本實(shí)用新型涉及電子測量儀器及設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種觸控顯示模組及觸控顯示模組的電性能檢測裝置。

背景技術(shù)：

電容式觸控顯示屏已經(jīng)成為智能電子設(shè)備不可或缺的部分。

現(xiàn)有的電容式觸控顯示屏由觸控顯示模組、控制芯片及其它部件組裝而成。在生產(chǎn)過程中，存在將不合格的觸控顯示模組與合格的控制芯片及其它部件組裝在一起，導(dǎo)致成型的觸控顯示屏不合格的情況。

這樣，與不合格的觸控顯示模組組裝在于一起的合格的控制芯片及其它部件就報(bào)廢了。因此，在觸控顯示模組與控制芯片及其它部件組裝在一起之前，需要對(duì)觸控顯示模組的性能進(jìn)行檢測，以減少因觸控顯示模組不合格而造成的資源浪費(fèi)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的主要目的是提供一種觸控顯示模組，旨在方便檢測該觸控顯示模組的電性能。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提出的觸控顯示模組包括觸控顯示本體及輔助測試電路；所述觸控顯示本體包括呈一定規(guī)則排列的N個(gè)電容板極，所述輔助測試電路包括N個(gè)開關(guān)單元及M個(gè)測試引出針腳；每一所述開關(guān)單元具有輸入端、輸出端及受控端，所述測試引出針腳包括控制針腳和測試針腳；所述開關(guān)單元的輸入端與所述電容板極一一對(duì)應(yīng)連接，所述控制針腳與所述開關(guān)單元的受控端、所述測試針腳與所述開關(guān)單元的輸出端交織連接。

優(yōu)選地，所述電容板極呈I行J列矩陣排列。

優(yōu)選地，I行J列所述電容板極位于一個(gè)平面上。

優(yōu)選地，I行J列所述電容板極位于一個(gè)曲面上。

對(duì)應(yīng)地，本實(shí)用新型還提出一種觸控顯示模組的電性能檢測裝置，用于檢測如上所述的觸控顯示模組的電性能，該觸控顯示模組的電性能檢測裝置包括控制模塊、信號(hào)源模塊、測試模塊及處理模塊；

所述控制模塊，用于向所述控制針腳輸出測試選通信號(hào)，從而選出控制端與選中的控制針腳連接的開關(guān)單元，以及用于向所述測試針腳輸出測試信號(hào)，從而選出輸出端與選中的測試針腳連接的開關(guān)單元；

所述信號(hào)源模塊，用于生成測試功能所需要的，對(duì)控制端與選中的控制針腳連接，并且輸出端與選中的測試針腳連接的開關(guān)單元輸出測試信號(hào)；

所述測試模塊，用于對(duì)控制端與選中的控制針腳連接，并且輸出端與選中的測試針腳連接的開關(guān)單元輸出的反饋信號(hào)進(jìn)行測試，并輸出相應(yīng)的電參數(shù)；

所述處理模塊，用于根據(jù)所述電參數(shù)判斷觸控顯示模組的電性能是否正常。

優(yōu)選地，所述測試模塊包括電容測試單元和電阻測試單元；

所述電容測試單元，用于對(duì)控制端與選中的控制針腳連接，并且輸出端與選中的測試針腳連接的開關(guān)單元輸出的反饋信號(hào)進(jìn)行測試，并根據(jù)反饋信號(hào)的電容分量輸出相應(yīng)的電容值；

所述電阻測試單元，用于對(duì)控制端與選中的控制針腳連接，并且輸出端與選中的測試針腳連接的開關(guān)單元輸出的反饋信號(hào)進(jìn)行測試，并根據(jù)反饋信號(hào)的電阻分量輸出相應(yīng)的電阻值。

優(yōu)選地，所述處理模塊包括判定單元及循環(huán)單元；

所述判定單元，用于根據(jù)所述電參數(shù)判斷與被選中的開關(guān)單元連接的電容板極的電性能是否正常；

所述循環(huán)單元，用于在所述電參數(shù)判斷與被選中的開關(guān)單元連接的電容板極的電性能正常時(shí)，判斷所有電容板極的電性能是否檢測完畢，直到判定單元判定與任意一個(gè)開關(guān)單元連接的電容板極的電參數(shù)正常。

本實(shí)用新型技術(shù)方案通過采用將輔助測試電路分為N個(gè)開關(guān)單元和M個(gè)測試引出針腳，并且使開關(guān)單元的輸入端與觸控顯示本體中的電容板極一一對(duì)應(yīng)連接，控制針腳與開關(guān)單元的受控端、測試針腳與開關(guān)單元的輸出端交織連接。這樣，通過向控制針腳及測試針腳輸入對(duì)應(yīng)的信號(hào)，就可以選出任意一個(gè)開關(guān)單元，從而選中與選出的開關(guān)單元連接的電容板極，進(jìn)而完成對(duì)單個(gè)電容板極的電性能的測試。此外，通過向空中針腳及測試針腳輸入對(duì)應(yīng)的控制信號(hào)，也可以選出任意兩個(gè)開關(guān)單元，從而選中與選出的開關(guān)單元連接的兩個(gè)相鄰的電容板極，進(jìn)而完成對(duì)電容板極之間的電性能的測試。

附圖說明

為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖示出的結(jié)構(gòu)獲得其他的附圖。

圖1(1)為本實(shí)用新型觸控顯示模組第一實(shí)施例中觸控顯示本體的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖1(2)為本實(shí)用新型觸控顯示模組第一實(shí)施例中輔助測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2(1)為本實(shí)用新型觸控顯示模組第二實(shí)施例中觸控顯示本體的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2(2)為本實(shí)用新型觸控顯示模組第二實(shí)施例中輔助測試電路的一種結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2(3)為本實(shí)用新型觸控顯示模組第二實(shí)施例中輔助測試電路的另一種結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3(1)為本實(shí)用新型觸控顯示模組第三實(shí)施例中觸控顯示本體的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3(2)為本實(shí)用新型觸控顯示模組第三實(shí)施例中輔助測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本實(shí)用新型觸控顯示模組的電性能檢測裝置一實(shí)施例的功能模塊示意圖；

圖5為圖4中測試模塊一實(shí)施例的功能模塊示意圖；

圖6為圖4中處理模塊一實(shí)施例的功能模塊示意圖

本實(shí)用新型目的的實(shí)現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)將結(jié)合實(shí)施例，參照附圖做進(jìn)一步說明。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型的一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

需要說明，本實(shí)用新型實(shí)施例中所有方向性指示(諸如上、下、左、右、前、后……)僅用于解釋在某一特定姿態(tài)(如附圖所示)下各部件之間的相對(duì)位置關(guān)系、運(yùn)動(dòng)情況等，如果該特定姿態(tài)發(fā)生改變時(shí)，則該方向性指示也相應(yīng)地隨之改變。

另外，在本實(shí)用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示其相對(duì)重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個(gè)該特征。另外，各個(gè)實(shí)施例之間的技術(shù)方案可以相互結(jié)合，但是必須是以本領(lǐng)域普通技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)為基礎(chǔ)，當(dāng)技術(shù)方案的結(jié)合出現(xiàn)相互矛盾或無法實(shí)現(xiàn)時(shí)應(yīng)當(dāng)認(rèn)為這種技術(shù)方案的結(jié)合不存在，也不在本實(shí)用新型要求的保護(hù)范圍之內(nèi)。

本實(shí)用新型提出一種觸控顯示模組，包括觸控顯示本體100及輔助測試電路200，觸控顯示本體100包括呈一定規(guī)則排列的N個(gè)電容板極10，輔助測試電路200包括N個(gè)開關(guān)單元20及M個(gè)測試引出針腳；每一開關(guān)單元20具有輸入端、輸出端及受控端，測試引出針腳包括控制針腳K和測試針腳P；開關(guān)單元20的輸入端與電容板極10一一對(duì)應(yīng)連接，控制針腳K與開關(guān)單元20的受控端、測試針腳P與開關(guān)單元20的輸出端交織連接。其中，M和N均為正整數(shù)。

參照?qǐng)D1(1)和圖1(2)，在一實(shí)施例中，觸控顯示本體100包括呈4行6列矩陣排列的24個(gè)電容板極10，輔助測試電路200包括24個(gè)開關(guān)單元20、6個(gè)控制針腳K和8個(gè)測試針腳P。為便于描述，本實(shí)施例將觸控顯示本體100置于平面直角坐標(biāo)系中，每一電容板極10都有一與之對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)。

圖1(1)和圖1(2)中，開關(guān)單元的輸入端與電容板極的對(duì)應(yīng)連接關(guān)系如下表1所示：

表1

圖1(1)和圖1(2)中，開關(guān)單元20的受控端與控制針腳K的對(duì)應(yīng)連接關(guān)系如下表2所示：

表2

圖1(1)和圖1(2)中，開關(guān)單元20的輸出端與測試針腳Q的對(duì)應(yīng)連接關(guān)系如下表3所示：

表3

參照?qǐng)D2(1)、圖2(2)和圖2(3)，在一實(shí)施例中，觸控顯示本體100包括呈4行6列矩陣排列的24個(gè)電容板極10，輔助測試電路200包括24個(gè)開關(guān)單元20、2個(gè)控制針腳K和12個(gè)測試針腳P。為便于描述，本實(shí)施例將觸控顯示本體100置于平面直角坐標(biāo)系中，每一電容板極10都有一與之對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)。

圖2(1)和圖2(2)中，開關(guān)單元20的輸入端與電容板極10的對(duì)應(yīng)連接關(guān)系如下表4所示：

表4

圖2(1)和圖2(2)中，開關(guān)單元20的受控端與控制針腳K的對(duì)應(yīng)連接關(guān)系如下表5所示：

表5

圖2(1)和圖2(2)中，開關(guān)單元20的輸出端與測試針腳P的對(duì)應(yīng)連接關(guān)系如下表6所示：

表6

圖2(1)和圖2(3)，開關(guān)單元20的輸出端與測試針腳P的對(duì)應(yīng)連接關(guān)系如下表6B所示：

表6B

表6B與表6相比，主要目的是把空間相鄰的兩個(gè)電容板極10所連接的對(duì)應(yīng)輸出端的相互關(guān)系，用更加多樣化的方法實(shí)現(xiàn)，以適應(yīng)某些場合需要針對(duì)兩個(gè)相鄰電容板極10進(jìn)行絕緣電阻測量的要求。

參照?qǐng)D3(1)和圖3(2)，在一實(shí)施例中，觸控顯示本體100包括呈圓形排列的13個(gè)電容板極10，輔助測試電路200包括13個(gè)開關(guān)單元20、2個(gè)控制針腳K和7個(gè)測試針腳P。為便于描述，本實(shí)施例將觸控顯示本體100置于平面直角坐標(biāo)系中，每一電容板極10都有一與之對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)。圖3(1)和圖3(2)中，開關(guān)單元20的輸入端與電容板極10的對(duì)應(yīng)連接關(guān)系如下表7所示：

表7

圖3(1)和圖3(2)中，開關(guān)單元20的受控端與控制針腳K的對(duì)應(yīng)連接關(guān)系如下表8所示：

表8

圖3(1)和圖3(2)中，開關(guān)單元20的輸出端與測試針腳P的對(duì)應(yīng)連接關(guān)系如下表9所示：

表9

需要說明的是，在本實(shí)用新型提出的觸控顯示模組中，控制針腳K與開關(guān)單元20的受控端、測試針腳P與開關(guān)單元20的對(duì)應(yīng)連接關(guān)系并不僅限于表中所列舉出的方式。使開關(guān)單元20的輸入端與電容板極10一一對(duì)應(yīng)連接，使若干開關(guān)單元20的受控端與同一個(gè)控制針腳K連接，并且使受控端與同一個(gè)控制針腳K連接的開關(guān)單元20的輸出端分別與不同的測試針腳P連接；或者，使開關(guān)單元20的輸入端與電容板極10一一對(duì)應(yīng)連接，使若干開關(guān)單元20的輸出端與同一個(gè)測試針腳P連接，并且使輸出端與同一個(gè)測試針腳P連接的開關(guān)單元20的受控端分別于不同的控制針腳K連接，都屬于交織連接的方式。而受控端與同一個(gè)控制針腳K連接的開關(guān)單元20的數(shù)量和/或輸出端與同一個(gè)檢測針腳P連接的開關(guān)單元20的數(shù)量不做限制。在實(shí)施本實(shí)用新型技術(shù)方案時(shí)，只需保證在選中任意兩個(gè)電容板極10時(shí)，其它電容板極10不會(huì)對(duì)測試兩個(gè)目標(biāo)電容板極10的電性產(chǎn)生干擾。

值得一提的是，本實(shí)用新型提出的觸控顯示模組中，電容板極10可以呈矩陣、圓形、橢圓形等形狀排列，電容板極10的排列方式此處不做限制。此外，電容板極10可以位于一個(gè)平面上，也可以位于一個(gè)曲面上，若電容板極10位于一個(gè)曲面上，在將電容板極10的位置關(guān)系進(jìn)行坐標(biāo)化處理時(shí)，可以通過將所有電容板極10都投影到一個(gè)特定平面上來實(shí)現(xiàn)，也可以通過建立三維坐標(biāo)系來實(shí)現(xiàn)，此處不做限制。

相應(yīng)地，本實(shí)用新型還提出一種觸控顯示模組的電性能檢測裝置，用于檢測如上所述的觸控顯示模組的電性能。在一實(shí)施例中，參照?qǐng)D4，圖4所示的觸控顯示模組的電性能檢測裝置包括控制模塊300、信號(hào)源模塊600、測試模塊400及處理模塊500；控制模塊200，用于向控制針腳K輸出測試選通信號(hào)，從而選出控制端與選中的控制針腳K連接的開關(guān)單元20，以及用于向測試針腳P輸出測試信號(hào)，從而選出輸出端與選中的測試針腳P連接的開關(guān)單元20；

測試模塊400，用于對(duì)控制端與選中的控制針腳K連接，并且輸出端與選中的測試針腳P連接的開關(guān)單元20輸出的反饋信號(hào)進(jìn)行測試，并輸出相應(yīng)的電參數(shù)；

信號(hào)源模塊600，用于生成測試功能所需要的，對(duì)控制端與選中的控制針腳K連接，并且輸出端與選中的測試針腳P連接的開關(guān)單元20輸出測試信號(hào)。

需要說明的是，在一實(shí)施例中，可以用電壓信號(hào)作為測試信號(hào)。其中，電壓信號(hào)可以是連續(xù)的，也可以是離散的，此處不對(duì)電壓信號(hào)的具體形式進(jìn)行限制。

處理模塊500，用于根據(jù)電參數(shù)判斷觸控顯示模組的電性能是否正常。

為便于描述本實(shí)用新型觸控顯示模組的電性能檢測裝置的工作原理，本實(shí)施例中，以檢測上述觸控顯示模組第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)為例進(jìn)行說明。

當(dāng)需要檢測坐標(biāo)為(2,4)的電容極板10的電性能時(shí)，控制模塊300向第二控制針腳K2輸出測試選通信號(hào)，從而選出控制端與第二控制針腳K2連接的所有開關(guān)單元20，即分別與坐標(biāo)為(2,4)、(2,3)、(2,2)、(2,1)的電容板極10連接的開關(guān)單元20；以及向第五測試針腳P5輸出測試信號(hào)，從而選出輸出端與第五測試針腳P5連接的所有開關(guān)單元20，即分別與坐標(biāo)為(2,4)、(4,2)、(6,4)的電容板極10連接的開關(guān)單元20。

只有受控端與第二控制針腳K2連接并且輸出端與第五測試針腳P5連接的開關(guān)單元20被選出，而與該開關(guān)單元20的輸入端連接的電容板極10的坐標(biāo)為(2,4)。這樣，就選中了目標(biāo)電容板極10。

需要說明的是，當(dāng)一個(gè)開關(guān)單元20被選出時(shí)，說明開關(guān)單元20的輸入端與輸出端之間導(dǎo)通，可以通過該開關(guān)單元20向?qū)?yīng)的電容板極10輸入測試信號(hào)以及可以通過該開關(guān)單元20接收對(duì)應(yīng)的電容板極10的反饋信號(hào)。也就是說，與該開關(guān)單元20的輸入端連接的電容板極10被選中。

然后，信號(hào)源模塊600生成測試功能所需要的，對(duì)控制端與選中的控制針腳K連接，并且輸出端與選中的測試針腳P連接的開關(guān)單元20輸出測試信號(hào)。

接著，測試模塊400對(duì)輸入端與坐標(biāo)為(2,4)的電容板極10連接的開關(guān)單元20輸出的反饋信號(hào)進(jìn)行測試，并輸出相應(yīng)的電參數(shù)。其中，電參數(shù)包括目標(biāo)電容板極10的電阻參數(shù)和電容參數(shù)。

最后，處理模塊500根據(jù)目標(biāo)電容板極10的電阻參數(shù)和電容參數(shù)判斷目標(biāo)電容板極10的電性能是否正常。

當(dāng)需要檢測坐標(biāo)為(2,4)與坐標(biāo)為(3,4)的電容板極10的電性能時(shí)，控制模塊300向第二控制針腳K2及第三控制針腳K3輸出控制信號(hào)，從而選出控制端與第二控制針腳K2或者第三控制針腳K3連接的所有開關(guān)單元20，即分別與坐標(biāo)為(2,4)、(2,3)、(2,2)、(2,1)及坐標(biāo)為(3,4)、(3,3)、(3,2)、(3,1)的電容板極10連接的開關(guān)單元20；以及向第五測試針腳P5及第三測試針腳P3輸出測試信號(hào)，從而選出輸出端與第五測試針腳P5或者第三測試針腳P3連接的開關(guān)單元20，即分別與坐標(biāo)為(2,4)、(4,2)、(6,4)及坐標(biāo)為(1,2)、(3,4)、(5,2)的電容板極10連接的開關(guān)單元20。

只有受控端與第二控制針腳K2或者第三控制針腳K3連接并且輸出端與第五測試針腳P5連接或者與第三測試針腳P3連接的開關(guān)單元20被選出，而與該開關(guān)單元20的輸入端連接的電容板極10的坐標(biāo)為(2,4)、(3,4)。這樣，就選中了目標(biāo)電容板極10。然后，信號(hào)源模塊600生成測試功能所需要的，對(duì)控制選與選中的控制針腳K連接，并且輸出端與選中的測試針腳P連接的開關(guān)單元20輸出測試信號(hào)。接著，測試模塊400對(duì)輸入端與坐標(biāo)為(2,4)的電容板極10連接的開關(guān)單元20及輸入端與坐標(biāo)為(3,4)的電容板極10連接的開關(guān)單元20輸出的反饋信號(hào)進(jìn)行測試，并輸出相應(yīng)的電參數(shù)。其中，電參數(shù)包括單個(gè)目標(biāo)電容板極10的電阻參數(shù)和電容參數(shù)以及兩個(gè)目標(biāo)電容板極10之間的電阻參數(shù)和電容參數(shù)。

最后，處理模塊500根據(jù)目標(biāo)電容板極10的電阻參數(shù)和電容參數(shù)判斷單個(gè)目標(biāo)電容板極10的電性能以及兩個(gè)目標(biāo)電容板極10之間的電性能是否正常。

可以理解，在對(duì)本實(shí)用新型提出的觸控顯示模組的電性能進(jìn)行測試時(shí)，可以有效減少測試引出針腳的數(shù)量，比如，對(duì)于具有24個(gè)電容板極10的觸控顯示模組，只需12個(gè)測試引出針腳就可以將所有電容板極10引出，并且能夠滿足在測試任意兩個(gè)相鄰電容板極10之間的電性能時(shí)，其它電容板極10不對(duì)目標(biāo)電容板極產(chǎn)生干擾的條件。當(dāng)然，采用本實(shí)用新型技術(shù)方案，還可以對(duì)具有其它數(shù)量電容板極10的觸控顯示模組的電性能進(jìn)行檢測，比如600個(gè)，甚至6000個(gè)，等等。此外，在對(duì)具有24個(gè)電容板極10的觸控顯示模組的電性能進(jìn)行測試時(shí)，測試引出腳的輸出并不限于12個(gè)，比如觸控顯示模組第二實(shí)施例中的測試引出針腳的數(shù)量為14個(gè)，當(dāng)然還可以是其它的數(shù)量，比如說13個(gè)，10個(gè)，等等，此處不做限制。

參照?qǐng)D5，在一較佳實(shí)施例中，上述測試模塊400包括電容測試單元410和電阻測試單元420；電容測試單元410，用于對(duì)控制端與選中的控制針腳K連接，并且輸出端與選中的測試針腳P連接的開關(guān)單元20輸出的反饋信號(hào)進(jìn)行測試，并根據(jù)反饋信號(hào)的電容分量輸出相應(yīng)的電容值；電阻測試單元420，用于對(duì)控制端與選中的控制針腳K連接，并且輸出端與選中的測試針腳P連接的開關(guān)單元20輸出的反饋信號(hào)進(jìn)行測試，并根據(jù)反饋信號(hào)的電阻分量輸出相應(yīng)的電阻值。

可以理解，將目標(biāo)電容板極10的電容測試和電阻測試分隔開，可以避免電容反饋信號(hào)與電容反饋信號(hào)相互干擾，從而使得檢測結(jié)果更可靠。

參照?qǐng)D6，在一較佳實(shí)施例中，上述處理模塊500包括判定單元510及循環(huán)單元520；

判定單元510，用于根據(jù)電參數(shù)判斷與被選中的開關(guān)單元20連接的電容板極10的電性能是否正常；循環(huán)單元520，用于在電參數(shù)判斷與被選中的開關(guān)單元20連接的電容板極10的電性能正常時(shí)，判斷所有電容板極10的電性能是否檢測完畢，直到判定單元510判定與任意一個(gè)開關(guān)單元20連接的電容板極10的電參數(shù)正常。

可以理解，只有檢測到所有單個(gè)目標(biāo)電容板極10的電性能以及任意兩個(gè)相鄰目標(biāo)電容板極10之間的電性能都正常，才能說明觸控顯示模組的電性能正常。

以上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍，凡是在本實(shí)用新型的實(shí)用新型構(gòu)思下，利用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)變換，或直接/間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域均包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。