1.一種觸控顯示模組，其特征在于，包括觸控顯示本體及輔助測(cè)試電路；所述觸控顯示本體包括呈一定規(guī)則排列的N個(gè)電容板極，所述輔助測(cè)試電路包括N個(gè)開(kāi)關(guān)單元及M個(gè)測(cè)試引出針腳；每一所述開(kāi)關(guān)單元具有輸入端、輸出端及受控端，所述測(cè)試引出針腳包括控制針腳和測(cè)試針腳；所述開(kāi)關(guān)單元的輸入端與所述電容板極一一對(duì)應(yīng)連接，所述控制針腳與所述開(kāi)關(guān)單元的受控端、所述測(cè)試針腳與所述開(kāi)關(guān)單元的輸出端交織連接。
2.如權(quán)利要求1所述的觸控顯示模組，其特征在于，所述電容板極呈I行J列矩陣排列。
3.如權(quán)利要求2所述的觸控顯示模組，其特征在于，I行J列所述電容板極位于一個(gè)平面上。
4.如權(quán)利要求2所述的觸控顯示模組，其特征在于，I行J列所述電容板極位于一個(gè)曲面上。
5.一種觸控顯示模組的電性能檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)如權(quán)利要求1至4任意一項(xiàng)所述的觸控顯示模組的電性能，其特征在于，包括控制模塊、信號(hào)源模塊、測(cè)試模塊及處理模塊；
所述控制模塊，用于向所述控制針腳輸出測(cè)試選通信號(hào)，從而選出控制端與選中的控制針腳連接的開(kāi)關(guān)單元，以及用于向所述測(cè)試針腳輸出測(cè)試信號(hào)，從而選出輸出端與選中的測(cè)試針腳連接的開(kāi)關(guān)單元；
所述信號(hào)源模塊，用于生成測(cè)試功能所需要的，對(duì)控制端與選中的控制針腳連接，并且輸出端與選中的測(cè)試針腳連接的開(kāi)關(guān)單元輸出測(cè)試信號(hào)；
所述測(cè)試模塊，用于對(duì)控制端與選中的控制針腳連接，并且輸出端與選中的測(cè)試針腳連接的開(kāi)關(guān)單元輸出的反饋信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，并輸出相應(yīng)的電參數(shù)；
所述處理模塊，用于根據(jù)所述電參數(shù)判斷觸控顯示模組的電性能是否正常。
6.如權(quán)利要求5所述的觸控顯示模組的電性能檢測(cè)裝置，其特征在于，所述測(cè)試模塊包括電容測(cè)試單元和電阻測(cè)試單元；
所述電容測(cè)試單元，用于對(duì)控制端與選中的控制針腳連接，并且輸出端與選中的測(cè)試針腳連接的開(kāi)關(guān)單元輸出的反饋信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，并根據(jù)反饋信號(hào)的電容分量輸出相應(yīng)的電容值；
所述電阻測(cè)試單元，用于對(duì)控制端與選中的控制針腳連接，并且輸出端與選中的測(cè)試針腳連接的開(kāi)關(guān)單元輸出的反饋信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，并根據(jù)反饋信號(hào)的電阻分量輸出相應(yīng)的電阻值。
7.如權(quán)利要求5所述的觸控顯示模組的電性能檢測(cè)裝置，其特征在于，所述處理模塊包括判定單元及循環(huán)單元；
所述判定單元，用于根據(jù)所述電參數(shù)判斷與被選中的開(kāi)關(guān)單元連接的電容板極的電性能是否正常；
所述循環(huán)單元，用于在所述電參數(shù)判斷與被選中的開(kāi)關(guān)單元連接的電容板極的電性能正常時(shí)，判斷所有電容板極的電性能是否檢測(cè)完畢，直到判定單元判定與任意一個(gè)開(kāi)關(guān)單元連接的電容板極的電性能正常。