技術編號：11543877
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。各種實施例涉及一種芯片，其包括片上信號發(fā)生器，所述片上信號發(fā)生器被配置為在測試模式下，提供測試圖案信號給由多個邏輯元件形成的多個掃描鏈。各種實施例涉及一種預燒(burn-in)爐和一種方法。背景技術為了測試集成電路(IC)，已知使IC的邏輯元件遭受應力測試，例如，可以將包括IC的芯片放置在預燒爐中，其中環(huán)境條件可以被控制。例如，可以施加高溫。在參考實現(xiàn)中，自動測試圖案生成(ATPG)圖案信號，其被加載到預燒爐中并且經(jīng)由掃描引腳被饋送到IC、到邏輯元件。ATPG信號是偽隨機測試圖案，其旨在將所有的...
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