本發(fā)明涉及一種晶振蓋板外形尺寸自動檢測裝置。

背景技術：

當前表面貼裝晶振（SMD）蓋板外形尺寸的檢測方法是依靠人工用游標卡尺檢測，檢測精度是0.001mm；由于SMD蓋板產量巨大，月產量2千萬左右，人工游標卡尺檢測成本太大，效率太低，所以一般工廠只能采用抽檢的方法。如果發(fā)現(xiàn)產品的不良品超過規(guī)定范圍，只能批量報廢，另外產品不能保證100%合格。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種晶振蓋板外形尺寸自動檢測裝置，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術方案：一種晶振蓋板外形尺寸自動檢測裝置，包括圓震料盤、平震送料軌道和檢測裝置，所述的檢測裝置包括玻璃圓盤、設置在玻璃圓盤上方的攝像頭、設置在玻璃圓盤下方正對攝像頭的LED光源、設置在玻璃圓盤上方攝像頭側面的合格品吹氣頭和不合格品吹氣頭，所述的攝像頭一側設有紅外線漫反射傳感器，所述的攝像頭、合格品吹氣頭和不合格品吹氣頭與終端電腦連接。

優(yōu)選的，所述玻璃圓盤通過調速轉軸固定在工作臺上。

與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明可以高效的對每只產品進行檢測，保證出廠的產品合格率超過99.99%，避免因不良品高造成的批量報廢。

附圖說明

圖1為本發(fā)明結構示意圖。

圖中：1圓震料盤，2玻璃圓盤，3平震送料軌道，4 LED光源，5不合格品吹氣頭，6合格品吹氣頭，7攝像頭。

具體實施方式

下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

請參閱圖1，本發(fā)明提供一種技術方案：一種晶振蓋板外形尺寸自動檢測裝置，包括圓震料盤1、平震送料軌道3和檢測裝置，檢測裝置包括玻璃圓盤2、設置在玻璃圓盤2上方的攝像頭7、設置在玻璃圓盤2下方正對攝像頭7的LED光源4、設置在玻璃圓盤2上方攝像頭7側面的合格品吹氣頭6和不合格品吹氣頭5，所述的攝像頭7一側設有紅外線漫反射傳感器，所述的攝像頭7、合格品吹氣頭6和不合格品吹氣頭5與終端電腦連接；：所述玻璃圓盤2通過調速轉軸固定在工作臺上。

玻璃圓盤2是高透光玻璃材料，其作用：a、連續(xù)傳送物料的平臺，b、光電傳感器能夠準確的感知物料的位置，c、為攝像頭提供足夠的照明。

紅外線漫反射傳感器的作用是為攝像機太公拍攝信號。

本裝置采用光學成像及運算系統(tǒng)，通過采集物料的圖像加以分析，與X方向Y方向夾角和圖像的像素用三角函數(shù)計算出物料的長寬，并以圖標的方式顯示在終端顯示器上。

LED光源安放在玻璃圓盤下方，光線透過玻璃照射物料，攝像機獲取物料的陰影圖像。

本設備采用可視化攝像頭和PLC智能化代理人工作業(yè)，，攝像頭掃描速度可達到每小時一萬次，分揀速度達到每小時6000-7000片；該裝置不僅可以用于SMD蓋板檢測，還可以用于顯示器進行白點檢測等一些標準件的檢測。

盡管已經示出和描述了本發(fā)明的實施例，對于本領域的普通技術人員而言，可以理解在不脫離本發(fā)明的原理和精神的情況下可以對這些實施例進行多種變化、修改、替換和變型，本發(fā)明的范圍由所附權利要求及其等同物限定。