技術編號：11912765
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種可探測多維度缺陷的正電子湮沒壽命譜和多普勒展寬譜測量系統(tǒng)。背景技術正電子譜學是以正電子為探針，研究正電子與物質相互作用，利用現(xiàn)代核譜學方法精確測量湮沒參數(shù)，從而得到有關物質微觀結構的有用信息。作為一種無損檢測技術，常規(guī)的正電子湮沒技術包含正電子湮沒壽命譜技術和多譜勒展寬譜技術。正電子放射源22Na發(fā)出的能量為1.28MeV的γ光子作為正電子的起始信號，正電子在樣品中湮沒后發(fā)出的能量為0.511MeV的γ光子作為正電子的終止信號，起始信號和終止信號之間的時間間隔即為正電子壽命。通過大...
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