技術(shù)編號：12455548
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電子測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種電調(diào)衰減器特性曲線測試系統(tǒng)及測試方法。背景技術(shù)電調(diào)衰減器在射頻組件、電子模塊中有較大量的應(yīng)用，但由于材料、加工工藝等的問題，使得該產(chǎn)品的一致性較差，在使用前需進(jìn)行特性曲線測試、篩選，以達(dá)到不同應(yīng)用場合的使用要求。目前一般對電調(diào)衰減器特性曲線測試時采用時網(wǎng)分析儀的方法，需要購買時網(wǎng)分析儀這種專用的設(shè)備，時網(wǎng)分析儀成本比較昂貴。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明提供了一種電調(diào)衰減器特性曲線測試系統(tǒng)及測試方法，實現(xiàn)了對電調(diào)衰減器特性曲線的自動化測試。本發(fā)明解決上述技術(shù)問題的技術(shù)方案...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。