檢測(cè)方式對(duì)單極子天線的長(zhǎng)度要求較高，導(dǎo)致檢測(cè)裝置的設(shè)計(jì)難度較高。并且，針對(duì)不同的金屬結(jié)構(gòu)件(例如金屬中框和金屬背殼，或者兩種不同樣式的金屬中框等等)，為了能夠獲取到較為穩(wěn)定的諧振波形，需要對(duì)應(yīng)設(shè)計(jì)專用的檢測(cè)裝置以配合金屬結(jié)構(gòu)件形成長(zhǎng)度適宜的單極子天線，導(dǎo)致一個(gè)檢測(cè)裝置無(wú)法適用于不同金屬結(jié)構(gòu)件中不良品的檢測(cè)。

基于此，本公開實(shí)施例提供了一種用于檢測(cè)終端設(shè)備的金屬結(jié)構(gòu)件不良品的檢測(cè)裝置及方法。本公開實(shí)施例提供的技術(shù)方案，其核心思想是設(shè)計(jì)用于檢測(cè)金屬結(jié)構(gòu)件的不良品的檢測(cè)裝置，該裝置能夠與被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件形成環(huán)形天線，由于相較于單極子天線，環(huán)形天線的穩(wěn)定諧振波形更易被獲取到，對(duì)天線的長(zhǎng)度要求較低，因此降低了檢測(cè)裝置的設(shè)計(jì)難度。并且，針對(duì)不同的金屬結(jié)構(gòu)件，使用同一個(gè)檢測(cè)裝置與不同的金屬結(jié)構(gòu)件所形成的不同環(huán)形天線，均可獲取到較為穩(wěn)定的諧振波形，因此一個(gè)檢測(cè)裝置能夠適用于不同金屬結(jié)構(gòu)件中不良品的檢測(cè)。

圖1是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種用于檢測(cè)終端設(shè)備的金屬結(jié)構(gòu)件不良品的檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，該檢測(cè)裝置10可以包括：同軸接頭11、第一金屬探針12和第二金屬探針13。

同軸接頭11包括內(nèi)芯111和外壁112。同軸接頭11的內(nèi)芯111與外壁112之間不存在電性連接，比如同軸接頭11的內(nèi)芯111與外壁112之間通過(guò)絕緣材料隔離開來(lái)?？蛇x地，同軸接頭11為SMA(Sub Miniature A)接頭。

同軸接頭11的內(nèi)芯111通過(guò)第一延長(zhǎng)線14與第一金屬探針12電性連接?？蛇x地，第一延長(zhǎng)線14的一端與同軸接頭11的內(nèi)芯111焊接，第一延長(zhǎng)線14的另一端與第一金屬探針12焊接。

第一延長(zhǎng)線14包括導(dǎo)線和用于包裹導(dǎo)線的絕緣層。導(dǎo)線用于實(shí)現(xiàn)電性連接，導(dǎo)線采用具備導(dǎo)電性能的材料制成。可選地，導(dǎo)線采用金屬材料制成，比如，導(dǎo)線采用銅制成。絕緣層用于保護(hù)導(dǎo)線，還用于將導(dǎo)線與外界屏蔽。絕緣層采用不具備導(dǎo)電性能的材料制成，比如，絕緣層采用樹脂、橡膠或塑料制成?？蛇x地，第一金屬探針12采用導(dǎo)電性能良好的金屬材料制成，比如，上述導(dǎo)電性能良好的金屬材料為銅。

同軸接頭11的外壁112通過(guò)第二延長(zhǎng)線15與第二金屬探針13電性連接?？蛇x地，第二延長(zhǎng)線15的一端與同軸接頭11的外壁112焊接，第二延長(zhǎng)線15的另一端與第二金屬探針13焊接。

第二延長(zhǎng)線14與第一延長(zhǎng)線14相同或類似，第二金屬探針13與第一金屬探針12相類似，參見上文介紹說(shuō)明，此處不再贅述。

在檢測(cè)過(guò)程中，第一金屬探針12和第二金屬探針13分別與被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件接觸。這樣，同軸接頭11的內(nèi)芯111通過(guò)第一延長(zhǎng)線14和第一金屬探針12與被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件之間形成電性連接，同軸接頭11的外壁112通過(guò)第二延長(zhǎng)線15和第二金屬探針13與被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件之間形成電性連接。被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件可以是終端設(shè)備中的金屬結(jié)構(gòu)件，比如金屬中框，金屬背殼等，本公開實(shí)施例對(duì)此不作限定。

在檢測(cè)過(guò)程中，同軸接頭11的內(nèi)芯111、第一延長(zhǎng)線14、第一金屬探針12、被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件、第二金屬探針13、第二延長(zhǎng)線15、同軸接頭11的外壁112順次連接形成環(huán)形天線。同軸接頭11的外壁112相當(dāng)于環(huán)形天線的回地點(diǎn)，同軸接頭11的內(nèi)芯111相當(dāng)于環(huán)形天線的信號(hào)點(diǎn)。通過(guò)將同軸接頭11與檢測(cè)設(shè)備連接，即可通過(guò)該檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)環(huán)形天線的諧振波形。例如，該檢測(cè)設(shè)備可以是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。

當(dāng)被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件為金屬中框時(shí)，第一金屬探針12在順時(shí)針?lè)较蛏涎亟饘僦锌虻牡谝徊糠峙c第二金屬探針13電性連接，第一金屬探針12在逆時(shí)針?lè)较蛏涎亟饘僦锌虻牡诙糠峙c第二金屬探針13電性連接。同軸接頭11的內(nèi)芯111、第一延長(zhǎng)線14、第一金屬探針12、金屬中框的第一部分、第二金屬探針13、第二延長(zhǎng)線15和同軸接頭11的外壁112順次連接形成第一環(huán)形天線。同軸接頭11的內(nèi)芯111、第一延長(zhǎng)線14、第一金屬探針12、金屬中框的第二部分、第二金屬探針13、第二延長(zhǎng)線15和同軸接頭11的外壁112順次連接形成第二環(huán)形天線。在檢測(cè)過(guò)程中，將同軸接頭11與檢測(cè)設(shè)備連接，檢測(cè)設(shè)備能夠檢測(cè)第一環(huán)形天線的諧振波形和第二環(huán)形天線的諧振波形。

當(dāng)被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件為金屬背殼時(shí)，同軸接頭11的內(nèi)芯111、第一延長(zhǎng)線14、第一金屬探針12、金屬背殼、第二金屬探針13、第二延長(zhǎng)線15、同軸接頭11的外壁112順次連接形成環(huán)形天線。在檢測(cè)過(guò)程中，將同軸接頭11與檢測(cè)設(shè)備連接，檢測(cè)設(shè)備能夠檢測(cè)該環(huán)形天線的諧振波形。

綜上所述，本公開實(shí)施例提供的檢測(cè)裝置，通過(guò)將同軸接頭的內(nèi)芯延展形成第一延長(zhǎng)線并與第一金屬探針相連，將同軸接頭的外壁延展形成第二延長(zhǎng)線并與第二金屬探針相連，使得在檢測(cè)過(guò)程中該檢測(cè)裝置能夠與被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件接觸形成環(huán)形天線；解決了相關(guān)技術(shù)中檢測(cè)裝置的設(shè)計(jì)難度較高，且一個(gè)檢測(cè)裝置無(wú)法適用于不同金屬結(jié)構(gòu)件中不良品的檢測(cè)的問(wèn)題。由于相較于單極子天線，環(huán)形天線的穩(wěn)定諧振波形更易被獲取到，對(duì)天線的長(zhǎng)度要求較低，因此降低了檢測(cè)裝置的設(shè)計(jì)難度。并且，針對(duì)不同的金屬結(jié)構(gòu)件，使用同一個(gè)檢測(cè)裝置與不同的金屬結(jié)構(gòu)件所形成的不同環(huán)形天線，均可獲取到較為穩(wěn)定的諧振波形，因此一個(gè)檢測(cè)裝置能夠適用于不同金屬結(jié)構(gòu)件中不良品的檢測(cè)。

在基于圖1所示實(shí)施例提供的一個(gè)可選實(shí)施例中，如圖2所示，該檢測(cè)裝置10還包括：支架16和設(shè)置于支架16上的卡件組件17。

卡件組件17用于固定被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件。

支架16上形成至少兩個(gè)固定孔161，每一個(gè)金屬探針(例如第一金屬探針12、第二金屬探針13)固定于一個(gè)固定孔161中。在檢測(cè)過(guò)程中，金屬探針插入固定孔161，金屬探針的頭部穿過(guò)固定孔161與被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件接觸。

可選地，每一個(gè)固定孔161中設(shè)置有橡膠圈162，固定孔161的內(nèi)側(cè)壁和橡膠圈162的外側(cè)壁貼合，金屬探針穿過(guò)橡膠圈162固定于固定孔161中。橡膠圈162用于固定金屬探針，由于橡膠圈162具備彈性，當(dāng)金屬探針穿過(guò)橡膠圈162時(shí)，金屬探針會(huì)在彈力作用下固定在橡膠圈162中，不易發(fā)生移動(dòng)。

可選地，如圖2所示，支架16包括底座163以及形成于底座163之上的第一固定板164和第二固定板165。支架16的底座163可放置在臺(tái)面上。第一固定板164和第二固定板165相對(duì)設(shè)置。

在一種可能的實(shí)現(xiàn)形式中，第一固定板164與第二固定板165之間的距離不可調(diào)，也即第一固定板164和第二固定板165分別與底座163固定連接。在另一種的可能的實(shí)現(xiàn)形式中，第一固定板164與第二固定板165之間的距離可調(diào)，也即第一固定板164和第二固定板165分別與底座163活動(dòng)連接。通過(guò)上述第二種方式，能夠更好地適應(yīng)不同尺寸的金屬結(jié)構(gòu)件的檢測(cè)需求。

可選地，如圖2所示，第一固定板164上形成有第一固定孔，第二固定板165上形成有第二固定孔。第一固定孔在第一固定板164上的位置與第二固定孔在第二固定板165上的位置相同。在檢測(cè)過(guò)程中，第一金屬探針12插入第一固定孔，第一金屬探針12的頭部穿過(guò)第一固定孔與被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件接觸；第二金屬探針13插入第二固定孔，第二金屬探針13的頭部穿過(guò)第二固定孔與被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件接觸。

卡件組件17與第一固定板164和第二固定板165之間活動(dòng)連接。通過(guò)上述方式，一方面能夠使得卡件組件17更為牢固地固定被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件，另一方面能夠便于調(diào)整金屬探針與被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件之間的接觸位置。

在一種可能的實(shí)現(xiàn)形式中，如圖2所示，卡件組件17包括4個(gè)卡件171和4個(gè)固定件172?？?71用于固定被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件，固定件172用于將卡件171固定在支架16上。卡件171和固定件172之間采用可拆卸的方式連接，例如該可拆卸的方式為螺紋、卡扣等。示例性地，如圖2所示，每個(gè)卡件171包括擋板和形成于擋板側(cè)面的連接部，連接部可以是一個(gè)圓柱型把手，連接部的外表面形成有外螺紋。相應(yīng)地，固定件172是與連接部的外表面形成的外螺紋相適配的螺母。第一固定板164上形成有第一滑槽，第一卡件的連接部從第一固定板164與第二固定板165相對(duì)的一面經(jīng)第一滑槽穿過(guò)第一固定板164與第一固定件連接，第二卡件的連接部從第一固定板164與第二固定板165相對(duì)的一面經(jīng)第一滑槽穿過(guò)第一固定板164與第二固定件連接。第二固定板165上形成有第二滑槽，第三卡件的連接部從第二固定板165與第一固定板164相對(duì)的一面經(jīng)第二滑槽穿過(guò)第二固定板165與第三固定件連接，第四卡件的連接部從第二固定板165與第一固定板164相對(duì)的一面經(jīng)第二滑槽穿過(guò)第二固定板165與第四固定件連接。

在另一種可能的實(shí)現(xiàn)形式中，卡件組件包括2個(gè)卡件和4個(gè)固定件(圖中未示出)?？蛇x地，每個(gè)卡件包括擋板和分別形成于擋板兩個(gè)側(cè)面的兩個(gè)連接部。第一固定板上形成有第一滑槽，第二固定板上形成有第二滑槽。第一卡件的一個(gè)連接部從第一固定板與第二固定板相對(duì)的一面經(jīng)第一滑槽穿過(guò)第一固定板與第一固定件連接，第一卡件的另一個(gè)連接部從第二固定板與第一固定板相對(duì)的一面經(jīng)第二滑槽穿過(guò)第二固定板與第二固定件連接。第二卡件的一個(gè)連接部從第一固定板與第二固定板相對(duì)的一面經(jīng)第一滑槽穿過(guò)第一固定板與第三固定件連接，第二卡件的另一個(gè)連接部從第二固定板與第一固定板相對(duì)的一面經(jīng)第二滑槽穿過(guò)第二固定板與第四固定件連接。

可選地，如圖2所示，支架16還包括形成于底座163之上的凸臺(tái)166，凸臺(tái)166用于放置被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件。在一種可能的實(shí)現(xiàn)形式中，支架16包括兩個(gè)凸臺(tái)(第一凸臺(tái)和第二凸臺(tái))。第一凸臺(tái)貼合于第一固定板164與第二固定板165相對(duì)的一面，第二凸臺(tái)貼合于第二固定板165與第一固定板164相對(duì)的一面。在另一種可能的實(shí)現(xiàn)形式中，支架16包括一個(gè)凸臺(tái)，該凸臺(tái)被設(shè)置于第一固定板164與第二固定板165之間的位置。需要說(shuō)明的是，凸臺(tái)166的高度應(yīng)當(dāng)小于固定孔161的最低點(diǎn)與底座163之間的垂直距離，以使得金屬探針穿過(guò)固定孔161之后能夠觸碰到放置在凸臺(tái)上的金屬結(jié)構(gòu)件。

可選地，支架16和卡件組件17均由低介電常數(shù)材料制成，避免在檢測(cè)環(huán)形天線的諧振波形時(shí)支架16和卡件組件17對(duì)檢測(cè)產(chǎn)生干擾。比如，低介電常數(shù)材料為聚四氟乙烯。

綜上所述，本公開實(shí)施例提供的檢測(cè)裝置，還通過(guò)在支架上開設(shè)固定孔用于固定金屬探針，并由卡件組件固定被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件，使得在檢測(cè)過(guò)程中金屬探針與金屬結(jié)構(gòu)件之間的穩(wěn)定接觸，有助于得到穩(wěn)定的諧振波形，使得該檢測(cè)裝置具有較高的可靠性和穩(wěn)定性。

另外，還通過(guò)將卡件組件與支架活動(dòng)連接，一方面能夠使得卡件組件更為牢固地固定被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件，且適應(yīng)多種尺寸的金屬結(jié)構(gòu)件的檢測(cè)需求，具有較高兼容性，另一方面能夠便于調(diào)整金屬探針與被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件之間的接觸位置。

另外，本公開實(shí)施例提供的檢測(cè)裝置具有可擴(kuò)展性，通過(guò)增加同軸接頭、延長(zhǎng)線以及金屬探針的數(shù)量，可適應(yīng)不同的檢測(cè)需求，用于檢測(cè)不同種類的金屬結(jié)構(gòu)件中的不良品。

下面，以利用本公開實(shí)施例提供的檢測(cè)裝置，對(duì)終端設(shè)備的金屬結(jié)構(gòu)件(以金屬中框?yàn)槔?中的不良品進(jìn)行檢測(cè)的操作步驟進(jìn)行介紹說(shuō)明。

1、選定金屬中框樣品，金屬中框樣品是指確定為良品的金屬中框；

2、將金屬中框樣品放置在支架上，并由卡件組件對(duì)金屬中框樣品進(jìn)行固定；

3、按照?qǐng)D2所示進(jìn)行接線，將同軸接頭連接在檢測(cè)設(shè)備(如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀)上，將金屬探針固定在橡膠圈中并與金屬中框樣品接觸；

4、卡件配合固定件調(diào)整金屬中框樣品的位置，直至檢測(cè)設(shè)備上出現(xiàn)兩個(gè)穩(wěn)定且易于辨識(shí)的諧振波形，在檢測(cè)設(shè)備上存儲(chǔ)該諧振波形；

5、取下金屬中框樣品，換上被檢測(cè)的金屬中框，該被檢測(cè)的金屬中框的擺放位置與金屬中框樣品的擺放位置相同，檢測(cè)設(shè)備上同樣會(huì)出現(xiàn)兩個(gè)諧振波形；

6、比對(duì)金屬中框樣品對(duì)應(yīng)的諧振波形與被檢測(cè)的金屬中框?qū)?yīng)的諧振波形，并根據(jù)比對(duì)結(jié)果確定被檢測(cè)的金屬中框是否為不良品。

結(jié)合參考圖3，其示例性示出了金屬中框樣品對(duì)應(yīng)的諧振波形31和被檢測(cè)的金屬中框?qū)?yīng)的諧振波形32的示意圖。本公開實(shí)施例提供的檢測(cè)裝置在檢測(cè)金屬中框的不良品時(shí)的檢測(cè)原理為：當(dāng)兩個(gè)金屬探針與金屬中框相接觸時(shí)，形成兩個(gè)路徑長(zhǎng)度不同的環(huán)形天線，這兩個(gè)環(huán)形天線會(huì)在檢測(cè)設(shè)備上產(chǎn)生兩個(gè)諧振波形。當(dāng)被檢測(cè)的金屬中框?yàn)榱计窌r(shí)，被檢測(cè)的金屬中框?qū)?yīng)的諧振波形應(yīng)當(dāng)與金屬中框樣品對(duì)應(yīng)的諧振波形相一致或基本相同；當(dāng)被檢測(cè)的金屬中框?yàn)椴涣计窌r(shí)，被檢測(cè)的金屬中框?qū)?yīng)的諧振波形與金屬中框樣品對(duì)應(yīng)的諧振波形存在較大差別。因此，通過(guò)比對(duì)被檢測(cè)的金屬中框?qū)?yīng)的諧振波形與金屬中框樣品對(duì)應(yīng)的諧振波形，即可確定被檢測(cè)的金屬中框是否為不良品。

另外，金屬中框中的不良品可能存在如下質(zhì)量問(wèn)題：有裂縫、金屬中框的開縫位置或?qū)挾却嬖趩?wèn)題、接地不良等等。

圖4是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種用于檢測(cè)終端設(shè)備的金屬結(jié)構(gòu)件不良品的檢測(cè)方法的流程圖。該方法應(yīng)用于與上述實(shí)施例提供的檢測(cè)裝置10相連的檢測(cè)設(shè)備中。可選地，檢測(cè)設(shè)備為矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。檢測(cè)裝置的同軸接頭與檢測(cè)設(shè)備相連。該方法可以包括如下的幾個(gè)步驟：

在步驟401中，獲取被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)。

被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件是指有待檢測(cè)確定是良品還是不良品的金屬結(jié)構(gòu)件。

結(jié)合參考圖3，以被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件為金屬中框?yàn)槔?。被檢測(cè)的金屬中框?qū)?yīng)的諧振波形如圖3中標(biāo)號(hào)32示出，該諧振波形32上存在兩個(gè)諧振頻點(diǎn)，分別為B1和B2。

在步驟402中，將被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)與金屬結(jié)構(gòu)件樣品對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)進(jìn)行比對(duì)。

金屬結(jié)構(gòu)件樣品是指確定為良品的金屬結(jié)構(gòu)件，金屬結(jié)構(gòu)件樣品與被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件是兩個(gè)結(jié)構(gòu)相同的金屬結(jié)構(gòu)件。將被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)與金屬結(jié)構(gòu)件樣品對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)進(jìn)行比對(duì)，可以是計(jì)算被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)與金屬結(jié)構(gòu)件樣品對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)之間的頻率差值。

結(jié)合參考圖3，金屬中框樣品對(duì)應(yīng)的諧振波形如圖3中標(biāo)號(hào)31示出，該諧振波形31上存在兩個(gè)諧振頻點(diǎn)，分別為A1和A2。計(jì)算諧振頻點(diǎn)B1與諧振頻點(diǎn)A1之間的頻率差值，記為Δ1；計(jì)算諧振頻點(diǎn)B2與諧振頻點(diǎn)A2之間的頻率差值，記為Δ2。

在步驟403中，根據(jù)比對(duì)結(jié)果確定被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件是否為不良品。

在一種可能的實(shí)施方式中，檢測(cè)被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)與金屬結(jié)構(gòu)件樣品對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)之間的頻率差值是否小于預(yù)設(shè)閾值；若該頻率差值小于預(yù)設(shè)閾值，則確定被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件為良品；若該頻率差值大于預(yù)設(shè)閾值，則確定被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件為不良品。預(yù)測(cè)閾值可根據(jù)實(shí)際情況(例如對(duì)金屬結(jié)構(gòu)件的質(zhì)量要求)進(jìn)行設(shè)定。

例如，當(dāng)上述頻率差值Δ1和Δ2均小于預(yù)設(shè)閾值時(shí)，確定被檢測(cè)的金屬中框?yàn)榱计?；?dāng)上述頻率差值Δ1和/或Δ2大于預(yù)設(shè)閾值時(shí)，確定被檢測(cè)的金屬中框?yàn)椴涣计贰?/p>

綜上所述，本公開實(shí)施例提供的檢測(cè)方法，通過(guò)獲取被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)，將被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)與金屬結(jié)構(gòu)件樣品對(duì)應(yīng)的諧振頻點(diǎn)進(jìn)行比對(duì)，并根據(jù)比對(duì)結(jié)果確定被檢測(cè)的金屬結(jié)構(gòu)件是否為不良品，該方法易于實(shí)施且操作簡(jiǎn)單，能夠充分保證檢測(cè)效率。

應(yīng)當(dāng)理解的是，在本文中提及的“多個(gè)”是指兩個(gè)或兩個(gè)以上?！昂?或”，描述關(guān)聯(lián)對(duì)象的關(guān)聯(lián)關(guān)系，表示可以存在三種關(guān)系，例如，A和/或B，可以表示：?jiǎn)为?dú)存在A，同時(shí)存在A和B，單獨(dú)存在B這三種情況。字符“/”一般表示前后關(guān)聯(lián)對(duì)象是一種“或”的關(guān)系。

本領(lǐng)域技術(shù)人員在考慮說(shuō)明書及實(shí)踐這里公開的發(fā)明后，將容易想到本公開的其它實(shí)施方案。本申請(qǐng)旨在涵蓋本公開的任何變型、用途或者適應(yīng)性變化，這些變型、用途或者適應(yīng)性變化遵循本公開的一般性原理并包括本公開未公開的本技術(shù)領(lǐng)域中的公知常識(shí)或慣用技術(shù)手段。說(shuō)明書和實(shí)施例僅被視為示例性的，本公開的真正范圍和精神由下面的權(quán)利要求指出。

應(yīng)當(dāng)理解的是，本公開并不局限于上面已經(jīng)描述并在附圖中示出的精確結(jié)構(gòu)，并且可以在不脫離其范圍進(jìn)行各種修改和改變。本公開的范圍僅由所附的權(quán)利要求來(lái)限制。