1.一種電路板測(cè)試工裝，其特征在于：包括中部底板密布有探針孔(8)的槽鋼結(jié)構(gòu)探針支架(6)，所示探針支架(6)通過(guò)槽鋼結(jié)構(gòu)的兩側(cè)板與門式結(jié)構(gòu)的探針上蓋(2)利用螺栓固定為一體；
所述探針孔(8)穿設(shè)探針的探針支架(6)和探針上蓋(2)作為一個(gè)單元通過(guò)貼合面的螺釘固定在一個(gè)框架結(jié)構(gòu)的工裝總支架(5)上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述電路板測(cè)試工裝，其特征在于：所述探針支架(6)和所述工裝總支架(5)之間設(shè)置了探針支架墊片(9)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述電路板測(cè)試工裝，其特征在于：所述工裝總支架(5)為階梯狀支架，每層階梯對(duì)應(yīng)一個(gè)單元的探針、探針支架(6)和探針上蓋(2)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述電路板測(cè)試工裝，其特征在于：其中部分層級(jí)的探針對(duì)應(yīng)探針設(shè)置探針墊片(10)；所述探針墊片(10)對(duì)應(yīng)設(shè)置了探針穿設(shè)孔并布置在所述探針孔(8)的下表面。