本發(fā)明涉及一種邏輯測試裝置及方法。

背景技術(shù)：

由于成本控制的原因，電路板的成板測試環(huán)境往往比較簡單。當(dāng)前市面上主要的電信號測試設(shè)備，由于功能較多、體積大、成本高，占用了大量測試用地，同時還需要電腦控制，且對控制人員的素質(zhì)要求較高，造成測試成本的提高。

愛德萬測試(中國)管理有限公司及其相關(guān)的母公司和子公司，是國際上從事半導(dǎo)體和電子邏輯信號自動測試設(shè)備開發(fā)和銷售的一流公司。其產(chǎn)品可以通過帶有操作系統(tǒng)的電腦/服務(wù)器/工作站，將測試激勵下載到其測試設(shè)備上，并對待測設(shè)備(簡稱DUT，Design Under Test)進(jìn)行測試，判斷正誤，同時在帶有操作系統(tǒng)的電腦/服務(wù)器/工作站上將DUT實(shí)際產(chǎn)生的信號與預(yù)期信號進(jìn)行對比，顯示出來，用于調(diào)試。

該方式是一種非常完善的測試方法，但其設(shè)備體積較大，不易移動。測例裝載和監(jiān)測需要利用帶有操作系統(tǒng)的電腦/服務(wù)器/工作站，通過專門的通訊通道，如串口、USB、PCI等接口，下載到設(shè)備上，該過程需要專門在測試機(jī)臺邊上準(zhǔn)備放置電腦/服務(wù)器/工作站的空間，且操作流程較為復(fù)雜，對操作人員素質(zhì)要求較高。在一些簡單的電信號測試流程中，增添了較大的成本。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種邏輯測試裝置及方法，以解決測試裝置控制復(fù)雜、占用體積大、不可以靈活配置的技術(shù)問題。

為實(shí)現(xiàn)以上發(fā)明目的，本發(fā)明提供一種邏輯測試裝置，包括配置存儲模 塊、可編程門陣列處理模塊、被測裝置信號接口模塊以及發(fā)光模塊；

所述配置存儲模塊，用于固化存儲測例以及配置文件；

所述可編程門陣列處理模塊，用于對測試信號的發(fā)送以及處理；

所述被測裝置信號接口模塊，用于接收被測裝置回饋的信號以及向被測裝置發(fā)送測試信號；

所述發(fā)光模塊，用于根據(jù)測試結(jié)果給出相應(yīng)的發(fā)光提示；

所述配置存儲模塊與可編程門陣列處理模塊連接，所述可編程門陣列處理模塊分別與被測裝置信號接口模塊以及發(fā)光模塊連接。

進(jìn)一步地，所述邏輯測試裝置，還包括數(shù)據(jù)傳輸接口模塊、存儲模塊、按鈕模塊以及功能選擇模塊；

所述數(shù)據(jù)傳輸接口模塊，用于邏輯測試裝置與計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)通信；

所述存儲模塊，用于邏輯測試裝置在外部測例下載模式下存儲測例；

所述按鈕模塊，用于邏輯測試裝置在手動測試模式下控制測試開啟或停止；

所述功能選擇模塊，用于控制邏輯測試裝置處于某種下載狀態(tài)或某種測試狀態(tài)；

所述數(shù)據(jù)傳輸接口模塊與可編程門陣列處理模塊連接，所述存儲模塊與可編程門陣列處理模塊連接，所述按鈕模塊與可編程門陣列處理模塊連接，所述功能選擇模塊與可編程門陣列處理模塊連接。

進(jìn)一步地，所述邏輯測試裝置還包括被測裝置供電模塊，

所述被測裝置供電模塊，用于直接給被測裝置供電；

所述被測裝置供電模塊與可編程門陣列處理模塊連接。

進(jìn)一步地，所述邏輯測試裝置還包括顯示接口模塊，

所述顯示接口模塊，用于外接顯示裝置，并將測試結(jié)果通過顯示接口模塊 傳輸給顯示裝置顯示；

所述顯示接口模塊與可編程門陣列處理模塊連接。

進(jìn)一步地，所述邏輯測試裝置還包括擴(kuò)展接口模塊，

所述擴(kuò)展接口模塊，用于給邏輯測試裝置提供功能擴(kuò)展接口；

所述擴(kuò)展接口模塊與可編程門陣列處理模塊連接。

進(jìn)一步地，所述數(shù)據(jù)傳輸接口模塊是通用異步收發(fā)傳輸器接口模塊。

進(jìn)一步地，所述功能選擇模塊是撥碼開關(guān)。

另一方面，本發(fā)明提供了一種邏輯測試方法，該方法運(yùn)用邏輯測試裝置進(jìn)行測試，具體步驟如下：

步驟S1：將被測裝置與邏輯測試裝置連接；

步驟S2：通過功能選擇模塊將可編程門陣列處理模塊設(shè)置為測例下載狀態(tài)；

步驟S3：向可編程門陣列處理模塊發(fā)送測例；

步驟S4：可編程門陣列處理模塊將測例進(jìn)行保存；

步驟S5：通過功能選擇模塊將可編程門陣列處理模塊設(shè)置為測例測試狀態(tài)；

步驟S6：可編程門陣列處理模塊獲取一個測例；

步驟S7：可編程門陣列處理模塊將測例發(fā)送至被測裝置信號接口模塊；

步驟S8：被測裝置信號接口模塊將測例發(fā)送至被測裝置；

步驟S9：被測裝置對測例做出響應(yīng)，并發(fā)送反饋信息至被測裝置信號接口模塊；

步驟S10：被測裝置信號接口模塊將反饋信息發(fā)送至可編程門陣列處理模塊；

步驟S11：可編程門陣列處理模塊將反饋信息與預(yù)設(shè)比較信息進(jìn)行比較；

若比較結(jié)果相同時，則被測裝置對該測例測試通過；

若比較結(jié)果不相同時，則被測裝置對該測例測試未通過；

步驟S12：可編程門陣列處理模塊判斷測試是否獲取完；

若未獲取完時，則執(zhí)行步驟S6；

若獲取完時，則測試完成。

進(jìn)一步地，所述步驟S2中可編程門陣列處理模塊設(shè)置為測例下載狀態(tài)包括；

外部測例下載模式；

內(nèi)部測例下載模式。

進(jìn)一步地，所述步驟S4中可編程門陣列處理模塊將測例進(jìn)行保存的方法包括；

若可編程門陣列處理模塊是外部測例下載模式時，則將測例保存進(jìn)存儲模塊；

若可編程門陣列處理模塊是內(nèi)部測例下載模式時，則將測例保存進(jìn)配置存儲模塊。

進(jìn)一步地，所述步驟S5中可編程門陣列處理模塊設(shè)置為測例測試狀態(tài)包括；

外部測例測試模式；

內(nèi)部測例測試模式；

手動外部測例測試模式；

手動內(nèi)部測例測試模式。

進(jìn)一步地，所述步驟S6中可編程門陣列處理模塊獲取一個測例的方法包括；

若可編程門陣列處理模塊是外部測例測試模式時，則可編程門陣列處理模塊通過存儲模塊接口從存儲模塊中獲取一個測例；

若可編程門陣列處理模塊是內(nèi)部測例測試模式時，則可編程門陣列處理模塊通過配置存儲模塊接口從配置存儲模塊中獲取一個測例；

若可編程門陣列處理模塊是手動外部測例測試模式時，

則當(dāng)按鈕模塊按下，則可編程門陣列處理模塊通過存儲模塊接口從存儲模塊中獲取一個測例；

當(dāng)按鈕模塊松開，則邏輯測試裝置停止測試；

若可編程門陣列處理模塊是手動內(nèi)部測例測試模式時，

則當(dāng)按鈕模塊按下，則可編程門陣列處理模塊通過配置存儲模塊接口從配置存儲模塊中獲取一個測例；

當(dāng)按鈕模塊松開，則邏輯測試裝置停止測試。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：

1.運(yùn)用可編程門陣列處理模塊作為主芯片進(jìn)行測試的技術(shù)方案，獲得可以靈活調(diào)整測試通道的信號帶寬的技術(shù)效果；

2.運(yùn)用數(shù)據(jù)傳輸接口模塊向可編程門陣列處理模塊中下載測例的技術(shù)方案，獲得了將邏輯測試過程與測例下載過程獨(dú)立開，減小測試設(shè)備體積，降低操作人員要求，降低測試成本，提高了設(shè)備使用的靈活性的技術(shù)效果；

3.運(yùn)用增加被測裝置供電模塊的技術(shù)方案，獲得可以無需給被測裝置外接電源，更好的提高了設(shè)備使用的靈活性的技術(shù)效果。

4.運(yùn)用增加顯示接口模塊的技術(shù)方案，獲得無需通過其他設(shè)備顯示測試結(jié)果，方便監(jiān)控測試的技術(shù)效果。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的邏輯測試裝置的框圖；

圖2是本發(fā)明的邏輯測試裝置的另一個框圖；

圖3是本發(fā)明的邏輯測試裝置的具體實(shí)施例框圖；

圖4是本發(fā)明的邏輯測試方法的流程圖；

圖5是本發(fā)明的邏輯測試方法的具體實(shí)施例流程圖。

圖中：

配置存儲模塊1；可編程門陣列處理模塊2；被測裝置信號接口模塊3；發(fā)光模塊4；數(shù)據(jù)傳輸接口模塊5；存儲模塊6；按鈕模塊7；功能選擇模塊8；被測裝置供電模塊9；顯示接口模塊10；擴(kuò)展接口模塊11。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。

實(shí)施例1：

如圖1所示，本發(fā)明的邏輯測試裝置，包括配置存儲模塊1、可編程門陣列處理模塊2、被測裝置信號接口模塊3以及發(fā)光模塊4；

配置存儲模塊1，用于固化存儲測例以及配置文件；

可編程門陣列處理模塊2，用于對測試信號的發(fā)送以及處理；

被測裝置信號接口模塊3，用于接收被測裝置回饋的信號以及向被測裝置發(fā)送測試信號；

發(fā)光模塊4，用于根據(jù)測試結(jié)果給出相應(yīng)的發(fā)光提示；

配置存儲模塊1與可編程門陣列處理模塊2連接，可編程門陣列處理模塊2分別與被測裝置信號接口模塊3以及發(fā)光模塊4連接。

如圖4所示，本發(fā)明的邏輯測試方法，包括如下步驟:

步驟S1：將被測裝置與邏輯測試裝置連接；

步驟S2：通過功能選擇模塊8將可編程門陣列處理模塊2設(shè)置為測例下載狀態(tài)；

步驟S3：向可編程門陣列處理模塊2發(fā)送測例

步驟S4：可編程門陣列處理模塊2將測例進(jìn)行保存；

步驟S5：通過功能選擇模塊8將可編程門陣列處理模塊2設(shè)置為測例測試狀態(tài)；

步驟S6：可編程門陣列處理模塊2獲取一個測例，

步驟S7：可編程門陣列處理模塊2將測例發(fā)送至被測裝置信號接口模塊3；

步驟S8：被測裝置信號接口模塊3將測例發(fā)送至被測裝置；

步驟S9：被測裝置對測例做出響應(yīng)，并發(fā)送反饋信息至被測裝置信號接口模塊3；

步驟S10：被測裝置信號接口模塊3將反饋信息發(fā)送至可編程門陣列處理模塊2；

步驟S11：可編程門陣列處理模塊2將反饋信息與預(yù)設(shè)比較信息進(jìn)行比較；

若比較結(jié)果相同時，則被測裝置對該測例測試通過；

若比較結(jié)果不相同時，則被測裝置對該測例測試未通過；

步驟S12：可編程門陣列處理模塊2判斷測試是否獲取完；

若未獲取完時，則執(zhí)行步驟S6；

若獲取完時，則測試完成。

結(jié)合圖1和圖4具體來說，在邏輯測試裝置使用之前，向其中的配置存儲模塊1中下載所需測例。邏輯測試裝置上電后，配置存儲模塊1中的測例被讀取到可編程門陣列處理模塊2中，可編程門陣列處理模塊2內(nèi)部逐個將測例通過被測裝置信號接口模塊3發(fā)送至被測裝置，被測裝置信號接口模塊3將被測裝置反饋的信息發(fā)送至可編程門陣列處理模塊2，可編程門陣列處理模塊2將反饋信息與預(yù)期設(shè)置的值進(jìn)行對比，并通過發(fā)光模塊4將結(jié)果表示出來。

實(shí)施例2：

如圖2所示，在實(shí)施例1的基礎(chǔ)上對邏輯測試裝置做進(jìn)一步地具體化，邏輯測試裝置還包括數(shù)據(jù)傳輸接口模塊5、存儲模塊6、按鈕模塊7以及功能選擇模塊8；

數(shù)據(jù)傳輸接口模塊5，用于邏輯測試裝置與計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)通信；

存儲模塊6，用于邏輯測試裝置在外部測例下載模式下存儲測例；

按鈕模塊7，用于邏輯測試裝置在手動測試模式下控制測試開啟或停止；

功能選擇模塊8，用于控制邏輯測試裝置處于某種下載狀態(tài)或某種測試狀態(tài)；

數(shù)據(jù)傳輸接口模塊5與可編程門陣列處理模塊2連接，存儲模塊6與可編程門陣列處理模塊2連接，按鈕模塊7與可編程門陣列處理模塊2連接，功能選擇模塊8與可編程門陣列處理模塊2連接。

如圖5所示，在實(shí)施例1的基礎(chǔ)上對邏輯測試方法做進(jìn)一步具體化，具體步驟如下：

步驟A1：將被測裝置與邏輯測試裝置連接；

步驟A2：通過功能選擇模塊8將可編程門陣列處理模塊2設(shè)置為外部測例下載模式或內(nèi)部測例下載模式；

步驟A3：向可編程門陣列處理模塊2發(fā)送測例

步驟A4：可編程門陣列處理模塊2根據(jù)下載模式對測例進(jìn)行保存；

若可編程門陣列處理模塊2是外部測例下載模式時，則將測例保存進(jìn)存儲模塊6；

若可編程門陣列處理模塊2是內(nèi)部測例下載模式時，則將測例保存進(jìn)配置存儲模塊1；

步驟A5：通過功能選擇模塊8將可編程門陣列處理模塊2設(shè)置為外部測例 測試模式、內(nèi)部測例測試模式、手動外部測例測試模式和手動內(nèi)部測例測試模式中的一種模式；

步驟A6：可編程門陣列處理模塊2根據(jù)測試模式進(jìn)行測試；

若可編程門陣列處理模塊2是外部測例測試模式時，則可編程門陣列處理模塊2通過存儲模塊接口從存儲模塊6中獲取一個測例；

若可編程門陣列處理模塊2是內(nèi)部測例測試模式時，則可編程門陣列處理模塊2通過配置存儲模塊接口從配置存儲模塊1中獲取一個測例；

若可編程門陣列處理模塊2是手動外部測例測試模式時，

則當(dāng)按鈕模塊7按下，則可編程門陣列處理模塊2通過存儲模塊接口從存儲模塊6中獲取一個測例；

當(dāng)按鈕模塊7松開，則邏輯測試裝置停止測試；

若可編程門陣列處理模塊2是手動內(nèi)部測例測試模式時，

則當(dāng)按鈕模塊7按下，則可編程門陣列處理模塊2通過配置存儲模塊接口從配置存儲模塊1中獲取一個測例；

當(dāng)按鈕模塊7松開，則邏輯測試裝置停止測試；

步驟A7：可編程門陣列處理模塊2將測例發(fā)送至被測裝置信號接口模塊3；

步驟A8：被測裝置信號接口模塊3將測例發(fā)送至被測裝置；

步驟A9：被測裝置對測例做出響應(yīng)，并發(fā)送反饋信息至被測裝置信號接口模塊3；

步驟A10：被測裝置信號接口模塊3將反饋信息發(fā)送至可編程門陣列處理模塊2；

步驟A11：可編程門陣列處理模塊2將反饋信息與預(yù)設(shè)比較信息進(jìn)行比較；

若比較結(jié)果相同時，則被測裝置對該測例測試通過；

若比較結(jié)果不相同時，則被測裝置對該測例測試未通過；

步驟A12：可編程門陣列處理模塊2判斷測試是否獲取完；

若未獲取完時，則執(zhí)行步驟A6；

若獲取完時，則測試完成。

結(jié)合圖2和圖5具體來說，其中實(shí)施例2中步驟A2相當(dāng)于實(shí)施例1中步驟S2；步驟A4相當(dāng)于步驟S4；步驟A5相當(dāng)于步驟S5；步驟A6相當(dāng)于步驟S6。

邏輯測試裝置具有兩種下載模式以及三種工作模式；下載以及工作模式通過功能選擇模塊8進(jìn)行選擇，功能選擇模塊8可以是撥碼開關(guān)；例如“001”表示外部測例下載模式；“09”表示內(nèi)部測例下載模式；“010”外部測例測試模式；“90”內(nèi)部測例測試模式；“91”手動外測例測試模式；“19”手動內(nèi)測例測試模式。具體說明如下：

外部測例下載模式：

在計(jì)算機(jī)上將測例編輯好，并通過數(shù)據(jù)傳輸接口模塊5向邏輯測試裝置下載，數(shù)據(jù)傳輸接口模塊5接收到測例，并逐個傳遞測例給可編程門陣列處理模塊2，在可編程門陣列處理模塊2內(nèi)部設(shè)計(jì)的邏輯電路管理下，這些測例被傳輸給存儲模塊6進(jìn)行保存。

內(nèi)部測例下載模式：

在計(jì)算機(jī)上將測例編輯好，并通過調(diào)試通道；例如：測試行動聯(lián)合團(tuán)(JTAG)，將測例固化在配置存儲模塊1中。

外部測例測試模式：

邏輯測試裝置上電后，可編程門陣列處理模塊2通過存儲器接口從存儲模塊6獲取所有測例，并逐個將測例通過被測裝置信號接口模塊3發(fā)送至被測裝置，被測裝置信號接口模塊3將被測裝置反饋的信息發(fā)送至可編程門陣列處理 模塊2，可編程門陣列處理模塊2將反饋信息與預(yù)期設(shè)置的值進(jìn)行對比，并通過發(fā)光模塊4將結(jié)果表示出來。

內(nèi)部測例測試模式：

邏輯測試裝置上電后，可編程門陣列處理模塊2獲取配置存儲模塊1中所有的測例，并逐個將測例通過被測裝置信號接口模塊3發(fā)送至被測裝置，被測裝置信號接口模塊3將被測裝置反饋的信息發(fā)送至可編程門陣列處理模塊2，可編程門陣列處理模塊2將反饋信息與預(yù)期設(shè)置的值進(jìn)行對比，并通過發(fā)光模塊4將結(jié)果表示出來。

手動測例測試模式：

手動測例測試模式分為兩種，一種是手動外部測例測試模式，另一種是手動內(nèi)部測例測試模式。

邏輯測試裝置上電后，并不直接進(jìn)行測試，而是等待測試人員按動按鈕模塊7，當(dāng)測試人員按動按鈕模塊7時，根據(jù)撥碼開關(guān)選擇的進(jìn)行相應(yīng)的手動測試具體測例測試模式。當(dāng)測試人員松開按鈕模塊7時，測試停止。

實(shí)施例3：

如圖3所示，在實(shí)施例2的基礎(chǔ)上對邏輯測試裝置做進(jìn)一步具體化，邏輯測試裝置還包括被測裝置供電模塊9、顯示接口模塊10以及擴(kuò)展接口模塊11，

被測裝置供電模塊9，用于直接給被測裝置供電；

顯示接口模塊10，用于外接顯示裝置，并將測試結(jié)果通過顯示接口模塊傳輸給顯示裝置顯示；

擴(kuò)展接口模塊11，用于給邏輯測試裝置提供功能擴(kuò)展接口；

被測裝置供電模塊9分別與電源模塊1以及可編程門陣列處理模塊2連接，顯示接口模塊10與可編程門陣列處理模塊2連接，擴(kuò)展接口模塊11與可編程 門陣列處理模塊2連接；

具體來說，在邏輯測試裝置中增加被測裝置供電模塊9可以在無法或不方便給被測裝置供電的情況下，由邏輯測試裝置直接給被測裝置供電，增加了邏輯測試裝置的使用靈活性。在邏輯測試裝置中增加顯示接口模塊10，可以方便外接顯示裝置，可以通過顯示接口模塊10將測試過程以及測試結(jié)果通過顯示裝置直觀的展示出來，方便測試人員對測試過程以及測試結(jié)果的掌控。擴(kuò)展接口模塊11可以讓邏輯測試裝置具有擴(kuò)展功能，比如可以擴(kuò)展聲音提示功能等，使得邏輯測試裝置具有很好的適宜性。

除上述實(shí)施例外，本發(fā)明還可以有其他實(shí)施方式，凡采用等同替換或等效變換形成的技術(shù)方案，均落在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。