技術(shù)特征：

1.一種光學器件相位延遲量的測量裝置，其特征在于：包括雙頻He-Ne激光器(1)，在該雙頻He-Ne激光器(1)發(fā)出的兩頻(f₁、f₂)激光方向是第一偏振分光鏡(2)，其中水平偏振的f₁激光經(jīng)過第一偏振分光鏡(2)透射傳播，豎直偏振的f₂激光經(jīng)過第一偏振分光鏡(2)反射傳播，沿f₁光依次是第一半波片(3)、第一45°高反鏡(4)、第二偏振分光鏡(7)、第二偏振片(10)、第二光電探測器(11)，沿f₂光依次是第二半波片(5)、第二45°高反鏡(6)、第二偏振分光鏡(7)、第一偏振片(8)、第一光電探測器(9)，所述第一半波片(3)的快軸安裝方向與水平面成22.5°夾角，所述第二半波片(5)的快軸安裝方向與水平面成67.5°夾角，所述第一偏振片(8)和第二偏振片(10)的通光方向與水平面成45°夾角。

2.利用強烈要求1所述的光學器件相位延遲量的測量裝置進行光學器件相位延遲量的測量方法，其特征在于該方法包括下列步驟：

1)將待測光學器件(12)放置在所述的第一半波片(3)至第二偏振分光鏡(7)之間的光路中，并使所述的待測器件(12)的快軸平行于水平面，慢軸垂直于水平面；

2)啟動所述的雙頻He-Ne激光器(1)，所述的第一光電探測器(9)和第二光電探測器(11)分別獲得拍頻信號E₉，拍頻信號E₁₁如下：

E₉＝A"B′cos[(ω₁-ω₂)t-(k₁-k₂)z-(φ₁-φ₂)-(Ф₁-Ф₂)-δ"]

E₁₁＝A′B"cos[(ω₁-ω₂)t-(k₁-k₂)z-(φ₁-φ₂)-(Ф₁-Ф₂)-δ′]；

3)比較光電探測器輸出信號E₉和E₁₁，可得出δ＝δ′-δ"的大小，此即為待測光學器件的相位延遲量；

4)待測光學器件的相位延遲量與2π(n_e-n_o)d/λ成正比，其中n_e、n_o為晶體材料非常光與尋常光的折射率，d為器件厚度，λ為入射光波長。

5)當待測光學器件(12)的使用波長與雙頻He-Ne激光器波長不一致時，滿足以下關(guān)系δ_real＝δ_mea*λ_He-Ne/λ_real

式中，δ_real為光學器件實際相位延遲量，δ_mea為測量出來的相位延遲量，λ_He-Ne為雙頻He-Ne激光器波長，λ_real為待測光學器件實際使用波長。