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一種用于陶瓷磚多項(xiàng)參數(shù)指標(biāo)檢測(cè)的檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法

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本發(fā)明涉及陶瓷磚檢測(cè)系統(tǒng)的技術(shù)領(lǐng)域,尤其是指一種用于陶瓷磚多項(xiàng)參數(shù)指標(biāo)檢測(cè)的檢測(cè)系統(tǒng)。



背景技術(shù):

目前,陶瓷磚在生產(chǎn)完成后,需要對(duì)陶瓷磚的尺寸等參數(shù)進(jìn)行測(cè)量,現(xiàn)有的檢測(cè)手段有傳統(tǒng)測(cè)量設(shè)備或人工測(cè)量的方式,其中,傳統(tǒng)測(cè)量設(shè)備在對(duì)陶瓷磚的邊長(zhǎng)、變寬以及對(duì)角線等尺寸的測(cè)量中,測(cè)量結(jié)果存在有誤差大、穩(wěn)定性差的問(wèn)題;而采用人工的方式進(jìn)行測(cè)量時(shí),測(cè)量誤差大、效率低;為此,需要一種新型的、測(cè)量準(zhǔn)確、穩(wěn)定性好、效率高的瓷磚參數(shù)指標(biāo)檢測(cè)的檢測(cè)系統(tǒng),不僅檢測(cè)陶瓷磚的尺寸參數(shù),還檢測(cè)陶瓷磚的色號(hào)、平整度、缺陷等參數(shù)。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種用于陶瓷磚多項(xiàng)參數(shù)指標(biāo)檢測(cè)的檢測(cè)系統(tǒng)。

為了實(shí)現(xiàn)上述的目的,本發(fā)明所提供的一種用于陶瓷磚多項(xiàng)參數(shù)指標(biāo)檢測(cè)的檢測(cè)系統(tǒng),包括有檢測(cè)機(jī)構(gòu)和傳輸機(jī)構(gòu),所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括有尺寸檢測(cè)組件、平整度檢測(cè)組件、缺陷檢測(cè)組件和色號(hào)檢測(cè)組件,所述尺寸檢測(cè)組件、缺陷檢測(cè)組件和色號(hào)檢測(cè)組件均包括有檢測(cè)箱、光源、平面反射鏡和平面透鏡,所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè)置于傳輸機(jī)構(gòu)上方,其中,所述傳輸機(jī)構(gòu)陶瓷磚依次傳輸經(jīng)過(guò)尺寸檢測(cè)組件、平整度檢測(cè)組件、缺陷檢測(cè)組件和色號(hào)檢測(cè)組件;所述平面反射鏡和平面透鏡分別安裝于檢測(cè)箱內(nèi)和檢測(cè)箱底部預(yù)開(kāi)有的進(jìn)光口處,所述光源安裝于檢測(cè)箱和傳輸機(jī)構(gòu)之間;所述尺寸檢測(cè)組件、缺陷檢測(cè)組件和色號(hào)檢測(cè)組件還分別設(shè)置有用于尺寸參數(shù)檢測(cè)、磚面缺陷檢測(cè)、色號(hào)參數(shù)檢測(cè)的圖像檢測(cè)單元,每個(gè)所述圖像檢測(cè)單元均安裝于檢測(cè)箱中;所述平整度檢測(cè)組件包括有位移檢測(cè)單元。

進(jìn)一步,所述平面反射鏡在檢測(cè)箱內(nèi)呈一定傾斜角度。

進(jìn)一步,所述傳輸機(jī)構(gòu)包括有傳輸帶和轉(zhuǎn)動(dòng)輪,其中,所述傳動(dòng)輪上設(shè)置有旋轉(zhuǎn)檢測(cè)單元。

本發(fā)明采用上述的方案,其有益效果在于:通過(guò)尺寸檢測(cè)組件、平整度檢測(cè)組件、缺陷檢測(cè)組件和色號(hào)檢測(cè)組件分別經(jīng)傳輸機(jī)構(gòu)傳輸?shù)奶沾纱u的尺寸參數(shù)、表面平整度、表面缺陷、色號(hào)進(jìn)行檢測(cè),通過(guò)上述檢測(cè)方式,提高了測(cè)量的準(zhǔn)確度,穩(wěn)定性以及效率,從而為企業(yè)降低生產(chǎn)成本,增加經(jīng)濟(jì)效益。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明的檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

其中,1-檢測(cè)機(jī)構(gòu),11-尺寸檢測(cè)組件,12-平整度檢測(cè)組件,13-缺陷檢測(cè)組件,14-色號(hào)檢測(cè)組件,2-傳輸機(jī)構(gòu),31-檢測(cè)箱,32-平面反射鏡,33-平面透鏡,34-光源,35-圖像檢測(cè)單元。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說(shuō)明。

參見(jiàn)附圖1所述,在本實(shí)施例中,一種用于陶瓷磚多項(xiàng)參數(shù)指標(biāo)檢測(cè)的檢測(cè)系統(tǒng),包括有檢測(cè)機(jī)構(gòu)1和傳輸機(jī)構(gòu)2,所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)1包括有尺寸檢測(cè)組件11、平整度檢測(cè)組件12、缺陷檢測(cè)組件13和色號(hào)檢測(cè)組件14,所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)1設(shè)置于傳輸機(jī)構(gòu)2上方,其中,所述傳輸機(jī)構(gòu)2陶瓷磚依次傳輸經(jīng)過(guò)尺寸檢測(cè)組件11、平整度檢測(cè)組件12、缺陷檢測(cè)組件13和色號(hào)檢測(cè)組件14,其次,為了確保檢測(cè)精度,檢測(cè)機(jī)構(gòu)1需在恒溫環(huán)境下進(jìn)行檢測(cè)。

所述尺寸檢測(cè)組件11、缺陷檢測(cè)組件13和色號(hào)檢測(cè)組件14均包括有檢測(cè)箱31、光源34、平面反射鏡32和平面透鏡33,所述平面反射鏡32和平面透鏡33分別安裝于檢測(cè)箱31內(nèi)和檢測(cè)箱31底部預(yù)開(kāi)有的進(jìn)光口處,所述光源34安裝于檢測(cè)箱31和傳輸機(jī)構(gòu)2之間且該光源34用于為各檢測(cè)組件提供光照亮度;所述尺寸檢測(cè)組件11、缺陷檢測(cè)組件13和色號(hào)檢測(cè)組件14還分別設(shè)置有用于尺寸參數(shù)檢測(cè)、磚面缺陷檢測(cè)、色號(hào)參數(shù)檢測(cè)的圖像檢測(cè)單元35,每個(gè)所述圖像檢測(cè)單元35均安裝于檢測(cè)箱31中;平面反射鏡32呈一定的傾斜角度,使得平面反射鏡32將由進(jìn)光口進(jìn)入檢測(cè)箱31的光線反射至圖像檢測(cè)單元35,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對(duì)陶瓷磚尺寸參數(shù),表面是否存在缺陷以及色號(hào)的檢測(cè)。所述平整度檢測(cè)組件12包括有位移檢測(cè)單元,其中,位移檢測(cè)單元在本實(shí)施例中為位移傳感器,通過(guò)唯一檢測(cè)單元實(shí)現(xiàn)對(duì)陶瓷磚的厚度以及表面平整度的檢測(cè)。

在本實(shí)施例中,傳輸機(jī)構(gòu)2包括有傳輸帶和轉(zhuǎn)動(dòng)輪,其中,傳動(dòng)輪上設(shè)置有旋轉(zhuǎn)檢測(cè)單元,其中,在本實(shí)施例中,旋轉(zhuǎn)檢測(cè)單元為旋轉(zhuǎn)編碼器,通過(guò)旋轉(zhuǎn)檢測(cè)單元實(shí)現(xiàn)對(duì)傳輸機(jī)構(gòu)2的速度監(jiān)控以及速度調(diào)節(jié)。

在本實(shí)施例中,檢測(cè)機(jī)構(gòu)1、光源34、傳輸機(jī)構(gòu)2之間通過(guò)與處理器相電信連接,實(shí)現(xiàn)對(duì)陶瓷磚的參數(shù)指標(biāo)檢測(cè)的智能化的控制。

以上所述之實(shí)施例僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例,并非對(duì)本發(fā)明做任何形式上的限制。任何熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員,在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍情況下,利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案作出更多可能的變動(dòng)和潤(rùn)飾,或修改均為本發(fā)明的等效實(shí)施例。故凡未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容,依據(jù)本發(fā)明之思路所作的等同等效變化,均應(yīng)涵蓋于本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。

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