通過優(yōu)先權(quán)要求(直接地或間接地)，包括所作出的任何優(yōu)先權(quán)要求的優(yōu)先權(quán)申請和由關(guān)于優(yōu)先權(quán)申請的任何和所有申請的所有主題以及本申請的申請日通過引用結(jié)合在此的主題在此類主題不與本文沖突的程度上通過引用結(jié)合在此。

背景技術(shù)：

側(cè)流測定儀(lateralflowassay，lfa)可以是檢測分析物在樣本中的存在的紙基設(shè)備。lfa是護(hù)理診斷工具的公共點(diǎn)。lfa通過穿過多孔膜(例如，紙)芯吸(例如，毛細(xì)作用)感興趣的樣本起作用，其中化學(xué)反應(yīng)可以發(fā)生在多孔膜的表面中或表面上。lfa可以在其中含有共軛物材料。共軛物材料典型地被配制以提供溶解、反應(yīng)、著色、標(biāo)記或鍵合到樣本中的所懷疑分析物所必需的(多種)溶劑和(多種)反應(yīng)物。因此，如果分析物存在，共軛物或其成分將與樣本中的分析物反應(yīng)。共軛物材料可以包括被配置用于提供分析物、已反應(yīng)分析物或分析物-共軛物絡(luò)合物的存在的指示的指示劑材料。典型地，lfa的讀出可以是沿著lfa的長度的某一點(diǎn)處的視覺變化。許多l(xiāng)fa包括在lfa的遠(yuǎn)端附近的分析物收集材料，由此分析物和鍵合到其上的任何指示劑顆粒以較大濃度結(jié)合，以便提供陽性或陰性結(jié)果的視覺或其他指示。

結(jié)合光熱光譜測定讀取器的系統(tǒng)可以增強(qiáng)lfa的靈敏度和超過視覺檢測的類似測定結(jié)果。光熱光譜測定讀取器可以檢測來自lfa的用感興趣的樣本飽和的表面的熱輻射。與樣本中的分析物反應(yīng)的共軛物材料可以吸收來自光的能量。光熱光譜測定讀取器可檢測來自lfa的表面上的受輻照的共軛物材料的熱響應(yīng)，所述熱響應(yīng)可以提供分析物的存在的指示。

光熱光譜測定讀取器和lfa的制造商和用戶繼續(xù)尋求具有改進(jìn)的檢測能力的光熱光譜測定讀取器和lfa。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

在此所披露的實(shí)施例涉及光熱光譜裝置以及用于流測定儀的偏移同步測試的系統(tǒng)。還披露了使用并操作此類光熱光譜系統(tǒng)的方法。

在一個(gè)實(shí)施例中，披露了一種用于檢測分析物在布置于流測定儀中的樣本中的存在的系統(tǒng)，所述流測定儀中具有光學(xué)吸收指示劑顆粒。所述系統(tǒng)包括光源，所述光源被定位并被配置用于輻照流測定儀和其中的光學(xué)吸收指示劑顆粒的至少一部分。所述系統(tǒng)進(jìn)一步包括光熱光譜測定讀取器，所述光熱光譜測定讀取器被配置用于捕獲包括光學(xué)吸收指示劑顆粒的流測定儀的多個(gè)熱信號。所述系統(tǒng)另外包括控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)包括可操作地耦接到光源和光熱光譜測定讀取器上的控制電路系統(tǒng)?？刂齐娐废到y(tǒng)被配置用于以漸進(jìn)偏移的時(shí)間間隔使光源和光熱光譜測定讀取器的操作同步。

在一個(gè)實(shí)施例中，披露了一種檢測分析物在樣本中的存在的方法。所述方法包括將在其中包括多個(gè)光學(xué)吸收指示劑顆粒的流測定儀提供到檢測裝置的托架。所述方法還包括啟動(dòng)檢測裝置的操作，所述檢測裝置包括光源和光熱光譜測定讀取器，所述光熱光譜測定讀取器被配置用于捕獲在其中包括多個(gè)光學(xué)吸收指示劑顆粒的流測定儀的多個(gè)熱信號。所述方法進(jìn)一步包括將多個(gè)光脈沖從光源發(fā)射到流測定儀的至少一部分上。所述方法另外包括以漸進(jìn)地偏移的時(shí)域間隔使多個(gè)熱信號的捕獲基本上同步，所述多個(gè)熱信號是流測定儀的利用多個(gè)光脈沖輻照的至少一部分的。所述方法包括捕獲流測定儀的利用多個(gè)光脈沖輻照的至少一部分的多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)。所述方法進(jìn)一步包括至少部分地基于多個(gè)熱信號確定分析物在樣本中的存在。

來自所披露的實(shí)施例中的任何的特征可以彼此結(jié)合使用而不具有限制。另外，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員通過考慮以下詳細(xì)說明和附圖將明了本披露的其他特征和優(yōu)點(diǎn)。

前述概述僅僅是說明性的，并且并不意圖以任意方式作為限制。除了上文描述的說明性方面、實(shí)施例以及特征之外，通過參考圖示以及以下詳細(xì)描述將明了另外的方面、實(shí)施例以及特征。

附圖簡述

圖1a-1c是根據(jù)實(shí)施例在使用過程中的側(cè)流測定儀的等距視圖，所述橫向流動(dòng)測定可以由在此所披露的光熱光譜系統(tǒng)的實(shí)施例中的任一者讀取。

圖2a和圖2b分別是對應(yīng)的lfa在結(jié)合到光學(xué)吸收指示劑顆粒上的分析物存在和不存在時(shí)的光熱響應(yīng)的示意性表示。

圖3a是針對具有不同金納米顆粒濃度的樣本的溫度變化對時(shí)間的圖表。

圖3b是針對具有不同金納米顆粒濃度的樣本的根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間的圖表。

圖4a是根據(jù)實(shí)施例的用于檢測分析物在lfa中的存在的系統(tǒng)的等距視圖。

圖4b是圖4a的系統(tǒng)的側(cè)視圖。

圖4c是根據(jù)實(shí)施例的包括罩蓋的圖4a的系統(tǒng)的等距視圖。

圖4d是根據(jù)實(shí)施例的在使用過程中的圖4a的系統(tǒng)的一部分的等距視圖。

圖4e是根據(jù)實(shí)施例的在使用過程中的圖4a和圖4d的系統(tǒng)的一部分的等距視圖。

圖5a是根據(jù)實(shí)施例的用于檢測分析物在側(cè)流測定儀中的存在的系統(tǒng)的示意圖。

圖5b是根據(jù)實(shí)施例的用于檢測分析物在側(cè)流測定儀中的存在的系統(tǒng)的示意圖。

圖6是根據(jù)實(shí)施例的檢測分析物在樣本中的存在的方法的流程圖。

圖7a是根據(jù)實(shí)施例的來自用于檢測分析物在樣本中的存在的系統(tǒng)的信號之間的漸進(jìn)時(shí)域延遲的圖形表示。

圖7b是根據(jù)實(shí)施例的來自用于檢測分析物在樣本中的存在的系統(tǒng)的信號之間的漸進(jìn)時(shí)域延遲的圖形表示。

圖8a是根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間曲線的圖表，所述圖表具有利用由任意量隔開的測量點(diǎn)構(gòu)造的比較曲線。

圖8b是時(shí)間上的離散時(shí)域延遲點(diǎn)用于構(gòu)建根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化曲線對時(shí)間曲線的一組圖表。

具體實(shí)施方式

在此所披露的實(shí)施例涉及用于流測定儀(例如，lfa)的偏移同步測試的光熱光譜系統(tǒng)。還披露了操作并使用此類光熱光譜系統(tǒng)的方法。

lfa可以出于多種目的而用于提供護(hù)理測試點(diǎn)，作為非限制性示例，這些目的諸如藥物測試、妊娠測試、生育力測試和針對傳染性病原體的測試，諸如流行性感冒病毒、肝炎病毒和人類免疫缺陷病毒(hiv)。lfa和類似的流測定儀通過使在其中包括分析物的樣本經(jīng)由毛細(xì)作用移動(dòng)穿過一段毛細(xì)血管床來起作用。在毛細(xì)血管運(yùn)輸過程中，樣本中的分析物被暴露給被配置用于與分析物反應(yīng)以幫助其檢測的共軛物材料。共軛物可以在其中含有指示劑顆粒(例如，光學(xué)吸收指示劑顆粒、標(biāo)簽劑或顏色分子)。指示劑顆粒被結(jié)合到共軛物分子上或另外被配置用于與分析物、經(jīng)反應(yīng)分析物分子或分析物-共軛物絡(luò)合物反應(yīng)，并且當(dāng)以較大數(shù)量聚集(例如，結(jié)合到指示條上)時(shí)提供其視覺或其他指示。分析物的檢測可取決于足夠大量的用于提供其可辨別的視覺指示的分析物的不存在或存在。然而，在傳染的早期階段期間，分析物可能不以足以由測定視覺上可檢測的數(shù)量存在于受感染對象的系統(tǒng)中。

用于檢測分析物在樣本中的存在的系統(tǒng)可以使用結(jié)合到分析物上的光學(xué)吸收指示劑顆粒(例如，標(biāo)簽劑分子或其一部分，諸如金納米顆粒)的熱特征來確定分析物是否存在于樣本中。光源可以輻照lfa的一部分并且從而提升在其中的任何光學(xué)吸收指示劑顆粒的溫度。熱檢測器，諸如光熱光譜測定讀取器可以測量lfa的利用光輻照的部分并針對測量被捕獲的時(shí)點(diǎn)確定lfa的所述部分的溫度。強(qiáng)光和/或熱吸收劑的指示劑顆粒，諸如金納米顆粒將比lfa中的其他材料吸收更多來自光源的輻射。這種吸收能量的大多數(shù)被轉(zhuǎn)換成熱量，這引起來自指示劑顆粒和周圍材料的紅外輻射的增加，這將比在其中不具有光學(xué)吸收指示劑顆粒的那些部分更容易地表明在熱測量，諸如光熱光譜上。類似地，lfa的在其中具有更高濃度的光學(xué)吸收指示劑顆粒的部分將在光激勵(lì)時(shí)生成更多的熱量，并且與流測定儀的在其中具有更低濃度的光學(xué)吸收指示劑顆粒的部分具有不同的熱特征。一系列熱信號(例如，溫度測量、光熱光譜圖像或紅外圖像)可以用順序地偏移的時(shí)域間隔來測量，或來自光源的輻照時(shí)間的延遲可以用于確定用于熱信號的理想捕獲時(shí)間。理想捕獲時(shí)間為給定分析物提供時(shí)間上的根據(jù)時(shí)間變化的最大溫度變化定位和時(shí)間上(如與樣本的輻照隔開)樣本應(yīng)該被測試以便為檢測分析物提供最高靈敏度的瞬間。

適用于此類測量的系統(tǒng)包括光源、光熱光譜測定讀取器和控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)用于基本上同步由光源進(jìn)行的一系列輻照與由光熱光譜測定讀取器進(jìn)行的熱信號的捕獲之間的時(shí)間關(guān)系?；谒鲆幌盗袩嵝盘枺T如以來自由光源進(jìn)行的一系列輻照中的每一個(gè)的每個(gè)漸進(jìn)地延時(shí)捕獲的那些，根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間的曲線可以被構(gòu)建以表明理想的檢測時(shí)間。可以在理想的檢測時(shí)間對樣本進(jìn)行測試，以便向結(jié)合到光學(xué)吸收顆粒上的分析物提供最大靈敏度，這樣使得早期檢測可以實(shí)現(xiàn)。

圖1a-1c描繪了lfa101在使用過程中的可以由在此所披露的光熱光譜系統(tǒng)的實(shí)施例中的任一者讀取的對應(yīng)地不同時(shí)點(diǎn)處的實(shí)施例。應(yīng)當(dāng)注意，在此所披露的光熱光譜系統(tǒng)的實(shí)施例中的任一者可以讀取具有不同配置的流測定儀，并且圖1a-1c中所示的lfa101僅是適合的流測定儀的示例。lfa101包括背襯層102，所述背襯層具有第一末端104和第二末端106。背襯層102支撐鄰近于第一末端104的樣本襯墊108、共軛物襯墊110、具有測試線114和控制線116的薄膜112、以及鄰近于第二末端106的芯吸襯墊118?？赡茉谄渲芯哂蟹治鑫?22的樣本120可以被應(yīng)用于樣本襯墊108，其中，樣本經(jīng)由毛細(xì)作用從第一末端104穿過樣本襯墊108、共軛物襯墊116和薄膜112行進(jìn)至第二末端106處的芯吸襯墊118。樣本120中的任何分析物122可以鍵合到共軛物材料124上，包括其中的任何指示劑顆粒被攜帶至薄膜112，其中，共軛物-分析物絡(luò)合物經(jīng)由與測試線114中的多個(gè)捕獲分子128(例如，抗體或能夠保留分析物、共軛物或指示器顆粒中的一種或多種的其他分子)中的一個(gè)或多個(gè)的交互被收集在測試線114上。分析物122、分析物-共軛物絡(luò)合物、共軛物分子或樣本120中的其他材料中的一些可以穿過測試線114并經(jīng)由多個(gè)控制分子130中的一個(gè)或多個(gè)結(jié)合到控制線116，所述多個(gè)控制分子130被配置用于捕獲分析物122、分析物-共軛物絡(luò)合物、共軛物分子或樣本中的其他材料中的一種或多種，以便提供測試的功效的可見指示。

參考圖1a，在第一時(shí)點(diǎn)處的實(shí)施例中，樣本120可以包括能夠攜帶所懷疑分析物122(例如，分散體、乳劑等)的任何物質(zhì)或流體，諸如稀釋或未稀釋的血液、血清、尿液、唾液、粘液或來自測試對象的其他樣本。樣本120，包括其中的任何分析物122經(jīng)由移液管、滴管、澆注、浸漬或其他任何適合的技術(shù)來施加到樣本襯墊106上。樣本120經(jīng)由毛細(xì)作用從第一末端104朝向第二末端106攜帶。樣本120首先穿過共軛物襯墊110。

共軛物襯墊110在其至少一部分中包括共軛物材料124(例如，嵌入或另外分散在其中)。共軛物材料124可以被配制成與特定分析物(例如，抗原、分子等)反應(yīng)以便得到特定分析物-共軛物絡(luò)合物或分子。典型的共軛物材料可以包括化學(xué)反應(yīng)物、抗體125、生物活性劑、糖、鹽、可以包括光學(xué)吸收指示劑顆粒的指示劑顆粒126(例如，乳膠、膠體金、納米珠?；蚱渌m合的分子)、以及被配制成確保分析物與一種或多種共軛物成分或指示劑顆粒之間的滿意的反應(yīng)或鍵合的其他材料。例如，分析物122可以是病毒或抗原，并且共軛物材料124可以含有針對病毒或抗原的抗體125，抗體可以具有鍵合到其上的光學(xué)吸收指示劑顆粒126。用于與在此所披露的光熱光譜系統(tǒng)的實(shí)施例一起使用的光學(xué)吸收指示劑顆粒吸收電磁能量，例如，光能，并且隨后發(fā)射熱能，例如，熱量。適合波長(包括可見波長和不可見波長兩者)的電磁輻射可以包括可見光、紅外輻射、紫外輻射、微波輻射或能夠遞送熱能的任何其他電磁輻射中的一種或多種。適合的光學(xué)吸收指示劑顆?？梢园ㄒ韵赂黜?xiàng)中的至少一項(xiàng)：銀納米板、金納米顆粒、金納米柱、金納米籠、多壁碳納米管、膠態(tài)磁鐵礦顆粒、鐵氧體納米顆?；蚶w維素納米珠粒，諸如藍(lán)色纖維素納米珠粒。在暴露給樣本120時(shí)，共軛物材料124可以黏合到其中的分析物122上，從而形成分析物-共軛物絡(luò)合物140(圖1b)。

參考圖1b，在第二時(shí)點(diǎn)處，樣本120中的分析物122已經(jīng)鍵合到共軛物材料124上，從而形成多個(gè)分析物-共軛物絡(luò)合物140。如圖所示，毛細(xì)作用使多個(gè)分析物-共軛物絡(luò)合物140朝向第二末端106移動(dòng)穿過薄膜112。薄膜112可以包括任何親水性材料，具有包括硝化纖維的典型薄膜，諸如硝化纖維紙。薄膜112在其中包括測試線114。測試線114從lfa101的一側(cè)延伸到lfa101的另一側(cè)。測試線114可以由以線或其他適合的配置錨定到薄膜112從而形成測試線114的多個(gè)單獨(dú)捕獲分子128(例如，抗體或能夠保留分析物-共軛物絡(luò)合物140的其他分子)制成。單獨(dú)捕獲分子128黏合到單獨(dú)分析物-共軛物絡(luò)合物140的一部分上，從而保留分析物-共軛物絡(luò)合物140，包括其中的光學(xué)吸收指示劑顆粒。當(dāng)足夠多個(gè)分析物-共軛物絡(luò)合物140結(jié)合到測試線114上時(shí)，可以確定陽性結(jié)果。陽性結(jié)果可以視覺確定或更準(zhǔn)確地經(jīng)由測定的包括以較大數(shù)量收集(諸如在測試線114處)的光學(xué)吸收指示劑顆粒126的區(qū)域的熱檢測確定。

參考圖1c，在第三時(shí)點(diǎn)處，多個(gè)分析物-共軛物絡(luò)合物140中的至少一些已經(jīng)鍵合到多個(gè)捕獲分子128和其一部分上，并且任何未結(jié)合的共軛物材料124已經(jīng)穿過測試線114，從而進(jìn)一步朝向控制線116移動(dòng)?？刂凭€116從lfa101的一側(cè)延伸到lfa101的另一側(cè)，諸如平行于測試線114?？刂凭€116由以線或其他適合的配置錨定到薄膜112從而共同地限定控制線116的多個(gè)單獨(dú)控制分子130(例如，抗體或能夠保留分析物122、共軛物材料124(包括指示劑顆粒)、分析物-共軛物絡(luò)合物140或未結(jié)合的指示劑顆粒中的一種或多種的其他分子)制成。典型地，單獨(dú)控制分子130黏合到共軛物材料124的一部分上。當(dāng)足夠多個(gè)共軛物材料124結(jié)合到控制線116上時(shí)，可以做出lfa101已經(jīng)適當(dāng)?shù)仄鹱饔玫年栃源_定。陽性確定可以視覺地做出或更準(zhǔn)確地經(jīng)由含有共軛物材料124中的以較大數(shù)量收集(諸如在控制線116處)的光學(xué)吸收指示劑顆粒126的區(qū)域的熱檢測做出。

圖2a和圖2b分別是lfa在結(jié)合到光學(xué)吸收指示劑顆粒126上的分析物122存在和不存在于其中時(shí)的光熱光譜(pts)響應(yīng)的示意性表示。圖2a和圖2b中的pts響應(yīng)之間的差別展示了可以如何經(jīng)由熱成像觀察陽性(圖2a)和陰性(圖2b)測試結(jié)果。圖2a描繪了包括結(jié)合到測試線114中的多個(gè)捕獲分子128上的多個(gè)分析物-共軛物絡(luò)合物140的lfa101a。光在測試線114處輻照lfa101a的在光束位置230(例如，lfa的由光231輻照的區(qū)域)處包括多個(gè)分析物-共軛物絡(luò)合物140的至少一部分。圖2a還描繪了在光束位置230處的相應(yīng)溫度輪廓。

與圖2a相比，圖2b描繪了多個(gè)捕獲分子128形成測試線114的lfa101b。光在測試線114處輻照lfa101a的至少一部分-光束位置230。圖2b也描繪了在光束位置230處的相應(yīng)溫度輪廓。lfa101b缺乏分析物-共軛物絡(luò)合物140，這表示陰性樣本，并且因此由于缺乏光學(xué)吸收指示劑顆粒126而比lfa101a具有更低的熱容量。溫度輪廓展示了lfa101a實(shí)現(xiàn)比lfa101b更高的溫度。溫度輪廓差別是由于lfa101a中光學(xué)吸收指示劑顆粒的存在和lfa101b中光學(xué)吸收指示劑顆粒的缺乏而導(dǎo)致的。光學(xué)吸收指示劑顆粒126增加lfa吸收熱能的能力，如由光熱光譜所示。

光的波長、強(qiáng)度和曝光時(shí)間影響lfa或其部分(例如，光學(xué)吸收指示劑顆粒)中可以存儲(chǔ)的熱量的量。在更長時(shí)長內(nèi)的曝光可以提供有用信息。例如，圖3a是針對具有對應(yīng)地高和低的不同光學(xué)吸收指示劑顆粒濃度的樣本的溫度變化對時(shí)間的圖表。光學(xué)吸收指示劑顆粒在這個(gè)示例中是金納米顆粒。如圖所示，更高濃度的金納米顆粒(gnp)提供比更低濃度的金納米顆粒更大的溫度變化對時(shí)間。然而，高濃度溫度變化對時(shí)間曲線與低濃度溫度變化對時(shí)間曲線之間的關(guān)系(例如，比例)保持相對恒定。圖3b是針對具有對應(yīng)地高和低的不同光學(xué)吸收指示劑顆粒濃度的樣本的根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間的圖表。在用于圖3b的測試中使用的光學(xué)吸收指示劑顆粒也是金納米顆粒。如圖所示，高濃度金納米顆粒的根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間曲線與低濃度金納米顆粒的根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間曲線具有變化的比例關(guān)系。圖3b的圖表展示了兩條根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間曲線之間的比率隨時(shí)間的推移而變化并且最終會(huì)聚。然而，在接近100ms處的兩條曲線之間比率表明可以實(shí)現(xiàn)與最低檢測極限關(guān)聯(lián)的最大熱效應(yīng)的點(diǎn)。在這個(gè)測定結(jié)構(gòu)的這個(gè)時(shí)點(diǎn)處觀察到的另一些樣本由于超過背景熱噪聲的最大對比度可以可靠地用于提供最早的檢測。例如，具有更低濃度分析物-共軛物絡(luò)合物140的樣本可以指示疾病或病癥的出現(xiàn)或輕度情況。這種低濃度的檢測在lfa的背景熱噪聲時(shí)可以是偶然的。在理想檢測時(shí)間的確定和測試可以提供更低濃度的傳染性病原體(諸如病毒)或其他分析物可以可靠地被檢測為高于背景噪聲或溫度特性的時(shí)間。

光熱光譜測定讀取器可以檢測lfa的一個(gè)或多個(gè)部分的熱信號或熱特征。典型的光熱光譜測定讀取器可以包括熱檢測器、熱照相機(jī)、照相機(jī)或紅外(ir)照相機(jī)，諸如來自系統(tǒng)的ir照相機(jī)。能夠捕獲高幀率信號(例如，以小于約110hz或多于約9幀每分鐘捕獲的熱信號)的光熱光譜測定讀取器是昂貴的并且經(jīng)受進(jìn)口和出口控制。當(dāng)前美國出口法律(國際武器貿(mào)易條例(itar)和出口管理?xiàng)l例(ear))限制熱照相機(jī)可以合法操作的幀率。因此，為了合法觀察滿意的曲線準(zhǔn)確度或分辨率，不能使用標(biāo)準(zhǔn)光熱光譜測定讀取器系統(tǒng)，因?yàn)榍€幅值可能由于符合itar/ear的光熱光譜測定讀取器的必須減緩的幀率而被截?cái)嗷騺G失。在此所披露的實(shí)施例涉及符合出口控制法律且比使用高幀率光熱光譜測定讀取器的系統(tǒng)更便宜的系統(tǒng)。

圖4a-4e示出了用于檢測分析物在lfa中的存在的系統(tǒng)的實(shí)施例。系統(tǒng)400包括具有托架420的支撐結(jié)構(gòu)410、光源430、光熱光譜測定讀取器440和緊固到所述光熱光譜測定讀取器上的控制系統(tǒng)450。在使用過程中，托架420可重復(fù)地支撐工作位置中的一系列l(wèi)fa中的每一個(gè)，其中，光源430可以輻照lfa在托架420中的至少一部分(例如，測試線)。托架420的工作位置還提供光熱光譜測定讀取器440的視野與lfa的受輻照區(qū)域(光束位置)的對齊，這樣使得光熱光譜測定讀取器440可以在光束位置處捕獲一個(gè)或多個(gè)熱信號。輻照和熱成像的同步可以由控制系統(tǒng)450完成。例如，控制系統(tǒng)450被配置用于使來自光熱光譜測定讀取器440的熱信號的捕獲時(shí)間與光源430的點(diǎn)火時(shí)間同步，以便提供一系列熱信號。控制系統(tǒng)450可以被配置用于提供來自光熱光譜測定讀取器440的一系列熱信號的捕獲時(shí)間與光源430的一系列光發(fā)射的時(shí)域偏移同步，以便提供一系列漸進(jìn)地(例如，順序地更大)或遞減地(例如，順序地更小)時(shí)域延遲熱信號。

圖4a是系統(tǒng)400的等距視圖。支撐結(jié)構(gòu)可以包括底座412；背部支撐構(gòu)件414，所述背部支撐構(gòu)件被耦接到底座412上并從其垂直延伸；以及上部構(gòu)件416，所述上部構(gòu)件在位于或接近背部支撐構(gòu)件414的頂部處的位置處被耦接到背部支撐構(gòu)件414上，上部構(gòu)件416從所述背部支撐構(gòu)件水平延伸。支撐結(jié)構(gòu)410的一個(gè)或多個(gè)部分可以由陶瓷、金屬(例如，鋼、鋁、合金等)、塑料、地面石材或能夠在不顯著變形的情況下支撐系統(tǒng)400的組件的任何其他材料制成。圖4b是圖4a的系統(tǒng)400的側(cè)視圖。

底座412可以在適用于將任何數(shù)量的lfa順序地固持在工作位置中的一個(gè)位置中支撐托架420。工作位置將lfa的有待利用來自光源430的光輻照的所選擇部分與光熱光譜測定讀取器440的視野對齊，以便允許由光熱光譜測定讀取器440捕獲多個(gè)熱信號。托架可以被配置用于將一系列l(wèi)fa可重復(fù)地保持在工作位置中。托架420可以包括托盤，所述托盤在其中具有狹槽。例如，托盤可以包括被配置用于將lfa固持在狹槽中的一個(gè)或多個(gè)固位特征。固位特征可以包括夾具、夾鉗、粘合劑、緊固件等等。狹槽可以被配置用于固持特定類型或大小的lfa或可以被配置成固持許多類型或大小的lfa。托架420還可以包括可調(diào)整的工作臺(tái)，托盤和/或lfa可以被安裝在所述工作臺(tái)上?？烧{(diào)整的工作臺(tái)可以包括適于允許所述臺(tái)在一個(gè)或多個(gè)方向上移動(dòng)的任何適合的調(diào)整機(jī)制，諸如具有滑動(dòng)件、滾珠絲杠、管孔或在x、y或z坐標(biāo)平面中的一個(gè)或多個(gè)中延伸的其他調(diào)整構(gòu)件。

光源430可以被配置用于發(fā)射一個(gè)或多個(gè)離散光脈沖，諸如一系列或多個(gè)光脈沖。適合的光源可以包括激光源或能夠?qū)⒕劢构夂?或熱能遞送到目標(biāo)區(qū)域的任何其他高強(qiáng)度光源。例如，光源430可以被配置用于響應(yīng)于接收多個(gè)光發(fā)射信號，諸如從控制電路系統(tǒng)發(fā)送的光發(fā)射信號中的一個(gè)或多個(gè)而發(fā)射多個(gè)光脈沖中的一個(gè)或多個(gè)。光源430可以基本上垂直于托架420和/或位于所述托架上的lfa定位，這樣使得從光源發(fā)射的光以約90度的角度撞擊lfa。在一些實(shí)施例中，光源430可以與托架420和/或位于所述托架上的lfa成角度定位，這樣使得從光源發(fā)射的光以約45度至約90度的入射角撞擊lfa。光源可以直接地或間接地安裝在背部支撐構(gòu)件414或上部構(gòu)件416上或耦接到其上。

光源430可以被配置用于發(fā)射具有不同持續(xù)時(shí)間的離散光脈沖。例如，光源430可以被配置用于發(fā)射持續(xù)約1ms或更多，諸如持續(xù)約5ms至約500ms、約50ms、約100ms、約150ms、約200ms、約750ms、約1s或約2s的光脈沖。光源430可以被配置用于發(fā)射不同強(qiáng)度的光，包括約50mw或更多，諸如約50mw至約1w、約101mw至約500mw、約100mw至約200mw、約150mw至約300mw或約150mw。光源430可以被配置用于發(fā)射具有任何不同平均光波長中的一者的光，諸如從約400nm至約800nm。在一個(gè)實(shí)施例中，光源430可以被配置用于發(fā)射綠光，所述綠光具有約495nm與約570nm之間，諸如約520nm與約550nm之間、約555nm或約535nm的平均波長。在一個(gè)實(shí)施例中，光源430可以被配置用于發(fā)射紅光，所述紅光具有約620nm與約750nm之間，諸如約630nm與約680nm之間或約650nm的平均波長。在一些實(shí)施例中，系統(tǒng)400可以包括可以被配置用于發(fā)射相同或不同特性的光(例如，平均波長、持續(xù)時(shí)間或光強(qiáng))的兩個(gè)或更多個(gè)光源430。系統(tǒng)400可以被配置用于引起兩個(gè)或更多個(gè)光源基本上同時(shí)發(fā)射光，在替代方案中，或僅作為用于發(fā)射光的光源中的一個(gè)故障時(shí)的備用光源。

光熱光譜測定讀取器440可以被配置用于捕獲lfa的至少一部分的一個(gè)或多個(gè)熱信號或熱特征，諸如一系列多個(gè)熱信號。光熱光譜測定讀取器440可以被配置用于確定每個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)區(qū)域的溫度。適合的光熱光譜測定讀取器440可以包括熱照相機(jī)或紅外(ir)照相機(jī)，諸如來自俄勒岡的威爾遜維爾的系統(tǒng)公司(systems,inc.ofwilsonville,oregon)的用于熱圖形成像的紅外照相機(jī)。光熱光譜測定讀取器440可以相對于托架430上的lfa的上表面以一定的入射角定位。光熱光譜測定讀取器440可以與lfa的上表面成約10度或更大的入射角定位，諸如約10度至約80度、約30度至約60度，或如圖4b中所示，約45度。光熱光譜測定讀取器430可以直接地安裝在背部支撐構(gòu)件414上或間接地耦接到其上。

系統(tǒng)400包括被配置用于使來自光源420的光發(fā)射與由光熱光譜測定讀取器440捕獲的熱信號之間的時(shí)間差同步的控制系統(tǒng)450?？刂葡到y(tǒng)450可以被配置用于針對一系列光發(fā)射和相應(yīng)的熱信號使來自光源420的每個(gè)光發(fā)射與由光熱光譜測定讀取器440捕獲的每個(gè)相應(yīng)的熱信號之間的漸進(jìn)地或遞減地增加的時(shí)域延遲同步。控制系統(tǒng)450可以被配置用于針對一系列光發(fā)射和相應(yīng)的熱信號使由光熱光譜測定讀取器440捕獲的熱信號與來自光源420的每個(gè)相應(yīng)的光發(fā)射之間的漸進(jìn)地或遞減地偏移(例如，增加的或減少的)的時(shí)域延遲同步?？刂葡到y(tǒng)可以包括控制電路系統(tǒng)452。包括控制電路系統(tǒng)452的控制系統(tǒng)450可操作地耦接到光源430和光熱光譜測定讀取器440中的一個(gè)或多個(gè)上。

控制系統(tǒng)450的一個(gè)或多個(gè)組件可以被配置用于將一個(gè)或多個(gè)信號發(fā)送到光源430或光熱光譜測定讀取器440中的一個(gè)或多個(gè)、從其接收、對所述一個(gè)或多個(gè)信號進(jìn)行協(xié)調(diào)或處理。例如，控制電路系統(tǒng)452可以被配置用于向光源發(fā)送多個(gè)光發(fā)射信號，每個(gè)光發(fā)射信號有效觸發(fā)光源430從而發(fā)射光脈沖(例如，將激光脈沖發(fā)射到lfa上)?？刂齐娐废到y(tǒng)452可以被配置用于向光熱光譜測定讀取器440發(fā)送多個(gè)捕獲信號，每個(gè)捕獲信號有效引起光熱光譜測定讀取器440捕獲熱信號(例如，lfa的受輻照部分的熱信號)。如在下文中更詳細(xì)討論的，控制系統(tǒng)450可以包括以下各項(xiàng)中的一項(xiàng)或多項(xiàng)：延時(shí)選通、存儲(chǔ)器、用戶接口、檢測器控制電路系統(tǒng)、捕獲觸發(fā)器、光源控制電路系統(tǒng)、發(fā)射觸發(fā)器、信號中繼器或同步信號單元?？刂葡到y(tǒng)450的任何組件，諸如控制電路系統(tǒng)452可以經(jīng)由無線連接或物理電連接(例如，硬布線)可操作地耦接到系統(tǒng)400的一個(gè)或多個(gè)組件上，諸如光源430、控制系統(tǒng)450的另一個(gè)組件或光熱光譜測定讀取器440。

圖4c示出了具有罩蓋460的圖4a、圖4b、圖4d和圖4e的系統(tǒng)，所述罩蓋圍繞支撐結(jié)構(gòu)410延伸并封閉支撐結(jié)構(gòu)410、托架420、光源430、光熱光耦測定讀取器440和控制系統(tǒng)450中的每一個(gè)的至少一部分。罩蓋460可以在底座412、背部支撐構(gòu)件414或上部構(gòu)件416中的一個(gè)或多個(gè)處緊固到支撐結(jié)構(gòu)410上。罩蓋460可以由機(jī)械緊固件(例如，柱、螺釘、螺栓、夾具等)、粘合劑或磁體可移除地緊固到支撐結(jié)構(gòu)410上。罩蓋460可以包括金屬板，諸如包括鋁、錫或鋼；塑料(例如，聚碳酸酯、聚甲醛樹脂或丙烯酸)；陶瓷或任何其他適合的材料中的一種或多種。罩蓋460可以包括被配置用于允許在使用過程中訪問系統(tǒng)400的至少一部分的端口462。端口462可以被定位在罩蓋的朝前部分上并徑向于托架420定位，這樣使得包括至少所述臺(tái)和狹槽(如果存在的話)的托架420經(jīng)由端口462對于用戶是可訪問的。端口462可以從罩蓋460的前面的中點(diǎn)橫向延伸到罩蓋460的側(cè)面中間的點(diǎn)。端口462可以從基本上從托架420下方開始的前面的下部分垂直地延伸并延伸到罩蓋460的前面上方的更高部分，延伸到托架420上方但處于上部構(gòu)件416中間的點(diǎn)。端口462可以包括能夠關(guān)閉以使罩蓋460的內(nèi)部內(nèi)容與外部環(huán)境基本上密封或屏蔽的門463。如圖所示，門463可以是滑門、鉸鏈門、旋轉(zhuǎn)門或用于端口462的任何其他適合的罩蓋。

雖然被描繪為具有基本上垂直的安排，但考慮系統(tǒng)400的組件的水平或其他安排。例如，工作示例(未示出)被構(gòu)造為具有被配置用于在垂直取向上固持lfa的托架。激光與lfa橫向地水平定位，并且紅外照相機(jī)以水平地橫向于lfa的入射角定位，這樣使得紅外照相機(jī)的焦點(diǎn)與lta上的激光的光束位置對齊。

圖4d和圖4e是圖4a和圖4b中所示的系統(tǒng)400在使用過程中的不同時(shí)間的等距視圖。圖4d描繪了在來自光源430的光脈沖431的發(fā)射過程中的系統(tǒng)400。lfa401被定位在托架420上，這樣使得光431輻照lfa401的光束位置403處的所選擇部分(例如，利用光輻照的測試線)。光431可以誘導(dǎo)導(dǎo)致lfa401和其中的任何光學(xué)吸收指示劑顆粒的加熱的輻射吸收。

圖4e描繪了在lfa401的至少所選擇部分的熱信號的捕獲過程中的系統(tǒng)400。lfa401，包括其所選擇部分(例如，測試線)被定位在工作位置中，這樣使得來自光源420的光431輻照lfa401的光束位置403處的處于或接近焦點(diǎn)441或光熱光譜測定讀取器440的視野的所選擇部分。光束位置403和焦點(diǎn)441可以基本上共同延伸。光熱光譜測定讀取器440捕獲焦點(diǎn)441處的一個(gè)或多個(gè)熱信號。當(dāng)熱信號是lfa401的受輻照部分的并且受輻照部分包括lfa401的測試線時(shí)，分析物在lfa中的存在可以由結(jié)合到分析物上的光學(xué)吸收指示劑顆粒的熱特征確定。例如，光學(xué)吸收指示劑顆粒(例如，金納米顆粒)比測試線處的空的捕獲分子或在下面的薄膜材料保留更多的熱量。因此，陽性樣本的熱信號將以熱信號顯示為更熱，而陰性樣本的熱信號將比陽性樣本顯示更冷，因?yàn)椴淮嬖诙嘀聊軌虮Ａ艚?jīng)由光431施加的熱量的顆粒。另外地，一些光熱光譜測定讀取器能夠?qū)嵝盘柕牟煌糠值臏囟却_定為在2攝氏度的準(zhǔn)確度范圍內(nèi)。在這種實(shí)施例中，光熱光譜測定讀取器440可以采用一個(gè)或多個(gè)熱信號的一個(gè)或多個(gè)部分的平均溫度讀數(shù)或一個(gè)或多個(gè)整體熱信號的平均溫度。控制系統(tǒng)450可以傳送或存儲(chǔ)與在如下文中更詳細(xì)討論的分析中使用的每個(gè)捕獲的熱信號關(guān)聯(lián)的此類溫度讀數(shù)。

應(yīng)當(dāng)注意，圖4a-4e中所示的系統(tǒng)400僅僅是許多不同實(shí)施例中的一個(gè)。用于系統(tǒng)的其他配置可以由本披露使用并考慮。

圖5a是用于檢測分析物在樣本中的存在的系統(tǒng)500a的實(shí)施例的示意圖。系統(tǒng)500a或其部分可以與系統(tǒng)400或其部分相同或類似。系統(tǒng)500a可以包括光源530、光熱光譜測定讀取器540和控制系統(tǒng)550a?？刂葡到y(tǒng)550a可以經(jīng)由一個(gè)或多個(gè)連接505可操作地連接到光源530或光熱光譜測定讀取器540中的一者或兩者上。連接505可以是無線連接或物理電連接(例如，接線或電路)。

在一個(gè)實(shí)施例中，系統(tǒng)500a是光源或控制電路系統(tǒng)調(diào)步(paced)系統(tǒng)，其中引導(dǎo)所述系統(tǒng)的每個(gè)光發(fā)射或信號啟動(dòng)相應(yīng)熱信號或引導(dǎo)所述系統(tǒng)的信號的捕獲。

控制系統(tǒng)550a包括控制電路系統(tǒng)552，所述控制電路系統(tǒng)可以直接耦接到光源530或光熱光譜測定讀取器540中的一個(gè)或多個(gè)上或經(jīng)由一個(gè)或多個(gè)連接505耦接到其上。控制電路系統(tǒng)552可以包括信號中繼器554或延時(shí)選通556中的一個(gè)或多個(gè)，信號中繼器或延時(shí)選通中的每一個(gè)也被配置為在此所披露的適合的電路系統(tǒng)中的任一者?？刂齐娐废到y(tǒng)552可以被配置用于引導(dǎo)信號中繼器554，以便將多個(gè)光發(fā)射信號511中的一個(gè)或多個(gè)發(fā)送到光源530并將多個(gè)捕獲信號512中的一個(gè)或多個(gè)發(fā)送到光熱光譜測定讀取器。在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552被配置用于使發(fā)送一系列光發(fā)射信號511與一系列捕獲信號512同步，其中每個(gè)光發(fā)射信號511與相應(yīng)的捕獲信號512同步。在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552被配置用于以與所述一系列光發(fā)射信號中的每個(gè)相應(yīng)的光發(fā)射信號511的漸進(jìn)地或遞減地偏移的時(shí)域間隔或延遲使發(fā)送每個(gè)后續(xù)捕獲信號512同步。例如，控制電路系統(tǒng)552可以被配置用于使捕獲一系列延時(shí)熱信號中的每個(gè)熱信號偏移其多倍(例如，固定時(shí)域延遲，之后是兩倍固定時(shí)域延遲，之后是三倍固定時(shí)域延遲等)固定時(shí)域延遲(例如，約5毫秒(ms)或約10ms)。例如，可以在將光發(fā)射信號511從信號中繼器554發(fā)送的同時(shí)將捕獲信號512從信號中繼器554發(fā)送，可以比將光發(fā)射信號511發(fā)送到光源530晚固定時(shí)域延遲來發(fā)送緊接的后續(xù)捕獲信號512，并且可以比將相應(yīng)的光發(fā)射信號發(fā)送到光源530晚兩個(gè)固定時(shí)域延遲來發(fā)送之后的后續(xù)捕獲信號512，等等。類似地，信號之間的偏移可以遞減地偏移固定時(shí)域延遲(例如，30ms、然后25ms、然后20ms、然后15ms等)。適合的固定時(shí)域延遲可以是基于所懷疑的分析物類型、捕獲分子、使用的光學(xué)吸收指示劑顆粒、光源或光熱光譜測定讀取器中的一個(gè)或多個(gè)而選擇的。適合的固定時(shí)域延遲可以是1秒或更少，諸如約500ms或更少、約100ms或更少、約50ms或更少、約30ms或更少、約20ms或更少、約10ms或更少、約9ms或更少、約7ms或更少、約5ms或更少、約3ms或更少或約1ms。適合的固定時(shí)域可以是3ms或更多，諸如約5ms至約20ms、約5ms或更多、約7ms或更多、約10ms或更多、約15ms或更多、約20ms或更多或約30ms或更多。

在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552包括被配置用于接收、任選地偏移或延遲以及然后中繼一個(gè)或多個(gè)信號的延時(shí)選通556。延時(shí)選通556可以被配置用于使發(fā)送一系列信號中的每個(gè)后續(xù)信號漸進(jìn)地或遞減地延遲固定時(shí)域延遲。延時(shí)選通556可以可操作地耦接到信號中繼器554和光熱光譜測定讀取器540上以及位于它們之間。例如，延時(shí)選通556可以被配置用于從信號中繼器554接收一系列捕獲信號512(每個(gè)與一系列光發(fā)射信號中的每一個(gè)基本上同時(shí)從信號中繼器發(fā)送)，并且使發(fā)送一系列延時(shí)捕獲信號中的每個(gè)后續(xù)延時(shí)捕獲信號513漸進(jìn)地偏移或延遲固定時(shí)域延遲的漸進(jìn)地增大的倍數(shù)(例如，5ms、然后10ms、然后15ms等)。

控制電路系統(tǒng)552或其一個(gè)或多個(gè)組件，諸如延時(shí)選通556或信號中繼器554可以包括定時(shí)器或計(jì)數(shù)器(例如，一個(gè)或多個(gè)單穩(wěn)態(tài)電路系統(tǒng))，所述定時(shí)器或計(jì)數(shù)器被配置用于使從其中穿過的信號傳輸延遲設(shè)定的時(shí)間段。時(shí)域間隔或時(shí)域延遲可以被編程或硬布線成控制電路系統(tǒng)552，諸如通過在其中具有一個(gè)或多個(gè)單穩(wěn)態(tài)電路系統(tǒng)。適合的編程可以在如下文詳細(xì)描述的用戶接口處完成。

響應(yīng)于接收所述一系列光發(fā)射信號中的每個(gè)光發(fā)射信號511，光源530將光脈沖531發(fā)射到lfa501的所選擇部分上，包括發(fā)射到在其中的任何光學(xué)吸收指示劑顆粒上。響應(yīng)于接收所述一系列現(xiàn)在漸進(jìn)地延時(shí)捕獲信號中的每個(gè)延時(shí)捕獲信號513，光熱光譜測定讀取器捕獲lfa501的包括在其中的任何光學(xué)吸收指示劑顆粒的所選擇部分的延時(shí)熱信號。在一個(gè)實(shí)施例中，固定時(shí)域延遲可以是10毫秒或更多，并且可以獲得一系列熱信號，由此每個(gè)熱信號的捕獲時(shí)間由于與相應(yīng)的光發(fā)射相關(guān)而比先前的熱信號偏移晚10毫秒或更多。在一個(gè)實(shí)施例中，可以獲得或確定受輻照區(qū)域的一系列溫度，由此表明溫度的熱信號由于與相應(yīng)的光發(fā)射相關(guān)而比先前的熱信號偏移晚10毫秒或更多。在一些實(shí)施例中，諸如通過利用計(jì)算機(jī)程序檢驗(yàn)每個(gè)熱信號，可以確定流測定儀的利用一系列熱信號中的每個(gè)熱信號中的光輻照的部分的溫度，或直接從光熱光譜測定讀取器確定所述溫度?？梢允褂脕碜运鱿盗袧u進(jìn)地或遞減地延時(shí)熱信號的溫度數(shù)據(jù)來構(gòu)造并分析溫度變化對時(shí)間的圖表(圖3a)或根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間圖表(圖3b)。

控制系統(tǒng)550a或其一個(gè)或多個(gè)組件可以可操作地耦接到光源530和光熱光譜測定讀取器540上。在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552可操作地耦接到光源530和光熱光譜測定讀取器540上。

在一個(gè)實(shí)施例中，光源530被配置用于響應(yīng)于從控制電路系統(tǒng)552或其組件(例如，信號中繼器)接收光發(fā)射信號511來發(fā)射一個(gè)或多個(gè)光脈沖?？刂葡到y(tǒng)550a或光源530可以包括光源控制電路系統(tǒng)532，所述光源控制電路系統(tǒng)被配置用于控制光源530，諸如控制、調(diào)節(jié)、發(fā)送或接收來自光源或在其中的信號和數(shù)據(jù)(例如，控制或啟動(dòng)光發(fā)射，包括光的強(qiáng)度、持續(xù)時(shí)間、光束寬度或平均波長中的一個(gè)或多個(gè))。此類控制可以響應(yīng)于接收一個(gè)或多個(gè)信號(例如，多個(gè)光發(fā)射信號中的一個(gè))。在一個(gè)實(shí)施例中，光源控制電路系統(tǒng)532可以被布置在光源530中(如圖5a中所示)，在這個(gè)意義上，光源530還可以被認(rèn)為包括光源控制電路系統(tǒng)532。在一個(gè)實(shí)施例中(未示出)，光源控制電路系統(tǒng)532可以被布置在光源530外側(cè)的一個(gè)位置處，諸如在相關(guān)聯(lián)的控制箱中或在控制電路系統(tǒng)532中。如圖所示，光源控制電路系統(tǒng)532可以包括發(fā)射觸發(fā)器534，所述發(fā)射觸發(fā)器被配置用于響應(yīng)于從控制電路系統(tǒng)552或其組件(例如，信號中繼器)接收光發(fā)射信號511來控制(例如，啟動(dòng))一個(gè)或多個(gè)光脈沖的發(fā)射。發(fā)射觸發(fā)器534可以諸如經(jīng)由光源控制電路系統(tǒng)532可操作地耦接到控制電路系統(tǒng)552和光源530上，以便與它們通信(例如，發(fā)送或接收信號)。

在一個(gè)實(shí)施例中，光熱光譜測定讀取器540被配置用于響應(yīng)于從控制電路系統(tǒng)552或其組件(例如，信號中繼器或延時(shí)選通)接收捕獲信號512或513來捕獲一個(gè)或多個(gè)熱信號。控制系統(tǒng)550a或光熱光譜測定讀取器540可以包括檢測器控制電路系統(tǒng)542，所述檢測器控制電路系統(tǒng)被配置用于控制光熱光譜測定讀取器540，諸如控制、發(fā)送和接收來自光熱光譜測定讀取器或在其中的信號和數(shù)據(jù)(例如，控制或啟動(dòng)熱信號捕獲或熱信號數(shù)據(jù))。例如，檢測器控制電路系統(tǒng)542可以被配置用于控制多個(gè)熱信號中的每個(gè)連續(xù)熱信號之間的重復(fù)的固定時(shí)域間隔。固定時(shí)域間隔是類似動(dòng)作之間(諸如熱信號的捕獲之間)的時(shí)間上的固定間距。在一個(gè)實(shí)施例中，檢測器控制電路系統(tǒng)542可以被布置在光熱光譜測定讀取器540中(如圖5a中所示)，在這個(gè)意義上，光熱光譜測定讀取器540還可以被認(rèn)為包括檢測器控制電路系統(tǒng)542。在一個(gè)實(shí)施例中(未示出)，檢測器控制電路系統(tǒng)542可以被布置在光熱光譜測定讀取器外側(cè)的一個(gè)位置處，諸如在相關(guān)聯(lián)的控制箱中或在控制電路系統(tǒng)542中。如圖所示，檢測器控制電路系統(tǒng)542可以包括捕獲觸發(fā)器544，所述捕獲觸發(fā)器被配置用于響應(yīng)于從控制電路系統(tǒng)552或其組件接收捕獲信號512或513來控制(例如，啟動(dòng))一個(gè)或多個(gè)熱信號的捕獲。例如，捕獲觸發(fā)器544還可以被配置為在此所披露的適合的電路系統(tǒng)中的任一者。捕獲觸發(fā)器544可以諸如經(jīng)由檢測器控制電路系統(tǒng)542可操作地耦接到控制電路系統(tǒng)552和光熱光譜測定讀取器540上，以便與它們通信(例如，發(fā)送或接收信號)。檢測器控制電路系統(tǒng)542可以被配置用于將多個(gè)熱信號中的每個(gè)熱信號發(fā)送到控制電路系統(tǒng)552或存儲(chǔ)器單元558。

在一個(gè)實(shí)施例中，在操作過程中，控制電路系統(tǒng)552或其組件，諸如信號中繼器554可以用固定或等距時(shí)域間隔將一系列光發(fā)射信號發(fā)送到光源530或其組件(例如，光源控制電路系統(tǒng)532或發(fā)射觸發(fā)器534)。控制電路系統(tǒng)552或其組件，諸如信號中繼器554或延時(shí)選通556可以與相應(yīng)的光發(fā)射信號隔開以漸進(jìn)地或遞減地偏移的時(shí)域間隔或延遲將一系列捕獲信號發(fā)送到光熱光譜測定讀取器540或其組件(例如，檢測器控制電路系統(tǒng)542或捕獲觸發(fā)器544)。

在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552或其組件可以被配置用于將一系列光發(fā)射信號發(fā)送到光源530并將一系列捕獲信號發(fā)送到檢測器控制電路系統(tǒng)542。每個(gè)光發(fā)射信號具有相應(yīng)的且與其基本上同時(shí)發(fā)送的捕獲信號。所述一系列捕獲信號中的每個(gè)后續(xù)捕獲信號可以包括隨其漸進(jìn)地更大或更小的時(shí)域延遲，所述時(shí)域延遲有效引起檢測器控制電路系統(tǒng)542或捕獲觸發(fā)器使捕獲熱信號偏移由時(shí)域延遲指示的時(shí)間間距，這樣使得相應(yīng)的熱信號以比緊接的先前熱信號漸進(jìn)地更大或更小的延時(shí)捕獲。

在一個(gè)實(shí)施例中，控制系統(tǒng)550a可以包括存儲(chǔ)器單元558，所述存儲(chǔ)器單元被配置用于將熱信號、光發(fā)射特性、操作程序或其他數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在其上。存儲(chǔ)器單元558可以包括非瞬態(tài)存儲(chǔ)器設(shè)備，諸如硬盤驅(qū)動(dòng)器、固態(tài)存儲(chǔ)器設(shè)備或能夠允許數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在其上和檢索數(shù)據(jù)的任何其他適合的電子介質(zhì)。存儲(chǔ)器單元558可以包括存儲(chǔ)在其上的一個(gè)或多個(gè)樣本類型或相關(guān)操作程序。操作程序可以包括在操作程序執(zhí)行時(shí)用于執(zhí)行特定組過程參數(shù)的計(jì)算機(jī)指令。操作參數(shù)包括定時(shí)程序，這些定時(shí)程序包括以下各項(xiàng)中的一項(xiàng)或多項(xiàng)：光發(fā)射信號之間的固定時(shí)域間隔、諸如與光發(fā)射信號中的每一個(gè)相對應(yīng)的后續(xù)捕獲信號之間的漸進(jìn)或遞減的時(shí)域延遲；強(qiáng)度、持續(xù)時(shí)間或從光源530發(fā)射的光波長中的一個(gè)或多個(gè)；所懷疑分析物或樣本類型與諸如查詢表中的前述參數(shù)中的任一者的關(guān)系；或它們的組合。

在一個(gè)實(shí)施例中，在操作過程中，所懷疑分析物可以在查詢表中與可以基于特定的所懷疑分析物(例如，基于將特定的所懷疑分析物輸入控制系統(tǒng)550a中)手動(dòng)地或自動(dòng)地選擇的一組操作參數(shù)關(guān)聯(lián)。在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552被配置用于確定或選擇定時(shí)程序，包括所希望的固定時(shí)域間隔、時(shí)域延遲或偏移時(shí)域間隔或延遲中的一個(gè)或多個(gè)?？刂齐娐废到y(tǒng)552可以響應(yīng)于由用戶選擇的樣本類型來選擇定時(shí)程序，諸如通過將樣本類型與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器單元558中的查詢表中的與所述樣本類型相對應(yīng)的時(shí)間信息進(jìn)行比較。在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552可以包括比較分析電路，所述比較分析電路被配置用于使所選擇樣本類型與存儲(chǔ)器中的一個(gè)或多個(gè)定時(shí)程序關(guān)聯(lián)并且響應(yīng)于所述關(guān)聯(lián)來執(zhí)行關(guān)聯(lián)的一個(gè)或多個(gè)定時(shí)程序。

在一個(gè)實(shí)施例中，在操作過程中，lfa類型或結(jié)構(gòu)可以在查詢表中與可以基于特定測定(例如，基于將特定測定型號輸入控制系統(tǒng)550a中)手動(dòng)地或自動(dòng)地選擇的一組操作參數(shù)關(guān)聯(lián)。在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552被配置用于確定或選擇定時(shí)程序，包括所希望的固定時(shí)域間隔、時(shí)域延遲或偏移時(shí)域間隔或延遲中的一個(gè)或多個(gè)。控制電路系統(tǒng)552可以響應(yīng)于由用戶選擇的測定類型來選擇定時(shí)程序，諸如通過將測定類型與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器單元558中的查詢表中的與所述測定類型相對應(yīng)的時(shí)間信息進(jìn)行比較。在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552可以包括比較分析電路，所述比較分析電路被配置用于使所選擇測定類型與存儲(chǔ)器中的一個(gè)或多個(gè)定時(shí)程序關(guān)聯(lián)并且響應(yīng)于所述關(guān)聯(lián)來執(zhí)行關(guān)聯(lián)的一個(gè)或多個(gè)定時(shí)程序。

控制系統(tǒng)550a可以包括可操作地耦接到其上的用戶接口559。用戶接口559可以可操作地耦接到控制電路系統(tǒng)552或存儲(chǔ)器單元558上。用戶接口559可以被緊固到系統(tǒng)500a上，集成到支撐結(jié)構(gòu)510中，無線連接到系統(tǒng)500a的一個(gè)或多個(gè)組件上或以其他方式可操作地耦接到其上。在一個(gè)實(shí)施例中，用戶接口559包括屏幕，所述屏幕被配置用于顯示一個(gè)或多個(gè)熱信號、基于熱信號的圖表或針對分析物的測試的陽性/陰性結(jié)果。在一個(gè)實(shí)施例中，用戶接口559可以包括以下各項(xiàng)中的一項(xiàng)或多項(xiàng)：小鍵盤、屏幕、個(gè)人計(jì)算設(shè)備(例如，膝上型計(jì)算機(jī)或臺(tái)式計(jì)算機(jī)、平板計(jì)算機(jī)、蜂窩電話等)、開關(guān)、選擇器或功率控制器。在一個(gè)實(shí)施例中，在使用過程中，用戶可以經(jīng)由用戶接口559將指令、數(shù)據(jù)或操作程序(例如，定時(shí)或光特性程序)輸入到控制系統(tǒng)550a中，其中，數(shù)據(jù)被發(fā)送到存儲(chǔ)器單元558或控制電路系統(tǒng)。在一個(gè)實(shí)施例中，用戶接口559可以用于輸出或檢索存儲(chǔ)的信息，諸如來自存儲(chǔ)器558的熱信號數(shù)據(jù)。響應(yīng)于用戶輸入，諸如所懷疑分析物類型，控制電路系統(tǒng)558可以使所懷疑分析物類型與具有經(jīng)選擇以提供特定所懷疑分析物類型的滿意分析的操作參數(shù)(例如，時(shí)域延遲、光發(fā)射強(qiáng)度、光發(fā)射持續(xù)時(shí)間、相應(yīng)的光發(fā)射-熱信號對的數(shù)量等)的相應(yīng)操作程序相關(guān)。在一個(gè)實(shí)施例中，響應(yīng)于用戶輸入，系統(tǒng)500a可以啟動(dòng)操作。在一個(gè)實(shí)施例中，響應(yīng)于用戶輸入，系統(tǒng)500a可以設(shè)定或調(diào)整一個(gè)或多個(gè)操作參數(shù)。

在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552可以被配置用于分析熱信號或與熱信號相對應(yīng)的溫度數(shù)據(jù)中的每一個(gè)并且基于其中的一系列延時(shí)熱信號、溫度和定時(shí)數(shù)據(jù)構(gòu)建圖表；所述圖表具有包括表示一系列延時(shí)熱信號中的每個(gè)延時(shí)熱信號的數(shù)據(jù)點(diǎn)的曲線(例如，根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間曲線)。在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552可以被配置用于分析曲線并且諸如通過識別根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間曲線的峰值來針對所懷疑分析物確定理想檢測時(shí)間(例如，根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化的最大值發(fā)生的時(shí)間)。在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552可以被配置用于分析曲線并且諸如通過識別根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間曲線的峰值來針對lfa的特定結(jié)構(gòu)、類型或模型確定理想檢測時(shí)間(例如，根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化的最大值發(fā)生的時(shí)間)?？刂齐娐废到y(tǒng)552可以將與延時(shí)特信號相對應(yīng)的數(shù)據(jù)(例如，圖表、理想檢測時(shí)間或測試的陽性/陰性結(jié)果)輸出到用戶接口559或存儲(chǔ)器單元558中的一者或兩者。在一個(gè)實(shí)施例中，響應(yīng)于確定理想檢測時(shí)間，控制電路系統(tǒng)558可以將固定測試延遲時(shí)間自動(dòng)地設(shè)定為理想檢測時(shí)間，這樣使得任何數(shù)量的后續(xù)測試樣本僅在理想檢測時(shí)間時(shí)測試，以便在每次測試結(jié)果中提供更大的靈敏度和可信度。

系統(tǒng)500a還可以包括可操作地耦接到系統(tǒng)500a的一個(gè)或多個(gè)組件上的電源(未示出)。電源可以直接地或間接地可操作地耦接到系統(tǒng)500a或其任何組件上。電源可以包括被配置用于與電力插座(例如，壁裝電力插座)或一個(gè)或多個(gè)電池配合的電力電纜。

圖5b是用于檢測分析物在樣本中的存在的系統(tǒng)500b的示意圖。系統(tǒng)500b可以包括光源530、光熱光譜測定讀取器540和控制系統(tǒng)550b?？刂葡到y(tǒng)550b可以經(jīng)由一個(gè)或多個(gè)連接505可操作地連接到光源530或光熱光譜測定讀取器540中的一者或兩者上。連接505可以是無線連接或物理電連接(例如，接線或電路)。系統(tǒng)500b的具有與系統(tǒng)500的用相同標(biāo)號標(biāo)示的組件相對應(yīng)的參考標(biāo)號的組件可以與用相同標(biāo)號標(biāo)示的組件類似或相同，包括在其中的所有組件。例如，系統(tǒng)500b的光源530與上文所描述的光源530相同或類似，包括相關(guān)聯(lián)的光源控制電路系統(tǒng)532或發(fā)射觸發(fā)器534。

在一個(gè)實(shí)施例中，系統(tǒng)500b是光熱光譜測定讀取器540調(diào)步系統(tǒng)，其中熱信號的每次捕獲啟動(dòng)相關(guān)光發(fā)射。

控制系統(tǒng)550b包括控制電路系統(tǒng)552，所述控制電路系統(tǒng)可以直接耦接到光源530或光熱光譜測定讀取器540中的一個(gè)或多個(gè)上或經(jīng)由一個(gè)或多個(gè)連接505耦接到其上?？刂葡到y(tǒng)500b可以進(jìn)一步包括基本上如上文所描述的存儲(chǔ)器單元558和用戶接口559?？刂齐娐废到y(tǒng)552可以包括或可操作地連接到信號中繼器554、延時(shí)選通556、存儲(chǔ)器單元558或用戶接口559中的一個(gè)或多個(gè)上?？刂齐娐废到y(tǒng)552可以被配置用于引導(dǎo)信號中繼器554，以便將多個(gè)光發(fā)射信號511中的一個(gè)或多個(gè)發(fā)送到光源530，將多個(gè)捕獲信號512中的一個(gè)或多個(gè)發(fā)送到光熱光譜測定讀取器540，并且接收一個(gè)或多個(gè)同步信號514。

在一個(gè)實(shí)施例中，光熱光譜測定讀取器540被配置用于響應(yīng)于從控制電路系統(tǒng)552或其組件(例如，信號中繼器)接收光捕獲信號來捕獲一個(gè)或多個(gè)熱信號。控制系統(tǒng)550b或光熱光譜測定讀取器540可以包括檢測器控制電路系統(tǒng)542，所述檢測器控制電路系統(tǒng)被配置用于控制光熱光譜測定讀取器540，諸如控制、發(fā)送和接收來自光熱光譜測定讀取器或在其中的信號和數(shù)據(jù)(例如，控制或啟動(dòng)熱信號捕獲或熱信號數(shù)據(jù)，或控制與熱信號的捕獲相對應(yīng)的同步信號)。在一個(gè)實(shí)施例中，檢測器控制電路系統(tǒng)542可以被布置在光熱光譜測定讀取器540中(如圖5b中所示)，在這個(gè)意義上，光熱光譜測定讀取器540還可以被認(rèn)為包括檢測器控制電路系統(tǒng)542。在一個(gè)實(shí)施例中(未示出)，檢測器控制電路系統(tǒng)542可以被布置在光熱光譜測定讀取器外側(cè)的一個(gè)位置處，諸如在相關(guān)聯(lián)的控制箱中或在控制電路系統(tǒng)542中。如所示，檢測器控制電路系統(tǒng)542可以包括捕獲觸發(fā)器544，所述捕獲觸發(fā)器被配置用于響應(yīng)于從控制電路系統(tǒng)552或其組件接收捕獲信號來控制(例如，啟動(dòng))一個(gè)或多個(gè)熱信號的捕獲。捕獲觸發(fā)器544可以諸如經(jīng)由檢測器控制電路系統(tǒng)542可操作地耦接到控制電路系統(tǒng)552和光熱光譜測定讀取器540上?？刂齐娐废到y(tǒng)552或捕獲觸發(fā)器544可以被配置用于以每100ms或更多均勻隔開的固定時(shí)域間隔引導(dǎo)一系列熱信號的捕獲，諸如每110ms至每500ms、每120ms至每200ms、每110ms、每150ms、每110ms或更多、每120ms或更多、每150ms或更多、每200ms或更多、每500ms或更多或每1秒或更多。

控制系統(tǒng)550b或光熱光譜讀取器540可以包括可操作地耦接到其上的同步信號單元546，諸如位于檢測器控制電路系統(tǒng)542的一部分中。例如，同步信號單元546還可以被配置為在此所披露的適合的電路系統(tǒng)中的任一者。同步信號單元546可以直接地或諸如經(jīng)由檢測器控制電路系統(tǒng)542間接地可操作地耦接到以下各項(xiàng)中的一項(xiàng)或多項(xiàng)上：控制電路系統(tǒng)552、光熱光譜測定讀取器540、檢測器控制電路系統(tǒng)542或捕獲觸發(fā)器544。同步信號單元546被配置用于將多個(gè)同步信號514，諸如一系列中的一個(gè)或多個(gè)發(fā)送到控制電路系統(tǒng)552或其中的組件。每個(gè)同步信號514指示熱信號的捕獲的發(fā)生或時(shí)間。檢測器控制電路系統(tǒng)542或捕獲觸發(fā)器544可以被編程來執(zhí)行或接收由固定時(shí)域偏移隔開的捕獲信號，從而以均勻隔開的間隔有效觸發(fā)多個(gè)熱信號的捕獲。在捕獲每個(gè)熱信號時(shí)，同步信號單元546被配置用于將報(bào)告熱信號捕獲的同步信號514基本上同時(shí)發(fā)送到控制電路系統(tǒng)552。

在一個(gè)實(shí)施例中，并且如在下文中更詳細(xì)討論的，控制電路系統(tǒng)552被配置用于響應(yīng)于一系列同步信號514中的每一個(gè)使將一系列光發(fā)射信號511發(fā)送到光源530同步，其中每個(gè)光發(fā)射信號511與相應(yīng)的同步信號514同步。在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552被配置用于以與所述一系列同步信號中的每個(gè)相應(yīng)的同步信號514的漸進(jìn)地或遞減地偏移的時(shí)域延遲使發(fā)送每個(gè)后續(xù)延時(shí)光發(fā)射信號511'同步。例如，控制電路系統(tǒng)552可以被配置用于使發(fā)送一系列光發(fā)射信號中的每個(gè)光發(fā)射信號偏移漸進(jìn)地或遞減地偏移的時(shí)域延遲(例如，約5mms或約10毫秒)的多倍。在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552可以包括可操作地耦接到信號中繼器和光源530或其組件上的延時(shí)選通556。延時(shí)選通556可以被配置用于使發(fā)送一系列光發(fā)射信號中的每個(gè)光發(fā)射信號與每個(gè)相應(yīng)的連續(xù)同步信號偏移漸進(jìn)地偏移的時(shí)域延遲。

控制電路系統(tǒng)552可以被配置用于從同步信號單元546接收多個(gè)同步信號中的每一個(gè)，并且響應(yīng)于所述接收，將同步信號514中的每一個(gè)的相應(yīng)光發(fā)射信號511中繼到光源530。在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552可以包括信號中繼器554，所述信號中繼器被配置用于從其接收或發(fā)送一個(gè)或多個(gè)信號。信號中繼器554可以被配置用于從同步信號單元546接收多個(gè)同步信號514中的每一個(gè)，并且響應(yīng)于所述接收，將同步信號514中的每一個(gè)的相應(yīng)光發(fā)射信號511中繼到光源530。

在一個(gè)實(shí)施例中，控制系統(tǒng)550b可以包括延時(shí)選通556。延時(shí)選通556可以可操作地耦接到控制電路系統(tǒng)552和光源530上或位于它們之間。例如，延時(shí)選通556可以被定位在信號中繼器556與光源控制電路系統(tǒng)532或其中的發(fā)射觸發(fā)器534之間或耦接到其上。在一個(gè)實(shí)施例中，延時(shí)選通556被配置用于從控制電路系統(tǒng)552(例如，信號中繼器)接收一系列光發(fā)射信號511并中繼一系列漸進(jìn)地或遞減地延時(shí)光發(fā)射信號511'，所選擇時(shí)域延遲后的每一個(gè)已經(jīng)占用。例如，延時(shí)選通556可以被配置用于從信號中繼器556接收光發(fā)射信號511并使發(fā)送相應(yīng)的延時(shí)光發(fā)射信號511'延遲固定時(shí)域延遲，諸如10ms或更多，并且在接收后續(xù)光發(fā)射信號511'后，使相應(yīng)的延時(shí)光發(fā)射信號511'延遲后續(xù)倍數(shù)的固定時(shí)域延遲，諸如20ms等。延時(shí)選通可以由控制電路系統(tǒng)552引導(dǎo)或從控制電路系統(tǒng)552接收編程指令，從而引導(dǎo)或編程其中的所選擇固定時(shí)域延遲。適合的固定時(shí)域延遲可以是基于分析物、捕獲分子、使用的光學(xué)吸收指示劑顆粒、光源或光熱光譜測定讀取器中的一個(gè)或多個(gè)而選擇的。適合的固定時(shí)域延遲可以是1ms或更多，諸如約3ms至約20ms、約5ms或更多、約7ms或更多、約9ms或更多、約10ms或更多、約15ms或更多、約20ms或更多或約30ms或更多。

在一個(gè)實(shí)施例中，光源530被配置成與上文參考系統(tǒng)500a所描述的光源530相同或類似?？刂葡到y(tǒng)550b或光源530可以包括被配置成與上文參考系統(tǒng)500a所描述的光源控制電路系統(tǒng)532相同或類似的光源控制電路系統(tǒng)532。如圖所示，光源控制電路系統(tǒng)532可以包括被配置成與上文參考系統(tǒng)500a所描述的發(fā)射觸發(fā)器534相同或類似的發(fā)射觸發(fā)器534。

響應(yīng)于接收所述一系列現(xiàn)在漸進(jìn)地延時(shí)光發(fā)射信號中的每個(gè)延時(shí)光發(fā)射信號511'，光源530利用光輻照lfa501的所選擇部分。隨后地，光熱光譜測定讀取器540捕獲lfa501的在其中包括任何光學(xué)吸收指示劑顆粒的所選擇部分的延時(shí)熱信號。在一個(gè)實(shí)施例中，固定時(shí)域延遲可以是10毫秒或更多，并且可以獲得一系列熱信號，由此每個(gè)熱信號的捕獲時(shí)間由于與相應(yīng)的光發(fā)射相關(guān)而比先前的熱信號偏移晚10毫秒。在一個(gè)實(shí)施例中，可以獲得受輻照區(qū)域的一系列溫度，由此觀測溫度由于與相應(yīng)的光發(fā)射相關(guān)而比先前測量的觀測溫度偏移晚10毫秒?？梢允褂脕碜运鱿盗袧u進(jìn)地或遞減地延時(shí)熱信號的溫度數(shù)據(jù)來構(gòu)造并分析溫度變化對時(shí)間的圖表(圖3a)或根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間圖表(圖3b)。

在一個(gè)實(shí)施例中，控制系統(tǒng)550b可以包括存儲(chǔ)器單元558，所述存儲(chǔ)器單元可以與參考系統(tǒng)300a所描述的存儲(chǔ)器單元558類似或相同。存儲(chǔ)器單元558可以包括存儲(chǔ)在其上的一個(gè)或多個(gè)操作程序，所述一個(gè)或多個(gè)操作程序可以另外包括用于光熱光譜測定讀取器的固定時(shí)域間隔或用于控制電路系統(tǒng)的固定時(shí)域延遲。

控制系統(tǒng)550b可以包括可操作地耦接到其上的用戶接口559。用戶接口559可以與參考系統(tǒng)500a所描述的用戶接口559相同或類似。在一個(gè)實(shí)施例中，響應(yīng)于用戶輸入，系統(tǒng)500b可以啟動(dòng)操作。在一個(gè)實(shí)施例中，響應(yīng)于用戶輸入，系統(tǒng)500b可以設(shè)定或調(diào)整一個(gè)或多個(gè)操作參數(shù)。

在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路系統(tǒng)552可以被配置用于分析熱信號或與熱信號相對應(yīng)的溫度數(shù)據(jù)中的每一個(gè)；基于其中的一系列延時(shí)熱信號、溫度和定時(shí)數(shù)據(jù)構(gòu)建圖表；分析所構(gòu)造的圖表；或與如上文所描述的相同或類似地輸出與其相關(guān)的結(jié)果或數(shù)據(jù)。

系統(tǒng)500b還可以包括可操作地耦接到系統(tǒng)500b的一個(gè)或多個(gè)組件上的電源(未示出)。電源可以直接地或間接地可操作地耦接到系統(tǒng)500b或其任何組件上。電源可以包括被配置用于與電力插座(例如，壁裝電力插座)或一個(gè)或多個(gè)電池配合的電力電纜。

圖6是用于檢測分析物在樣本中的存在的方法600的實(shí)施例的流程圖。方法600包括捕獲lfa的已經(jīng)利用由一系列光發(fā)射的光輻照的一部分(在其中包括任何光學(xué)吸收指示劑顆粒)的時(shí)域延遲熱信號，以便確定用于確定樣本中的分析物的檢測的最靈敏且最準(zhǔn)確時(shí)間的理想時(shí)間(如與輻照時(shí)間相關(guān))，以及然后基于從熱信號搜集的數(shù)據(jù)確定分析物是否存在于樣本中。方法600包括動(dòng)作610，所述動(dòng)作將在其中包括多個(gè)光學(xué)吸收指示劑顆粒的流測定儀提供或緊固到檢測裝置的托架上。在一個(gè)實(shí)施例中，檢測裝置可以是在此所描述的系統(tǒng)中的任一者。在一個(gè)實(shí)施例中，流測定儀可以與在此所描述的任何流測定儀(包括lfa)類似或相同。將流測定儀緊固到托架上可以包括將流測定儀插入托架上的狹槽中，以便將流測定儀定位在工作位置中。將流測定儀緊固到托架可以包括以下各項(xiàng)中的一項(xiàng)或多項(xiàng)：夾緊夾具、夾緊夾鉗、使用粘合劑、夾緊緊固件或調(diào)整托架的臺(tái)的位置。

方法600包括動(dòng)作620，所述動(dòng)作啟動(dòng)包括光源和光熱光譜測定讀取器的檢測裝置的操作，所述光熱光譜測定讀取器被配置用于捕獲在其中包括多個(gè)光學(xué)吸收指示劑顆粒的流測定儀的多個(gè)熱信號。在一個(gè)實(shí)施例中，啟動(dòng)檢測裝置的操作可以包括開啟檢測裝置(例如，系統(tǒng)400、500a或500b)，按下起動(dòng)按鈕或提供用戶指令以起動(dòng)檢測裝置(例如，在用戶接口處提供起動(dòng)命令)。在一個(gè)實(shí)施例中，檢測裝置被配置用于響應(yīng)于檢測到工作位置中的lfa而自動(dòng)地啟動(dòng)。在一個(gè)實(shí)施例中，光源可以與在此所描述的任何光源類似或相同，并且光熱光譜測定讀取器可以與在此所披露的任何光熱光譜測定讀取器類似或相同。

方法600包括動(dòng)作630，所述動(dòng)作將多個(gè)光脈沖從光源發(fā)射到流測定儀的至少一部分上。在一個(gè)實(shí)施例中，將多個(gè)光脈沖發(fā)射到流測定儀的至少一部分上包括將多個(gè)光脈沖發(fā)射到處于或接近測試線的流測定儀上。在一個(gè)實(shí)施例中，將多個(gè)光脈沖發(fā)射到流測定儀的至少一部分上包括將一系列光脈沖發(fā)射到流測定儀上。在一個(gè)實(shí)施例中，將多個(gè)光脈沖發(fā)射到流測定儀的至少一部分上包括將一系列延時(shí)光脈沖(如與熱信號捕獲時(shí)間或同步信號相關(guān))發(fā)射到流測定儀上。在一個(gè)實(shí)施例中，將多個(gè)光脈沖發(fā)射到流測定儀的至少一部分上包括從激光源發(fā)射多個(gè)激光脈沖，諸如具有在綠色可見光區(qū)域或紅色可見光區(qū)域中的平均波長的激光。將多個(gè)光脈沖從光源發(fā)射到流測定儀的至少一部分上可以包括發(fā)射在此所披露的光波長、脈沖光的持續(xù)時(shí)間、光強(qiáng)度或光的光束寬度中的任何的一個(gè)或多個(gè)。

方法600包括動(dòng)作640，所述動(dòng)作以漸進(jìn)地偏移的時(shí)域間隔或延遲使多個(gè)熱信號的捕獲基本上同步，所述多個(gè)熱信號是流測定儀的利用多個(gè)光脈沖輻照的至少一部分的。在一個(gè)實(shí)施例中，以漸進(jìn)地偏移的時(shí)域間隔使多個(gè)熱信號的捕獲基本上同步包括將多個(gè)光發(fā)射信號從控制電路系統(tǒng)發(fā)送到光源，多個(gè)光發(fā)射信號中的每一個(gè)光發(fā)射信號響應(yīng)于所述發(fā)送而有效觸發(fā)來自光源的至少一個(gè)光脈沖。在一個(gè)實(shí)施例中，以漸進(jìn)地偏移的時(shí)域間隔使多個(gè)熱信號的捕獲基本上同步包括以多個(gè)光發(fā)射信號中的每個(gè)連續(xù)光發(fā)射信號之間的漸進(jìn)地偏移的時(shí)域延遲將多個(gè)捕獲信號從控制電路系統(tǒng)發(fā)送到光熱光譜測定讀取器以及發(fā)送(例如，中繼)與光發(fā)射信號相對應(yīng)的捕獲信號。多個(gè)捕獲信號中的每一個(gè)有效引起光熱光譜測定讀取器響應(yīng)于所述發(fā)送來測量流測定儀的所述部分的溫度或捕獲流測定儀的所述部分的熱信號。

在一個(gè)實(shí)施例中，以漸進(jìn)地偏移的時(shí)域間隔或延遲使多個(gè)熱信號的捕獲基本上同步，流測定儀的利用多個(gè)光脈沖輻照的至少一部分的多個(gè)熱信號可以包括將多個(gè)同步信號從光熱光譜測定讀取器發(fā)送到控制電路系統(tǒng)。多個(gè)同步信號中的每一個(gè)指示相應(yīng)的熱信號的捕獲時(shí)間。以漸進(jìn)地偏移的時(shí)域間隔使多個(gè)熱信號的捕獲基本上同步可以包括，響應(yīng)于多個(gè)同步信號中的每一個(gè)，將一個(gè)或多個(gè)光發(fā)射信號從控制電路系統(tǒng)發(fā)送到光源。多個(gè)光發(fā)射信號中的每一個(gè)光發(fā)射信號可以從相應(yīng)的同步信號以漸進(jìn)地偏移的時(shí)域間隔發(fā)送并且有效觸發(fā)從所述光源發(fā)射光脈沖。

在此參考圖4a-5b、圖7a和圖7b進(jìn)一步描述用于以漸進(jìn)地偏移的時(shí)域間隔或延遲使多個(gè)熱信號的捕獲基本上同步的技術(shù)或系統(tǒng)。

方法600包括動(dòng)作650，所述動(dòng)作捕獲流測定儀的利用多個(gè)光脈沖輻照的至少一部分的多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)。在一個(gè)實(shí)施例中，捕獲流測定儀的利用多個(gè)光脈沖輻照的至少一部分的多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)響應(yīng)于接收一系列捕獲信號，每個(gè)捕獲信號有效引起相應(yīng)熱信號的捕獲。在一個(gè)實(shí)施例中，捕獲流測定儀的利用多個(gè)光脈沖輻照的至少一部分的多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)包括將報(bào)告熱信號捕獲的同步信號514發(fā)送到控制電路系統(tǒng)552。

在一個(gè)實(shí)施例中，捕獲流測定儀的利用多個(gè)光脈沖輻照的至少一部分的多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)包括以與一系列光脈沖的每個(gè)連續(xù)光脈沖的漸進(jìn)地更大的偏移時(shí)域間隔或延遲捕獲一系列熱信號。例如，在多個(gè)光脈沖中的每個(gè)連續(xù)光發(fā)射后，偏移時(shí)域間隔可以增加至少1ms，諸如約3ms、5ms、10ms、15ms、20ms或約30ms。

在一個(gè)實(shí)施例中，捕獲流測定儀的利用多個(gè)光脈沖輻照的至少一部分的多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)包括以與一系列光脈沖的每個(gè)連續(xù)光脈沖的漸進(jìn)地更小(例如，遞減)的偏移時(shí)域間隔捕獲一系列熱信號。例如，在多個(gè)光脈沖中的每個(gè)連續(xù)光發(fā)射后，偏移時(shí)域間隔可以減小至少1ms，諸如約3ms、5ms、10ms、15ms、20ms或約30ms。

捕獲多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)的動(dòng)作可以包括關(guān)于在此所描述的捕獲熱信號的細(xì)節(jié)中的任一者。

方法600包括動(dòng)作660，所述動(dòng)作至少部分地基于多個(gè)熱信號確定分析物在樣本中的存在。例如，確定分析物的存在可以包括檢驗(yàn)樣本的一個(gè)或多個(gè)熱信號以及將來自一個(gè)或多個(gè)熱信號的溫度信息與所確定檢測極限(例如，噪聲水平)進(jìn)行比較，以便確定來自一個(gè)或多個(gè)熱信號的熱信息是否高于檢測極限。在一個(gè)實(shí)施例中，用戶可以通過以下方式確定分析物在樣本中的存在：如在此所描述的采用樣本的利用光輻照的一系列時(shí)域延遲熱信號并構(gòu)造溫度變化對時(shí)間變化曲線或根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間曲線。隨后地并且如在下文中參考圖8a和圖8b更詳細(xì)解釋的，用戶或計(jì)算設(shè)備可以從曲線確定理想檢測時(shí)間或噪聲極限。用戶可以在理想檢測時(shí)間處測試樣本或附加樣本，以便得到結(jié)果的最高靈敏度或準(zhǔn)確度。例如，如果在所確定的理想檢測時(shí)間處進(jìn)行采樣的測試展示超過所確定的檢測極限的溫度、溫度變化、根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化，那么樣本可被可靠地認(rèn)為是陽性的。如熱信號所示，來自光源的輻射由光學(xué)吸收指示劑顆粒的吸收展示一個(gè)溫度，所述溫度高于被確定為噪聲或背景熱量的溫度。如果測試數(shù)據(jù)低于噪聲極限，那么樣本可以被可靠地認(rèn)為是陰性的。

在一個(gè)實(shí)施例中，至少部分地基于多個(gè)熱信號確定分析物在樣本中的存在可以包括基于一系列偏移時(shí)域熱信號構(gòu)建曲線，以及將樣本曲線與標(biāo)準(zhǔn)或已知的曲線進(jìn)行比較，以便確定其間是否存在陽性結(jié)果的相應(yīng)指示。例如，曲線的形狀(例如，指示溫度變化對時(shí)間或根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間)可以在其中具有更多光學(xué)吸收指示劑顆粒的陽性樣本與其中不具有或具有背景量的光學(xué)吸收指示劑顆粒的陰性樣本之間不同。

圖7a是根據(jù)實(shí)施例的來自用于檢測分析物在樣本中的存在的系統(tǒng)的信號之間的漸進(jìn)地增加的時(shí)域延遲的圖形表示。參考圖7a和圖5a的系統(tǒng)500a，在一個(gè)實(shí)施例中，可以將光發(fā)射信號511a從控制電路系統(tǒng)552發(fā)送到光源530，以便從所述光源觸發(fā)光發(fā)射531。可以將相應(yīng)的捕獲信號512a基本上同時(shí)從控制電路系統(tǒng)552發(fā)送到光熱光譜測定讀取器540，以便觸發(fā)熱信號的捕獲。后續(xù)光發(fā)射信號511b在固定時(shí)域間隔(例如，100ms)已經(jīng)占用后從控制電路系統(tǒng)552發(fā)送，相應(yīng)的捕獲信號512b在另外時(shí)域延遲后發(fā)送。時(shí)域延遲可以是在此所披露的任何時(shí)域延遲，諸如10ms或更多。在相應(yīng)光發(fā)射之后10ms或初始熱信號被捕獲之后110ms，所產(chǎn)生的熱信號被捕獲。隨后地，第三光發(fā)射信號511c可以在另一個(gè)固定時(shí)域間隔已經(jīng)過去(例如，另一個(gè)100ms)后被發(fā)送，相應(yīng)捕獲信號512c在隨后多倍時(shí)域延遲后被發(fā)送，諸如20ms(例如，10ms時(shí)域延遲的兩倍)。在相應(yīng)光發(fā)射20ms后或第二熱信號被捕獲110ms后，所產(chǎn)生的熱信號被捕獲。可以執(zhí)行以上技術(shù)的另一次重復(fù)，光發(fā)射信號511d與捕獲信號512d之間的時(shí)域延遲是30ms，再次與先前熱信號捕獲隔開110ms。以此方式，漸進(jìn)偏移的時(shí)域間隔或延遲可以在每個(gè)光發(fā)射與一系列熱信號中的相應(yīng)熱信號之間觀察到，如由先前觀測偏移所示。

在一個(gè)實(shí)施例中(未示出)，可以將初始光發(fā)射信號511a從控制電路系統(tǒng)552發(fā)送到光源530，以便從光源觸發(fā)光發(fā)射531?？梢詫⑾鄳?yīng)的捕獲信號512a基本上同時(shí)從控制電路系統(tǒng)552發(fā)送到光熱光譜測定讀取器540，以便觸發(fā)熱信號的捕獲。后續(xù)光發(fā)射信號511b在固定時(shí)域間隔(例如，250ms)已經(jīng)占用后從控制電路系統(tǒng)552發(fā)送，相應(yīng)的捕獲信號512b在小于時(shí)域延遲的另外固定時(shí)域間隔時(shí)段后被隔開發(fā)送。時(shí)域延遲可以是在此所披露的任何時(shí)域延遲，諸如25ms。在第一光發(fā)射信號511a之后225ms或第二光發(fā)射信號511b之前25ms，所產(chǎn)生的熱信號被捕獲。隨后地，第三光發(fā)射信號511c可以在另一個(gè)固定時(shí)域間隔已經(jīng)過去(例如，另一個(gè)250ms)后被發(fā)送，相應(yīng)捕獲信號512c與第二光發(fā)射信號511b隔開小于隨后倍數(shù)的時(shí)域延遲的固定時(shí)域間隔，諸如50ms(例如，25ms時(shí)域延遲的兩倍)。在光發(fā)射信號511b之后200ms或光發(fā)射信號511c之前50ms，所產(chǎn)生的熱信號被捕獲。可以執(zhí)行以上技術(shù)的另一次重復(fù)，光發(fā)射信號511c與捕獲信號512d之間的間距是175ms。捕獲信號之間的間距保持為225ms，而光發(fā)射與熱信號捕獲時(shí)間之間的間距重復(fù)地減少。以此方式，遞減地偏移的時(shí)域間隔或延遲可以在每個(gè)光發(fā)射與一系列熱信號中的相應(yīng)熱信號之間觀察到。

圖7b是根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的來自用于檢測分析物在流測定儀內(nèi)的樣本中的存在的系統(tǒng)的信號之間的漸進(jìn)地偏移的時(shí)域間隔的圖形表示。參考圖7b和圖5b中的系統(tǒng)500b，在一個(gè)實(shí)施例中，來自一系列同步信號的同步信號514a可以被發(fā)送到控制電路系統(tǒng)552，并且第二同步信號514b被發(fā)送到控制電路系統(tǒng)552，由此控制電路系統(tǒng)552可以確定同步信號之間的固定時(shí)域間隔或發(fā)送光發(fā)射信號511a。為了本披露的目的，術(shù)語光發(fā)射信號511的使用可以包括如上下文指定的延時(shí)光發(fā)射信號511'。每個(gè)同步信號514a-d與由光熱光譜測定讀取器進(jìn)行的熱信號的捕獲相對應(yīng)。響應(yīng)于所確定的固定時(shí)域間隔，控制電路系統(tǒng)可以將光發(fā)射信號511a發(fā)送到光源530，這可以與第二同步信號514b的接收基本上同時(shí)發(fā)生，以便從而展示第一觀測偏移等于固定時(shí)域間隔。后續(xù)光發(fā)射信號可以與下一個(gè)不同信號漸進(jìn)地或遞減地偏移固定時(shí)域延遲，如由控制電路系統(tǒng)552使用所確定固定時(shí)域間隔預(yù)測或確定的。例如，控制電路系統(tǒng)552被配置用于使發(fā)送下一個(gè)相應(yīng)的光發(fā)射信號511b偏移漸進(jìn)地或遞減地偏移的時(shí)域延遲，諸如10ms，這樣使得由光發(fā)射信號511b觸發(fā)的光發(fā)射531與由后續(xù)同步信號514c指出的所捕獲熱信號之間的觀測延時(shí)或觀測偏移是約10ms。在相同技術(shù)的另外重復(fù)時(shí)，同步信號511c與下一個(gè)相應(yīng)的捕獲信號514d之間的觀測延時(shí)是約20ms等。

換言之，同步信號(例如，514a)與相應(yīng)發(fā)射信號(例如，511a)之間的偏移時(shí)域延遲比后續(xù)同步信號(例如，514b)與相應(yīng)發(fā)射信號(例如，511b)之間的偏移時(shí)域延遲大下一個(gè)倍數(shù)的固定時(shí)域延遲，而光發(fā)射信號(例如，511a-c)與后續(xù)同步信號(例如，514b-d)之間的觀測偏移增加相同的量。通過這種技術(shù)，可以捕獲一系列延時(shí)熱信號，所述一系列熱信號捕獲光發(fā)射與所述一系列熱信號中的相應(yīng)熱信號之間的漸進(jìn)地增加的觀測偏移或延時(shí)。

在一個(gè)實(shí)施例中(未示出)，以110ms間隔從同步信號單元546發(fā)送報(bào)告相應(yīng)熱信號捕獲的一系列同步信號?？梢岳妹總€(gè)同步信號之間的固定時(shí)域間隔(例如，等距隔開110ms)將來自一系列同步信號的同步信號514a-514d發(fā)送到控制電路系統(tǒng)552。響應(yīng)于同步信號514a，控制電路系統(tǒng)552可以在等于110ms的固定時(shí)域間隔的時(shí)域延遲之后將光發(fā)射信號511a發(fā)送到光源530，這樣使得光發(fā)射511與下一個(gè)預(yù)測的同步信號514b重合。響應(yīng)于接收緊接的后續(xù)同步信號514b，控制電路系統(tǒng)被配置用于使相應(yīng)光發(fā)射信號511b偏移固定時(shí)域延遲(例如，10ms)加110ms的固定時(shí)域間隔(例如，下一個(gè)預(yù)測的同步信號514c之后10ms)。響應(yīng)于接收緊接的后續(xù)同步信號514c，控制電路系統(tǒng)被配置用于使相應(yīng)光發(fā)射信號511與下一個(gè)預(yù)測的同步信號514d偏移固定時(shí)域延遲的倍數(shù)(例如，2倍從而導(dǎo)致20ms)加110ms的固定時(shí)域間隔(例如，下一個(gè)預(yù)測的同步信號514c之后20ms)?？梢詧?zhí)行以上動(dòng)作的更多重復(fù)直到觀察到熱信號之間的滿意的觀測偏移或延時(shí)。通過這種技術(shù)，可以捕獲一系列延時(shí)熱信號，所述一系列熱信號捕獲光發(fā)射與所述一系列熱信號中的相應(yīng)熱信號之間的漸進(jìn)地減少的觀測偏移或時(shí)域延遲。

在一個(gè)實(shí)施例中，以每個(gè)后續(xù)光發(fā)射信號511與相應(yīng)捕獲信號512之間的漸進(jìn)地偏移的延時(shí)將多個(gè)捕獲信號512從控制電路系統(tǒng)552發(fā)送到光熱光譜測定讀取器540可以包括以至少約110ms的偏移時(shí)域延遲發(fā)送每個(gè)捕獲信號512。

在一個(gè)實(shí)施例中，系統(tǒng)400、500a或500b可以被配置用于以在此所描述的方式中的一種或多種操作(例如，控制漸進(jìn)地或遞減地偏移的時(shí)域延遲，由如圖5a中的控制電路系統(tǒng)調(diào)步或由如圖5b中的光熱光譜測定讀取器調(diào)步)。在在此的實(shí)施例中的任何中，光熱光譜測定讀取器可以直接確定流測定儀的一部分的溫度，或可以捕獲流測定儀的所述部分的一系列熱信號，并且控制系統(tǒng)可以包括被配置用于確定所述一系列熱信號中的每一個(gè)中的溫度的可執(zhí)行程序。

在此所描述的技術(shù)中的任一種如所希望的或所需要的執(zhí)行許多次重復(fù)，以便使用離散時(shí)點(diǎn)作為曲線上的點(diǎn)構(gòu)建具有根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間的曲線的圖表。例如，用戶可以使用5次或更多次重復(fù)，諸如10次重復(fù)、20次重復(fù)或30次重復(fù)。固定時(shí)域間隔可以是100ms或更多，諸如約110ms或更多、約150ms、約200ms、約250ms、約300ms、約500ms、約1s或約1分鐘或更多分鐘。雖然在此考慮更小的固定時(shí)域間隔，但具有約110ms或更多的間距的時(shí)域間隔對于本申請的目的尤其有用。時(shí)域延遲或固定時(shí)域間隔可以是約1ms或更多，諸如約3ms約5ms、約10ms、約15ms、約25ms、約50ms、約100ms、約1秒或更多或約1分鐘或更多。

雖然以上實(shí)施例中的后續(xù)熱信號之間的時(shí)域間隔保持不變(例如，110ms)，但一些實(shí)施例可以包括一系列熱信號中的后續(xù)熱信號之間的漸進(jìn)地增加或減少的時(shí)域間隔。例如，在一系列熱信號中的熱信號之間的時(shí)域延遲可以在所述一系列熱信號中的每個(gè)后續(xù)熱信號之后漸進(jìn)地增加5ms或更多，諸如110ms，然后115ms，之后120ms等。時(shí)域間隔可以漸進(jìn)地偏移5ms或更多，諸如約5ms至約1s、約10ms至約500ms、約20ms至約100ms、約5ms、約10ms或約20ms。

雖然在此的時(shí)域間隔、延遲和偏移時(shí)域間隔已經(jīng)被描述為漸進(jìn)地偏移，但在一些實(shí)施例中，時(shí)域間隔或時(shí)域延遲間隔可以隨機(jī)地偏移，只要光源發(fā)射與后續(xù)熱信號捕獲之間的關(guān)系是已知的或已記錄的。例如，一系列隨機(jī)時(shí)域偏移熱信號(例如，具有光源發(fā)射與熱信號捕獲之間的隨機(jī)隔開的偏移時(shí)域延遲的熱信號)可以被引導(dǎo)并捕獲，并且隨后地，熱信號可以諸如由用戶或由在此所描述的系統(tǒng)的控制系統(tǒng)自動(dòng)地用每個(gè)熱信號的偏移時(shí)域延遲的順序被放置?？梢允褂妹總€(gè)離散時(shí)點(diǎn)作為曲線上的點(diǎn)來構(gòu)建根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間或溫度變化對時(shí)間的圖表。

圖8a是根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間曲線的圖表，所述圖表具有利用由任意量隔開的測量點(diǎn)構(gòu)造的比較曲線。圖表基于以剛好處于110ms的間隔采取的測量示出了高幀率的根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化曲線。圖表基于以由約100ms的任意偏移隔開的時(shí)間采取的根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化測量示出了所構(gòu)造的曲線。圖表基于以由約100ms的任意偏移隔開但在沿著時(shí)間軸線的不同點(diǎn)處的時(shí)間采取的根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化測量示出了所構(gòu)造的曲線。如圖所示，所構(gòu)造曲線兩者錯(cuò)過高幀率曲線的峰值處的真實(shí)理想檢測時(shí)間點(diǎn)。此外，隨著時(shí)間進(jìn)展，所有曲線以與圖3b中所示的高和低納米顆粒濃度曲線的類似方式會(huì)聚到背景或噪聲水平，高于所述背景或噪聲水平的準(zhǔn)確檢測可能是不可能的。由于這個(gè)原因，在此所披露技術(shù)的示出充分靠近其間的時(shí)域偏移的足夠數(shù)量的重復(fù)允許示出或至少緊密逼近根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間的峰值(例如，理想檢測時(shí)間)的圖表的構(gòu)造。

圖8b是時(shí)間上的離散時(shí)域延遲點(diǎn)用于構(gòu)建根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化曲線對時(shí)間曲線的一組圖表。圖8b中的每個(gè)單獨(dú)圖表表示針對低和高濃度納米顆粒的布置在根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間的真實(shí)曲線上的根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化的離散點(diǎn)。每個(gè)圖表在時(shí)間上偏移9ms。如圖所示，9ms的偏移允許真實(shí)曲線的準(zhǔn)確構(gòu)造或逼近。如圖所示，理想檢測時(shí)間或峰值是在光發(fā)射與熱信號捕獲之間的約84ms處。流測定儀可以在這個(gè)時(shí)間被測試以得到超過噪聲或背景水平的最可靠的峰值，并針對甚至低濃度納米顆粒給出最高峰值。以上文方式進(jìn)行的測試允許超過噪聲或背景水平的低濃度(例如，輕度或初期疾病)的檢測。在確定理想檢測時(shí)間后，用戶可以對系統(tǒng)進(jìn)行編程或系統(tǒng)可以利用這個(gè)偏移時(shí)域延遲自動(dòng)地測試后續(xù)樣本以得到最靈敏且準(zhǔn)確的結(jié)果。

在一個(gè)實(shí)施例中，用戶可以運(yùn)行足夠的重復(fù)以確定理想檢測時(shí)間和噪聲水平，高于所述噪聲水平的準(zhǔn)確檢測可能是不可能的。噪聲水平可以是lfa的具有低濃度、高濃度或無濃度納米顆粒展示彼此不可區(qū)分的基線熱輻射的水平(在圖3b和圖8a的右側(cè)示出)。這種噪聲點(diǎn)可以通過檢驗(yàn)針對高濃度樣本和低濃度樣本的對應(yīng)根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對時(shí)間曲線在何處會(huì)聚來確定。這個(gè)點(diǎn)示出了檢測極限(例如，低于測試數(shù)據(jù)不應(yīng)該被信任為指示陽性結(jié)果的點(diǎn))。在一些實(shí)施例中，基于多個(gè)熱信號確定分析物在樣本中的存在包括在理想檢測時(shí)間捕獲分析物測試信號并確定熱特征(例如，溫度特性，諸如溫度、給定時(shí)間的溫度變化或給定時(shí)間根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化)是否高于由所確定噪聲水平指示的檢測極限。

在此所描述的方法和系統(tǒng)可以用于通過以與在此參考測試線所描述的類似或相同的方式檢驗(yàn)處于或接近控制線的熱特征來確定測試是否已經(jīng)適當(dāng)?shù)仄鹱饔谩?/p>

讀者將認(rèn)識到，現(xiàn)有技術(shù)已經(jīng)進(jìn)展到系統(tǒng)的各方面的硬件與軟件實(shí)現(xiàn)方式之間剩下極小區(qū)別；硬件和軟件的使用總體上(但不總是，因?yàn)樵谀承┍尘跋?，硬件與軟件之間的選擇可以變得重要)是表示成本比效率折中的設(shè)計(jì)選擇。讀者將理解，存在各種載體(例如，硬件、軟件和/或固件)，在此所描述的過程和/或系統(tǒng)和/或其他技術(shù)會(huì)受到這些載體的影響，并且優(yōu)選的載體將隨其中部署了這些過程和/或系統(tǒng)和/或其他技術(shù)的環(huán)境而變化。例如，如果執(zhí)行者確定速度和準(zhǔn)確度是重要的，執(zhí)行者可選取主要硬件和/或固件載體；可替代地，如果靈活性是重要的，執(zhí)行者可選取主要軟件實(shí)現(xiàn)方式；或又可替代地，執(zhí)行者可選取硬件、軟件和/或固件的一些組合。因此，存在若干可能的載體，在此所描述的過程和/或設(shè)備和/或其他技術(shù)可以通過這些載體來進(jìn)行，它們中的任何一個(gè)都不在本質(zhì)上優(yōu)于另一個(gè)，這是因?yàn)槿魏斡写玫妮d體都是取決于載體將被部署的環(huán)境以及執(zhí)行者的具體關(guān)注點(diǎn)(例如，速度、靈活性或可預(yù)測性)(它們中的任一個(gè)都可以變化)的選擇。讀者將認(rèn)識到，實(shí)現(xiàn)方式的各個(gè)光學(xué)方面將典型地采用光學(xué)定向的硬件、軟件和或固件。

前述詳細(xì)描述已經(jīng)通過使用框圖、流程圖和/或示例陳述了設(shè)備和/或過程的各種實(shí)施例。到此為止，這些框圖、流程圖和/或示例含有一個(gè)或多個(gè)功能和/或操作，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將認(rèn)識到，這些框圖、流程圖或示例中的每一個(gè)功能和/或操作都可以通過廣泛范圍的硬件、軟件、固件或幾乎其任何組合來單獨(dú)地和/或共同地實(shí)現(xiàn)。在一個(gè)實(shí)施例中，可以經(jīng)由專用集成電路(asic)、現(xiàn)場可編程門陣列(fpga)、數(shù)字信號處理器(dsp)、或者其他集成格式來實(shí)施在此描述的標(biāo)的物的若干部分。然而，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將認(rèn)識到，在此披露的實(shí)施例的一些方面的整體或一部分可以等效地在集成電路系統(tǒng)中實(shí)施為在一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)上運(yùn)行的一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序(例如，在一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)上運(yùn)行的一個(gè)或多個(gè)程序)、在一個(gè)或多個(gè)處理器上運(yùn)行的一個(gè)或多個(gè)程序(例如，在一個(gè)或多個(gè)微處理器上運(yùn)行的一個(gè)或多個(gè)程序)、作為固件、或作為以上各項(xiàng)的幾乎任何組合，并且根據(jù)本發(fā)明披露內(nèi)容，設(shè)計(jì)電路系統(tǒng)系統(tǒng)和/或編寫軟件和或固件的代碼將屬于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員的技能之內(nèi)。另外，讀者將理解，在此所描述的主題的機(jī)制能夠以多種形式作為程序產(chǎn)品來發(fā)布，并且在此所描述的主題的說明性實(shí)施例都適用，而不考慮用來實(shí)際上進(jìn)行所述發(fā)布的信號承載介質(zhì)的具體類型。信號承載介質(zhì)的示例包括但不限于以下各項(xiàng)：可記錄類型的介質(zhì)，諸如軟盤、硬盤驅(qū)動(dòng)器、光碟(cd)、數(shù)字視頻光盤(dvd)、數(shù)字磁帶、計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器等；以及傳輸類型的介質(zhì)，諸如數(shù)字和/或模擬通信介質(zhì)(例如，纖維光纜、波導(dǎo)、有線通信鏈路、無線通信鏈路等)。

在一般性意義上,可以由各種類型的具有廣泛范圍的電氣組件(諸如硬件、軟件、固件和/或其幾乎任何組合)；以及可賦予機(jī)械力或運(yùn)動(dòng)的廣泛范圍的部件(諸如剛性主體、彈簧或扭轉(zhuǎn)主體、液力學(xué)和電磁致動(dòng)的設(shè)備或其幾乎任何組合)的機(jī)電系統(tǒng)來單獨(dú)地和/或共同地實(shí)現(xiàn)在此所描述的各種實(shí)施例。因此，如在此所使用的“機(jī)電系統(tǒng)”包括但是不限于：可運(yùn)行地耦接到換能器(例如，致動(dòng)器、電機(jī)、壓電晶體等)的電路系統(tǒng)，具有至少一個(gè)離散電路系統(tǒng)的電路系統(tǒng)，具有至少一個(gè)集成電路系統(tǒng)的電路系統(tǒng)，具有至少一個(gè)專用集成電路系統(tǒng)的電路系統(tǒng)，形成由計(jì)算機(jī)程序配置的通用計(jì)算設(shè)備的電路系統(tǒng)(例如，由計(jì)算機(jī)程序配置的通用計(jì)算機(jī)，它至少部分地執(zhí)行在此所描述的過程和/或設(shè)備；或者由計(jì)算機(jī)程序配置的微處理器，它至少部分地執(zhí)行在此所描述的過程和/或設(shè)備)，形成存儲(chǔ)設(shè)備的電路系統(tǒng)(例如，隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的形式)，形成通信設(shè)備的電路系統(tǒng)(例如，調(diào)制解調(diào)器、通信交換機(jī)或光電設(shè)備)，和任意非電子的類似物，諸如光學(xué)或其他的類似物。本領(lǐng)域技術(shù)人員還應(yīng)了解，機(jī)電系統(tǒng)的示例包括但不限于多種消費(fèi)電子系統(tǒng)以及其他系統(tǒng)如機(jī)動(dòng)化運(yùn)輸系統(tǒng)、工廠自動(dòng)化系統(tǒng)、安全系統(tǒng)以及通信/計(jì)算系統(tǒng)。本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到，如在此所使用的機(jī)電不必限于同時(shí)具有電氣和機(jī)械致動(dòng)的系統(tǒng)，除非上下文可能以其他方式指明。

在一般性意義上，在此所描述的可以通過大范圍的硬件、軟件、固件或其任何組合來獨(dú)立地和/或共同地實(shí)施的不同方面可以看作由不同類型的“電路系統(tǒng)”組成。因此，如在此所用的“電路系統(tǒng)”包括但是不限于：具有至少一個(gè)離散電路系統(tǒng)的電路系統(tǒng)，至少具有一個(gè)集成電路系統(tǒng)的電路系統(tǒng)，至少具有一個(gè)專用集成電路系統(tǒng)的電路系統(tǒng)，形成由計(jì)算機(jī)程序配置的通用計(jì)算設(shè)備的電路系統(tǒng)(例如，由計(jì)算機(jī)程序配置的通用計(jì)算機(jī)，它至少部分地執(zhí)行在此所描述的過程和/或設(shè)備；或者由計(jì)算機(jī)程序配置的微處理器，它至少部分地執(zhí)行在此所描述的過程和/或設(shè)備)，形成存儲(chǔ)設(shè)備的電路系統(tǒng)(例如，隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的形式)，和/或形成通信設(shè)備的電路系統(tǒng)(例如，調(diào)制解調(diào)器、通信交換機(jī)或光電設(shè)備)。在此所描述的主題可以用模擬或數(shù)字或二者的某個(gè)結(jié)合的形式實(shí)施。

在此所描述的組件(例如步驟)、設(shè)備和對象以及伴隨它們的討論被用作為了概念清楚的示例。因此，如在此所使用，所陳述的具體示例和所附討論旨在代表它們的更多的通用類型。一般來說，任何具體示例在此的使用還旨在代表它的類別，并且在此的這類具體部件(例如，步驟)、設(shè)備和物件的不包括不應(yīng)該被看做是指明了希望有限制。

關(guān)于在此使用的基本上任何復(fù)數(shù)和/或單數(shù)術(shù)語，讀者應(yīng)根據(jù)上下文和/或應(yīng)用的需要將復(fù)數(shù)翻譯成單數(shù)和/或?qū)螖?shù)翻譯成復(fù)數(shù)。為了清晰起見，各種單數(shù)/復(fù)數(shù)的轉(zhuǎn)換在此并沒有清晰地闡述。

在此所描述的主題有時(shí)說明的是不同的其他組件內(nèi)含有的不同組件或與不同的其他組件連接的不同組件。應(yīng)理解到，這種所描繪的架構(gòu)僅是示例性的，并且實(shí)際上，可以實(shí)現(xiàn)達(dá)到相同功能性的許多其他架構(gòu)。在概念性意義上，任何實(shí)現(xiàn)相同功能性的組件的安排都是有效地“相關(guān)聯(lián)的”，這樣使得所期望的功能性得以實(shí)現(xiàn)。因此，在此被組合來實(shí)現(xiàn)具體功能性的任何兩個(gè)組件都可以被視為彼此“相關(guān)聯(lián)”，這樣使得所期望的功能性得以實(shí)現(xiàn)，而與架構(gòu)或中間組件無關(guān)。同樣，如此相關(guān)聯(lián)的任何兩個(gè)組件也可以被視為彼此“可操作地連接的”，或“可操作地耦接的”，以達(dá)成所希望的功能性，并且任何能夠如此相關(guān)聯(lián)的兩個(gè)組件也可以被視為彼此“可操作地可耦接的”，以達(dá)成所希望的功能性。能以可操作方式聯(lián)接的具體示例包含但不限于能在物理上配合和/或在物理上進(jìn)行交互的部件，和/或能以無線方式交互和/或以無線方式進(jìn)行交互的部件，和/或在邏輯上進(jìn)行交互和/或能在邏輯上交互的部件。

在一些示例中，一個(gè)或多個(gè)組件在此可被稱為“被配置用于”。讀者將認(rèn)識到，“被配置用于”可以通常涵蓋主動(dòng)狀態(tài)組件和/或被動(dòng)狀態(tài)組件和/或待機(jī)狀態(tài)組件，除非上下文另外要求。

雖然已經(jīng)示出并且說明了在此所描述的本發(fā)明的主題的多個(gè)具體方面，但本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)清楚，基于在此的教授內(nèi)容，在不背離在此描述的主題和它的更廣泛方面的情況下，可以進(jìn)行更改和改變，并且因此所附權(quán)利要求書將在其范圍內(nèi)涵蓋所有此類更改和改變，就如同處于在此處描述的主題的真正精神和范圍內(nèi)一般。此外，應(yīng)該理解本發(fā)明由所附權(quán)利要求書界定。大體上，在此以及尤其在所附權(quán)利要求書(例如，所附權(quán)利要求書的主體)中使用的術(shù)語大體上旨在作為“開放”術(shù)語(例如，術(shù)語“包括”應(yīng)該被理解為“包括但不限于，”術(shù)語“具有”應(yīng)該被理解為“至少具有，”術(shù)語“包括”應(yīng)該被理解為“包括但不限于，”等)。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員另外將認(rèn)識到的是，如果意指特定數(shù)目的一種所引入的權(quán)利要求陳述，那么將在所述權(quán)利要求中明確陳述這種意圖，并且在無這類陳述的存在下，不呈現(xiàn)這種意圖。例如，為了幫助理解，以下所附權(quán)利要求書可能含有引入性短語“至少一個(gè)”和“一個(gè)或多個(gè)”來引入權(quán)利要求陳述。然而，這些短語的使用不應(yīng)當(dāng)解釋為暗示權(quán)利要求的陳述通過不定冠詞“一個(gè)”或“一種”的引入，限制任意具體權(quán)利要求包含這樣引入的權(quán)利要求陳述的發(fā)明，只包含一個(gè)這樣的陳述，甚至當(dāng)相同的權(quán)利要求包含所述引導(dǎo)短語“一個(gè)或多個(gè)”，或“至少一個(gè)”時(shí)，而用不定冠詞“一個(gè)”或“一種”(例如，“一個(gè)”和/或“一種”應(yīng)該代表性地解釋為“一個(gè)或多個(gè)”，或“至少一個(gè)”)；這同樣對于用來介紹權(quán)利要求陳述的定冠詞的使用有效。另外，即使明確地陳述一個(gè)所引入的權(quán)利要求陳述的特定數(shù)目，此陳述也典型地應(yīng)當(dāng)解釋為意味著至少所述陳述的數(shù)目(例如，沒有其他修飾語的“兩個(gè)陳述，”典型地意味著至少兩個(gè)陳述，或者兩個(gè)或更多個(gè)陳述)。此外，在使用類似于“a、b和c中的至少一項(xiàng)等等”的慣例的情況下，通常，這種構(gòu)造旨在所述慣例的意義上(例如，“一個(gè)系統(tǒng)具有a、b和c中的至少一項(xiàng)”將包括但是不限于系統(tǒng)單獨(dú)具有a、單獨(dú)具有b、單獨(dú)具有c、a與b一起、a與c一起、b與c一起和/或a、b和c三者一起，等等)。在使用類似于“a、b或c中的至少一項(xiàng)等等”的慣例的情況下，通常，這種構(gòu)造旨在所述慣例的意義上(例如，“一個(gè)系統(tǒng)具有a、b或c中的至少一項(xiàng)”將包括但是不限于系統(tǒng)單獨(dú)具有a、單獨(dú)具有b、單獨(dú)具有c、a與b一起、a與c一起、b與c一起和/或a、b和c三者一起，等等)。無論是在說明書、權(quán)利要求書還是附圖中，呈現(xiàn)兩個(gè)或更多個(gè)替代性術(shù)語的幾乎任何分隔性詞語和/或短語都應(yīng)當(dāng)被理解為考慮到了包括這些術(shù)語中的一個(gè)、這些術(shù)語中的任一個(gè)或這兩個(gè)術(shù)語的可能性。例如，短語“a或b”將被理解為包括“a”或“b”或“a和b”的可能性。

關(guān)于所附權(quán)利要求書，其中所陳述的操作一般可以按照任何順序執(zhí)行。這樣交替順序的示例可以包括重疊、交錯(cuò)、中斷、重排、增量、預(yù)備、補(bǔ)充、同時(shí)、逆向或其他不同的順序，除非上下文以其他方式指明。關(guān)于上下文，即使是“對應(yīng)于，”“關(guān)于，”或者其他過去式形容詞通常不是為了排除這樣的變化，除非上下文另有暗示。

在此所描述的主題的各方面在以下編號的條款中陳述：

1.一種用于檢測分析物在布置于流測定儀中的樣本中的存在的系統(tǒng)，所述流測定儀中具有光學(xué)吸收指示劑顆粒，所述系統(tǒng)包括：

光源，所述光源被定位并被配置用于輻照所述流測定儀和其中的所述光學(xué)吸收指示劑顆粒的至少一部分；

光熱光譜測定讀取器，所述光熱光譜測定讀取器被配置用于捕獲包括所述光學(xué)吸收指示劑顆粒的所述流測定儀的多個(gè)熱信號；以及

控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)包括可操作地耦接到所述光源和所述光熱光譜測定讀取器上的控制電路系統(tǒng)，所述控制電路系統(tǒng)被配置用于以漸進(jìn)地偏移的時(shí)間間隔使所述光源與所述光熱光譜測定讀取器的操作同步。

2.如條款1所述的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括：

支撐結(jié)構(gòu)，所述支撐結(jié)構(gòu)支撐所述光源、所述光熱光譜測定讀取器以及托架；并且

其中，所述托架被配置用于將所述流測定儀保持在工作位置中，以便允許輻照所述流測定儀的一部分中的所述光學(xué)吸收指示劑顆粒以及允許所述流測定儀的所述部分處于所述光熱光譜測定讀取器的視野內(nèi)，這樣使得所述流測定儀的所述部分的所述多個(gè)熱信號能夠被捕獲。

3.如條款2所述的系統(tǒng)，其中，所述托架被配置用于將一系列流測定儀可重復(fù)地保持在所述工作位置中。

4.如條款1所述的系統(tǒng)，其中，光學(xué)吸收指示劑顆粒包括金納米顆粒。

5.如條款1所述的系統(tǒng)，其中，所述光源包括激光器。

6.如條款5所述的系統(tǒng)，其中，所述激光器被配置用于發(fā)射多個(gè)光脈沖。

7.如條款5所述的系統(tǒng)，其中，所述激光器被配置用于發(fā)射具有處于綠色光譜中的平均波長的光。

8.如條款5所述的系統(tǒng)，其中，所述激光器被配置用于發(fā)射具有處于紅色光譜中的平均波長的光。

9.如條款1所述的系統(tǒng)，其中，所述光熱光譜測定讀取器包括紅外照相機(jī)。

10.如條款1所述的系統(tǒng)，其中：

所述控制電路系統(tǒng)被配置用于將多個(gè)光發(fā)射信號發(fā)送到所述光源，并且將多個(gè)捕獲信號發(fā)送到所述光熱光譜測定讀取器；

所述光源被配置用于響應(yīng)于從所述控制電路系統(tǒng)接收所述多個(gè)光發(fā)射信號中的一個(gè)或多個(gè)而發(fā)射多個(gè)光脈沖；并且

所述光熱光譜測定讀取器被配置用于響應(yīng)于從所述控制電路系統(tǒng)接收所述多個(gè)捕獲信號中的一個(gè)或多個(gè)而捕獲所述流測定儀的所述多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)。

11.如條款10所述的系統(tǒng)，其中：

所述光源包括可操作地耦接到其上的發(fā)射觸發(fā)器，所述發(fā)射觸發(fā)器被配置用于響應(yīng)于接收所述多個(gè)光發(fā)射信號中的所述一個(gè)或多個(gè)而引起從所述光源發(fā)射多個(gè)光脈沖中的一個(gè)或多個(gè)；并且

所述光熱光譜測定讀取器包括可操作地耦接到其上的捕獲觸發(fā)器，所述捕獲觸發(fā)器被配置用于響應(yīng)于接收所述多個(gè)捕獲信號中的所述一個(gè)或多個(gè)而引起所述光熱光譜測定讀取器捕獲所述多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)。

12.如條款10所述的系統(tǒng)，其中，所述控制電路系統(tǒng)被配置用于在時(shí)域中使發(fā)送所述多個(gè)捕獲信號中的所述一個(gè)或多個(gè)與所述多個(gè)光發(fā)射信號中的每一個(gè)漸進(jìn)地偏移更小的時(shí)間間隔。

13.如條款10所述的系統(tǒng)，其中，所述控制電路系統(tǒng)被配置用于在時(shí)域中使發(fā)送所述多個(gè)捕獲信號中的所述一個(gè)或多個(gè)與所述多個(gè)光發(fā)射信號中的每一個(gè)漸進(jìn)地偏移更大的時(shí)間間隔。

14.如條款1所述的系統(tǒng)，其中：

所述控制系統(tǒng)包括：

發(fā)射觸發(fā)器，所述發(fā)射觸發(fā)器可操作地耦接到所述光源上，所述發(fā)射觸發(fā)器被配置用于響應(yīng)于從所述控制電路系統(tǒng)接收多個(gè)光發(fā)射信號而引起從所述光源發(fā)射多個(gè)光脈沖；

捕獲觸發(fā)器，所述捕獲觸發(fā)器可操作地耦接到所述光熱光譜測定讀取器上，所述捕獲觸發(fā)器被配置用于響應(yīng)于接收多個(gè)捕獲信號中的一個(gè)或多個(gè)而引起所述光熱光譜測定讀取器捕獲多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)；并且

所述控制電路系統(tǒng)被配置用于：

將多個(gè)光發(fā)射信號發(fā)送到所述發(fā)射觸發(fā)器，所述多個(gè)光發(fā)射信號中的每一個(gè)光發(fā)射信號有效觸發(fā)從所述光源發(fā)射多個(gè)光脈沖中的一個(gè)或多個(gè)；并且

將多個(gè)捕獲信號發(fā)送到所述捕獲觸發(fā)器，所述多個(gè)捕獲信號中的每一個(gè)有效引起所述光熱光譜測定讀取器捕獲所述多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)；并且

所述控制電路系統(tǒng)包括延時(shí)選通，所述延時(shí)選通被配置用于使發(fā)送與所述多個(gè)光發(fā)射信號中的每一個(gè)相對應(yīng)的所述多個(gè)捕獲信號中的一個(gè)或多個(gè)以漸進(jìn)地更大的偏移時(shí)域間隔偏移，以便捕獲所述流測定儀的多個(gè)順序延時(shí)熱信號。

15.如條款14所述的系統(tǒng)，其中，所述控制電路系統(tǒng)包括信號中繼器，所述信號中繼器被配置用于發(fā)送所述多個(gè)捕獲信號中的一個(gè)或多個(gè)以及所述多個(gè)光發(fā)射信號中的一個(gè)或多個(gè)。

16.如條款14所述的系統(tǒng)，其中，所述控制電路系統(tǒng)被無線地耦接到所述捕獲觸發(fā)器、所述光熱光譜測定讀取器、所述發(fā)射觸發(fā)器或所述光源中的一項(xiàng)或多項(xiàng)上。

17.如條款14所述的系統(tǒng)，其中，所述控制電路系統(tǒng)被硬布線到所述捕獲觸發(fā)器、所述光熱光譜測定讀取器、所述發(fā)射觸發(fā)器或所述光源中的一項(xiàng)或多項(xiàng)上。

18.如條款14所述的系統(tǒng)，其中：

所述控制系統(tǒng)包括存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器可操作地耦接到所述控制電路系統(tǒng)上；并且

所述光熱光譜測定讀取器被配置用于將所述多個(gè)熱信號中的每一個(gè)發(fā)送到所述存儲(chǔ)器以便存儲(chǔ)在其中。

19.如條款18所述的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括：

用戶接口，所述用戶接口可操作地耦接到所述控制系統(tǒng)上，所述用戶接口被配置用于將所述多個(gè)熱信號顯示給用戶，使能用戶指令的輸入，使能操作程序的輸入或輸出熱信號數(shù)據(jù)。

20.如條款19所述的系統(tǒng)，其中，所述用戶接口包括個(gè)人計(jì)算設(shè)備。

21.如條款14所述的系統(tǒng)，其中，所述光熱光譜測定讀取器包括檢測器控制電路系統(tǒng)，所述檢測器控制電路系統(tǒng)被配置用于將所述多個(gè)熱信號中的每一個(gè)中繼到所述控制系統(tǒng)。

22.如條款21所述的系統(tǒng)，其中，所述檢測器控制電路系統(tǒng)被配置用于將所述多個(gè)熱信號中的每一個(gè)發(fā)送到可操作地耦接到所述控制電路系統(tǒng)上的存儲(chǔ)器以便存儲(chǔ)在其中。

23.如條款21所述的系統(tǒng)，其中，所述光源包括光源控制電路系統(tǒng)，所述光源控制電路系統(tǒng)被配置用于響應(yīng)于接收所述多個(gè)光發(fā)射信號中的一個(gè)而調(diào)節(jié)并控制從所述光源發(fā)射的光的強(qiáng)度、持續(xù)時(shí)間、寬度或平均色譜中的一項(xiàng)或多項(xiàng)。

24.如條款1所述的系統(tǒng)，其中：

所述控制系統(tǒng)包括可操作地耦接到所述光熱光譜測定讀取器和所述控制電路系統(tǒng)上的檢測器控制電路系統(tǒng)，所述檢測器控制電路系統(tǒng)被配置用于生成多個(gè)同步信號，所述多個(gè)同步信號中的每一個(gè)報(bào)告所述多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)的捕獲時(shí)間；

所述控制電路系統(tǒng)被配置用于響應(yīng)于接收所述多個(gè)同步信號中的每一個(gè)而將多個(gè)光發(fā)射信號發(fā)送到所述光源；并且

所述光源被配置用于響應(yīng)于從所述控制電路系統(tǒng)接收所述多個(gè)光發(fā)射信號中的一個(gè)或多個(gè)而發(fā)射多個(gè)光脈沖。

25.如條款24所述的系統(tǒng)，其中，所述控制電路系統(tǒng)被配置用于在時(shí)域中使發(fā)送所述多個(gè)光發(fā)射信號中的一個(gè)與所述多個(gè)同步信號中的每個(gè)連續(xù)同步信號漸進(jìn)地偏移更小的間隔。

26.如條款24所述的系統(tǒng)，其中，所述控制電路系統(tǒng)被配置用于在時(shí)域中使發(fā)送所述多個(gè)光發(fā)射信號中的一個(gè)與所述多個(gè)同步信號中的每個(gè)連續(xù)同步信號漸進(jìn)地偏移更大的時(shí)間間隔。

27.如條款24所述的系統(tǒng)，其中：

所述檢測器控制電路系統(tǒng)包括同步信號單元，所述同步信號單元被配置用于將所述多個(gè)同步信號中的每一個(gè)發(fā)送到所述控制電路系統(tǒng)；

所述控制電路系統(tǒng)包括信號中繼器，所述信號中繼器被配置用于接收所述多個(gè)同步信號中的每一個(gè)，并且響應(yīng)于所述接收而將所述多個(gè)光發(fā)射信號中的一個(gè)或多個(gè)發(fā)送到所述光源；并且

所述光源包括可操作地耦接到其上的發(fā)射觸發(fā)器，所述發(fā)射觸發(fā)器被配置用于響應(yīng)于接收所述多個(gè)光發(fā)射信號中的所述一個(gè)或多個(gè)而引起從所述光源發(fā)射多個(gè)光脈沖。

28.如條款27所述的系統(tǒng)，其中，所述控制系統(tǒng)包括可操作地耦接到所述光源的所述光發(fā)射觸發(fā)器和所述控制電路系統(tǒng)上的光源控制電路系統(tǒng)，所述光源控制電路系統(tǒng)被配置用于響應(yīng)于接收所述多個(gè)光發(fā)射信號中的一個(gè)或多個(gè)而調(diào)節(jié)并控制從所述光源發(fā)射的所述多個(gè)光脈沖中的一個(gè)或多個(gè)的強(qiáng)度、持續(xù)時(shí)間、寬度或平均色譜中的一項(xiàng)或多項(xiàng)。

29.如條款27所述的系統(tǒng)，其中：

所述光熱光譜測定讀取器被配置用于以重復(fù)時(shí)域間隔捕獲一系列熱信號；

所述同步信號單元被配置用于以與所述一系列熱信號中的每個(gè)熱信號相對應(yīng)的所述重復(fù)時(shí)域間隔將同步信號發(fā)送到所述控制電路系統(tǒng)；并且

所述控制電路系統(tǒng)包括延時(shí)選通，所述延時(shí)選通可操作地耦接到所述信號中繼器上并被配置用于以漸進(jìn)地偏移的時(shí)域間隔使發(fā)送與所述一系列同步信號中的每個(gè)連續(xù)同步信號相對應(yīng)的每個(gè)光發(fā)射信號偏移，以便捕獲所述流測定儀的具有在其間漸進(jìn)地偏移的時(shí)域延遲的一系列熱信號。

30.如條款29所述的系統(tǒng)，其中，所述漸進(jìn)地偏移的時(shí)域間隔是漸進(jìn)地更大的時(shí)域間隔。

31.如條款29所述的系統(tǒng)，其中，所述檢測器控制電路系統(tǒng)被配置用于控制所述多個(gè)熱信號中的每一個(gè)之間的所述重復(fù)時(shí)域間隔。

32.如條款31所述的系統(tǒng)，其中，所述檢測器控制電路系統(tǒng)在其中包括所述同步信號單元。

33.如條款29所述的系統(tǒng)，其中，所述控制系統(tǒng)包括可操作地耦接到所述控制電路系統(tǒng)上的存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器被配置用于在其中存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)定時(shí)程序以及所述多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)。

34.如條款33所述的系統(tǒng)，其中，所述檢測器控制電路系統(tǒng)被配置用于將所述多個(gè)熱信號中的每一個(gè)發(fā)送到所述存儲(chǔ)器。

35.如條款29所述的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括：

用戶接口，所述用戶接口可操作地耦接到所述控制系統(tǒng)上，所述用戶接口被配置用于將所述多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)顯示給用戶，使能輸入用戶指令，使能輸入定時(shí)程序或輸出熱信號數(shù)據(jù)。

36.如條款35所述的系統(tǒng)，其中，所述用戶接口包括個(gè)人計(jì)算設(shè)備。

37.一種檢測分析物在樣本中的存在的方法，所述方法包括：

將在其中包括多個(gè)光學(xué)吸收指示劑顆粒的流測定儀提供到檢測裝置的托架；

啟動(dòng)檢測裝置的操作，所述檢測裝置包括：

光源；以及

光熱光譜測定讀取器，所述光熱光譜測定讀取器被配置用于捕獲在其中包括所述多個(gè)光學(xué)吸收指示劑顆粒的所述流測定儀的多個(gè)熱信號；

將多個(gè)光脈沖從所述光源發(fā)射到所述流測定儀的至少一部分上；

以漸進(jìn)偏移的時(shí)域間隔使多個(gè)熱信號的捕獲基本上同步，所述多個(gè)熱信號是所述流測定儀的利用所述多個(gè)光脈沖輻照的所述至少一部分的；

捕獲所述流測定儀的利用所述多個(gè)光脈沖輻照的所述至少一部分的所述多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)；并且

至少部分地基于所述多個(gè)熱信號確定所述分析物在所述樣本中的存在。

38.如條款37所述的方法，其中：

所述多個(gè)光脈沖包括一系列光脈沖；并且

捕獲所述多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)包括以與所述一系列光脈沖中的每個(gè)連續(xù)光脈沖的漸進(jìn)地更小的偏移時(shí)域間隔捕獲一系列熱信號。

39.如條款38所述的方法，進(jìn)一步包括在所述一系列光脈沖中的每個(gè)連續(xù)光脈沖后使所述偏移時(shí)域間隔減少20毫秒或更少。

40.如條款39所述的方法，進(jìn)一步包括在所述一系列光脈沖中的每個(gè)連續(xù)光脈沖后使所述偏移時(shí)域間隔減少10毫秒或更多。

41.如條款37所述的方法，其中：

所述多個(gè)光脈沖包括一系列光脈沖；并且

捕獲所述多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)包括以與所述一系列光脈沖中的每個(gè)連續(xù)光脈沖的漸進(jìn)地更大的偏移時(shí)域間隔捕獲一系列熱信號中的每個(gè)熱信號。

42.如條款41所述的方法，進(jìn)一步包括在所述一系列光脈沖中的每個(gè)連續(xù)光脈沖后使所述偏移時(shí)域間隔增加3毫秒或更多。

43.如條款42所述的方法，進(jìn)一步包括在所述一系列光脈沖中的每個(gè)連續(xù)光脈沖后使所述偏移時(shí)域間隔增加10毫秒或更多。

44.如條款37所述的方法，進(jìn)一步包括：

確定所述流測定儀的所述至少一部分在所述多個(gè)熱信號中的每一個(gè)中的溫度；

至少部分地基于所述多個(gè)熱信號構(gòu)造根據(jù)時(shí)間變化的所述溫度變化對捕獲時(shí)間的圖表；并且

通過識別來自所述圖表的與根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化的最大值相對應(yīng)的捕獲時(shí)間來確定理想檢測時(shí)間。

45.如條款44所述的方法，其中，至少部分地基于所述多個(gè)熱信號確定分析物在樣本中的存在包括在所述理想檢測時(shí)間利用所述光熱光譜測定讀取器捕獲分析物測試信號并確定所述分析物測試信號中的熱特征是否高于檢測極限。

46.如條款37所述的方法，其中：

所述檢測裝置進(jìn)一步包括控制電路系統(tǒng)，所述控制電路系統(tǒng)可操作地耦接到所述光源和所述光熱光譜測定讀取器上；并且

以漸進(jìn)偏移的時(shí)域間隔使多個(gè)熱信號的捕獲基本上同步，所述流測定儀的利用所述多個(gè)光脈沖輻照的所述至少一部分的所述多個(gè)熱信號包括：

將多個(gè)光發(fā)射信號從所述控制電路系統(tǒng)發(fā)送到所述光源，所述多個(gè)光發(fā)射信號中的每一個(gè)光發(fā)射信號響應(yīng)于所述發(fā)送而有效觸發(fā)來自所述光源的至少一個(gè)光脈沖；并且

以所述多個(gè)光發(fā)射信號中的每個(gè)連續(xù)光發(fā)射信號與對應(yīng)于其的捕獲信號之間的漸進(jìn)地偏移的時(shí)域延遲將多個(gè)捕獲信號從所述控制電路系統(tǒng)發(fā)送到所述光熱光譜測定讀取器，其中，所述多個(gè)捕獲信號中的每一個(gè)捕獲信號響應(yīng)于所述發(fā)送而有效引起所述光熱光譜測定讀取器捕獲所述流測定儀的所述部分的熱信號。

47.如條款46所述的方法，進(jìn)一步包括：

其中，所述光源包括具有發(fā)射觸發(fā)器的光源控制電路系統(tǒng)，所述發(fā)射觸發(fā)器被配置用于響應(yīng)于接收所述多個(gè)光發(fā)射信號中的所述一個(gè)或多個(gè)而引起從所述光源發(fā)射多個(gè)光脈沖中的一個(gè)或多個(gè)；

其中，所述光熱光譜測定讀取器包括具有捕獲觸發(fā)器的檢測器控制電路系統(tǒng)，所述捕獲觸發(fā)器被配置用于響應(yīng)于接收所述多個(gè)捕獲信號中的所述一個(gè)或多個(gè)而引起所述光熱光譜測定讀取器捕獲所述多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)；并且

利用所述發(fā)射觸發(fā)器接收所述多個(gè)光發(fā)射信號中的每一個(gè)；并且

利用所述捕獲觸發(fā)器接收所述多個(gè)捕獲信號中的每一個(gè)。

48.如條款47所述的方法，其中，捕獲所述流測定儀的利用多個(gè)光脈沖輻照的所述至少一部分的所述多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)包括以與一系列光脈沖的每個(gè)連續(xù)脈沖的漸進(jìn)地更大的偏移時(shí)域間隔捕獲一系列熱信號中的每個(gè)熱信號。

49.如條款47所述的方法，其中，以每個(gè)后續(xù)光發(fā)射信號與相應(yīng)的捕獲信號之間的漸進(jìn)地偏移的延時(shí)將多個(gè)捕獲信號從所述控制電路系統(tǒng)發(fā)送到所述光熱光譜測定讀取器包括以至少約110毫秒的偏移時(shí)域間隔發(fā)送所述多個(gè)捕獲信號中的每個(gè)捕獲信號。

50.如條款47所述的方法，進(jìn)一步包括使每個(gè)連續(xù)光發(fā)射信號與相應(yīng)的捕獲信號之間的所述偏移時(shí)域間隔增加3毫秒或更多毫秒。

51.如條款47所述的方法，進(jìn)一步包括使每個(gè)連續(xù)光發(fā)射信號與相應(yīng)的捕獲信號之間的所述偏移時(shí)域間隔增加10毫秒或更多。

52.如條款47所述的方法，進(jìn)一步包括使每個(gè)連續(xù)光發(fā)射信號與相應(yīng)的捕獲信號之間的所述偏移時(shí)域間隔增加5毫秒或更多。

53.如條款37所述的方法，其中：

所述檢測裝置包括控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)具有可操作地耦接到所述光源和所述光熱光譜測定讀取器上的控制電路系統(tǒng)；并且

以漸進(jìn)偏移的時(shí)域間隔使多個(gè)熱信號的捕獲基本上同步，所述流測定儀的利用所述多個(gè)光脈沖輻照的所述至少一部分的所述多個(gè)熱信號包括：

將多個(gè)同步信號從所述光熱光譜測定讀取器發(fā)送到所述控制電路系統(tǒng)，所述多個(gè)同步信號中的每一個(gè)指示相應(yīng)熱信號的捕獲時(shí)間；

響應(yīng)于所述多個(gè)同步信號中的所述每一個(gè)，將一個(gè)或多個(gè)光發(fā)射信號從所述控制電路系統(tǒng)發(fā)送到所述光源，所述多個(gè)光發(fā)射信號中的每一個(gè)光發(fā)射信號以與所述相應(yīng)同步信號的漸進(jìn)地偏移的時(shí)域間隔發(fā)送并且有效觸從所述光源的發(fā)射光脈沖。

54.如條款53所述的方法，其中，所述多個(gè)同步信號中的每一個(gè)大致相等地隔開至少約110毫秒的時(shí)域間隔。

55.如條款53所述的方法，其中，所述控制電路系統(tǒng)包括延時(shí)選通，所述延時(shí)選通被配置用于使發(fā)送與所述多個(gè)同步信號中的每一個(gè)相對應(yīng)的光發(fā)射信號中的所述一個(gè)或多個(gè)中的每一個(gè)以漸進(jìn)地更大的時(shí)域間隔偏移，以便捕獲所述流測定儀的順序延時(shí)熱信號。

56.如條款53所述的方法，進(jìn)一步包括使所述一個(gè)或多個(gè)光發(fā)射信號中的每個(gè)連續(xù)光發(fā)射信號與相應(yīng)捕獲信號之間的所述偏移時(shí)域間隔增加3毫秒或更多。

57.如條款53所述的方法，進(jìn)一步包括使所述多個(gè)光發(fā)射信號中的所述一個(gè)或多個(gè)光發(fā)射信號中的每個(gè)連續(xù)光發(fā)射信號與所述多個(gè)捕獲信號中的相應(yīng)捕獲信號之間的所述偏移時(shí)域間隔增加10毫秒或更多。

58.如條款53所述的方法，進(jìn)一步包括使所述一個(gè)或多個(gè)光發(fā)射信號中的每個(gè)連續(xù)光發(fā)射信號與所述多個(gè)捕獲信號中的相應(yīng)捕獲信號之間的所述偏移時(shí)域間隔增加5毫秒或更多。

59.如條款53所述的方法，其中，所述控制電路系統(tǒng)包括延時(shí)選通，所述延時(shí)選通被配置用于使發(fā)送與所述多個(gè)同步信號中的每一個(gè)相對應(yīng)的所述一個(gè)或多個(gè)光發(fā)射信號中的每一個(gè)以漸進(jìn)地更小的時(shí)域間隔偏移，以便捕獲所述流測定儀的順序延時(shí)熱信號。

60.如條款53所述的方法，進(jìn)一步包括使所述一個(gè)或多個(gè)光發(fā)射信號中的每個(gè)連續(xù)光發(fā)射信號與相應(yīng)捕獲信號之間的所述偏移時(shí)域間隔減少3毫秒或更多毫秒。

61.如條款53所述的方法，進(jìn)一步包括使所述一個(gè)或多個(gè)光發(fā)射信號中的每個(gè)連續(xù)光發(fā)射信號與所述多個(gè)捕獲信號中的相應(yīng)捕獲信號之間的所述偏移時(shí)域間隔減少10毫秒或更多。

62.如條款53所述的方法，進(jìn)一步包括使所述一個(gè)或多個(gè)光發(fā)射信號中的每個(gè)連續(xù)光發(fā)射信號與所述多個(gè)捕獲信號中的相應(yīng)捕獲信號之間的所述偏移時(shí)域間隔減少5毫秒或更多。

63.如條款53所述的方法，進(jìn)一步包括：

確定所述流測定儀的所述至少一部分在所述多個(gè)熱信號中的每一個(gè)中的溫度；

基于所述多個(gè)熱信號構(gòu)造根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化對捕獲時(shí)間的圖表；并且

通過識別來自所述圖表的與根據(jù)時(shí)間變化的溫度變化的最大值相對應(yīng)的捕獲時(shí)間來確定理想檢測時(shí)間。

64.如條款63所述的方法，其中，至少部分地基于所述多個(gè)熱信號確定分析物在樣本中的存在包括在所述理想檢測時(shí)間利用所述光熱光譜測定讀取器捕獲分析物測試信號并確定所述分析物測試信號中的熱特征是否高于檢測極限。

65.如條款53所述的方法：

其中，所述控制系統(tǒng)包括：

光源控制電路系統(tǒng)，所述光源控制電路系統(tǒng)可操作地耦接到所述控制電路系統(tǒng)和所述光源上，所述光源控制電路系統(tǒng)具有發(fā)射觸發(fā)器，所述發(fā)射觸發(fā)器被配置用于響應(yīng)于接收所述多個(gè)光發(fā)射信號中的所述一個(gè)或多個(gè)而引起所述從所述光源發(fā)射所述多個(gè)光脈沖中的一個(gè)或多個(gè)；

同步信號單元，所述同步信號單元可操作地耦接到所述控制電路系統(tǒng)上并被配置用于將多個(gè)同步信號發(fā)送到所述控制電路系統(tǒng)；

信號中繼器，所述信號中繼器可操作地耦接到所述控制電路系統(tǒng)和所述同步信號單元上；并且

利用所述信號中繼器接收所述多個(gè)同步信號中的每一個(gè)，并且響應(yīng)于所述接收而將所述多個(gè)光發(fā)射信號中的一個(gè)或多個(gè)發(fā)送到所述光源；并且

利用所述發(fā)射觸發(fā)器接收所述多個(gè)光發(fā)射信號中的每一個(gè)。

66.一種用于檢測在布置于流測定儀上的樣本中的分析物的系統(tǒng)，所述流測定儀中具有光學(xué)吸收指示劑顆粒，所述系統(tǒng)包括：

激光源，所述激光源被配置用于發(fā)射激光；

紅外照相機(jī)，所述紅外照相機(jī)被配置用于捕獲包括所述光學(xué)吸收指示劑顆粒的所述流測定儀的多個(gè)熱信號；

控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)具有可操作地耦接到所述激光源和所述紅外照相機(jī)上的控制電路系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)包括：

檢測器控制電路系統(tǒng)，所述檢測器控制電路系統(tǒng)可操作地耦接到所述控制電路系統(tǒng)和所述紅外照相機(jī)上；

光源控制電路系統(tǒng)，所述光源控制電路系統(tǒng)可操作地耦接到所述控制電路系統(tǒng)和所述激光源上；

信號中繼器，所述信號中繼器可操作地耦接所述控制電路系統(tǒng)、所述激光源和所述檢測器控制電路系統(tǒng)，所述信號中繼器被配置用于將多個(gè)光發(fā)射信號發(fā)送到所述光源控制電路系統(tǒng)，所述多個(gè)光發(fā)射信號中的每一個(gè)有效引起所述激光源發(fā)射激光脈沖，所述信號中繼器進(jìn)一步被配置用于在所述激光源發(fā)射的所述激光脈沖中的每個(gè)連續(xù)激光脈沖后以漸進(jìn)地偏移的時(shí)域間隔將多個(gè)捕獲信號發(fā)送到所述紅外照相機(jī)以便捕獲所述流測定儀的多個(gè)熱信號；以及

存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器被配置用于將所述多個(gè)熱信號中的一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)在其中；以及

支撐結(jié)構(gòu)，所述支撐結(jié)構(gòu)支撐所述激光源、所述紅外照相機(jī)和托架，所述托架被配置用于將所述流測定儀保持在工作位置中，所述工作位置允許從所述流測定儀上的所述激光源發(fā)射的激光在所述紅外照相機(jī)的視野內(nèi)。

67.如條款66所述的系統(tǒng)，其中，所述托架被配置用于將一個(gè)或多個(gè)流測定儀可重復(fù)地保持在工作位置中，以便允許輻照所述光學(xué)吸收指示劑顆粒并且允許所述紅外照相機(jī)捕獲一個(gè)或多個(gè)流測定儀和其中的光學(xué)吸收指示劑顆粒的所述多個(gè)熱信號。

68.如條款66所述的系統(tǒng)，其中，所述控制電路系統(tǒng)包括延時(shí)選通，所述延時(shí)選通被配置用于使將所述捕獲信號發(fā)送到所述紅外照相機(jī)漸進(jìn)地偏移所述漸進(jìn)地偏移的時(shí)域間隔。

69.如條款66所述的系統(tǒng)，其中，所述控制系統(tǒng)包括用戶接口，所述延時(shí)間隔是通過所述用戶接口選擇的。

70.如條款66所述的系統(tǒng)，其中，所述控制系統(tǒng)包括用戶接口，樣本類型是通過所述用戶接口選擇的，并且其中，所述控制電路系統(tǒng)被配置用于基于所述所選擇樣本類型來確定一個(gè)或多個(gè)偏移時(shí)域間隔。

71.如條款70所述的系統(tǒng)，其中：

所述存儲(chǔ)器包括存儲(chǔ)在其上的一個(gè)或多個(gè)定時(shí)程序；并且

所述控制電路系統(tǒng)包括比較分析電路，所述比較分析電路被配置用于使所述所選擇樣本類型與所述存儲(chǔ)器中的一個(gè)或多個(gè)定時(shí)程序關(guān)聯(lián)并且響應(yīng)于所述關(guān)聯(lián)而執(zhí)行所述關(guān)聯(lián)的一個(gè)或多個(gè)定時(shí)程序。

雖然已經(jīng)在此披露了不同方面和實(shí)施例，但在此披露的不同方面以及實(shí)施例是為了說明的目的，而且并不旨在進(jìn)行限制，其中真實(shí)的范圍以及精神是由以下權(quán)利要求書指示的。