技術(shù)總結(jié)
本實(shí)用新型公開了一種測(cè)試板以及裂紋檢測(cè)裝置，所述測(cè)試板包括一用于檢測(cè)一待測(cè)基板的裂紋，所述測(cè)試板包括一用于感應(yīng)所述待測(cè)基板應(yīng)力的應(yīng)變區(qū)域，所述應(yīng)變區(qū)域內(nèi)包括多個(gè)應(yīng)變單元，至少所述應(yīng)變區(qū)域?yàn)槿嵝?，所述?yīng)變區(qū)域的柔軟度大于所述待測(cè)基板的柔軟度。當(dāng)將一待測(cè)基板放置于所述應(yīng)變區(qū)域上時(shí)，向所述待測(cè)基板施加應(yīng)力，位于所述應(yīng)變區(qū)域上的各所述應(yīng)變單元所受的應(yīng)力不同，各所述應(yīng)變單元所受的應(yīng)力影響各所述應(yīng)變單元的阻值，通過(guò)測(cè)量所述應(yīng)變單元的阻值變化，從而可以得到位于所述應(yīng)變區(qū)域上的各所述應(yīng)變單元所受的應(yīng)力，并得到裂紋的尺寸及裂紋的位置的信息。

技術(shù)研發(fā)人員：詹敏
受保護(hù)的技術(shù)使用者：霸州市云谷電子科技有限公司
文檔號(hào)碼：201621447895
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.27
技術(shù)公布日：2017.10.03