本實用新型涉及一種測試裝置，具體的說是一種半導體芯片Pin針測試材料裝置。

背景技術：

由于內存特性測試設備效率提升，導致設備Pin針損壞率增加，嚴重影響產能.為了提高Pin針使用壽命，降低成本，所以需要對設備Pin針進行分析改善，在不影響品質的情況下，最大化的提高使用壽命。

由于之前材質Pin針足夠應對設備需求，所以對此沒有引起重視.當設備效率增大時候，Pin針無法滿足需求時，一種方案是頻繁直接購買Pin針，但花費成本較大，另一種方案通過對測試設備的Pin針改善優(yōu)化，提高使用壽命，滿足生產需求。

技術實現要素：

本實用新型的目的在于克服上述不足之處，從而提供一種半導體芯片Pin針測試材料裝置。本實用新型是通過下述技術方案解決上述技術問題的：一種半導體芯片Pin針測試材料裝置，包括：安裝座1和內存條2，所述安裝座1上安裝有接觸焊點11，所述接觸焊點11以兩行兩列分布在安裝座上；在i行=1行，j列=1列與i行=1行，j列=2列之間設置有5-7mm的間距；在i行=2行，j列=1列與i行=2行，j列=2列之間也設置有5-7mm的間距；在i行=1行，j列=1列與i行=2行，j列=1列的接觸焊點11的分布位置不完全一致；在i行=1行，j列=1列與i行=2行，j列=2列的接觸焊點11的分布位置相對應；所述內存條2上設置有Pin針21，所述Pin針21的分布位置與接觸焊點11的分布位置相對應。

優(yōu)選的，所述內存條2的兩端分別安裝有適配器22，所述適配器22的遠離內存條2的一端對稱安裝有螺栓23，所述適配器22上安裝螺栓23的一端連接有鎖存器24，所述內存條2長度方向對稱安裝有編帶螺栓25。

優(yōu)選的，所述適配器22為無線顯示適配器。

本實用新型的有益效果：本實用新型能夠自主的對測試設備上的Pin針使用壽命進行驗證，以滿足DDR4 SOCKET（產品）的生產需求，減少成本。

附圖說明

圖1為本實用新型安裝座的結構示意圖

圖2為本實用新型內存條的結構示意圖

圖3為本實用新型鎖存器的安裝位置結構圖

圖中：1-安裝座；11-接觸焊點；

2-內存條；21-Pin針；22-適配器；23-螺栓；24-鎖存器；25-編帶螺栓。

具體實施方式；

以下是本實用新型的具體實施例并結合附圖，對本實用新型的技術方案作進一步的描述，但本實用新型并不限于這些實例。

如圖1至圖3所示，一種半導體芯片Pin針測試材料裝置，包括：安裝座1和內存條2，所述安裝座1上安裝有接觸焊點11，所述接觸焊點11以兩行兩列分布在安裝座上；在i行=1行，j列=1列與i行=1行，j列=2列之間設置有5-7mm的間距；在i行=2行，j列=1列與i行=2行，j列=2列之間也設置有5-7mm的間距；在i行=1行，j列=1列與i行=2行，j列=1列的接觸焊點11的分布位置不完全一致；在i行=1行，j列=1列與i行=2行，j列=2列的接觸焊點11的分布位置相對應；所述內存條2上設置有Pin針21，所述Pin針21的分布位置與接觸焊點11的分布位置相對應。

在本實施例中，優(yōu)選的，所述內存條2的兩端分別安裝有適配器22，所述適配器22的遠離內存條2的一端對稱安裝有螺栓23，所述適配器22上安裝螺栓23的一端連接有鎖存器24，所述內存條2長度方向對稱安裝有編帶螺栓25。

在本實施例中，優(yōu)選的，所述適配器22為無線顯示適配器，無線顯示適配器兼容性大、信號延時少，即使是在無網絡環(huán)境下，依然可以流暢使用。

以上所述僅為本實用新型的優(yōu)選實施例方式，不能以此來限定本實用新型保護的范圍，本領域的技術人員在本實用新型的基礎上所做的任何非實質性的變化及替換均屬于本實用新型所要求保護的范圍。