技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種測(cè)試電路和包括測(cè)試電路的半導(dǎo)體裝置，所述測(cè)試電路包括：測(cè)試控制單元，被配置成產(chǎn)生第一測(cè)試控制信號(hào)的脈沖，然后產(chǎn)生所述第一測(cè)試控制信號(hào)的脈沖和第二測(cè)試控制信號(hào)的脈沖；電壓施加部，被配置成響應(yīng)于所述第一測(cè)試控制信號(hào)而將第一電壓施加給電連接第一芯片和第二芯片的穿通通孔，以及響應(yīng)于所述第一測(cè)試控制信號(hào)和所述第二測(cè)試控制信號(hào)而將第二電壓施加給所述穿通通孔；以及電流吸收部，被配置成響應(yīng)于所述第一測(cè)試控制信號(hào)而利用第一電流吸收能力來吸收流經(jīng)所述穿通通孔的電流，以及響應(yīng)于所述第一測(cè)試控制信號(hào)和所述第二測(cè)試控制信號(hào)而利用第二電流吸收能力來吸收流經(jīng)所述穿通通孔的電流。

技術(shù)研發(fā)人員：李東郁;金榮柱
受保護(hù)的技術(shù)使用者：愛思開海力士有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2012.11.05
技術(shù)公布日：2017.08.25