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光模塊測試環(huán)境校準(zhǔn)系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):11478049閱讀:498來源:國知局
光模塊測試環(huán)境校準(zhǔn)系統(tǒng)的制造方法與工藝

本實(shí)用新型涉及光模塊測試,特別涉及一種操作簡單、效率高的光模塊測試環(huán)境校準(zhǔn)系統(tǒng)。



背景技術(shù):

光模塊的測試環(huán)境,特別是生產(chǎn)測試環(huán)境校準(zhǔn)一直以來都是按照傳統(tǒng)的三步驟進(jìn)行,標(biāo)準(zhǔn)管校準(zhǔn)光功率計(jì)鏈路偏差與示波器的消光比值,用標(biāo)準(zhǔn)光功率計(jì)對(duì)光衰減器鏈路偏差。這種方式有如下缺點(diǎn):對(duì)于操作者的要求很高,一般情況下,非普通操作員工可以完成,而是指定特別人員完成,對(duì)于大規(guī)模的生產(chǎn)測試線效率將非常低下,如提高校準(zhǔn)效率,將相應(yīng)提高人力配制成本。

且對(duì)于儀表的成本要求高,一般情況下,每一個(gè)校準(zhǔn)人員配置一臺(tái)便攜式標(biāo)準(zhǔn)光功率計(jì),在長期的頻繁移動(dòng)使用中,會(huì)造成光功率計(jì)的損壞,造成校準(zhǔn)成本上升;標(biāo)準(zhǔn)管理易于混亂甚至損壞,一般很難做到一個(gè)測試站位專用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)管,而是頻繁移動(dòng)幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)管到不同的站位進(jìn)行校準(zhǔn)環(huán)境,這樣同站位校準(zhǔn)數(shù)據(jù)沒有對(duì)比性,不利于對(duì)測試站位的可靠性進(jìn)行系統(tǒng)分析;在頻繁使用中,易于發(fā)生標(biāo)準(zhǔn)管光端面不可以修復(fù)性滑傷至報(bào)廢,造成測試數(shù)據(jù)不可持續(xù)的后果。

同時(shí),數(shù)據(jù)管理低級(jí)化,對(duì)于這種三步驟的校準(zhǔn)方式,大多數(shù)情況下采用人工記錄的方式,易于發(fā)生數(shù)據(jù)缺失,不完整,不準(zhǔn)確的情況,參考意義降低;如果使用程控式標(biāo)準(zhǔn)光功率計(jì),不僅移動(dòng)不方便,成本高,而且頻繁插拔通信接口,也將造成接口損壞,可靠性不佳,所以大多數(shù)情況下還是人工表格記錄方式。因此,目前的這種通用性的標(biāo)準(zhǔn)管校準(zhǔn)方式是落后的,生產(chǎn)一致性差,人工成本高,數(shù)據(jù)管理低級(jí),無法提高生產(chǎn)效率。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

基于此,有必要提供一種操作簡單、效率高的光模塊測試環(huán)境校準(zhǔn)系統(tǒng)。

一種光模塊測試環(huán)境校準(zhǔn)系統(tǒng),包括電源模塊、通信模塊,還包括標(biāo)準(zhǔn)測試模塊、信號(hào)發(fā)生模塊及控制模塊;

所述電源模塊為所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊、所述通信模塊、所述信號(hào)發(fā)生模塊及所述控制模塊提供工作電源;

所述通信模塊用于為所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊及所述信號(hào)發(fā)生模塊提供通信接口;

所述信號(hào)發(fā)生模塊用于輸出調(diào)制信號(hào)給所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊;

所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊包括用于對(duì)輸出光功率與光電流進(jìn)行正比例轉(zhuǎn)換的光組件、用于驅(qū)動(dòng)所述光組件輸出穩(wěn)定的光功率與消光比值的激光驅(qū)動(dòng)器、用于對(duì)輸入光功率轉(zhuǎn)換過來的光電流進(jìn)行電流-電壓轉(zhuǎn)換的光功率檢測器及用于控制所述激光驅(qū)動(dòng)器,并對(duì)所述光功率檢測器的輸出電壓進(jìn)行采樣監(jiān)測與計(jì)算的微控制器;

所述光組件的光纖接口用于連接待測試光模塊,所述激光驅(qū)動(dòng)器用于接收所述調(diào)制信號(hào),并驅(qū)動(dòng)所述光組件;所述光功率檢測器連接所述光組件與所述微控制器;所述微控制器還用于連接所述激光驅(qū)動(dòng)器及所述控制模塊,所述微控制器用于根據(jù)所述通信接口與所述控制模塊進(jìn)行通信;

所述控制模塊用于通過所述通信接口讀取所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊中的標(biāo)稱光功率值與消光比值、及所述待測試光模塊中的下行光功率值;

所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊通過所述光纖接口輸出光信號(hào)給所述待測試光模塊,所述控制模塊用于讀取輸入光信號(hào)后所述待測試光模塊中的本地光功率值與消光比值,以及衰減設(shè)置值;

所述控制模塊根據(jù)所述標(biāo)稱光功率值及消光比值、所述下行光功率值、所述本地光功率值與消光比值、及所述衰減設(shè)置值對(duì)所述待測試光模塊進(jìn)行校準(zhǔn)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述控制模塊為上位機(jī)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述通信模塊用于與上位機(jī)進(jìn)行即時(shí)通信。

在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述上位機(jī)用于通過通信接口對(duì)所述信號(hào)發(fā)生模塊進(jìn)行配置。

在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述信號(hào)發(fā)生模塊包括高速信號(hào)產(chǎn)生器,用于速率選擇與碼型配置,輸出連續(xù)的調(diào)制信號(hào)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊用于輸出光功率穩(wěn)定誤差在+/-0.1dBm、消光比穩(wěn)定誤差在+/-0.2dB的連續(xù)光信號(hào)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊還用于監(jiān)測所述待測試光模塊中的光功率值,監(jiān)測范圍為-60~+10dBm。

在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊的光端口為標(biāo)準(zhǔn)SC接口。

上述光模塊測試環(huán)境校準(zhǔn)系統(tǒng)通過通信模塊提供的通信接口,使得控制模塊能夠與標(biāo)準(zhǔn)測試模塊進(jìn)行通信,控制模塊用于通過通信接口讀取標(biāo)準(zhǔn)測試模塊中的標(biāo)稱光功率值與消光比值、及待測試光模塊中的下行光功率值;標(biāo)準(zhǔn)測試模塊通過光纖接口輸出光信號(hào)給待測試光模塊,控制模塊用于讀取輸入光信號(hào)后待測試光模塊中的本地光功率值與消光比值,以及衰減設(shè)置值;控制模塊根據(jù)標(biāo)稱光功率值及消光比值、下行光功率值、本地光功率值與消光比值、及衰減設(shè)置值對(duì)待測試光模塊進(jìn)行校準(zhǔn)。因此,將待測試光模塊接入上述系統(tǒng)就能夠完成校準(zhǔn),無需測試人員參與校準(zhǔn)過程,使得測試過程更為簡便,提高了測試效率。

附圖說明

圖1為光模塊測試環(huán)境校準(zhǔn)系統(tǒng)的模塊圖;

圖2為光模塊測試環(huán)境校準(zhǔn)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖3為標(biāo)準(zhǔn)測試模塊的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為了便于理解本實(shí)用新型,下面將參照相關(guān)附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行更全面的描述。附圖中給出了本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例。但是,本實(shí)用新型可以以許多不同的形式來實(shí)現(xiàn),并不限于本文所描述的實(shí)施例。相反地,提供這些實(shí)施例的目的是使對(duì)本實(shí)用新型的公開內(nèi)容的理解更加透徹全面。

除非另有定義,本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于本實(shí)用新型的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本實(shí)用新型的說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實(shí)施例的目的,不是旨在限制本實(shí)用新型。本文所使用的術(shù)語“和/或”包括一個(gè)或多個(gè)相關(guān)的所列項(xiàng)目的任意的和所有的組合。

如圖1所示,為光模塊測試環(huán)境校準(zhǔn)系統(tǒng)的模塊圖。

一種光模塊測試環(huán)境校準(zhǔn)系統(tǒng),包括電源模塊101、通信模塊501、標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201、信號(hào)發(fā)生模塊301及控制模塊401。

所述電源模塊101為所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201、所述通信模塊501、所述信號(hào)發(fā)生模塊301及所述控制模塊401提供工作電源。

所述通信模塊501用于為所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201及所述信號(hào)發(fā)生模塊301提供通信接口。

所述信號(hào)發(fā)生模塊301用于輸出調(diào)制信號(hào)給所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201。

如圖3所示,所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201包括用于對(duì)輸出光功率與光電流進(jìn)行正比例轉(zhuǎn)換的光組件202、用于驅(qū)動(dòng)所述光組件202輸出穩(wěn)定的光功率與消光比值的激光驅(qū)動(dòng)器203、用于對(duì)輸入光功率轉(zhuǎn)換過來的光電流進(jìn)行電流-電壓轉(zhuǎn)換的光功率檢測器204及用于控制所述激光驅(qū)動(dòng)器203,并對(duì)所述光功率檢測器204的輸出電壓進(jìn)行采樣監(jiān)測與計(jì)算的微控制器205。

所述光組件202的光纖接口用于連接待測試光模塊,所述激光驅(qū)動(dòng)器203用于接收所述調(diào)制信號(hào),并向驅(qū)動(dòng)所述光組件202;所述光功率檢測器204連接所述光組件202與所述微控制器205;所述微控制器205還用于連接所述激光驅(qū)動(dòng)器203及所述控制模塊401,所述微控制器205用于根據(jù)所述通信接口與所述控制模塊401進(jìn)行通信。

所述控制模塊401用于通過所述通信接口讀取所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201中的標(biāo)稱光功率值與消光比值、及所述待測試光模塊中的下行光功率值。

所述標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201通過所述光纖接口輸出光信號(hào)給所述待測試光模塊,所述控制模塊401用于讀取輸入光信號(hào)后所述待測試光模塊中的本地光功率值與消光比值,以及衰減設(shè)置值。

所述控制模塊401根據(jù)所述標(biāo)稱光功率值及消光比值、所述下行光功率值、所述本地光功率值與消光比值、及所述衰減設(shè)置值對(duì)所述待測試光模塊進(jìn)行校準(zhǔn)。

控制模塊401為上位機(jī)。通信模塊501用于與上位機(jī)進(jìn)行即時(shí)通信。

在本實(shí)施例中,通信模塊501提供USB通信接口,因此,能方便的與上位機(jī)進(jìn)行即時(shí)通信。USB通信接口對(duì)PC機(jī)來說是最為豐富的接口,避免使用串口造成的資源沖突。此外,上位機(jī)用于通過通信接口對(duì)所述信號(hào)發(fā)生模塊301進(jìn)行配置。通信接口能夠?qū)崿F(xiàn)上位機(jī)直接控制信號(hào)發(fā)生模塊301的功能。

信號(hào)發(fā)生模塊301包括高速信號(hào)產(chǎn)生器,用于速率選擇與碼型配置,輸出連續(xù)的調(diào)制信號(hào)。

信號(hào)發(fā)生模塊301為標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201提供調(diào)制信號(hào)。信號(hào)發(fā)生模塊301包括高速信號(hào)產(chǎn)生器,用于實(shí)現(xiàn)速率選擇與碼型配制,輸出連續(xù)的高速調(diào)制信號(hào),提供給標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201,模擬待測試光模塊的工作時(shí)的調(diào)試信號(hào)。同時(shí),上位機(jī)可以通過通信接口實(shí)時(shí)對(duì)信號(hào)發(fā)生模塊301進(jìn)行配置,以滿足對(duì)不同測試環(huán)境的靈活設(shè)置。

標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201用于輸出光功率穩(wěn)定誤差在+/-0.1dBm、消光比穩(wěn)定誤差在+/-0.2dB的連續(xù)光信號(hào)。

標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201還用于監(jiān)測所述待測試光模塊中的光功率值,監(jiān)測范圍為-60~+10dBm。

具體的,標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201是一個(gè)多功能的組合體,可以輸出穩(wěn)定的連續(xù)光信號(hào),具有光功率與消光比快速穩(wěn)定的特點(diǎn),光功率穩(wěn)定誤差可以控制在+/-0.1dBm,消光比穩(wěn)定誤差可以控制在+/-0.2dB,并且此模塊的輸出光功率值與消光比值存儲(chǔ)到此模塊的微控制器205中,可以通過標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201的接口進(jìn)行讀取;另,標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201還能監(jiān)測輸入到測試光模塊內(nèi)的光功率值,具有-60~+10dBm的監(jiān)測范圍,監(jiān)測誤差精度小于0.1dBm,監(jiān)測值可以通過標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201的接口進(jìn)行讀取。

標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201的光端口為標(biāo)準(zhǔn)SC接口,與待測試光模塊相同,保證了操作的方便性。

激光驅(qū)動(dòng)器203還具有光功率與消光比值的反饋機(jī)制,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測與調(diào)整光功率與消光比值。

光功率檢測器204能夠?qū)斎牍夤β兽D(zhuǎn)換過來的光電流進(jìn)行電流—電壓的轉(zhuǎn)換,同時(shí)確保線性度佳。

微控制器205能夠?qū)?biāo)準(zhǔn)測試模塊201的標(biāo)稱光功率值與消光比值的進(jìn)行存儲(chǔ),上位機(jī)可以通過通信接口讀取標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201的標(biāo)稱光功率值、消光比值,監(jiān)測光功率值。

上述光模塊測試環(huán)境校準(zhǔn)系統(tǒng)通過通信模塊501提供的通信接口,使得控制模塊401能夠與標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201進(jìn)行通信,控制模塊401用于通過通信接口讀取標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201中的標(biāo)稱光功率值與消光比值、及待測試光模塊中的下行光功率值;標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201通過光纖接口輸出光信號(hào)給待測試光模塊,控制模塊401用于讀取輸入光信號(hào)后待測試光模塊中的本地光功率值與消光比值,以及衰減設(shè)置值;控制模塊401根據(jù)標(biāo)稱光功率值及消光比值、下行光功率值、本地光功率值與消光比值、及衰減設(shè)置值對(duì)待測試光模塊進(jìn)行校準(zhǔn)。因此,將待測試光模塊接入上述系統(tǒng)就能夠完成校準(zhǔn),無需測試人員參與校準(zhǔn)過程,使得測試過程更為簡便,提高了測試效率。

上述光模塊測試環(huán)境校準(zhǔn)系統(tǒng)中,標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201與待測試光模塊處于同等層級(jí),在需要使用標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201進(jìn)行校準(zhǔn)測試環(huán)境時(shí),只需要將測試光纖插入到標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201中,通過上位機(jī)讀取標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201中的標(biāo)稱光功率值、消光比值,與下行到標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201中的光信號(hào)功率監(jiān)測值。由于標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201的自身發(fā)光輸入到待測試光模塊中,也會(huì)形成一個(gè)本地化的光功率與消光比測試值,同樣上位機(jī)也會(huì)通過通信口讀取這兩個(gè)測試值,與標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201中的標(biāo)稱值進(jìn)行補(bǔ)償計(jì)算,從而校準(zhǔn)測試的上報(bào)值。

上位機(jī)讀取到的下行到標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201中光信號(hào)功率監(jiān)測值與測試設(shè)備中衰減設(shè)置值進(jìn)行補(bǔ)償計(jì)算,從而實(shí)現(xiàn)下行光功率的真實(shí)值校準(zhǔn)。以上的校準(zhǔn)過程均為上位機(jī)通過通信接口完成操作,除了需要操作人員把待測試光模塊完好地插入到標(biāo)準(zhǔn)測試模塊201外,其它部分完全不需要人為參與;校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以實(shí)時(shí)上傳數(shù)據(jù)庫進(jìn)行統(tǒng)計(jì)管理,對(duì)測試環(huán)境的可靠性進(jìn)行監(jiān)測與跟蹤。校準(zhǔn)完成后,即可進(jìn)行接下來的正常生產(chǎn)測試。

因此,上述光模塊測試環(huán)境校準(zhǔn)系統(tǒng)人為參與成分非常少,且操作很簡單,測試人員即可完成。校準(zhǔn)用時(shí)短,可隨時(shí)對(duì)待測試光模塊進(jìn)行校準(zhǔn)。由于結(jié)構(gòu)簡單,成本低,因此,可以每個(gè)測試站位配置一臺(tái)。校準(zhǔn)數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)上傳管理,測試環(huán)境更加可靠。

以上所述實(shí)施例的各技術(shù)特征可以進(jìn)行任意的組合,為使描述簡潔,未對(duì)上述實(shí)施例中的各個(gè)技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述,然而,只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾,都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說明書記載的范圍。

以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本實(shí)用新型的幾種實(shí)施方式,其描述較為具體和詳細(xì),但并不能因此而理解為對(duì)實(shí)用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進(jìn),這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此,本實(shí)用新型專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。

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