技術(shù)編號：12710755
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種晶振蓋板外形尺寸自動(dòng)檢測裝置。背景技術(shù)當(dāng)前表面貼裝晶振（SMD）蓋板外形尺寸的檢測方法是依靠人工用游標(biāo)卡尺檢測，檢測精度是0.001mm；由于SMD蓋板產(chǎn)量巨大，月產(chǎn)量2千萬左右，人工游標(biāo)卡尺檢測成本太大，效率太低，所以一般工廠只能采用抽檢的方法。如果發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良品超過規(guī)定范圍，只能批量報(bào)廢，另外產(chǎn)品不能保證100%合格。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于提供一種晶振蓋板外形尺寸自動(dòng)檢測裝置，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：一種晶振蓋板外形尺寸自動(dòng)檢...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。