技術(shù)總結(jié)
一種測試設(shè)備布置，其包括過熱控制器，該過熱控制器配置為與待測單元相連，并進(jìn)一步配置為測試待測單元的至少一個(gè)操作參數(shù)。

技術(shù)研發(fā)人員：A·饒;C·楊;J·歐基菲;B·鐘
受保護(hù)的技術(shù)使用者：盾安美斯泰克股份有限公司
文檔號碼：201611078696
技術(shù)研發(fā)日：2016.09.18
技術(shù)公布日：2017.05.31