技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種多維度正電子湮沒壽命譜和多普勒展寬譜測量系統(tǒng)，多維度正電子湮沒壽命譜測量系統(tǒng)和多普勒展寬譜測量系統(tǒng)中均包括反符合系統(tǒng)和三維移動(dòng)系統(tǒng)。所述的反符合系統(tǒng)包括依次相連的正電子探測器、第一前置放大器、第一譜放大器、第一單道分析器、符合器；正電子探測器由閃爍片和光電倍增管通過硅油耦合組成，放射源為同位素放射源，其直接滴于閃爍片上。所述的三維移動(dòng)系統(tǒng)用來裝載樣品并使樣品在三維方向移動(dòng)。本發(fā)明采用反符合系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)非樣品中湮沒信息的排除，可提高探測的可靠性和探測精度；采用三維移動(dòng)平臺調(diào)整樣品與正電子探測器間的距離和方位，可實(shí)現(xiàn)單塊不規(guī)則樣品多維度缺陷的精確無損檢測。

技術(shù)研發(fā)人員：石見見;吳奕初;姚春龍;劉向兵;朱喆劼;楊薇;王佳恒;徐雪慧
受保護(hù)的技術(shù)使用者：武漢大學(xué)
文檔號碼：201710035856
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.17
技術(shù)公布日：2017.05.17