本發(fā)明涉及顯示面板測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種觸摸筆、觸摸測(cè)試裝置和觸摸測(cè)試方法。

背景技術(shù)：

在觸摸屏出產(chǎn)前，需要對(duì)觸摸屏進(jìn)行觸摸性能測(cè)試。該觸摸性能測(cè)試是在觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)上完成，其中該觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)包括一觸摸筆連接部，在進(jìn)行測(cè)試前，需要將測(cè)試用的觸摸筆(一般為銅柱)與觸摸筆連接部固定；在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，觸摸筆連接部帶動(dòng)觸摸筆在觸摸屏的表面進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，以對(duì)觸摸屏的觸摸性能進(jìn)行測(cè)試。

在實(shí)際測(cè)試過(guò)程中，為保證測(cè)試的全面性和完備性，往往需要使用多個(gè)直徑不同的觸摸筆以對(duì)觸摸屏分別進(jìn)行性能測(cè)試。在此過(guò)程中，當(dāng)某一個(gè)觸摸筆完成測(cè)試后，需要測(cè)試人員手動(dòng)將該觸摸筆從觸摸筆連接部上卸下來(lái)，并在觸摸筆連接部上固定安裝另一個(gè)觸摸筆，以繼續(xù)后面的測(cè)試。

由上述內(nèi)容可見(jiàn)，由于現(xiàn)有的觸摸性能測(cè)試過(guò)程需要準(zhǔn)備多支觸摸筆，則會(huì)導(dǎo)致成本的上升。更重要的是，現(xiàn)有技術(shù)在進(jìn)行觸摸性能測(cè)試時(shí)，需要測(cè)試人員不斷的手動(dòng)切換觸摸筆連接部上的觸摸筆，則會(huì)消耗較多的時(shí)間和人力。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題之一，提出了一種觸摸筆、觸摸測(cè)試裝置和觸摸測(cè)試方法。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種觸摸筆，包括：觸摸柱和套置于所述觸摸柱之外且層層依次套置的若干個(gè)輔助觸摸結(jié)構(gòu)，所述觸摸柱具有一用于與觸摸屏接觸的第一接觸底面，所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)包括：圍壁，所述圍壁具有一用于與觸摸屏接觸的第二接觸底面；

所述觸摸柱的側(cè)面與位于最內(nèi)側(cè)的所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)的所述圍壁貼合，任意相鄰的兩個(gè)所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)的所述圍壁貼合；

所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)能夠沿所述觸摸柱的中心軸所指向的方向進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，且使得對(duì)應(yīng)的所述圍壁的所述第二接觸底面運(yùn)動(dòng)至與所述觸摸柱的所述第一接觸底面齊平的位置。

可選地，所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)還包括：連接板，所述連接板與所述圍壁上背向所述第二接觸底面的面連接，所述圍壁沿對(duì)應(yīng)的所述連接板的邊緣設(shè)置；

對(duì)于任一所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)，其圍壁的高度大于位于其內(nèi)側(cè)的其他各輔助觸摸結(jié)構(gòu)以及所述觸摸柱的高度。

可選地，在任意相鄰的兩個(gè)所述連接板之間以及位于最內(nèi)側(cè)的所述連接板與所述觸摸柱之間，均設(shè)置有彈力結(jié)構(gòu)；

當(dāng)全部所述圍壁的所述第二接觸底面運(yùn)動(dòng)至與所述觸摸柱的第一接觸底面齊平的位置時(shí)，各所述彈力結(jié)構(gòu)均處于壓縮狀態(tài)。

可選地，對(duì)于任一所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)，位于其內(nèi)側(cè)的所述彈力結(jié)構(gòu)的彈性模量小于位于其外側(cè)的所述彈力結(jié)構(gòu)的彈性模塊。

可選地，所述彈力結(jié)構(gòu)為彈簧。

可選地，位于最外側(cè)的所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)中的所述連接板的外側(cè)設(shè)置有對(duì)接結(jié)構(gòu)；

所述對(duì)接結(jié)構(gòu)用于與觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)的觸摸筆連接部進(jìn)行對(duì)接。

可選地，各所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)中的所述圍壁的厚度均相同。

可選地，各所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)中的所述圍壁的形狀均為圓環(huán)形。

可選地，所述觸摸柱和所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)的材料均為銅。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供了一種觸摸測(cè)試裝置，包括：觸摸筆，所述觸摸筆采用上述的觸摸筆。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供了一種觸摸測(cè)試方法，所述觸摸測(cè)試方法基于觸摸測(cè)試裝置，所述觸摸測(cè)試裝置包括：觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)和上述的觸摸筆，所述觸摸測(cè)試方法包括：

將所述觸摸筆與所述觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)的觸摸筆連接部固定，所述觸摸筆與所述觸摸屏垂直；

根據(jù)測(cè)試需求調(diào)節(jié)，按照由內(nèi)至外的順序，依次將相應(yīng)數(shù)量的所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)中的所述圍壁的第二接觸底面與所述第一接觸底面齊平，所述第一接觸底面以及與所述第一接觸底面齊平的全部所述第二接觸底面構(gòu)成測(cè)試底面；

利用所述測(cè)試底面對(duì)所述觸摸屏進(jìn)行觸摸性能測(cè)試。

可選地，當(dāng)所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)包括連接板，且在任意相鄰的兩個(gè)所述連接板之間以及位于最內(nèi)側(cè)的所述連接板與所述觸摸柱之間，均設(shè)置有彈力結(jié)構(gòu)，對(duì)于任一所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)，位于其內(nèi)側(cè)的所述彈力結(jié)構(gòu)的彈性模量小于位于其外側(cè)的所述彈力結(jié)構(gòu)的彈性模塊時(shí)；

所述根據(jù)測(cè)試需求調(diào)節(jié)，按照由內(nèi)至外的順序，依次將相應(yīng)數(shù)量的所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)中的所述圍壁的第二接觸底面與所述第一接觸底面齊平的步驟包括：

根據(jù)測(cè)試需求從預(yù)先設(shè)置的對(duì)應(yīng)關(guān)系表查詢出對(duì)應(yīng)的操作距離，所述操作距離為所述觸摸筆的頂部與所述觸摸屏之間的距離；

根據(jù)查詢出的結(jié)果，驅(qū)動(dòng)所述觸摸筆運(yùn)動(dòng)至對(duì)應(yīng)位置，所述觸摸柱與所述觸摸屏接觸，所述觸摸筆中按照由內(nèi)至外的順序，相應(yīng)數(shù)量的所述輔助觸摸結(jié)構(gòu)的所述圍壁的第二接觸底面依次與所述觸摸屏接觸。

本發(fā)明具有以下有益效果：

本發(fā)明提供了一種觸摸筆、觸摸測(cè)試裝置和觸摸測(cè)試方法，其中該觸摸筆包括：觸摸柱和套置于觸摸柱之外且層層依次套置的若干個(gè)輔助觸摸結(jié)構(gòu)，觸摸柱具有一用于與觸摸屏接觸的第一接觸底面，輔助觸摸結(jié)構(gòu)包括：圍壁，圍壁具有一用于與觸摸屏接觸的第二接觸底面；觸摸柱的側(cè)面與位于最內(nèi)側(cè)的輔助觸摸結(jié)構(gòu)的圍壁貼合，任意相鄰的兩個(gè)輔助觸摸結(jié)構(gòu)的圍壁貼合；輔助觸摸結(jié)構(gòu)能夠沿觸摸柱的中心軸所指向的方向進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，且使得對(duì)應(yīng)的圍壁的第二接觸底面運(yùn)動(dòng)至與觸摸柱的第一接觸底面齊平的位置。當(dāng)該觸摸筆與觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)上的觸摸筆連接部連接時(shí)，可在無(wú)需切換觸摸筆連接部上的觸摸筆的情況下，通過(guò)調(diào)整與第一接觸底面齊平的第二接觸底面的數(shù)量，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)觸摸筆的測(cè)試底面的尺寸的變換，以滿足不同的測(cè)試需求。由于本發(fā)明的技術(shù)方案可使得觸摸測(cè)試中所需要的觸摸筆數(shù)量減小，因而可有效降低測(cè)試成本；與此同時(shí)，由于換觸摸筆連接部上的觸摸筆無(wú)需進(jìn)行切換，因而可有效縮短測(cè)試周期。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種觸摸筆的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為圖1所述觸摸筆的仰視圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種觸摸筆的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本發(fā)明實(shí)施例四提供的一種觸摸測(cè)試方法的流程圖；

圖5為本發(fā)明實(shí)施例五提供的一種觸摸測(cè)試方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

為使本領(lǐng)域的技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明提供的一種觸摸筆、觸摸測(cè)試裝置和觸摸測(cè)試方法進(jìn)行詳細(xì)描述。

圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種觸摸筆的結(jié)構(gòu)示意圖，圖2為圖1所述觸摸筆的仰視圖，如圖1和圖2所示，該觸摸筆包括：觸摸柱1和套置于觸摸柱之外且層層依次套置的若干個(gè)輔助觸摸結(jié)構(gòu)，該觸摸柱1具有一用于與觸摸屏接觸的第一接觸底面3，輔助觸摸結(jié)構(gòu)包括：圍壁2，圍壁2具有一用于與觸摸屏接觸的第二接觸底面4；其中，觸摸柱1的側(cè)面與位于最內(nèi)側(cè)的輔助觸摸結(jié)構(gòu)的圍壁2貼合，任意相鄰的兩個(gè)輔助觸摸結(jié)構(gòu)的圍壁2貼合；輔助觸摸結(jié)構(gòu)能夠沿觸摸柱的中心軸所指向的方向Y進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，且使得對(duì)應(yīng)的圍壁2的第二接觸底面4運(yùn)動(dòng)至與觸摸柱1的第一接觸底面3齊平的位置。

在本實(shí)施例中，可根據(jù)測(cè)試需求，由內(nèi)至外依次將相應(yīng)數(shù)量的輔助觸摸結(jié)構(gòu)的位置進(jìn)行調(diào)整，并使得被調(diào)整的輔助觸摸結(jié)構(gòu)的圍壁2的第二接觸底面4與第一接觸底面3齊平，此時(shí)該第一接觸底面3以及與第一接觸底面3齊平的全部第二接觸底面4構(gòu)成測(cè)試底面，以供進(jìn)行觸摸性能測(cè)試。

在實(shí)際應(yīng)用中，將本實(shí)施例提供的觸摸筆與觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)上的觸摸筆連接部連接，可在無(wú)需切換觸摸筆連接部上的觸摸筆的情況下，通過(guò)調(diào)整與第一接觸底面3齊平的第二接觸底面4的數(shù)量，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)觸摸筆的測(cè)試底面的尺寸的變換，以滿足不同的測(cè)試需求。

需要說(shuō)明的是，附圖中輔助觸摸結(jié)構(gòu)的數(shù)量為三個(gè)的情況僅起到示例性作用，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該知曉的是，本發(fā)明中的輔助觸摸結(jié)構(gòu)的數(shù)量可以為1個(gè)、2個(gè)或多個(gè)。在實(shí)際應(yīng)用中，可根據(jù)實(shí)際需要對(duì)輔助觸摸結(jié)構(gòu)的數(shù)量進(jìn)行相應(yīng)調(diào)整。

可選地，各輔助觸摸結(jié)構(gòu)中的圍壁2的厚度d均相同。

可選地，各輔助觸摸結(jié)構(gòu)中的圍壁2的形狀均為圓環(huán)形。作為本實(shí)施例中的一種具體方案，觸摸柱1的直徑設(shè)置為1mm，各圍壁2的厚度d設(shè)置為0.5mm，在由內(nèi)至外依次將圍壁2的第二接觸底面4調(diào)整至與第一接觸底面3齊平的過(guò)程中，測(cè)試底面的直徑依次增大1mm。

需要說(shuō)明的是，附圖中觸摸柱1的形狀為圓柱形，圍壁2的形狀均為圓環(huán)形的情況僅起到示例性作用，本發(fā)明中的觸摸柱1和圍壁2的形狀還可以為其他形狀，此處不再一一列舉。

可選地，觸摸柱1和輔助觸摸結(jié)構(gòu)的材料均為銅。

本發(fā)明實(shí)施例一提供了一種觸摸筆，當(dāng)該觸摸筆與觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)上的觸摸筆連接部連接時(shí)，可在無(wú)需切換觸摸筆連接部上的觸摸筆的情況下，通過(guò)調(diào)整與第一接觸底面齊平的第二接觸底面的數(shù)量，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)觸摸筆的測(cè)試底面的尺寸的變換，以滿足不同的測(cè)試需求。由于本發(fā)明的技術(shù)方案可使得觸摸測(cè)試中所需要的觸摸筆數(shù)量減小，因而可有效降低測(cè)試成本；與此同時(shí)，由于換觸摸筆連接部上的觸摸筆無(wú)需進(jìn)行切換，因而可有效縮短測(cè)試周期。

實(shí)施例二

圖3為本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種觸摸筆的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖3所示，與上述實(shí)施例一中的觸摸筆相比，本實(shí)施例中的觸摸筆的輔助觸摸結(jié)構(gòu)不僅包括圍壁2，還包括連接板5，其中，連接板5與圍壁2上背向第二接觸底面4的面連接，圍壁2沿對(duì)應(yīng)的連接板5的邊緣設(shè)置；對(duì)于任一輔助觸摸結(jié)構(gòu)，其圍壁2的高度大于位于其內(nèi)側(cè)的其他各輔助觸摸結(jié)構(gòu)以及觸摸柱1的高度。

在本實(shí)施例中，每個(gè)輔助觸摸結(jié)構(gòu)均包括一圍壁2和一連接板5，圍壁2和連接板5形成一容納槽，以容納位于其內(nèi)側(cè)的輔助觸摸結(jié)構(gòu)，為保證各輔助觸摸結(jié)構(gòu)中的圍壁2的第二接觸底面4能運(yùn)動(dòng)至與觸摸柱1的第一接觸底面3齊平的位置，則需要使得圍壁2的高度大于位于其內(nèi)側(cè)的其他各輔助觸摸結(jié)構(gòu)以及觸摸柱1的高度，位于最內(nèi)側(cè)的輔助觸摸結(jié)構(gòu)中的圍壁2的高度大于觸摸柱1的高度，即觸摸柱1和各輔助觸摸結(jié)構(gòu)均能夠完全置于對(duì)應(yīng)的容納槽內(nèi)。

可選地，輔助觸摸結(jié)構(gòu)中的圍壁2和連接板5一體成型，以方便于輔助觸摸結(jié)構(gòu)的制備。

可選地，在任意相鄰的兩個(gè)連接板5之間以及位于最內(nèi)側(cè)的連接板5與觸摸柱1之間，均設(shè)置有彈力結(jié)構(gòu)7；當(dāng)全部圍壁2的第二接觸底面4運(yùn)動(dòng)至與觸摸柱1的第一接觸底面3齊平的位置時(shí)，各彈力結(jié)構(gòu)7均處于壓縮狀態(tài)。在本實(shí)施例中，通過(guò)在相鄰的連接板5之間以及位于最內(nèi)側(cè)的連接板5與觸摸柱1之間設(shè)置彈力結(jié)構(gòu)7，以便于在觸摸性能測(cè)試結(jié)束后，觸摸柱1以及各輔助觸摸結(jié)構(gòu)能從對(duì)應(yīng)的容納槽中彈出，以達(dá)到自動(dòng)復(fù)位的目的。其中，彈力結(jié)構(gòu)7可選為彈簧。

在調(diào)整觸摸筆的測(cè)試底面尺寸的過(guò)程中，為保證各圍壁2的第二接觸底面4是按照由內(nèi)至外的順序依次運(yùn)動(dòng)至與第一接觸底面3平齊的位置，本實(shí)施例中可選地，對(duì)于任一輔助觸摸結(jié)構(gòu)，位于其內(nèi)側(cè)的彈力結(jié)構(gòu)7的彈性模量小于位于其外側(cè)的彈力結(jié)構(gòu)7的彈性模量。此時(shí)，對(duì)于同一作用力，由內(nèi)至外，各彈力結(jié)構(gòu)7的形變量逐漸減小(位于最內(nèi)側(cè)的彈力結(jié)構(gòu)7的形變量最大，位于最外側(cè)的彈力結(jié)構(gòu)7的形變量最小)。

為便于本領(lǐng)域技術(shù)人員更好的理解本發(fā)明的技術(shù)方案，下面將對(duì)圖3所示的觸摸筆進(jìn)行觸摸性能測(cè)試的過(guò)程進(jìn)行詳細(xì)描述。

首先，將該觸摸筆的頂部與觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)的觸摸筆連接部固定，此時(shí)觸摸筆與觸摸屏垂直。

然后，根據(jù)測(cè)試需求從預(yù)先設(shè)置的對(duì)應(yīng)關(guān)系表查詢出對(duì)應(yīng)的操作距離，操作距離為觸摸筆的頂部與觸摸屏之間的距離。

接著，根據(jù)查詢出的結(jié)果，驅(qū)動(dòng)觸摸筆沿垂直于觸摸屏的方向進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，直至觸摸筆的頂部與觸摸屏之間的距離等于查詢出的操作距離，此時(shí)觸摸筆上與觸摸屏接觸的部分為測(cè)試底面。其中，測(cè)試底面至少包括觸摸柱1的第一接觸底面3，該測(cè)試底面的尺寸是根據(jù)用戶的測(cè)試需求所決定。

需要說(shuō)明的是，在觸摸筆沿垂直于觸摸屏的方向朝觸摸屏進(jìn)行運(yùn)動(dòng)的過(guò)程中，觸摸柱1最先接觸觸摸屏。在后續(xù)觸摸筆繼續(xù)朝觸摸屏運(yùn)動(dòng)的過(guò)程中，各彈力結(jié)構(gòu)7均會(huì)產(chǎn)生壓縮形變，其中位于最內(nèi)側(cè)的彈力結(jié)構(gòu)7的形變量最大，位于最內(nèi)側(cè)的圍壁2的第二接觸底面4最先與觸摸屏接觸并與觸摸屏之間不再產(chǎn)生相對(duì)移動(dòng)；在后續(xù)運(yùn)動(dòng)過(guò)程中，與位于最內(nèi)側(cè)的圍壁2相鄰的輔助觸摸結(jié)構(gòu)的圍壁2與觸摸屏接觸并與觸摸屏之間不再產(chǎn)生相對(duì)移動(dòng)。依次類推，各圍壁2的第二接觸底面4是按照由內(nèi)至外的順序依次與觸摸屏接觸。

在本實(shí)施例中，可以通過(guò)預(yù)先實(shí)驗(yàn)以獲得觸摸筆的測(cè)試底面的尺寸與操作距離之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，以供在實(shí)際操作過(guò)程中作為參考。

在完成相應(yīng)測(cè)試需求的觸摸性能測(cè)試后，需要將觸摸筆切換至另一尺寸的測(cè)試底面，以滿足后續(xù)的觸摸性能測(cè)試需求。此時(shí)，需要先對(duì)觸摸筆進(jìn)行復(fù)位，具體地，控制觸摸筆沿垂直于觸摸屏的方向且背向觸摸屏進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，在該運(yùn)動(dòng)過(guò)程中，在處于壓縮狀態(tài)的彈力結(jié)構(gòu)7的作用下，各圍壁2的第二接觸底面4會(huì)同時(shí)與觸摸屏分離，當(dāng)觸摸柱1與觸摸屏分離后，觸筆完成復(fù)位。此后，可根據(jù)新的測(cè)試需求進(jìn)行查表、調(diào)節(jié)觸摸筆操作距離、進(jìn)行觸摸性能測(cè)試的步驟。

本實(shí)施例中可選地，位于最外側(cè)的輔助觸摸結(jié)構(gòu)中的連接板5的外側(cè)設(shè)置有對(duì)接結(jié)構(gòu)6，對(duì)接結(jié)構(gòu)6用于與觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)的觸摸筆連接部進(jìn)行對(duì)接。

本發(fā)明實(shí)施例二提供了一種觸摸筆，當(dāng)該觸摸筆與觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)上的觸摸筆連接部連接時(shí)，可在無(wú)需切換觸摸筆連接部上的觸摸筆的情況下，通過(guò)調(diào)整與第一接觸底面齊平的第二接觸底面的數(shù)量，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)觸摸筆的測(cè)試底面的尺寸的變換，以滿足不同的測(cè)試需求。由于本發(fā)明的技術(shù)方案可使得觸摸測(cè)試中所需要的觸摸筆數(shù)量減小，因而可有效降低測(cè)試成本；與此同時(shí)，由于換觸摸筆連接部上的觸摸筆無(wú)需進(jìn)行切換，因而可有效縮短測(cè)試周期。

實(shí)施例三

本發(fā)明實(shí)施例三提供了一種觸摸測(cè)試裝置，該觸摸測(cè)試裝置包括：觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)和觸摸筆，其中該觸摸筆采用上述實(shí)施例一或?qū)嵤├械挠|摸筆，具體描述可上述實(shí)施例一和實(shí)施例二中的內(nèi)容，此處不再贅述。

實(shí)施例四

圖4為本發(fā)明實(shí)施例四提供的一種觸摸測(cè)試方法的流程圖，如圖4所示，該觸摸測(cè)試方法基于觸摸測(cè)試裝置，該觸摸測(cè)試裝置包括：觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)和觸摸筆，該觸摸筆采用上述實(shí)施例一或?qū)嵤├械挠|摸筆，該觸摸測(cè)試方法包括：

步驟101、將觸摸筆與觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)的觸摸筆連接部固定，觸摸筆與觸摸屏垂直。

步驟102、根據(jù)測(cè)試需求調(diào)節(jié)，按照由內(nèi)至外的順序，依次將相應(yīng)數(shù)量的輔助觸摸結(jié)構(gòu)中的圍壁的第二接觸底面與第一接觸底面齊平。

在步驟102中，可根據(jù)測(cè)試需求，由內(nèi)至外依次將相應(yīng)數(shù)量的輔助觸摸結(jié)構(gòu)的位置進(jìn)行調(diào)整，并使得被調(diào)整的輔助觸摸結(jié)構(gòu)的圍壁的第二接觸底面與第一接觸底面齊平，此時(shí)該第一接觸底面以及與第一接觸底面齊平的全部第二接觸底面構(gòu)成測(cè)試底面，以供進(jìn)行觸摸性能測(cè)試。

步驟103、利用測(cè)試底面對(duì)觸摸屏進(jìn)行觸摸性能測(cè)試。

本發(fā)明實(shí)施例四提供了一種觸摸測(cè)試方法，可在無(wú)需切換觸摸筆連接部上的觸摸筆的情況下，通過(guò)調(diào)整與第一接觸底面齊平的第二接觸底面的數(shù)量，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)觸摸筆的測(cè)試底面的尺寸的變換，以滿足不同的測(cè)試需求。由于本發(fā)明的技術(shù)方案可使得觸摸測(cè)試中所需要的觸摸筆數(shù)量減小，因而可有效降低測(cè)試成本；與此同時(shí)，由于換觸摸筆連接部上的觸摸筆無(wú)需進(jìn)行切換，因而可有效縮短測(cè)試周期。

實(shí)施例五

圖5為本發(fā)明實(shí)施例五提供的一種觸摸測(cè)試方法的流程圖，如圖5所示，該觸摸測(cè)試方法基于觸摸測(cè)試裝置，該觸摸測(cè)試裝置包括：觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)和觸摸筆，該觸摸筆采用上述實(shí)施例二中的觸摸筆，且任意兩個(gè)連接板之間以及位于最內(nèi)側(cè)的連接板與觸摸柱之間，均設(shè)置有彈力結(jié)構(gòu)；當(dāng)全部圍壁的第二接觸底面運(yùn)動(dòng)至與觸摸柱的第一接觸底面齊平的位置時(shí)，各彈力結(jié)構(gòu)均處于壓縮狀態(tài)；對(duì)于任一輔助觸摸結(jié)構(gòu)，位于其內(nèi)側(cè)的彈力結(jié)構(gòu)的彈性模量小于位于其外側(cè)的彈力結(jié)構(gòu)的彈性模塊。該觸摸測(cè)試方法包括：

步驟101、將觸摸筆與觸摸屏自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)的觸摸筆連接部固定，觸摸筆與觸摸屏垂直。

步驟102a、根據(jù)測(cè)試需求從預(yù)先設(shè)置的對(duì)應(yīng)關(guān)系表查詢出對(duì)應(yīng)的操作距離，操作距離為觸摸筆的頂部與觸摸屏之間的距離。

其中，該記載有觸摸筆的測(cè)試底面的尺寸與操作距離之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系的對(duì)應(yīng)關(guān)系表，可以通過(guò)預(yù)先實(shí)驗(yàn)獲得。

步驟102b、根據(jù)查詢出的結(jié)果，驅(qū)動(dòng)觸摸筆運(yùn)動(dòng)至對(duì)應(yīng)位置，觸摸柱與觸摸屏接觸，觸摸筆中按照由內(nèi)至外的順序，相應(yīng)數(shù)量的輔助觸摸結(jié)構(gòu)的圍壁的第二接觸底面依次與觸摸屏接觸。

其中，第一接觸底面以及與觸摸屏接觸的全部第二接觸底面構(gòu)成測(cè)試底面。需要說(shuō)明的是，對(duì)于本實(shí)施例中利用操作距離以調(diào)節(jié)測(cè)試底面尺寸的原理可參見(jiàn)前述實(shí)施例二中的相應(yīng)內(nèi)容，此處不再贅述。

步驟103、利用測(cè)試底面對(duì)觸摸屏進(jìn)行觸摸性能測(cè)試。

本發(fā)明實(shí)施例五提供了一種觸摸測(cè)試方法，可在無(wú)需切換觸摸筆連接部上的觸摸筆的情況下，通過(guò)調(diào)整與觸摸屏接觸的第二接觸底面的數(shù)量，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)觸摸筆的測(cè)試底面的尺寸的變換，以滿足不同的測(cè)試需求。由于本發(fā)明的技術(shù)方案可使得觸摸測(cè)試中所需要的觸摸筆數(shù)量減小，因而可有效降低測(cè)試成本；與此同時(shí)，由于換觸摸筆連接部上的觸摸筆無(wú)需進(jìn)行切換，因而可有效縮短測(cè)試周期

可以理解的是，以上實(shí)施方式僅僅是為了說(shuō)明本發(fā)明的原理而采用的示例性實(shí)施方式，然而本發(fā)明并不局限于此。對(duì)于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言，在不脫離本發(fā)明的精神和實(shí)質(zhì)的情況下，可以做出各種變型和改進(jìn)，這些變型和改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。