技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種電調(diào)衰減器特性曲線測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法，所述測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試夾具和計(jì)算機(jī)，測(cè)試夾具包括夾具槽位、檢波器和單片機(jī)，檢波器安裝于夾具槽位輸出端，單片機(jī)與所述檢波器以及計(jì)算機(jī)連接；在夾具槽位中不插接電調(diào)衰減器的情況下，外部信號(hào)源向夾具槽位輸入功率衰減信號(hào)，生成輸入信號(hào)?輸出電壓的夾具特性曲線；在夾具槽位中插接電調(diào)衰減器的情況下，單片機(jī)為夾具槽位中的電調(diào)衰減器提供控制電壓，生成輸入控制電壓?輸出電壓的特性曲線；將兩組曲線進(jìn)行融合替換，獲取輸入控制電壓和輸入信號(hào)衰減特性的曲線。本發(fā)明提供的測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便，測(cè)試流程簡(jiǎn)單，使用成本比較低，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)電調(diào)衰減器特性曲線的自動(dòng)化測(cè)試。

技術(shù)研發(fā)人員：高忠陽(yáng)
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京航天微電科技有限公司
文檔號(hào)碼：201611152133
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.14
技術(shù)公布日：2017.05.31