技術(shù)編號：12592132
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及精密測量領(lǐng)域，特別是光學(xué)器件相位延遲量的測量裝置及其測量方法。背景技術(shù)半波片、四分之一波片等光學(xué)器件作為精密儀器的重要組成部分，在精密測量、激光技術(shù)等領(lǐng)域有重要的應(yīng)用。其相位延遲量與標(biāo)稱值是否一致對儀器性能影響較大，因此精確測量半波片、四分之一波片的相位延遲量具有重要的意義。相位延遲器件通常采用具有雙折射效應(yīng)的材料制作而成，其相位延遲量與2π(ne-no)d/λ成正比，其中ne、no為晶體材料中非常光與尋常光的折射率，d為波片厚度，λ為所使用的光波長。過往的許多專家、學(xué)者提出了不同的測...
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