1.一種通止規(guī)，其特征在于，包括：
通止規(guī)本體(1)，其具有第一上臺階面(1a)和與所述第一上臺階面(1a)相對的第二下臺階面(1c)；
所述通止規(guī)本體(1)設(shè)有第一測量部(11)和第二測量部(12)，其中：所述第一測量部(11)和第二測量部(12)均為臺階結(jié)構(gòu)，并分別形成在所述第一上臺階面(1a)和第二下臺階面(1c)。
2.如權(quán)利要求1所述的通止規(guī)，其特征在于，所述第一測量部(11)在測量狀態(tài)下置于零件型面與檢具基準面之間，以檢測所述零件型面與檢具基準面形成的間隙的大??；所述第二測量部(12)在測量狀態(tài)下貼設(shè)在所述零件型面與檢具基準面上，以檢測零件型面與檢具基準面形成的高度差。
3.如權(quán)利要求1所述的通止規(guī)，其特征在于，所述第一測量部(11)包括第一下臺階面(1b)，所述通止規(guī)本體(1)的第一上臺階面(1a)相對于所述通止規(guī)本體(1)的第二下臺階面(1c)的高度與零件型面允許的上偏差相等；所述第一下臺階面(1b)相對于所述通止規(guī)本體(1)的第二下臺階面(1c)的高度與零件型面允許的下偏差相等。
4.如權(quán)利要求3所述的通止規(guī)，其特征在于，所述第一上臺階面(1a)和第一下臺階面(1b)為平面。
5.如權(quán)利要求1所述的通止規(guī)，其特征在于，所述第二測量部(12)包括第二上臺階面(1e)和中間臺階面(1d)，所述第二上臺階面(1e)相對于所述通止規(guī)本體(1)的第二下臺階面(1c)的高度與零件型面允許的上偏差相等；所述中間臺階面(1d)相對于所述通止規(guī)本體(1)的第二下臺階面(1c)的高度與零件型面允許的下偏差相等。
6.如權(quán)利要求5所述的通止規(guī)，其特征在于，所述第二上臺階面(1e)、中間臺階面(1d)以及所述第二下臺階面(1c)為平面。
7.如權(quán)利要求1所述的通止規(guī)，其特征在于，所述通止規(guī)本體(1)呈長條狀，所述第一測量部(11)和第二測量部(12)分別布置在所述通止規(guī)本體(1)的兩端。
8.如權(quán)利要求1或7所述的通止規(guī)，其特征在于，還包括把手(2)，其連接至所述通止規(guī)本體(1)的第二測量部(12)。
9.如權(quán)利要求8所述的通止規(guī)，其特征在于，所述把手(2)呈長條狀，橫截面呈方形，與所述通止規(guī)本體(1)之間的夾角為鈍角。
10.如權(quán)利要求9所述的通止規(guī)，其特征在于，所述把手(2)與所述通止規(guī)本體(1)一體成型。