1.一種邏輯測試裝置，其特征在于，包括配置存儲模塊、可編程門陣列處理模塊、被測裝置信號接口模塊以及發(fā)光模塊；
所述配置存儲模塊，用于固化存儲測例以及配置文件；
所述可編程門陣列處理模塊，用于對測試信號的發(fā)送以及處理；
所述被測裝置信號接口模塊，用于接收被測裝置回饋的信號以及向被測裝置發(fā)送測試信號；
所述發(fā)光模塊，用于根據(jù)測試結(jié)果給出相應(yīng)的發(fā)光提示；
所述配置存儲模塊與可編程門陣列處理模塊連接，所述可編程門陣列處理模塊分別與所述被測裝置信號接口模塊以及發(fā)光模塊連接。
2.如權(quán)利要求1所述的邏輯測試裝置，其特征在于，所述邏輯測試裝置還包括數(shù)據(jù)傳輸接口模塊、存儲模塊、按鈕模塊以及功能選擇模塊；
所述數(shù)據(jù)傳輸接口模塊，用于邏輯測試裝置與計算機數(shù)據(jù)通信；
所述存儲模塊，用于邏輯測試裝置在外部測例下載模式下存儲測例；
所述按鈕模塊，用于邏輯測試裝置在手動測試模式下控制測試開啟或停止；
所述功能選擇模塊，用于控制邏輯測試裝置處于某種下載狀態(tài)或某種測試狀態(tài)；
所述數(shù)據(jù)傳輸接口模塊與所述可編程門陣列處理模塊連接，所述存儲模塊與可編程門陣列處理模塊連接，所述按鈕模塊與可編程門陣列處理模塊連接，所述功能選擇模塊與可編程門陣列處理模塊連接。
3.如權(quán)利要求1或2中任一所述的邏輯測試裝置，其特征在于，所述邏輯測試裝置還包括被測裝置供電模塊，
所述被測裝置供電模塊，用于直接給被測裝置供電；
所述被測裝置供電模塊與所述可編程門陣列處理模塊連接。
4.如權(quán)利要求1或2中任一所述的邏輯測試裝置，其特征在于，所述邏輯測試裝置還包括顯示接口模塊，
所述顯示接口模塊，用于外接顯示裝置，并將測試結(jié)果通過顯示接口模塊傳輸給顯示裝置顯示；
所述顯示接口模塊與所述可編程門陣列處理模塊連接。
5.如權(quán)利要求3所述的邏輯測試裝置，其特征在于，所述邏輯測試裝置還包括顯示接口模塊，
所述顯示接口模塊，用于外接顯示裝置，并將測試結(jié)果通過顯示接口模塊傳輸給顯示裝置顯示；
所述顯示接口模塊與所述可編程門陣列處理模塊連接。
6.如權(quán)利要求1-2中任一所述的邏輯測試裝置，其特征在于，所述邏輯測試裝置還包括擴展接口模塊，
所述擴展接口模塊，用于給邏輯測試裝置提供功能擴展接口；
所述擴展接口模塊與所述可編程門陣列處理模塊連接。
7.如權(quán)利要求3所述的邏輯測試裝置，其特征在于，所述邏輯測試裝置還包括擴展接口模塊，
所述擴展接口模塊，用于給邏輯測試裝置提供功能擴展接口；
所述擴展接口模塊與所述可編程門陣列處理模塊連接。
8.如權(quán)利要求5所述的邏輯測試裝置，其特征在于，所述邏輯測試裝置還包括擴展接口模塊，
所述擴展接口模塊，用于給邏輯測試裝置提供功能擴展接口；
所述擴展接口模塊與所述可編程門陣列處理模塊連接。
9.如權(quán)利要求2所述的邏輯測試裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)傳輸接口模塊是通用異步收發(fā)傳輸器接口模塊。
10.如權(quán)利要求2所述的邏輯測試裝置，其特征在于，所述功能選擇模塊是撥碼開關(guān)。
11.一種邏輯測試方法，其特征在于，邏輯測試方法運用于如權(quán)利要求2-10中任一所述的邏輯測試方法裝置，包括如下步驟：
步驟S1：將被測裝置與邏輯測試裝置連接；
步驟S2：通過功能選擇模塊將可編程門陣列處理模塊設(shè)置為測例下載狀態(tài)；
步驟S3：向可編程門陣列處理模塊發(fā)送測例
步驟S4：可編程門陣列處理模塊將測例進行保存；
步驟S5：通過功能選擇模塊將可編程門陣列處理模塊設(shè)置為測例測試狀態(tài)；
步驟S6：可編程門陣列處理模塊獲取一個測例，
步驟S7：可編程門陣列處理模塊將測例發(fā)送至被測裝置信號接口模塊；
步驟S8：被測裝置信號接口模塊將測例發(fā)送至被測裝置；
步驟S9：被測裝置對測例做出響應(yīng)，并發(fā)送反饋信息至被測裝置信號接口模塊；
步驟S10：被測裝置信號接口模塊將反饋信息發(fā)送至可編程門陣列處理模塊；
步驟S11：可編程門陣列處理模塊將反饋信息與預(yù)設(shè)比較信息進行比較；
若比較結(jié)果相同時，則被測裝置對該測例測試通過；
若比較結(jié)果不相同時，則被測裝置對該測例測試未通過；
步驟S12：可編程門陣列處理模塊判斷測試是否獲取完；
若未獲取完時，則執(zhí)行步驟S6；
若獲取完時，則測試完成。
12.如權(quán)利要求11所述的邏輯測試方法，其特征在于，所述步驟S2中可編程門陣列處理模塊設(shè)置為測例下載狀態(tài)包括；
外部測例下載模式；
內(nèi)部測例下載模式。
13.如權(quán)利要求12所述的邏輯測試方法，其特征在于，所述步驟S4中可編程門陣列處理模塊將測例進行保存的方法包括；
若可編程門陣列處理模塊是外部測例下載模式時，則將測例保存進存儲模塊；
若可編程門陣列處理模塊是內(nèi)部測例下載模式時，則將測例保存進配置存儲模塊。
14.如權(quán)利要求11-13中任一所述的邏輯測試方法，其特征在于，所述步驟S5中可編程門陣列處理模塊設(shè)置為測例測試狀態(tài)包括；
外部測例測試模式；
內(nèi)部測例測試模式；
手動外部測例測試模式；
手動內(nèi)部測例測試模式。
15.如權(quán)利要求14所述的邏輯測試方法，其特征在于，所述步驟S6中可編程門陣列處理模塊獲取一個測例的方法包括；
若可編程門陣列處理模塊是外部測例測試模式時，則可編程門陣列處理模塊通過存儲模塊接口從存儲模塊中獲取一個測例；
若可編程門陣列處理模塊是內(nèi)部測例測試模式時，則可編程門陣列處理模 塊通過配置存儲模塊接口從配置存儲模塊中獲取一個測例；
若可編程門陣列處理模塊是手動外部測例測試模式時，
則當(dāng)按鈕模塊按下，則可編程門陣列處理模塊通過存儲模塊接口從存儲模塊中獲取一個測例；
當(dāng)按鈕模塊松開，則邏輯測試裝置停止測試；
若可編程門陣列處理模塊是手動內(nèi)部測例測試模式時，
則當(dāng)按鈕模塊按下，則可編程門陣列處理模塊通過配置存儲模塊接口從配置存儲模塊中獲取一個測例；
當(dāng)按鈕模塊松開，則邏輯測試裝置停止測試。