各種實(shí)施例涉及一種芯片，其包括片上信號(hào)發(fā)生器，所述片上信號(hào)發(fā)生器被配置為在測(cè)試模式下，提供測(cè)試圖案信號(hào)給由多個(gè)邏輯元件形成的多個(gè)掃描鏈。各種實(shí)施例涉及一種預(yù)燒(burn-in)爐和一種方法。

背景技術(shù)：

為了測(cè)試集成電路(ic)，已知使ic的邏輯元件遭受應(yīng)力測(cè)試，例如，可以將包括ic的芯片放置在預(yù)燒爐中，其中環(huán)境條件可以被控制。例如，可以施加高溫。

在參考實(shí)現(xiàn)中，自動(dòng)測(cè)試圖案生成(atpg)圖案信號(hào)，其被加載到預(yù)燒爐中并且經(jīng)由掃描引腳被饋送到ic、到邏輯元件。atpg信號(hào)是偽隨機(jī)測(cè)試圖案，其旨在將所有的邏輯元件或其中的至少多數(shù)在可用狀態(tài)之間進(jìn)行切換(toggle)。為了促進(jìn)切換，測(cè)試模式可以被觸發(fā)，其引起遭受測(cè)試的邏輯元件之間的邏輯互連；邏輯互連使一系列邏輯元件能夠充當(dāng)移位寄存器(掃描鏈)，其中atpg信號(hào)的不同計(jì)時(shí)狀態(tài)反復(fù)切換掃描鏈的邏輯元件。然后，掃描鏈的邏輯元件的狀態(tài)可以被讀出并且與期望值相比較。由此，形成邏輯元件的硬件元件的(例如，晶體管的)故障或磨損可以被檢測(cè)到。

然而，這樣的方案面臨某些約束和缺點(diǎn)。例如，在預(yù)燒爐中可能存在有限的可用空間來(lái)存儲(chǔ)atpg圖案。在另一方面，可能要求提供具有相對(duì)大量輸入引腳的atpg信號(hào)以確保幾乎所有或所有邏輯元件都被切換。這在信號(hào)路由(routing)方面要求顯著的努力，所述信號(hào)路由由于有限的可用空間而可能是復(fù)雜的。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

因此，存在對(duì)于用于測(cè)試模式的測(cè)試圖案生成的先進(jìn)技術(shù)的需要。特別地，存在對(duì)于實(shí)現(xiàn)帶有減少的信號(hào)路由要求的測(cè)試模式的這樣的技術(shù)的需要。

該需要通過(guò)獨(dú)立權(quán)利要求的特征來(lái)滿(mǎn)足。從屬權(quán)利要求限定實(shí)施例。

根據(jù)一方面，提供一種芯片。所述芯片包括ic。所述ic包括多個(gè)邏輯元件。在測(cè)試模式下，多個(gè)邏輯元件被配置為形成多個(gè)掃描鏈。芯片進(jìn)一步包括與鏈連接的片上信號(hào)發(fā)生器。在測(cè)試模式下，信號(hào)發(fā)生器被配置為向多個(gè)掃描鏈提供測(cè)試圖案信號(hào)。

根據(jù)一方面，提供一種預(yù)燒系統(tǒng)。所述預(yù)燒系統(tǒng)包括預(yù)燒爐和接收器。根據(jù)另一方面，接收器被布置被配置為可釋放地安裝芯片。預(yù)燒系統(tǒng)進(jìn)一步包括被配置為觸發(fā)測(cè)試模式的ieee測(cè)試存取端口連接器。

根據(jù)一方面，提供一種方法。所述方法包括ic的多個(gè)邏輯元件在測(cè)試模式下形成多個(gè)掃描鏈。所述方法進(jìn)一步包括片上信號(hào)發(fā)生器在測(cè)試模式下向多個(gè)掃描鏈提供測(cè)試圖案信號(hào)。

應(yīng)該理解的是，以上提到的特征和尚待在下面解釋的特征可以不僅被用于所指示的各組合而且可以以其他組合或者孤立地使用，而不脫離本發(fā)明的范圍。以上提到的方面和實(shí)施例的特征可以在其他實(shí)施例中被彼此組合。

附圖說(shuō)明

當(dāng)連同附圖一起閱讀時(shí)，本發(fā)明的上述和附加特征和效果將從以下詳細(xì)描述變得顯而易見(jiàn)，在所述附圖中同樣的參考數(shù)字指代同樣的元件。

圖1示意性地圖示包括預(yù)燒爐的預(yù)燒系統(tǒng)。

圖2示意性地圖示根據(jù)各種實(shí)施例的芯片，所述芯片包括與芯片的ic耦合的片上信號(hào)發(fā)生器。

圖3示意性地圖示圖2的信號(hào)發(fā)生器的細(xì)節(jié)，其根據(jù)各種實(shí)施例被實(shí)現(xiàn)為線(xiàn)性反饋移位寄存器。

圖4示意性地圖示根據(jù)各種實(shí)施例的芯片，芯片包括與芯片的ic耦合的片上信號(hào)發(fā)生器并且進(jìn)一步包括被耦合在信號(hào)發(fā)生器與ic中間的解壓器。

圖5示意性地圖示根據(jù)各種實(shí)施例的芯片，芯片包括與芯片的ic耦合的片上信號(hào)發(fā)生器，其中所述芯片包括開(kāi)關(guān)和多個(gè)外部掃描控制引腳。

圖6示意性地更詳細(xì)地圖示圖5的開(kāi)關(guān)。

圖7是根據(jù)各種實(shí)施例的方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

在下文，本發(fā)明的實(shí)施例將參考附圖而被詳細(xì)描述。應(yīng)該理解的是，下面的實(shí)施例的描述不以限制的意義來(lái)領(lǐng)會(huì)。本發(fā)明的范圍不旨在由在下文描述的實(shí)施例或者由繪圖限制，其僅被認(rèn)為是說(shuō)明性的。

繪圖被認(rèn)為是示意性的表示，并且在繪圖中圖示的元件未必按比例示出。相反，各種元件被表示使得它們的功能和一般目的對(duì)于本領(lǐng)域中的技術(shù)人員變得顯而易見(jiàn)。在繪圖中示出或在本文中描述的在功能塊、器件、部件或其他物理或功能單元之間的任何連接或耦合也可以由間接連接或耦合來(lái)實(shí)現(xiàn)。在部件之間的耦合也可以通過(guò)無(wú)線(xiàn)連接設(shè)立。功能塊可以以硬件、固件、軟件或其組合來(lái)實(shí)現(xiàn)。

在下文，解釋片上測(cè)試圖案信號(hào)生成的技術(shù)。這些技術(shù)可以促進(jìn)片上atpg。這些技術(shù)可以被應(yīng)用于ic的預(yù)燒運(yùn)用(exercise)。

根據(jù)實(shí)施例，提供一種芯片。所述芯片包括ic。所述ic包括多個(gè)邏輯元件。在測(cè)試模式下，多個(gè)邏輯元件被配置為形成多個(gè)掃描鏈。芯片進(jìn)一步包括與ic連接的片上信號(hào)發(fā)生器。在測(cè)試模式下，信號(hào)發(fā)生器被配置為向多個(gè)掃描鏈提供測(cè)試圖案信號(hào)。

多個(gè)邏輯元件中的每一個(gè)可以由一個(gè)或多個(gè)晶體管形成，例如以cmos技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)。照此，由于制造擴(kuò)散等，晶體管中的一些可能遭受故障。在下文，說(shuō)明能夠以方便并且還可靠的方式識(shí)別失效晶體管并且因此識(shí)別失效邏輯元件的技術(shù)。說(shuō)明能夠測(cè)試組合和時(shí)序邏輯的技術(shù)。在邏輯元件之間的連接性、開(kāi)路、短路和電阻率可以被測(cè)試。

掃描鏈可以形成移位寄存器。掃描鏈可以在各種邏輯元件中間形成邏輯互連。在一些方案中，多個(gè)邏輯元件中的每一個(gè)可以是單個(gè)掃描鏈的部分。在下文，為了說(shuō)明性目的，主要參考通過(guò)由觸發(fā)器實(shí)現(xiàn)的邏輯元件。然而，在各種方案中，各技術(shù)可以被容易地應(yīng)用于不同種類(lèi)和類(lèi)型的邏輯元件，其例如包括時(shí)序邏輯諸如觸發(fā)器和組合邏輯諸如門(mén)、多路復(fù)用器等。

掃描鏈可以促進(jìn)切換多個(gè)邏輯元件中的每一個(gè)。例如，切換可以以計(jì)時(shí)方式發(fā)生。為此，可以使用時(shí)鐘信號(hào)。對(duì)于每個(gè)循環(huán)，測(cè)試圖案信號(hào)可以指示不同的碼字。測(cè)試圖案信號(hào)的碼字的數(shù)量有時(shí)被稱(chēng)為循環(huán)長(zhǎng)度。循環(huán)長(zhǎng)度可以比碼字的長(zhǎng)度更大。例如，可以存在多于100.000循環(huán)，或多于1.000.000循環(huán)，或多于10.000.000循環(huán)。例如，碼字可以具有少于10、或少于100比特的長(zhǎng)度。碼字的每個(gè)位置與多個(gè)掃描鏈中的一個(gè)相關(guān)聯(lián)。對(duì)于每個(gè)循環(huán)，碼字的各位置的當(dāng)前值被饋送給各掃描鏈的入口點(diǎn)。

ic可以選自包括以下的組：模擬收發(fā)器級(jí)；數(shù)字收發(fā)器級(jí)；吉比特?zé)o源光網(wǎng)絡(luò)(gpon)ic；總局(centraloffice)(co)ic；用戶(hù)端設(shè)備(cpe)ic；傳感器；無(wú)線(xiàn)收發(fā)器等。ic可以包括選自包括以下的組的元件：處理器；工作存儲(chǔ)器；非易失性存儲(chǔ)器。ic可以包括數(shù)字、模擬和/或混合的數(shù)字-模擬元件。ic可以包括射頻(rf)功能。特別地，ic可以涉及物聯(lián)網(wǎng)(iot)和/或連接的家庭應(yīng)用。ic可以包括多于100.000晶體管，優(yōu)選地多于1.000.000晶體管。ic可以形成片上系統(tǒng)(soc)。

片上信號(hào)發(fā)生器可以因此被形成在與ic相同的管芯上?？梢源嬖诒惶峁┰谛盘?hào)發(fā)生器與ic之間的定線(xiàn)(routing)。在一些方案中，信號(hào)發(fā)生器可以被提供在與ic相同的封裝中。信號(hào)發(fā)生器也可以被提供在與ic不同的封裝中。信號(hào)發(fā)生器可以在復(fù)雜性方面被相對(duì)限制。例如，信號(hào)發(fā)生器可以包括少于100.000晶體管，優(yōu)選地少于1.000晶體管，更優(yōu)選地少于500晶體管。由此，信號(hào)發(fā)生器的成本節(jié)約的實(shí)現(xiàn)變得可能。

通過(guò)提供片上信號(hào)發(fā)生器，在測(cè)試模式期間不要求提供測(cè)試圖案信號(hào)的外部路由。在其中受約束的空間可用于外部路由的方案中，這可以促進(jìn)測(cè)試模式的執(zhí)行。

測(cè)試模式可以實(shí)現(xiàn)在把ic交付使用之前對(duì)ic的功能進(jìn)行測(cè)試?？梢杂蓽y(cè)試圖案信號(hào)實(shí)現(xiàn)的特定類(lèi)型的測(cè)試模式對(duì)于信號(hào)發(fā)生器的運(yùn)行而言不是密切相關(guān)的?？梢允褂酶鞣N類(lèi)型和種類(lèi)的測(cè)試模式。在本文中公開(kāi)的各種方案中，關(guān)聯(lián)的特定測(cè)試模式是預(yù)燒測(cè)試模式。

圖1圖示關(guān)于多個(gè)觸發(fā)器的預(yù)燒運(yùn)用的方面。預(yù)燒系統(tǒng)101包括預(yù)燒爐102，其根據(jù)參考實(shí)現(xiàn)，具有被從外部定線(xiàn)至其內(nèi)部的線(xiàn)路111。預(yù)燒爐具有限定的尺寸。在預(yù)燒爐內(nèi)部，被測(cè)器件(dut)諸如包括ic的芯片110通過(guò)接收器(在圖1中未示出)被安裝。

將線(xiàn)路111與芯片110的各掃描控制引腳連接可能是耗時(shí)和麻煩的。用于建立測(cè)試的時(shí)間(測(cè)試建立時(shí)間)可能是長(zhǎng)的。

根據(jù)如在本文中公開(kāi)的各種方案，各種方案能夠大大地減少測(cè)試建立時(shí)間。根據(jù)在本文中公開(kāi)的各種方案，典型地僅相對(duì)較小數(shù)量的線(xiàn)路需要被與芯片110連接。

在本文中公開(kāi)的各種方案中，可以?xún)H要求連接對(duì)應(yīng)于如由聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組(jtag)規(guī)定的電氣與電子工程師協(xié)會(huì)(ieee)1149.1測(cè)試存取端口(tap)連接器的線(xiàn)路?？梢圆灰筮B接對(duì)應(yīng)于在外部生成的atpg測(cè)試信號(hào)的線(xiàn)路。

在測(cè)試的建立完成之后并且當(dāng)執(zhí)行預(yù)燒測(cè)試時(shí)，限定的溫度或溫度分布(temperatureprofile)被施加在預(yù)燒爐102的內(nèi)部中持續(xù)測(cè)試時(shí)間。在測(cè)試時(shí)間期間，芯片110的各種觸發(fā)器被切換。描述作為操作時(shí)間的函數(shù)的最終失效觸發(fā)器的數(shù)量的故障率曲線(xiàn)可以因此在加速的時(shí)間流逝中被采樣。脆弱的器件因此傾向于在測(cè)試時(shí)間期間最終失效。

圖2圖示片上信號(hào)發(fā)生器220的方面。通常，可以使用各種類(lèi)型的信號(hào)發(fā)生器。例如，單個(gè)觸發(fā)器可以被與布置在輸出支路中的一個(gè)或多個(gè)反相器和反饋支路組合使用。在下文，將關(guān)于被實(shí)現(xiàn)為線(xiàn)性反饋移位寄存器(lfsr)的信號(hào)發(fā)生器來(lái)描述各種方案。然而，在本文中公開(kāi)的所有方案中，用另一個(gè)適合類(lèi)型的信號(hào)發(fā)生器來(lái)代替lfsr是可能的。

在圖2的方案中，信號(hào)發(fā)生器220由lfsr實(shí)現(xiàn)。lfsr220與ic230連接。ic230包括多個(gè)觸發(fā)器231。因?yàn)閕c230，如圖2中所描繪的，在測(cè)試模式下操作，所以觸發(fā)器231形成掃描鏈232。

在圖2的方案中，三個(gè)(m＝3)掃描鏈由多個(gè)觸發(fā)器231形成。這僅是說(shuō)明性的，并且可以形成更小或更大數(shù)量的掃描鏈232。掃描鏈232的數(shù)量對(duì)于根據(jù)在本文中公開(kāi)的各種方案中的技術(shù)的運(yùn)行而言不是密切相關(guān)的。例如，在示例中可以存在285個(gè)掃描鏈。

lfsr220輸出測(cè)試圖案信號(hào)281。參考圖3，測(cè)試圖案信號(hào)281包括——對(duì)于經(jīng)由相應(yīng)外部引腳211接收的時(shí)鐘信號(hào)271的每個(gè)循環(huán)而言——相應(yīng)的碼字321。不同循環(huán)一般對(duì)應(yīng)于不同碼字321。換句話(huà)說(shuō)，lfsr220被配置為取決于時(shí)鐘信號(hào)271而輸出不同狀態(tài)的測(cè)試圖案信號(hào)281。

碼字321包括針對(duì)掃描鏈232中的每一個(gè)的項(xiàng)。因此，在圖2和3的方案中，碼字321具有長(zhǎng)度三(n＝3)。如可以看到的，m＝n。這能夠測(cè)試各種觸發(fā)器231的所有不同種類(lèi)的狀態(tài)組合。這促進(jìn)有效的應(yīng)力測(cè)試。

圖3更詳細(xì)地圖示lfsr220的方面。lfsr220包括三個(gè)觸發(fā)器300(在圖3中被標(biāo)注為“a”、“b”和“c”)、反饋支路301、變換器302，其被配置為基于線(xiàn)性函數(shù)對(duì)經(jīng)由反饋支路獲得的信號(hào)進(jìn)行變換以獲得經(jīng)轉(zhuǎn)換的反饋信號(hào)、以及另外的反饋支路303，其被配置為將經(jīng)轉(zhuǎn)換的反饋信號(hào)提供給第一觸發(fā)器300的輸入。每個(gè)觸發(fā)器300的狀態(tài)與碼字321的項(xiàng)相關(guān)聯(lián)。取決于用于初始化lfsr220的種子，lfsr220以偽隨機(jī)的方式提供測(cè)試圖案信號(hào)。在某循環(huán)長(zhǎng)度之后，重復(fù)碼字321。

再次參照?qǐng)D2，例如，引腳211可以是外部測(cè)試模式引腳。例如，引腳211可以是tap連接器的部分。例如，引腳211可以是tap測(cè)試時(shí)鐘(tck)引腳。在其他方案中，引腳211可以是專(zhuān)用引腳。

例如，線(xiàn)路211可以經(jīng)由包括用于一個(gè)或多個(gè)芯片的一個(gè)或多個(gè)插座的預(yù)燒板105、或者經(jīng)由針卡(needlecard)、或者經(jīng)由焊線(xiàn)(wirebond)或者諸如此類(lèi)而被連接到在本文中公開(kāi)的各種外部引腳。各種外部引腳可以包括可從外部訪(fǎng)問(wèn)的金屬焊盤(pán)。例如，金屬焊盤(pán)可以具有大于50μm×50μm的尺寸。例如，由于預(yù)燒爐的限定的尺寸，預(yù)燒板105可以具有限定的尺寸。

時(shí)鐘信號(hào)271也被提供給ic230。取決于測(cè)試圖案信號(hào)281并且進(jìn)一步取決于時(shí)鐘信號(hào)271，觸發(fā)器231在不同狀態(tài)之間進(jìn)行切換。此處，掃描鏈232可以起移位寄存器的作用，使得觸發(fā)器231的特定狀態(tài)隨著時(shí)鐘信號(hào)271前進(jìn)而傳播通過(guò)掃描鏈232。在讀出期間，各種觸發(fā)器231的狀態(tài)可以被取回。典型地，讀出不要求發(fā)生在預(yù)燒爐102中。

圖4圖示關(guān)于測(cè)試圖案信號(hào)281的碼字321的長(zhǎng)度的方面。在圖4的方案中，出于說(shuō)明性的目的，存在數(shù)量為四(m＝4)的掃描鏈323?？墒牵a字321具有三(n＝3)的長(zhǎng)度。因此，n＜m。芯片110進(jìn)一步包括解壓器271，其被配置為將(壓縮的)測(cè)試圖案信號(hào)281變成解壓縮的測(cè)試圖案信號(hào)282，其具有較長(zhǎng)的碼字長(zhǎng)度。特別地，解壓縮的測(cè)試圖案信號(hào)282具有等于掃描鏈232的數(shù)量m＝4的碼字長(zhǎng)度。通過(guò)配置lfsr220輸出相對(duì)小長(zhǎng)度的碼字321，lfsr220的更簡(jiǎn)單并且成本節(jié)約的實(shí)現(xiàn)變得可能。例如，在示例中可以存在m＝285掃描鏈232，并且壓縮的測(cè)試圖案信號(hào)281的碼字長(zhǎng)度可以是n＝6；未壓縮的測(cè)試圖案信號(hào)282的碼字長(zhǎng)度也可以是285。

解壓器可以被提供在如在本文中公開(kāi)的各種方案中，即使沒(méi)有具體提到。解壓器可以促進(jìn)讀出。

圖5圖示關(guān)于選擇性地使能測(cè)試模式的方面。在圖5中，提供外部測(cè)試模式引腳213。外部測(cè)試模式引腳213與lfsr220和ic230連接。經(jīng)由外部測(cè)試模式引腳213，可以接收建立信號(hào)(setupsignal)271。例如，外部測(cè)試模式引腳213可以是tap的部分。例如，外部測(cè)試模式引腳213可以是tap的測(cè)試模式選擇(tms)引腳。

建立信號(hào)271可以觸發(fā)測(cè)試模式。一旦建立信號(hào)271指示測(cè)試模式被觸發(fā)，就可以進(jìn)行以下動(dòng)作中的一個(gè)或多個(gè)：

例如，lfsr220可以例如通過(guò)規(guī)定種子而被初始化。觸發(fā)器231可以被配置為形成掃描鏈232。在圖5中，提供開(kāi)關(guān)291。開(kāi)關(guān)291可以由建立信號(hào)271控制。如果建立信號(hào)281指示測(cè)試模式，開(kāi)關(guān)可以將外部時(shí)鐘引腳211與ic230連接，即與掃描鏈232和觸發(fā)器231連接。在其他模式(不同于所述測(cè)試模式)下，開(kāi)關(guān)291可以將外部時(shí)鐘引腳211與ic230斷開(kāi)。例如，在正常操作期間或在另外的測(cè)試模式期間，開(kāi)關(guān)291可以將外部時(shí)鐘引腳211與ic230斷開(kāi)。

借助于建立信號(hào)271，在器件測(cè)試期間選擇性地在測(cè)試模式下操作ic230變得可能。正常操作不被阻止。

芯片110還包括例如通過(guò)多路復(fù)用器實(shí)現(xiàn)的另外的開(kāi)關(guān)290。另外的開(kāi)關(guān)290被配置為選擇性地將lfsr220與ic230連接。另外的開(kāi)關(guān)290可以至少由建立信號(hào)272控制。特別地，另外的開(kāi)關(guān)290被配置為在測(cè)試模式下將lfsr220與ic230連接；并且在不同于所述測(cè)試模式的另外的模式下將lfsr220與ic230斷開(kāi)。

圖5還圖示關(guān)于另外的測(cè)試模式的方面。有時(shí)，實(shí)現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)另外的測(cè)試模式可以是期望的。特別地，另外的測(cè)試模式不依賴(lài)于lfsr220可以是期望的。

例如，另外的開(kāi)關(guān)290可以可選擇地被配置為將多個(gè)外部掃描控制引腳214(為了簡(jiǎn)便起見(jiàn)，在圖5中僅用圖解法圖示單個(gè)外部掃描控制引腳214)在另外的測(cè)試模式下與ic230連接。經(jīng)由多個(gè)外部掃描控制引腳214從多個(gè)觸發(fā)器231寫(xiě)和/或讀出數(shù)據(jù)可以是可能的。例如，另外的測(cè)試圖案信號(hào)可以經(jīng)由多個(gè)外部掃描控制引腳214被提供給掃描鏈232。例如，另外的時(shí)鐘信號(hào)可以經(jīng)由外部掃描控制引腳214被提供給多個(gè)掃描鏈232；例如，多個(gè)觸發(fā)器231中的每一個(gè)可以被配置為取決于另外的時(shí)鐘信號(hào)并且進(jìn)一步取決于另外的測(cè)試圖案信號(hào)而在不同狀態(tài)之間進(jìn)行切換。例如，在預(yù)燒測(cè)試已完成之后，經(jīng)由多個(gè)外部掃描控制引腳214從多個(gè)觸發(fā)器231讀出數(shù)據(jù)可以是可能的，由此測(cè)試是否所有的觸發(fā)器231正在響應(yīng)或是否觸發(fā)器231中的一些已失效。例如，關(guān)于經(jīng)由多個(gè)外部掃描控制引腳214發(fā)送的數(shù)據(jù)可以提供相應(yīng)的壓縮器和/或解壓器。

外部掃描控制引腳214可以被提供在如在本文中公開(kāi)的各種方案中，即使沒(méi)有具體提到。

除了由lfsr220實(shí)現(xiàn)的測(cè)試模式之外，外部掃描控制引腳214促進(jìn)各種另外的測(cè)試的執(zhí)行。

典型地，為了實(shí)現(xiàn)各種種類(lèi)的測(cè)試，要求掃描鏈232由觸發(fā)器231形成。這可以通過(guò)將ic230的一個(gè)“scan_enable”端口設(shè)置為1來(lái)完成。

圖6圖示關(guān)于形成掃描鏈232的詳細(xì)的方面。取決于建立信號(hào)272，開(kāi)關(guān)施加任一個(gè)邏輯“1”、“0”到“scan_enable”端口。例如，如果建立信號(hào)272指示測(cè)試模式，則可以施加“1”并且可以形成掃描鏈232。如果建立信號(hào)272指示正常操作，則可以施加“0”。如果建立信號(hào)272指示另外的測(cè)試模式，則可以設(shè)立與多個(gè)外部掃描控制引腳214中的至少一個(gè)的連接。那么，掃描鏈232的形成可以經(jīng)由多個(gè)外部掃描控制引腳214中的相應(yīng)至少一個(gè)而被選擇性地觸發(fā)。例如，圖6的開(kāi)關(guān)可以被實(shí)現(xiàn)為多路復(fù)用器。

圖7是根據(jù)各種實(shí)施例的方法的流程圖。首先，測(cè)試模式——在圖7的方案中是預(yù)燒模式——被使能，901。為此，預(yù)燒板105可以被用于接觸預(yù)燒爐102中的芯片110。然后，建立信號(hào)272可以指示相應(yīng)的值。建立信號(hào)272可以被提供使用ieeejtag框架之內(nèi)的jtagtap，并且可以經(jīng)由預(yù)燒板105而被提供。此處，lfsr220可以用相應(yīng)種子被初始化。時(shí)鐘信號(hào)271可以被提供給ic230。

接下來(lái)，902，ieeejtag狀態(tài)機(jī)被帶到狀態(tài)運(yùn)行測(cè)試/空閑；該步驟是可選擇的，并且在ieeejtag框架中可以是特別相關(guān)的。

然后，lfsr220提供測(cè)試圖案信號(hào)281、903。這可以經(jīng)由jtagtap的tck引腳完成。這引起各種觸發(fā)器231被切換到不同狀態(tài)。這可以在高溫下在預(yù)燒爐102之內(nèi)發(fā)生。掃描鏈232起移位寄存器的作用。903可以被執(zhí)行持續(xù)預(yù)限定的測(cè)試時(shí)間以觸發(fā)ic230的各種晶體管的老化和磨損。

901-903全部有助于預(yù)燒測(cè)試模式1001。

然后，檢查是否觸發(fā)器231中的一些由于預(yù)燒測(cè)試而失效，904。這可以例如在預(yù)燒爐102外部通過(guò)經(jīng)由多個(gè)掃描控制引腳214讀出數(shù)據(jù)來(lái)完成。例如，在一些方案中，形成掃描鏈232的觸發(fā)器231在預(yù)燒測(cè)試已完成之后的狀態(tài)可以被讀出。即，測(cè)試903的應(yīng)力測(cè)試的影響可以是可能的。

如果檢查904通過(guò)，則芯片110可以被釋放用于正常操作1002，905。

總之，以上的技術(shù)已被舉例說(shuō)明，其能夠減少掃描建立時(shí)間。測(cè)試圖案信號(hào)不要求在外部被饋送給芯片，而是相反在芯片上生成。lfsr可以被用于生成測(cè)試圖案信號(hào)。

雖然已關(guān)于某些優(yōu)選實(shí)施例示出和描述本發(fā)明，但是在閱讀和理解本說(shuō)明書(shū)時(shí)本領(lǐng)域中的其他技術(shù)人員將想到等同物和修改。本發(fā)明包括所有這樣的等同物和修改并且僅由所附權(quán)利要求的范圍限定。