本發(fā)明涉及觸摸屏導電膜領域，具體涉及一種觸摸屏導電膜及觸摸屏導電膜的測試方法。

背景技術：

在導電膜的制作過程中，不同階段都會進行產品的功能測試，保證良率和降低后續(xù)材料的浪費，應用于觸摸屏領域的導電膜的測試通常是測試每一個通路的兩端或一端，如果為一端測試通常是測試需要綁定柔性電路板的那端，采用的測試工具多為萬用表或者探針，而且需要接觸式測試，會對產品表面的導電材料造成一定程度的破壞或脫落，測試之后會對導電膜的外觀及穩(wěn)定性造成不良，測試之后再進行綁定柔性電路板會出現功能不良。

技術實現要素：

為了解決上述技術問題，本發(fā)明提供了一種觸摸屏導電膜及觸摸屏導電膜的測試方法，觸摸屏包括導電膜和測試引腳，測試引腳電連接有向外延伸的測試導線，測試導線具備導電性能。在設計上將需要測試的一端延伸出來，這樣既保證了電性可以準確測試，也避免了綁定位置的破壞，將測試造成的不良降低為零。

進一步的，上述測試導線的寬度與所述測試引腳的寬度關系為：0.5w1＜w2≤w1，其中w1為所述測試引腳的寬度，w2為所述測試導線的寬度。

進一步的，上述測試導線為網格結構或實心結構。

進一步的，上述測試導線的自由端還連接有測試塊。

進一步的，上述測試塊為網格結構或實心結構。

進一步的，上述測試塊網格線的間距不小于2um且不大于15um。

進一步的，上述多個測試塊單排排列或多排排列。

本發(fā)明還提供了這種觸摸屏導電膜的測試方法，其包括以下步驟：

1)從導電膜的測試引腳開始電連接向外延伸的測試導線；

2)測試設備連接測試導線進行對導電膜的測試；

3)完成測試后分離測試導線。

進一步的，上述測試導線為網格結構或實心結構。

進一步的，上述測試導線的自由端還連接有測試塊；優(yōu)選的，測試塊為網格結構或實心結構。

本發(fā)明主要具有如下優(yōu)點：

1)避免了制程過程中測試導致的測試位置的破壞，進一步降低柔性電路板的綁定良率；

2)可以變換測試位置，將兩頭或多頭的測試位置引到同一個地方，測試結構更加緊湊化，從而測試治具可以共用，節(jié)省成本；

3)引伸的測試塊更大，更容易測試，設置標注，利于作業(yè)不良的查找。

附圖說明

圖1為本發(fā)明中的觸摸屏導電膜的結構示意圖。

圖2為圖1所示觸摸屏導電膜的局部結構放大示意圖。

圖3為本發(fā)明中的測試導線和測試塊的一種網格結構示意圖。

圖4為本發(fā)明中的測試塊的多個可選位置的示意圖。

圖（5a）、（5b）為本發(fā)明中的測試塊的另一種排列示意圖。

圖6為本發(fā)明中的測試塊的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖詳細說明本發(fā)明的優(yōu)選實施方式。

本實施例主要描述了一種觸摸屏導電膜及觸摸屏導電膜的測試方法。在導電膜設計基礎上增加附屬的設計，該設計主要是將產品測試的地方引伸出來，該測試的地方不影響整個產品的功能，但是可以替代本身的測試位置完成電性的測試；完成測試功能之后分離，并不影響產品的整體外觀。

如圖1所示，在本實施例中，一種觸摸屏導電膜，包括導電膜和測試引腳，測試引腳電連接有向外延伸的測試導線，測試導線具備導電性能，測試導線為網格結構或實心結構，測試導線的自由端還連接有測試塊；優(yōu)選的，測試塊為網格結構或實心結構。作為本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，導電膜的測試引腳、測試導線、測試塊一體成型結構。

這種觸摸屏導電膜的測試方法如下：首先從導電膜的測試引腳開始電連接向外延伸的測試導線；其次使用測試設備連接測試導線進行對導電膜的測試；最后完成測試后分離測試導線。

在本發(fā)明的實施中，延伸測試模塊101包括測試導線和測試塊，以線的方式實現與導電膜的測試引腳的連接功能，，可以是直線，曲線，并通過絲網印刷導電油墨或者網格凹槽填充導電材料的方式實現導電功能。導電材料可以是銀，銅，鎳等。測試導線的一頭連接導電膜的測試引腳，測試導線的另一頭即自由端是測試塊。測試完成后，需要將延伸測試模塊與導電膜的測試引腳分離，這種分離方式可以為模切、剪切、裁切等，優(yōu)選的采用模切的方式切除；分離后的導電膜的測試引腳與產品(如導電膜)的輪廓線401平齊，且各根導電膜的測試引腳長度相同。

在本發(fā)明的實施中，，導電膜引腳上可能還有少部分分離后殘余的測試導線，且測試導線的存在不影響導電膜的正常的性能。

在本發(fā)明的實施中，測試設備為現有的常規(guī)測試設備，只要能正常測試導電膜的信號即可，在此不做限制。

如圖2所示，為了保證阻值不受影響，以及分離之后不影響柔性電路的綁定，測試導線之間需要相互獨立絕緣，不可以交叉，測試導線的寬度w2滿足0.5w＜w2≤w1，其中w1為所述測試引腳的寬度，w2為所述測試導線的寬度。

如圖3所示，測試導線遠離測試引腳的一頭連接測試塊，測試塊要導電，可以是印刷導電材料或者油墨，導電材料可以是銀，銅，鎳等，測試塊可以實心或者網格狀導電結構，如果是導電網格結構，那么網格線之間的最小間距w要小于異方性導電膠(ACF)導電離子的直徑，以正方形為例，優(yōu)選2-15um。

如圖4所示，延伸測試模塊包括測試導線和測試塊，測試塊的縱向要設置在產品(如導電膜)外形尺寸輪廓線401以外，橫向可以設置在任何區(qū)域如圖所示402，403，404，優(yōu)選的放在整個產品的偏中線位置403，利于產品測試。測試導線的長度以實際需求及使用方便為原則。

測試塊之間不可以重疊，要相互獨立絕緣，測試塊的尺寸要大于測試設備的針腳，以方便測試。

如圖5所示，測試塊之間可以單排或雙排或多排排列，結構緊湊最優(yōu)。其中圖5(a)為三排排列，圖5(b)為兩排排列。在測試塊的對應位置可以設計數字標注，用以測試分析查找。

如圖6所示，測試塊可以是矩形、圓形、正五邊形或其他多邊形，以設計方便和實用為原則。

以上所述的僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應當指出，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本發(fā)明創(chuàng)造構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本發(fā)明的保護范圍。