技術(shù)總結(jié)
本實(shí)用新型公開了一種電磁兼容輻射發(fā)射測試優(yōu)化電路及裝置，其中，所述電磁兼容輻射發(fā)射測試優(yōu)化電路包括USB接口、用于濾除數(shù)據(jù)傳輸時(shí)產(chǎn)生的雜散信號(hào)的第一濾波模塊、用于濾除輸入電壓干擾信號(hào)的第二濾波模塊和用于限制輸入電壓大小的電壓保護(hù)模塊，所述第一濾波模塊、第二濾波模塊和電壓保護(hù)模塊均連接USB接口，通過增加第一濾波模塊可有效濾除差分信號(hào)傳輸時(shí)產(chǎn)生的雜散信號(hào)，提高輻射發(fā)射的成功率，且無需增加多層FPC導(dǎo)致物料成本增加。

技術(shù)研發(fā)人員：胡碧豐
受保護(hù)的技術(shù)使用者：惠州TCL移動(dòng)通信有限公司
文檔號(hào)碼：201621063277
技術(shù)研發(fā)日：2016.09.18
技術(shù)公布日：2017.03.22