本發(fā)明屬于集成電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種測(cè)試模擬開關(guān)通道轉(zhuǎn)換無(wú)效輸出時(shí)間的裝置，尤其是針對(duì)具有多路轉(zhuǎn)換功能的模擬開關(guān)的測(cè)試。
背景技術(shù)：
模擬開關(guān)是一種應(yīng)用廣泛的通用電路，可采用CMOS、BiCMOS、JFET等工藝實(shí)現(xiàn)單路、多路、雙向及數(shù)據(jù)選擇等功能，多應(yīng)用在信號(hào)轉(zhuǎn)換選擇領(lǐng)域，如音視頻監(jiān)控、工業(yè)控制等。隨著前端環(huán)境感知、中端數(shù)據(jù)吞吐、后端信號(hào)處理能力的大幅提升，采用模擬開關(guān)進(jìn)行系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)，設(shè)計(jì)者越來(lái)越關(guān)注模擬開關(guān)中涉及開關(guān)精度及速度的指標(biāo)?，F(xiàn)行92版國(guó)標(biāo)所涵蓋的測(cè)試項(xiàng)及測(cè)試方法只能滿足舊工藝條件及早期模擬開關(guān)產(chǎn)品類型的測(cè)試要求，隨著產(chǎn)品技術(shù)更迭，使得采用現(xiàn)有國(guó)標(biāo)進(jìn)行測(cè)試提取的參數(shù)，無(wú)法適用于主流高速、高精度應(yīng)用。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
本發(fā)明的目的在于提供一種測(cè)試模擬開關(guān)通道轉(zhuǎn)換無(wú)效輸出時(shí)間的裝置，能夠用來(lái)表征模擬開關(guān)在高速應(yīng)用時(shí)切換通道的效率，能夠提升模擬開關(guān)在高速、高精度相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的應(yīng)用及發(fā)展，為該通用電路更好的服務(wù)現(xiàn)代高新電子產(chǎn)業(yè)發(fā)展做好支撐。
本發(fā)明的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)的：
這種測(cè)試模擬開關(guān)通道轉(zhuǎn)換無(wú)效輸出時(shí)間的裝置，包括與模擬電壓產(chǎn)生模塊、電壓檢測(cè)模塊、測(cè)試板模塊、電源和雙蹤示波器；其中模擬電壓產(chǎn)生模塊、電壓檢測(cè)模塊、測(cè)試板模塊分別與待測(cè)模擬開關(guān)的輸入端連接，其中待測(cè)模擬開關(guān)為多路通道模擬開關(guān)，待測(cè)模擬開關(guān)與電源連接，待測(cè)模擬開關(guān)的輸出端還與雙蹤示波器連接；其中待測(cè)模擬開關(guān)的輸出端還連接有負(fù)載電阻和負(fù)載電容。
更進(jìn)一步的，本發(fā)明的特點(diǎn)還在于：
其中負(fù)載電阻的阻值為1kΩ，負(fù)載電容的電容值為35pF。
其中雙蹤示波器的A端口與測(cè)試板模塊的控制端連接，雙蹤示波器的B端口與待測(cè)模擬開關(guān)的信號(hào)輸出端連接。
其中模擬電壓產(chǎn)生模塊與待測(cè)模擬開關(guān)的第一路通道和最后一路通道連接。
其中測(cè)試板模塊與待測(cè)模擬開關(guān)的最后一路通道連接。
其中測(cè)試板模塊的其他路通道接地。
其中待測(cè)模擬開關(guān)的通道轉(zhuǎn)換無(wú)效輸出時(shí)間為待測(cè)模擬開關(guān)(4)輸出信號(hào)變化10％幅值至恢復(fù)輸出信號(hào)90％幅值之間的時(shí)間。
本發(fā)明的有益效果是：通過(guò)對(duì)待測(cè)模擬開關(guān)選通通路的信號(hào)切換，追蹤輸出端電壓的變化，從而測(cè)試出模擬開關(guān)通大轉(zhuǎn)換無(wú)效輸出時(shí)間，進(jìn)而表征模擬開關(guān)在高速應(yīng)用時(shí)切換通道的效率，該裝置能夠滿足對(duì)待測(cè)模擬開關(guān)相關(guān)指標(biāo)的測(cè)試，還能夠覆蓋國(guó)際規(guī)定的其他測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試，使用該測(cè)試裝置，能夠最大程度的降低開發(fā)專用的測(cè)試系統(tǒng)的開發(fā)成本；提高了模擬開關(guān)在高速、高精度相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的應(yīng)用和發(fā)展，為該通用電路更好的服務(wù)現(xiàn)代高新電子產(chǎn)業(yè)發(fā)展做好支撐。
本發(fā)明的裝置，相較于常規(guī)模擬開關(guān)的高速、高精度類指標(biāo)測(cè)試裝置，降低了測(cè)試裝置的開發(fā)成本和周期，不依賴測(cè)試信號(hào)鏈路的高精度控制及匹配，最大程度發(fā)掘模擬開關(guān)在高速、高精度應(yīng)用領(lǐng)域的性能。
本發(fā)明的裝置，在通路轉(zhuǎn)換控制信號(hào)完成信號(hào)轉(zhuǎn)換之后，模擬開關(guān)輸出信號(hào)變化10％幅值至恢復(fù)輸出信號(hào)90％幅值之間的時(shí)間間隔，其參數(shù)即為模擬開關(guān)通道轉(zhuǎn)換無(wú)效輸出時(shí)間，該測(cè)試過(guò)程提取參數(shù)的方式簡(jiǎn)單，直觀，對(duì)測(cè)試裝置精度及信號(hào)鏈路的完整性要求低，易于實(shí)現(xiàn)。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
其中：1為模擬電壓產(chǎn)生模塊；2為電壓檢測(cè)模塊；3為測(cè)試板模塊；4為待測(cè)模擬開關(guān)；5為電源；6為雙蹤示波器。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)描述：
本發(fā)明提供了一種測(cè)試模擬開關(guān)通道轉(zhuǎn)換無(wú)效輸出時(shí)間的裝置，如圖1所示，包括待測(cè)模擬開關(guān)4，待測(cè)模擬開關(guān)4按照電學(xué)要求與電源5連接，電源5使待測(cè)模擬開關(guān)4正常工作；模擬電壓產(chǎn)生模塊1通過(guò)電壓檢測(cè)模塊2與待測(cè)模擬開關(guān)4的第一路通道和最后一路通道的輸入端口連接，待測(cè)模擬開關(guān)4的其他路通道的輸入端口接地；測(cè)試板模塊與待測(cè)模擬開關(guān)4連接，且待測(cè)模擬開關(guān)4發(fā)送選通開關(guān)控制信號(hào)，從而使待測(cè)模擬開關(guān)4選通通路由第一路切換至最后一路；雙蹤示波器6的A端口接入測(cè)試板模塊3的控制信號(hào)端，雙蹤示波器6的B端口接如待測(cè)模擬開關(guān)4的信號(hào)輸出端，待測(cè)模擬開關(guān)4的輸出端還連接有負(fù)載電阻和負(fù)載電容，其中負(fù)載電阻的阻值為1kΩ，負(fù)載電容的電容值為35pF。
本發(fā)明的裝置測(cè)試的待測(cè)模擬開關(guān)的工作頻率不高于6GHZ，該裝置正常工作時(shí)，當(dāng)雙蹤示波器6顯示取通路轉(zhuǎn)換控制信號(hào)完成信號(hào)轉(zhuǎn)換后，模擬開關(guān)輸出信號(hào)變化10％幅值至恢復(fù)輸出信號(hào)90％幅值之間的時(shí)間間隔，其參數(shù)即為模擬開關(guān)通道轉(zhuǎn)換無(wú)效輸出時(shí)間。
本發(fā)明基于待測(cè)模擬開關(guān)的通道轉(zhuǎn)換無(wú)效時(shí)間的具體測(cè)試裝置的實(shí)施例是：待測(cè)模擬開關(guān)選擇4路選通型模擬開關(guān)ADG408BRUZ；將模擬開關(guān)的供電端口分別接入5V電源及地；并且設(shè)定模擬電壓產(chǎn)生模塊1產(chǎn)生2V恒定電壓并且接入模擬開關(guān)的第一路和第四路通路的信號(hào)輸入端，模擬開關(guān)的第二路和第三路通路的信號(hào)輸入端接地，電壓檢測(cè)模塊接入第一路通路的信號(hào)輸入端，監(jiān)控輸入信號(hào)情況；將模擬開關(guān)的輸出端并聯(lián)1kΩ負(fù)載電阻、35pF負(fù)載電容后與雙蹤示波器6的B端口連接；配置測(cè)試板模塊3使其產(chǎn)生選通開關(guān)控制信號(hào)，并且與模擬開關(guān)連接，控制信號(hào)控制模擬開關(guān)由第一路選通跳變至第四路選通，并且將雙蹤示波器6的A端口與測(cè)試板模塊3的控制信號(hào)線連接。
選取模擬開關(guān)輸出信號(hào)變化10％幅值至恢復(fù)輸出信號(hào)90％幅值之間的時(shí)間間隔topen，即為模擬開關(guān)通道轉(zhuǎn)換無(wú)效時(shí)間。