本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種燒錄測試方法和系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

目前，藍(lán)牙耳機產(chǎn)品的生產(chǎn)需要經(jīng)過多道嚴(yán)格的組裝、測試工序才能完成。現(xiàn)有的生產(chǎn)流程中，在主板燒錄測試工序先完成對主板的燒錄，然后對燒錄后的主板進(jìn)行校頻測試，并且一次只能對一塊主板進(jìn)行燒錄和校頻測試，導(dǎo)致燒錄測試效率較低，在功率測試工序完成對主板的射頻測試，常用的測試儀器為Anristu8852A測試儀，但Anristu8852測試儀的成本昂貴，并且測試效率較低。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例提供一種燒錄測試方法和系統(tǒng)，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中燒錄測試效率低，操作復(fù)雜的問題。

第一方面，本發(fā)明實施例提供了一種燒錄測試方法，該燒錄測試方法包括：

燒錄設(shè)備若檢測到燒錄請求，則將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器；

測試設(shè)備檢測測試請求；

所述測試設(shè)備根據(jù)所述測試請求對所述印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試。

另一方面，本發(fā)明實施例提供了一種燒錄測試系統(tǒng)，該燒錄測試系統(tǒng)包括燒錄設(shè)備和測試設(shè)備；

所述燒錄設(shè)備，用于若檢測到燒錄請求，則將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器；

所述測試設(shè)備包括：

檢測模塊，用于檢測測試請求；

測試模塊，用于根據(jù)所述測試請求對所述印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試。

本發(fā)明實施例當(dāng)燒錄設(shè)備檢測到燒錄請求時，則將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器，并當(dāng)測試設(shè)備檢測到測試請求時，根據(jù)該測試請求對印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試，通過將校頻測試從燒錄工序調(diào)整到功率測試工序，使得燒錄工序只負(fù)責(zé)燒錄，并可一次性完成對多個印刷電路板的程序燒錄，從而簡化操作過程，提高燒錄測試效率。

附圖說明

圖1是本發(fā)明實施例一提供的一種燒錄測試方法的流程圖；

圖2是本發(fā)明實施例二提供的一種燒錄測試方法的流程圖；

圖3是本發(fā)明實施例三提供的一種燒錄測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本發(fā)明實施例四提供的一種燒錄測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

以下結(jié)合具體附圖對本發(fā)明的實現(xiàn)進(jìn)行詳細(xì)的描述。

實施例一：

圖1是本發(fā)明實施例一提供的一種燒錄測試方法的流程圖，本發(fā)明實施例的執(zhí)行主體包括燒錄設(shè)備和測試設(shè)備，圖1示例的燒錄測試方法具體可以包括步驟S101至S103，詳述如下：

S101、燒錄設(shè)備若檢測到燒錄請求，則將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器。

具體地，當(dāng)燒錄設(shè)備及檢測到對印刷電路板的燒錄請求，將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器中。

印刷電路板(Printed Circuit Board，PCB)是電子產(chǎn)品重要的電子部件，是電子元器件的支撐體，是電子元器件電氣連接的載體。

燒錄設(shè)備可以通過燒錄器或者燒錄卡等燒錄裝置對印刷電路板進(jìn)行燒錄。

預(yù)設(shè)個數(shù)可以根據(jù)實際應(yīng)用的需要進(jìn)行設(shè)置，通?？梢栽O(shè)置為32個，燒錄設(shè)備將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器時，其可以是一次性的完成對預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的燒錄，具體可以是同時對預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板進(jìn)行燒錄，也可以是依次對預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板進(jìn)行燒錄。

S102、測試設(shè)備檢測測試請求。

具體地，測試設(shè)備用于對印刷電路板進(jìn)行測試，測試設(shè)備檢測對印刷電路板進(jìn)行測試的測試請求是否被觸發(fā)，若檢測到該測試請求被觸發(fā)，則繼續(xù)執(zhí)行步驟S103。

需要說明的是，對印刷電路板進(jìn)行測試的測試請求可以是燒錄設(shè)備在完成燒錄工序后自動觸發(fā)，也可以是由用戶根據(jù)測試需要手動觸發(fā)，具體的觸發(fā)方式可以根據(jù)實際測試需要進(jìn)行設(shè)置，此處不做限制。

S103、測試設(shè)備根據(jù)檢測到的測試請求對印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試。

具體地，若測試設(shè)備檢測到對印刷電路板進(jìn)行測試的測試請求，則對該印刷電路板進(jìn)行校頻(Crystal Trim)測試和射頻(Radio Frequency，RF)測試。

進(jìn)一步地，射頻測試可以包括發(fā)射功率(Transmit Power)測試、接收靈敏度(Receive Sensitivity)測試和載波頻率漂移(Carrier Frequency Offset)測試中的至少一種。

需要說明的是，校頻測試和射頻測試可以同時進(jìn)行，也可以依次進(jìn)行，具體可以根據(jù)實際測試環(huán)境的需要進(jìn)行設(shè)置，此處不做限制。

本實施例中，當(dāng)燒錄設(shè)備檢測到燒錄請求時，則將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器，并當(dāng)測試設(shè)備檢測到測試請求時，根據(jù)該測試請求對印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試，通過將校頻測試從燒錄工序調(diào)整到功率測試工序，使得燒錄工序只負(fù)責(zé)燒錄，并可一次性完成對多個印刷電路板的程序燒錄，從而簡化操作過程，提高燒錄測試效率。

實施例二：

圖2是本發(fā)明實施例二提供的一種燒錄測試方法的流程圖，本發(fā)明實施例的執(zhí)行主體包括燒錄設(shè)備和測試設(shè)備，圖2示例的燒錄測試方法具體可以包括步驟S201至S203，詳述如下：

S201、燒錄設(shè)備若檢測到燒錄請求，則將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器。

具體地，當(dāng)燒錄設(shè)備及檢測到對印刷電路板的燒錄請求，將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器中。

印刷電路板(Printed Circuit Board，PCB)是電子產(chǎn)品重要的電子部件，是電子元器件的支撐體，是電子元器件電氣連接的載體。

燒錄設(shè)備可以通過燒錄器或者燒錄卡等燒錄裝置對印刷電路板進(jìn)行燒錄。

預(yù)設(shè)個數(shù)可以根據(jù)實際應(yīng)用的需要進(jìn)行設(shè)置，通?？梢栽O(shè)置為32個，燒錄設(shè)備將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器時，其可以是一次性的完成對預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的燒錄，具體可以是同時對預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板進(jìn)行燒錄，也可以是依次對預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板進(jìn)行燒錄。

進(jìn)一步地，燒錄設(shè)備將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器具體可以通過步驟S2011至步驟S2013實現(xiàn)，詳細(xì)說明如下：

S2011、燒錄設(shè)備為每個印刷電路板設(shè)置燒錄端口號。

具體地，燒錄設(shè)備中的燒錄裝置預(yù)先配置有燒錄端口號，燒錄設(shè)備將每個燒錄裝置的燒錄端口號設(shè)置給該燒錄裝置進(jìn)行燒錄的印刷電路板，即每個燒錄端口號與在該燒錄端口號對應(yīng)的燒錄裝置上進(jìn)行燒錄的印刷電路板一一對應(yīng)。

進(jìn)一步地，燒錄端口號可以是通用串行總線(Universal Serial Bus，USB)端口號，也可以是預(yù)先設(shè)置的其他類型的端口號，具體不做限制。

S2012、燒錄設(shè)備根據(jù)燒錄端口號確定印刷電路板對應(yīng)的待燒錄的程序，并通過多線程方式下載待燒錄的程序。

具體地，燒錄設(shè)備根據(jù)燒錄裝置的端口號，確定該端口號對應(yīng)的燒錄裝置所要燒錄的印刷電路板的待燒錄的程序，并采用多線程的方式下載待燒錄的程序。

以下是一個多線程方式下載待燒錄的程序的具體實現(xiàn)代碼，通過該代碼邏輯，可以實現(xiàn)多線程的方式下載待燒錄的程序。

S2013、燒錄設(shè)備根據(jù)下載結(jié)果，將待燒錄的程序燒錄至所述預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器。

具體地，燒錄設(shè)備中的燒錄裝置根據(jù)燒錄端口號，將步驟S2012下載的待燒錄的程序燒錄至對應(yīng)的印刷電路板的存儲器中。

如果燒錄過程出現(xiàn)錯誤，通過燒錄端口號可以方便的識別出其對應(yīng)的印刷電路板及其燒錄的程序，從而節(jié)省錯誤檢查時間，提高效率。

S202、測試設(shè)備檢測測試請求。

具體地，測試設(shè)備用于對印刷電路板進(jìn)行測試，測試設(shè)備檢測對印刷電路板進(jìn)行測試的測試請求是否被觸發(fā)，若檢測到該測試請求被觸發(fā)，則繼續(xù)執(zhí)行步驟S203。

需要說明的是，對印刷電路板進(jìn)行測試的測試請求可以是燒錄設(shè)備在完成燒錄工序后自動觸發(fā)，也可以是由用戶根據(jù)測試需要手動觸發(fā)，具體的觸發(fā)方式可以根據(jù)實際測試需要進(jìn)行設(shè)置，此處不做限制。

S203、測試設(shè)備根據(jù)檢測到的測試請求，使用CSR1455測試儀對印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試。

具體地，若測試設(shè)備檢測到對印刷電路板進(jìn)行測試的測試請求，則使用CSR1455測試儀對該印刷電路板進(jìn)行校頻(Crystal Trim)測試和射頻(Radio Frequency，RF)測試。

進(jìn)一步地，射頻測試可以包括發(fā)射功率(Transmit Power)測試、接收靈敏度(Receive Sensitivity)測試和載波頻率漂移(Carrier Frequency Offset)測試中的至少一種。

需要說明的是，校頻測試和射頻測試可以同時進(jìn)行，也可以依次進(jìn)行，具體可以根據(jù)實際測試環(huán)境的需要進(jìn)行設(shè)置，此處不做限制。

CSR1455測試儀是由CSR公司研發(fā)的RF測試工具，CSR1455測試儀也可以進(jìn)行較頻測試。CSR1455測試儀比傳統(tǒng)的Anristu8852A測試儀的測試效率高，并且成本更低，實際使用CSR1455測試儀進(jìn)行測試的結(jié)果表明，測試速度比使用Anristu8852A測試儀提高了兩倍以上。

測試設(shè)備根據(jù)檢測到的測試請求，使用CSR1455測試儀對印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試具體可以通過步驟S2031至步驟S2032實現(xiàn)，詳細(xì)說明如下：

S2031、測試設(shè)備根據(jù)檢測到的測試請求，向待測試的印刷電路板發(fā)送第一設(shè)置命令，并向CSR1455測試儀發(fā)送第二設(shè)置命令，其中，第一設(shè)置命令用于將印刷電路板的被測模塊設(shè)置為對應(yīng)的測試模式，該測試模式包括校頻模式和射頻模式，第二設(shè)置命令用于將CSR1455測試儀設(shè)置為接收模式，使得CSR1455測試儀接收印刷電路板的被測模塊發(fā)送的測試數(shù)據(jù)。

具體地，測試設(shè)備向待測試的印刷電路板發(fā)送第一設(shè)置命令，并向CSR1455測試儀發(fā)送第二設(shè)置命令。

印刷電路板根據(jù)接收到的第一設(shè)置命令，將被測模塊設(shè)置為對應(yīng)的測試模式，若進(jìn)行校頻測試，則將測試模塊設(shè)置為校頻模式，若進(jìn)行射頻測試，則根據(jù)具體的射頻測試的類型，將測試模塊設(shè)置為對應(yīng)的射頻模式，例如，當(dāng)進(jìn)行發(fā)射功率測試時，對應(yīng)的射頻模式為跳頻測試模式。

CSR1455測試儀接收到第二設(shè)置命令，進(jìn)入接收模式，接收印刷電路板的被測模塊發(fā)送的測試數(shù)據(jù)。

S2032、測試設(shè)備從CSR1455測試儀中讀取測試結(jié)果數(shù)據(jù)，并與測試標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較，其中，測試結(jié)果數(shù)據(jù)為CSR1455測試儀對被測模塊發(fā)送的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計算后的結(jié)果數(shù)據(jù)。

具體地，CSR1455測試儀對被測模塊發(fā)送的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計算，得到測試結(jié)果數(shù)據(jù)，測試設(shè)備從CSR1455測試儀中讀取該測試結(jié)果數(shù)據(jù)，并與當(dāng)前測試模式對應(yīng)的測試標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較。

S2033、測試設(shè)備根據(jù)比較結(jié)果判斷校頻測試和射頻測試是否通過。

具體地，測試設(shè)備根據(jù)步驟S2032的比較結(jié)果，判斷校頻測試和射頻測試是否通過，若測試結(jié)果數(shù)據(jù)滿足測試標(biāo)準(zhǔn)值的要求，則確認(rèn)當(dāng)前測試模式對應(yīng)的測試通過。

為了更好的理解本發(fā)明實施例，下面以發(fā)射功率測試為例詳細(xì)說明測試過程。

1、測試設(shè)備向印刷電路板的被測模塊DUT發(fā)送第一設(shè)置命令，使得印刷電路板的被測模塊DUT進(jìn)入跳頻測試模式。

2、測試設(shè)備向CSR1455測試儀發(fā)送第二設(shè)置命令，使得CSR1455測試儀進(jìn)入接收模式。

2、印刷電路板的DUT模塊在跳頻測試模式下發(fā)送DH5數(shù)據(jù)包。

3、CSR1455測試儀接收DH5數(shù)據(jù)包，測試DH5數(shù)據(jù)包信號高中低三個頻點的信號強度，并計算高中低三個頻點的發(fā)射功率值。

4、測試設(shè)備等待預(yù)定時間后，讀取CSR1455測試儀計算的發(fā)射功率值。

5、測試設(shè)備根據(jù)讀取的發(fā)射功率值，與測試標(biāo)準(zhǔn)值比較，判斷若該發(fā)射功率測試是否滿足測試標(biāo)準(zhǔn)值的要求，則確認(rèn)該發(fā)射功率測試通過。

本實施例中，當(dāng)燒錄設(shè)備檢測到燒錄請求時，則將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器，并當(dāng)測試設(shè)備檢測到測試請求時，根據(jù)該測試請求對印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試，通過將校頻測試從燒錄工序調(diào)整到功率測試工序，使得燒錄工序只負(fù)責(zé)燒錄，并可一次性完成對多個印刷電路板的程序燒錄，從而簡化操作過程，提高燒錄測試效率；燒錄設(shè)備在進(jìn)行燒錄工序時，通過為每個印刷電路板設(shè)置燒錄端口號，根據(jù)燒錄端口號確定印刷電路板對應(yīng)的待燒錄的程序，并通過多線程方式下載待燒錄的程序，從而提高燒錄效率，并且如果燒錄過程出現(xiàn)錯誤，也可以通過燒錄端口號方便的識別出其對應(yīng)的印刷電路板及其燒錄的程序，從而節(jié)省錯誤檢查時間，提高效率；測試設(shè)備使用CSR1455測試儀代替?zhèn)鹘y(tǒng)的Anristu8852A測試儀對印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試，能夠有效降低測試成本，同時提高測試效率。

實施例三：

圖3是本發(fā)明實施例三提供的一種燒錄測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實施例相關(guān)的部分。圖3示例的一種燒錄測試系統(tǒng)可以是前述實施例一提供的燒錄測試方法的執(zhí)行主體。圖3示例的一種燒錄測試系統(tǒng)包括燒錄設(shè)備31和測試設(shè)備32。

燒錄設(shè)備31，用于若檢測到燒錄請求，則將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器；

測試設(shè)備32包括檢測模塊321和測試模塊322，各模塊詳細(xì)功能說明如下：

檢測模塊321，用于檢測測試請求；

測試模塊322，用于根據(jù)檢測模塊321檢測到的測試請求對印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試。

本實施例提供的一種燒錄測試系統(tǒng)中各模塊實現(xiàn)各自功能的過程，具體可參考前述圖1所示實施例的描述，此處不再贅述。

從上述圖3示例的一種燒錄測試系統(tǒng)可知，本實施例中，當(dāng)燒錄設(shè)備檢測到燒錄請求時，則將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器，并當(dāng)測試設(shè)備檢測到測試請求時，根據(jù)該測試請求對印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試，通過將校頻測試從燒錄工序調(diào)整到功率測試工序，使得燒錄工序只負(fù)責(zé)燒錄，并可一次性完成對多個印刷電路板的程序燒錄，從而簡化操作過程，提高燒錄測試效率。

實施例四：

圖4是本發(fā)明實施例四提供的一種燒錄測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實施例相關(guān)的部分。圖4示例的一種燒錄測試系統(tǒng)可以是前述實施例二提供的燒錄測試方法的執(zhí)行主體。圖4示例的一種燒錄測試系統(tǒng)包括燒錄設(shè)備41和測試設(shè)備42。

燒錄設(shè)備41，用于若檢測到燒錄請求，則將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器；

測試設(shè)備42包括檢測模塊421和測試模塊422，各模塊詳細(xì)功能說明如下：

檢測模塊421，用于檢測測試請求；

測試模塊422，用于根據(jù)檢測模塊421檢測到的測試請求對印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試。

進(jìn)一步地，燒錄設(shè)備41包括：

設(shè)置模塊411，用于為每個印刷電路板設(shè)置燒錄端口號；

下載模塊412，用于根據(jù)設(shè)置模塊411設(shè)置的燒錄端口號確定印刷電路板對應(yīng)的待燒錄的程序，并通過多線程方式下載待燒錄的程序；

燒錄模塊413，用于根據(jù)下載模塊412的下載結(jié)果，將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器。

進(jìn)一步地，測試模塊422還用于：

根據(jù)檢測模塊421檢測到的測試請求，使用CSR1455測試儀對印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試。

進(jìn)一步地，射頻測試包括發(fā)射功率測試、接收靈敏度測試和載波頻率漂移測試中的至少一種。

進(jìn)一步地，測試模塊422包括：

發(fā)送單元4221，用于根據(jù)檢測模塊421檢測到的測試請求，向印刷電路板發(fā)送第一設(shè)置命令并向CSR1455測試儀發(fā)送第二設(shè)置命令，其中，第一設(shè)置命令用于將印刷電路板的被測模塊設(shè)置為對應(yīng)的測試模式，該測試模式包括校頻測模式和射頻模式，第二設(shè)置命令用于述CSR1455測試儀設(shè)置為接收模式，使得CSR1455測試儀接收印刷電路板的被測模塊發(fā)送的測試數(shù)據(jù)；

比較單元4222，用于從CSR1455測試儀中讀取測試結(jié)果數(shù)據(jù)，并與測試標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較，其中，測試結(jié)果數(shù)據(jù)為CSR1455測試儀對印刷電路板的被測模塊發(fā)送的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計算后的結(jié)果數(shù)據(jù)；

判斷單元4223，用于根據(jù)比較單元4222的比較結(jié)果判斷校頻測試和射頻測試是否通過。

本實施例提供的一種燒錄測試系統(tǒng)中各模塊實現(xiàn)各自功能的過程，具體可參考前述圖2所示實施例的描述，此處不再贅述。

從上述圖4示例的一種燒錄測試系統(tǒng)可知，本實施例中，當(dāng)燒錄設(shè)備檢測到燒錄請求時，則將待燒錄的程序燒錄至預(yù)設(shè)個數(shù)的印刷電路板的存儲器，并當(dāng)測試設(shè)備檢測到測試請求時，根據(jù)該測試請求對印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試，通過將校頻測試從燒錄工序調(diào)整到功率測試工序，使得燒錄工序只負(fù)責(zé)燒錄，并可一次性完成對多個印刷電路板的程序燒錄，從而簡化操作過程，提高燒錄測試效率；燒錄設(shè)備在進(jìn)行燒錄工序時，通過為每個印刷電路板設(shè)置燒錄端口號，根據(jù)燒錄端口號確定印刷電路板對應(yīng)的待燒錄的程序，并通過多線程方式下載待燒錄的程序，從而提高燒錄效率，并且如果燒錄過程出現(xiàn)錯誤，也可以通過燒錄端口號方便的識別出其對應(yīng)的印刷電路板及其燒錄的程序，從而節(jié)省錯誤檢查時間，提高效率；測試設(shè)備使用CSR1455測試儀代替?zhèn)鹘y(tǒng)的Anristu8852A測試儀對印刷電路板進(jìn)行校頻測試和射頻測試，能夠有效降低測試成本，同時提高測試效率。

需要說明的是，本說明書中的各個實施例均采用遞進(jìn)的方式描述，每一個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處，各個實施例之間相同或者相似的部分互相參見即可。對于裝置類實施例而言，由于其與方法實施例基本相似，所以描述的比較簡單，相關(guān)之處參見方法實施例的部分說明即可。

值得注意的是，上述裝置實施例中，所包括的各個模塊只是按照功能邏輯進(jìn)行劃分的，但并不局限于上述的劃分，只要能夠?qū)崿F(xiàn)相應(yīng)的功能即可；另外，各功能模塊的具體名稱也只是為了便于相互區(qū)分，并不用于限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解，實現(xiàn)上述各實施例方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關(guān)的硬件來完成，相應(yīng)的程序可以存儲于一計算機可讀取存儲介質(zhì)中，所述的存儲介質(zhì)，如ROM/RAM、磁盤或光盤等。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。