本發(fā)明涉及局放檢測(cè)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種檢測(cè)組合電器的缺陷的方法和裝置。

背景技術(shù)：

近年來，隨著電力技術(shù)的快速發(fā)展，氣體絕緣全封閉組合電器(GIS、HGIS)日益取代傳統(tǒng)的變電設(shè)備，但組合電器的安全穩(wěn)定運(yùn)行受制于局部放電。然而，局放檢測(cè)工作需要檢修試驗(yàn)人員具有較高知識(shí)水平和精確分析能力，但一般水平的檢修試驗(yàn)人員很難完成本項(xiàng)工作。因此，在專業(yè)檢測(cè)人員較少且需要維護(hù)的組合電器設(shè)備較多的情況下，組合電器的局放檢測(cè)工作量比較大。

特高頻局放檢測(cè)是組合電器局放檢測(cè)的一種重要方法。目前，特高頻局放檢測(cè)沒有統(tǒng)一的工序標(biāo)準(zhǔn)和明確的缺陷判斷標(biāo)準(zhǔn)。在工作現(xiàn)場(chǎng)中，組合電器局放檢測(cè)工作采用特高頻局放檢測(cè)儀進(jìn)行檢測(cè)。由于特高頻局放檢測(cè)位置無法固定，因此需要檢測(cè)人員查找后才能確定，一般位于非金屬全封閉絕緣盆子、電纜終端、接地刀閘絕緣件、觀察窗等處。特高頻局放檢測(cè)的持續(xù)檢測(cè)時(shí)間無固定標(biāo)準(zhǔn)，檢測(cè)人員可自行掌握。在現(xiàn)場(chǎng)工作量巨大的情況下，檢測(cè)人員可隨意縮短工作時(shí)間，導(dǎo)致判斷結(jié)果與實(shí)際情況出現(xiàn)偏差。因此，在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行工作時(shí)，各專業(yè)檢測(cè)隊(duì)伍需要制定獨(dú)立的工作流程，人為因素對(duì)局放缺陷的確定產(chǎn)生了很大的影響。

針對(duì)上述現(xiàn)有的特高頻局放檢測(cè)方法無法有效地進(jìn)行局放檢測(cè)的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種檢測(cè)組合電器的缺陷的方法和裝置，以至少解決現(xiàn)有的特高頻局放檢測(cè)方法無法有效的進(jìn)行局放檢測(cè)的技術(shù)問題。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種檢測(cè)組合電器的缺陷的方法，包括：獲取待測(cè)的組合電器發(fā)生局部放電的檢測(cè)位置；檢測(cè)檢測(cè)位置的局部放電，得到異常信號(hào)；根據(jù)檢測(cè)得到的異常信號(hào)確定異常位于組合電器中的位置；根據(jù)異常位于組合電器中的位置確定組合電器的缺陷相位。

進(jìn)一步地，檢測(cè)檢測(cè)位置的局部放電，得到異常信號(hào)的方法包括：使用特高頻局放檢測(cè)儀檢測(cè)檢測(cè)位置的環(huán)境信號(hào)，并通過比對(duì)特高頻信號(hào)的幅值大小的變化值，定位得到異常信號(hào)；或，在組合電器為三相分體式結(jié)構(gòu)的情況下，通過三相分體式結(jié)構(gòu)中的多個(gè)相別來定位得到異常信號(hào)。

進(jìn)一步地，在通過三相分體式結(jié)構(gòu)中的多個(gè)相別來定位得到異常信號(hào)之后還包括：通過比較多個(gè)相別對(duì)應(yīng)的檢測(cè)位置的異常信號(hào)幅值，確定存在缺陷的相位；或者，通過比較每個(gè)相別檢測(cè)到異常信號(hào)的時(shí)差，確定存在缺陷的相位。

進(jìn)一步地，在獲取待測(cè)的組合電器發(fā)生局部放電的檢測(cè)位置之前還包括：獲取待測(cè)組合電器的同步信號(hào)，其中，同步信號(hào)用于確保電源和組合電器的電壓頻率相同，該步驟包括：在運(yùn)行電纜處獲取同步信號(hào)，或，在勵(lì)磁變低壓側(cè)獲取同步信號(hào)。

進(jìn)一步地，根據(jù)檢測(cè)得到的異常信號(hào)確定異常位于組合電器中的位置的方法包括：采集環(huán)境信號(hào)；對(duì)比環(huán)境信號(hào)的參數(shù)與組合電器的內(nèi)部信號(hào)的參數(shù)，其中，環(huán)境信號(hào)的參數(shù)至少包括如下之一：相位和幅值，組合電器的內(nèi)部信號(hào)的參數(shù)至少包括如下之一：相位和幅值；如果環(huán)境信號(hào)的相位與組合電器的內(nèi)部信號(hào)的相位相同，并且環(huán)境信號(hào)的幅值大于組合電器的內(nèi)部信號(hào)的幅值，則確定異常位于待測(cè)的組合電器的外部，否則，異常位于待測(cè)的組合電器的內(nèi)部。

進(jìn)一步地，檢測(cè)組合電器的缺陷的方法還包括：對(duì)比檢測(cè)位置的特高頻信號(hào)的幅值，確定兩個(gè)特高頻信號(hào)的位置；根據(jù)時(shí)差法以及兩個(gè)特高頻信號(hào)的位置確定缺陷的位置。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的另一方面，還提供了一種檢測(cè)組合電器的缺陷的裝置，包括：獲取模塊，用于獲取待測(cè)的組合電器發(fā)生局部放電的檢測(cè)位置；檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)檢測(cè)位置的局部放電，得到異常信號(hào)；第一執(zhí)行模塊，用于根據(jù)檢測(cè)得到的異常信號(hào)確定異常位于組合電器中的位置；第二執(zhí)行模塊，用于根據(jù)異常位于組合電器中的位置確定組合電器的缺陷相位。

進(jìn)一步地，檢測(cè)模塊包括：第一定位模塊，用于使用特高頻局放檢測(cè)儀檢測(cè)檢測(cè)位置的環(huán)境信號(hào)，并通過比對(duì)特高頻信號(hào)的幅值大小的變化值，定位得到異常信號(hào)；或，第二定位模塊，用于在組合電器為三相分體式結(jié)構(gòu)的情況下，通過三相分體式結(jié)構(gòu)中的多個(gè)相別來定位得到異常信號(hào)。

進(jìn)一步地，檢測(cè)模塊還包括：第一對(duì)比模塊，用于通過比較多個(gè)相別對(duì)應(yīng)的檢測(cè)位置的異常信號(hào)幅值，確定存在缺陷的相位；或者，第二對(duì)比模塊，用于通過比較每個(gè)相別檢測(cè)到異常信號(hào)的時(shí)差，確定存在缺陷的相位。

進(jìn)一步地，檢測(cè)組合電器的缺陷的裝置還包括：信號(hào)獲取模塊，用于獲取待測(cè)組合電器的同步信號(hào)，其中，同步信號(hào)用于確保電源和組合電器的電壓頻率相同，信號(hào)獲取模塊包括：同步信號(hào)獲取模塊，用于在運(yùn)行電纜處獲取同步信號(hào)，或，在勵(lì)磁變低壓側(cè)獲取同步信號(hào)。

進(jìn)一步地，第一執(zhí)行模塊包括：采集模塊，用于采集環(huán)境信號(hào)；參數(shù)對(duì)比模塊，用于對(duì)比環(huán)境信號(hào)的參數(shù)與組合電器的內(nèi)部信號(hào)的參數(shù)，其中，環(huán)境信號(hào)的參數(shù)至少包括如下之一：相位和幅值，組合電器的內(nèi)部信號(hào)的參數(shù)至少包括如下之一：相位和幅值；第三定位模塊，用于如果環(huán)境信號(hào)的相位與組合電器的內(nèi)部信號(hào)的相位相同，并且環(huán)境信號(hào)的幅值大于組合電器的內(nèi)部信號(hào)的幅值，則確定異常位于待測(cè)的組合電器的外部，否則，異常位于待測(cè)的組合電器的內(nèi)部。

進(jìn)一步地，檢測(cè)組合電器的缺陷的裝置還包括：幅值對(duì)比模塊，用于對(duì)比檢測(cè)位置的特高頻信號(hào)的幅值，確定兩個(gè)特高頻信號(hào)的位置；第四定位模塊，用于根據(jù)時(shí)差法以及兩個(gè)特高頻信號(hào)的位置確定缺陷的位置。

在本發(fā)明實(shí)施例中，采用制定檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)的方式，通過獲取待測(cè)的組合電器法發(fā)生局部放電的檢測(cè)位置，并檢測(cè)檢測(cè)位置的局部放電，得到異常信號(hào)，然后根據(jù)檢測(cè)得到的異常信號(hào)確定異常位于組合電器中的位置，最后根據(jù)異常位于組合電器中的位置確定組合電器的缺陷相位，達(dá)到了有線發(fā)現(xiàn)組合電器的局放缺陷的目的，從而實(shí)現(xiàn)了提高檢測(cè)人員的工作效率的技術(shù)效果，進(jìn)而解決了現(xiàn)有的特高頻局放檢測(cè)方法無法有效的進(jìn)行局放檢測(cè)的技術(shù)問題。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中：

圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種檢測(cè)組合電器的缺陷的方法流程圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的檢測(cè)組合電器的缺陷的方法流程圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的檢測(cè)組合電器的缺陷的方法流程圖；

圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的檢測(cè)組合電器的缺陷的方法流程圖；

圖5是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的檢測(cè)組合電器的缺陷的方法流程圖；

圖6是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種可選的組合電器的特高頻局放檢測(cè)位置標(biāo)注方式圖；以及

圖7是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種檢測(cè)組合電器的缺陷的裝置結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分的實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都應(yīng)當(dāng)屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

需要說明的是，本發(fā)明的說明書和權(quán)利要求書及上述附圖中的術(shù)語“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對(duì)象，而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當(dāng)情況下可以互換，以便這里描述的本發(fā)明的實(shí)施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤?。此外，術(shù)語“包括”和“具有”以及他們的任何變形，意圖在于覆蓋不排他的包含，例如，包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備不必限于清楚地列出的那些步驟或單元，而是可包括沒有清楚地列出的或?qū)τ谶@些過程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或單元。

實(shí)施例1

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，提供了一種檢測(cè)組合電器的缺陷的方法實(shí)施例。

圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的檢測(cè)組合電器的缺陷的方法流程圖，如圖1所示，該方法包括如下步驟：

步驟S102，獲取待測(cè)的組合電器發(fā)生局部放電的檢測(cè)位置；

步驟S104，檢測(cè)檢測(cè)位置的局部放電，得到異常信號(hào)；

步驟S106，根據(jù)檢測(cè)得到的異常信號(hào)確定異常位于組合電器中的位置；

步驟S108，根據(jù)異常位于組合電器中的位置確定組合電器的缺陷相位。

在上述步驟S102至步驟S108所限定的方案中，上述對(duì)局部放電(即局放)的檢測(cè)可以為對(duì)特高頻局放的檢測(cè)，上述待測(cè)的組合電器發(fā)生局部放電的檢測(cè)位置即為特高頻的檢測(cè)位置。在一種可選的實(shí)施例中，在進(jìn)行特高頻局放檢測(cè)之前，需要對(duì)組合電器各間隔運(yùn)行情況進(jìn)行影像留存。當(dāng)對(duì)特高頻局放進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，特高頻的檢測(cè)位置可以為：盆式絕緣子的非金屬封閉處和電纜終端處(若有電纜設(shè)備)。若盆式絕緣子為全金屬封閉，則將傳感器放置在接地刀閘絕緣件和觀察窗處，并且特高頻傳感器避免與緊固螺栓接觸。圖6示出了一種可選的組合電器的特高頻局放檢測(cè)位置標(biāo)注方式圖，其中，圖6中的601、603和605為上述組合電器發(fā)生局部放電的檢測(cè)位置，分別表示1#盆子、2#盆子和3#盆子。

需要說明的是，特高頻檢測(cè)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)命名規(guī)則為：變電站名+檢測(cè)日期+各組合電器調(diào)度號(hào)+相別，其中，三相共倉設(shè)備可不記錄檢測(cè)相別。此外，特高頻檢測(cè)時(shí)間規(guī)定為：每個(gè)檢測(cè)位置的有效檢測(cè)時(shí)間不應(yīng)小于30秒，保存圖譜數(shù)量不應(yīng)小于10張，并且用于保存圖譜的時(shí)間不應(yīng)小于20秒。

在另一種可選的實(shí)施例中，根據(jù)異常位于組合電器中的位置確定組合電器的缺陷相位，根據(jù)特高頻信號(hào)的衰減特性可以確定組合電器的缺陷位置，在確定了缺陷相位及所在位置后，還可根據(jù)特高頻信號(hào)的放電特征確定缺陷類型。根據(jù)缺陷類型與缺陷定位結(jié)果，結(jié)合組合電器的一次結(jié)構(gòu)，可以驗(yàn)證檢測(cè)結(jié)論的正確性。

需要說明的是，在得到組合電器的缺陷相位、缺陷位置以及確定缺陷類別之后，還需要對(duì)存在放電缺陷的組合電器設(shè)備進(jìn)行影像留存，并明確各特高頻檢測(cè)點(diǎn)的位置。其中，影響留存要求PRPD、PHD圖譜不少于3張，并且不存在已知干擾信號(hào)。在檢測(cè)過程中，需要最大限度地保持周圍信號(hào)的干凈，盡可能減少人為信號(hào)的干擾，必要時(shí)可延長檢測(cè)時(shí)間。在需要記錄盆式絕緣子的情況下，遵循以下編號(hào)原則：組合電器的線路間隔按從線路到母線，并且母聯(lián)(分段)間隔按從小號(hào)母線到大號(hào)母線進(jìn)行排序，PT間隔按從PT到母線的順序，定為1、2、3…N，其中，三相分倉設(shè)備的盆式絕緣子號(hào)應(yīng)分相定序。

在另一種可選的實(shí)施例中，在組合電器的特高頻局放檢測(cè)結(jié)束后，可根據(jù)檢測(cè)圖譜進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)分析。需要注意的是，此時(shí)應(yīng)排除干擾信號(hào)，并對(duì)存在的局放缺陷進(jìn)行定性、定量分析，進(jìn)而確定放電的大小以及放電類型，并記錄下現(xiàn)場(chǎng)基本情況。此外在特高頻局放檢測(cè)工作結(jié)束后，先關(guān)閉特高頻局放檢測(cè)儀的電源，再拆除試驗(yàn)電源、接地線，整理測(cè)試電纜，清理工作現(xiàn)場(chǎng)，再次檢查被檢測(cè)組合電器無異常。

基于上述實(shí)施例中步驟S102至步驟S106所限定的方案，可以獲知通過獲取待測(cè)的組合電器法發(fā)生局部放電的檢測(cè)位置，并檢測(cè)檢測(cè)位置的局部放電，得到異常信號(hào)，然后根據(jù)檢測(cè)得到的異常信號(hào)確定異常位于組合電器中的位置，最后根據(jù)異常位于組合電器中的位置確定組合電器的缺陷相位，容易注意到的是，上述檢測(cè)組合電器的缺陷的方法規(guī)定了針對(duì)組合電器的特高頻局放檢測(cè)工序和局放缺陷判斷標(biāo)準(zhǔn)，有效地提高了發(fā)現(xiàn)組合電器的局放缺陷的效率，從而實(shí)現(xiàn)了提高檢測(cè)人員的工作效率的技術(shù)效果，進(jìn)而解決了現(xiàn)有的特高頻局放檢測(cè)方法無法有效的進(jìn)行局放檢測(cè)的技術(shù)問題。

可選的，圖2示出了檢測(cè)檢測(cè)位置的局部放電，得到異常信號(hào)的方法，如圖2所示，該方法包括如下步驟：

步驟S202，使用特高頻局放檢測(cè)儀檢測(cè)檢測(cè)位置的環(huán)境信號(hào)，并通過比對(duì)特高頻信號(hào)的幅值大小的變化值，定位得到異常信號(hào)；或，

步驟S204，在組合電器為三相分體式結(jié)構(gòu)的情況下，通過三相分體式結(jié)構(gòu)中的多個(gè)相別來定位得到異常信號(hào)。

在一種可選的實(shí)施例中，當(dāng)特高頻檢測(cè)到疑似局放的缺陷時(shí)，使用特高頻局放檢測(cè)儀對(duì)檢測(cè)環(huán)境進(jìn)行檢測(cè)，通過對(duì)比特高頻信號(hào)的幅值變化大小，定位異常信號(hào)，并排除環(huán)境干擾，例如雷達(dá)的干擾。對(duì)于三相分體式結(jié)構(gòu)組合電器，一般只在存在缺陷的相別中才能檢測(cè)到異常信號(hào)，當(dāng)異常信號(hào)比較大時(shí)，除缺陷相以外的其他相也可能檢測(cè)到異常信號(hào)，此時(shí)可以通過比較各相對(duì)應(yīng)檢測(cè)位置的異常信號(hào)的幅值即可確定缺陷相，進(jìn)而可以確定缺陷相別。

可選的，圖3示出了在通過三相分體式結(jié)構(gòu)中的多個(gè)相別來定位得到異常信號(hào)之后的方法，如圖3所示，該方法包括如下步驟：

步驟S302，通過比較多個(gè)相別對(duì)應(yīng)的檢測(cè)位置的異常信號(hào)幅值，確定存在缺陷的相位；或者，

步驟S304，通過比較每個(gè)相別檢測(cè)到異常信號(hào)的時(shí)差，確定存在缺陷的相位。

在一種可選的實(shí)施例中，在組合電器為三相分體式結(jié)構(gòu)的情況下，一般只有存在缺陷的相別才能檢測(cè)到異常信號(hào)。當(dāng)異常信號(hào)較大時(shí)，除缺陷相以外的其他相也可能檢測(cè)到異常信號(hào)，此時(shí)，通過比較各相對(duì)應(yīng)檢測(cè)位置的異常信號(hào)幅值，即可基本確定缺陷相，然后通過比較各相所檢測(cè)到異常信號(hào)的時(shí)差，可以確定缺陷相別。對(duì)于三相共體式結(jié)構(gòu)組合電器，可先確定同步相別，然后再通過改變特高頻檢測(cè)軟件的相位設(shè)置，同時(shí)結(jié)合放電信號(hào)發(fā)生在一、三象限的特征來確定缺陷相。

可選的，在獲取待測(cè)的組合電器發(fā)生局部放電的檢測(cè)位置之前的方法包括獲取待測(cè)組合電器的同步信號(hào)，其中，同步信號(hào)用于確保電源和組合電器的電壓頻率相同，該步驟包括：在運(yùn)行電纜處獲取同步信號(hào)，或，在勵(lì)磁變低壓側(cè)獲取同步信號(hào)。

在一種可選的實(shí)施例中，使用站內(nèi)電源或同步線圈從運(yùn)行電纜B相(同步線圈箭頭向下)獲取同步信號(hào)，并進(jìn)行影像留存。在非工頻試驗(yàn)中，可從勵(lì)磁變低壓側(cè)獲取同步信號(hào)，可使用放大器對(duì)同步信號(hào)進(jìn)行放大處理。在進(jìn)行檢測(cè)工作的過程中，若需更換同步電源，應(yīng)進(jìn)行影像留存。

需要說明的是，在運(yùn)行電纜出獲取同步信號(hào)時(shí)，應(yīng)確保同步電源的頻率與組合電器運(yùn)行電壓頻率相同。

可選的，圖4示出了根據(jù)檢測(cè)得到的異常信號(hào)確定異常位于組合電器中的位置的方法，該方法包括如下步驟：

步驟S402，采集環(huán)境信號(hào)；

步驟S404，對(duì)比環(huán)境信號(hào)的參數(shù)與組合電器的內(nèi)部信號(hào)的參數(shù)，其中，環(huán)境信號(hào)的參數(shù)至少包括如下之一：相位和幅值，組合電器的內(nèi)部信號(hào)的參數(shù)至少包括如下之一：相位和幅值；

步驟S406，如果環(huán)境信號(hào)的相位與組合電器的內(nèi)部信號(hào)的相位相同，并且環(huán)境信號(hào)的幅值大于組合電器的內(nèi)部信號(hào)的幅值，則確定異常位于待測(cè)的組合電器的外部，否則，異常位于待測(cè)的組合電器的內(nèi)部。

在一種可選的實(shí)施例中，當(dāng)特高頻檢測(cè)到疑似局放缺陷時(shí)，首先，使用特高頻局放檢測(cè)儀對(duì)檢測(cè)環(huán)境進(jìn)行檢測(cè)，通過對(duì)比特高頻信號(hào)的幅值大小變化，定位異常信號(hào)，排除環(huán)境干擾，例如雷達(dá)干擾和外部放電。然后，通過對(duì)比環(huán)境信號(hào)與組合電器內(nèi)部信號(hào)的相位、幅值。若兩者相位相同，并且組合電器內(nèi)部幅值小于環(huán)境信號(hào)的復(fù)制，可說明該異常位于組合電器外部，否則，該異?？赡芪挥诮M合電器內(nèi)部(或者與組合電器連接的電纜內(nèi)部)。

可選的，圖5示出了一種可選的檢測(cè)組合電器的缺陷的方法的方法，如圖5所示，該方法包括如下步驟：

步驟S502，對(duì)比檢測(cè)位置的特高頻信號(hào)的幅值，確定兩個(gè)特高頻信號(hào)的位置；

步驟S504，根據(jù)時(shí)差法以及兩個(gè)特高頻信號(hào)的位置確定缺陷的位置。

在一種可選的實(shí)施例中，由于特高頻信號(hào)具有衰減特性，而特高頻信號(hào)的缺陷一般位于信號(hào)幅值最大的兩個(gè)特高頻檢測(cè)點(diǎn)之間，因此通過比較各檢測(cè)位置的特高頻信號(hào)幅值的大小，將缺陷所在的位置縮小到兩個(gè)特高頻檢測(cè)點(diǎn)之間，即某一氣室內(nèi)。然后可通過特高頻時(shí)差法對(duì)缺陷進(jìn)行定位，在無法利用時(shí)差法進(jìn)行定位的情況下，可通過改變?cè)摻M合電器運(yùn)行方式來判斷缺陷的位置。

需要說明的是，在使用時(shí)差法對(duì)缺陷進(jìn)行定位的過程中，可根據(jù)實(shí)際情況對(duì)特高頻信號(hào)進(jìn)行放大、濾波處理。

在另一種可選的實(shí)施例中，在獲取待測(cè)的組合電器發(fā)生局部放電的檢測(cè)位置之前，需要組裝并啟動(dòng)特高頻局放檢測(cè)儀，并將檢測(cè)模式設(shè)定為“無角度補(bǔ)償”，在對(duì)特高頻局放檢測(cè)儀進(jìn)行校驗(yàn)后，完成連接。之后，特高頻局放檢測(cè)儀可正常通信，可人為的為特高頻局放檢測(cè)儀制造特高頻信號(hào)，并經(jīng)現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)該信號(hào)。

實(shí)施例2

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，提供了一種檢測(cè)組合電器的缺陷的裝置實(shí)施例。

圖7是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的檢測(cè)組合電器的缺陷的裝置結(jié)構(gòu)示意圖，如圖7所示，該裝置包括：獲取模塊701、檢測(cè)模塊703、第一執(zhí)行模塊705和第二執(zhí)行模塊707。其中，獲取模塊701，用于獲取待測(cè)的組合電器發(fā)生局部放電的檢測(cè)位置；檢測(cè)模塊703，用于檢測(cè)檢測(cè)位置的局部放電，得到異常信號(hào)；第一執(zhí)行模塊705，用于根據(jù)檢測(cè)得到的異常信號(hào)確定異常位于組合電器中的位置；第二執(zhí)行模塊707，用于根據(jù)異常位于組合電器中的位置確定組合電器的缺陷相位。

具體的，上述對(duì)局部放電(即局放)的檢測(cè)可以為對(duì)特高頻局放的檢測(cè)，上述待測(cè)的組合電器發(fā)生局部放電的檢測(cè)位置即為特高頻的檢測(cè)位置。在一種可選的實(shí)施例中，在進(jìn)行特高頻局放檢測(cè)之前，需要對(duì)組合電器各間隔運(yùn)行情況進(jìn)行影像留存。當(dāng)對(duì)特高頻局放進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，特高頻的檢測(cè)位置可以為：盆式絕緣子的非金屬封閉處和電纜終端處(若有電纜設(shè)備)。若盆式絕緣子為全金屬封閉，則將傳感器放置在接地刀閘絕緣件和觀察窗處，并且特高頻傳感器避免與緊固螺栓接觸。圖6示出了一種可選的組合電器的特高頻局放檢測(cè)位置標(biāo)注方式圖，其中，圖6中的1#盆子、2#盆子、3#盆子、4#盆子、5#盆子和6#盆子為上述組合電器發(fā)生局部放電的檢測(cè)位置。

需要說明的是，特高頻檢測(cè)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)命名規(guī)則為：變電站名+檢測(cè)日期+各組合電器調(diào)度號(hào)+相別，其中，三相共倉設(shè)備可不記錄檢測(cè)相別。此外，特高頻檢測(cè)時(shí)間規(guī)定為：每個(gè)檢測(cè)位置的有效檢測(cè)時(shí)間不應(yīng)小于30秒，保存圖譜數(shù)量不應(yīng)小于10張，并且用于保存圖譜的時(shí)間不應(yīng)小于20秒。

在另一種可選的實(shí)施例中，根據(jù)異常位于組合電器中的位置確定組合電器的缺陷相位，根據(jù)特高頻信號(hào)的衰減特性可以確定組合電器的缺陷位置，在確定了缺陷相位及所在位置后，還可根據(jù)特高頻信號(hào)的放電特征確定缺陷類型。根據(jù)缺陷類型與缺陷定位結(jié)果，結(jié)合組合電器的一次結(jié)構(gòu)，可以驗(yàn)證檢測(cè)結(jié)論的正確性。

需要說明的是，在得到組合電器的缺陷相位、缺陷位置以及確定缺陷類別之后，還需要對(duì)存在放電缺陷的組合電器設(shè)備進(jìn)行影像留存，并明確各特高頻檢測(cè)點(diǎn)的位置。其中，影響留存要求PRPD、PHD圖譜不少于3張，并且不存在已知干擾信號(hào)。在檢測(cè)過程中，需要最大限度地保持周圍信號(hào)的干凈，盡可能減少人為信號(hào)的干擾，必要時(shí)可延長檢測(cè)時(shí)間。在需要記錄盆式絕緣子的情況下，遵循以下編號(hào)原則：組合電器的線路間隔按從線路到母線，并且母聯(lián)(分段)間隔按從小號(hào)母線到大號(hào)母線進(jìn)行排序，PT間隔按從PT到母線的順序，定為1、2、3…N，其中，三相分倉設(shè)備的盆式絕緣子號(hào)應(yīng)分相定序。

在另一種可選的實(shí)施例中，在組合電器的特高頻局放檢測(cè)結(jié)束后，可根據(jù)檢測(cè)圖譜進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)分析。需要注意的是，此時(shí)應(yīng)排除干擾信號(hào)，并對(duì)存在的局放缺陷進(jìn)行定性、定量分析，進(jìn)而確定放電的大小以及放電類型，并記錄下現(xiàn)場(chǎng)基本情況。此外在特高頻局放檢測(cè)工作結(jié)束后，先關(guān)閉特高頻局放檢測(cè)儀的電源，再拆除試驗(yàn)電源、接地線，整理測(cè)試電纜，清理工作現(xiàn)場(chǎng)，再次檢查被檢測(cè)組合電器無異常。

由上可知，通過獲取待測(cè)的組合電器法發(fā)生局部放電的檢測(cè)位置，并檢測(cè)檢測(cè)位置的局部放電，得到異常信號(hào)，然后根據(jù)檢測(cè)得到的異常信號(hào)確定異常位于組合電器中的位置，最后根據(jù)異常位于組合電器中的位置確定組合電器的缺陷相位，容易注意到的是，上述檢測(cè)組合電器的缺陷的方法規(guī)定了針對(duì)組合電器的特高頻局放檢測(cè)工序和局放缺陷判斷標(biāo)準(zhǔn)，有效地提高了發(fā)現(xiàn)組合電器的局放缺陷的效率，從而實(shí)現(xiàn)了提高檢測(cè)人員的工作效率的技術(shù)效果，進(jìn)而解決了現(xiàn)有的特高頻局放檢測(cè)方法無法有效的進(jìn)行局放檢測(cè)的技術(shù)問題。

可選的，檢測(cè)模塊包括：第一定位模塊和第二定位模塊。其中，第一定位模塊，用于使用特高頻局放檢測(cè)儀檢測(cè)檢測(cè)位置的環(huán)境信號(hào)，并通過比對(duì)特高頻信號(hào)的幅值大小的變化值，定位得到異常信號(hào)；或，第二定位模塊，用于在組合電器為三相分體式結(jié)構(gòu)的情況下，通過三相分體式結(jié)構(gòu)中的多個(gè)相別來定位得到異常信號(hào)。

可選的，檢測(cè)模塊還包括：第一對(duì)比模塊和第二對(duì)比模塊。其中，第一對(duì)比模塊，用于通過比較多個(gè)相別對(duì)應(yīng)的檢測(cè)位置的異常信號(hào)幅值，確定存在缺陷的相位；或者，第二對(duì)比模塊，用于通過比較每個(gè)相別檢測(cè)到異常信號(hào)的時(shí)差，確定存在缺陷的相位。

可選的，上述檢測(cè)組合電器的缺陷的裝置還包括：信號(hào)獲取模塊。其中，信號(hào)獲取模塊，用于獲取待測(cè)組合電器的同步信號(hào)，其中，同步信號(hào)用于確保電源和組合電器的電壓頻率相同，信號(hào)獲取模塊包括：同步信號(hào)獲取模塊，用于在運(yùn)行電纜處獲取同步信號(hào)，或，在勵(lì)磁變低壓側(cè)獲取同步信號(hào)。

可選的，第一執(zhí)行模塊包括：采集模塊、參數(shù)對(duì)比模塊和第三定位模塊。其中，采集模塊用于采集環(huán)境信號(hào)；參數(shù)對(duì)比模塊用于對(duì)比環(huán)境信號(hào)的參數(shù)與組合電器的內(nèi)部信號(hào)的參數(shù)，其中，環(huán)境信號(hào)的參數(shù)至少包括如下之一：相位和幅值，組合電器的內(nèi)部信號(hào)的參數(shù)至少包括如下之一：相位和幅值；第三定位模塊用于如果環(huán)境信號(hào)的相位與組合電器的內(nèi)部信號(hào)的相位相同，并且環(huán)境信號(hào)的幅值大于組合電器的內(nèi)部信號(hào)的幅值，則確定異常位于待測(cè)的組合電器的外部，否則，異常位于待測(cè)的組合電器的內(nèi)部。

可選的，上述檢測(cè)組合電器的缺陷的裝置還包括：幅值對(duì)比模塊和第四定位模塊。其中，幅值對(duì)比模塊用于對(duì)比檢測(cè)位置的特高頻信號(hào)的幅值，確定兩個(gè)特高頻信號(hào)的位置；第四定位模塊用于根據(jù)時(shí)差法以及兩個(gè)特高頻信號(hào)的位置確定缺陷的位置。

上述本發(fā)明實(shí)施例序號(hào)僅僅為了描述，不代表實(shí)施例的優(yōu)劣。

在本發(fā)明的上述實(shí)施例中，對(duì)各個(gè)實(shí)施例的描述都各有側(cè)重，某個(gè)實(shí)施例中沒有詳述的部分，可以參見其他實(shí)施例的相關(guān)描述。

在本申請(qǐng)所提供的幾個(gè)實(shí)施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的技術(shù)內(nèi)容，可通過其它的方式實(shí)現(xiàn)。其中，以上所描述的裝置實(shí)施例僅僅是示意性的，例如所述單元的劃分，可以為一種邏輯功能劃分，實(shí)際實(shí)現(xiàn)時(shí)可以有另外的劃分方式，例如多個(gè)單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個(gè)系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點(diǎn)，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，單元或模塊的間接耦合或通信連接，可以是電性或其它的形式。

所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個(gè)地方，或者也可以分布到多個(gè)單元上?？梢愿鶕?jù)實(shí)際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實(shí)現(xiàn)本實(shí)施例方案的目的。

另外，在本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個(gè)處理單元中，也可以是各個(gè)單元單獨(dú)物理存在，也可以兩個(gè)或兩個(gè)以上單元集成在一個(gè)單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)。

所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷售或使用時(shí)，可以存儲(chǔ)在一個(gè)計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中。基于這樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對(duì)現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分或者該技術(shù)方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計(jì)算機(jī)軟件產(chǎn)品存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一臺(tái)計(jì)算機(jī)設(shè)備(可為個(gè)人計(jì)算機(jī)、服務(wù)器或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括：U盤、只讀存儲(chǔ)器(ROM，Read-Only Memory)、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM，Random Access Memory)、移動(dòng)硬盤、磁碟或者光盤等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。

以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。