本發(fā)明涉及耦合檢波領(lǐng)域,特別涉及一種耦合檢波器。
背景技術(shù):
功率反射計(jì)通常用于測量射頻(RF)或微波頻率(MW)信號(hào)的功率。典型的功率反射計(jì)使用功率檢測器或換能器,以便將RF或MW功率轉(zhuǎn)換為可容易測量的電參量。功率反射計(jì)在許多類型的 RF和MW系統(tǒng)中也具有應(yīng)用。
耦合器作為射頻功率反射計(jì)中的關(guān)鍵部件,在很大程度上影響測量精度,當(dāng)所測量的功率的動(dòng)態(tài)范圍大,同時(shí)為了確保極小的插入損耗,因此在小功率測量時(shí)耦合到檢波二極管上的信號(hào)非常微弱,現(xiàn)有的耦合檢波器不能得到精度較高的測量結(jié)果。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明在于克服現(xiàn)有技術(shù)的上述不足,提供一種能夠提高測量精度的耦合檢波器。
為了實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:
一種耦合檢波器,其特征在于,包括反向功率耦合器、正向功率耦合器,反向檢波二極管電路、正向檢波二極管電路;
所述反向功率耦合器與正向功率耦合器均連接被測負(fù)載,用于測量被測負(fù)載的正向功率數(shù)據(jù)與反向功率數(shù)據(jù);
所述反向功率耦合器連接所述反向檢波二極管,所述正向功率耦合器連接所述正向檢波二極管,用于對所述正向功率數(shù)據(jù)與反向功率數(shù)據(jù)進(jìn)行檢波處理,并將處理后的數(shù)據(jù)進(jìn)行輸出。
進(jìn)一步地,所述反向功率耦合器與正向功率耦合器均為定向耦合器。
進(jìn)一步地,所述定向耦合器為同軸耦合方式。
進(jìn)一步地,所述反向檢波二極管與正向檢波二極管均為肖特基二極管。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果
本發(fā)明的耦合檢波器采用雙耦合技術(shù),并在每個(gè)耦合端口連接對應(yīng)的檢波二極管電路使得在當(dāng)所測量的功率的動(dòng)態(tài)范圍大時(shí),能夠確保極小的插入損耗,并對小功率測量時(shí)耦合到檢波二極管上的信號(hào)非常微弱進(jìn)行精確的測量,提高了測量精度。
附圖說明
圖1所示是本發(fā)明的耦合檢波器的模塊框圖。
圖2所示是本發(fā)明的檢波二極管小信號(hào)輸入的i—v特性。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合具體實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。但不應(yīng)將此理解為本發(fā)明上述主題的范圍僅限于以下的實(shí)施例,凡基于本發(fā)明內(nèi)容所實(shí)現(xiàn)的技術(shù)均屬于本發(fā)明的范圍。
實(shí)施例1:
圖1所示是本發(fā)明的耦合檢波器的模塊框圖,包括反向功率耦合器、正向功率耦合器,反向檢波二極管電路、正向檢波二極管電路;
所述反向功率耦合器與正向功率耦合器均連接被測負(fù)載,用于測量被測負(fù)載的正向功率數(shù)據(jù)與反向功率數(shù)據(jù);
所述反向功率耦合器連接所述反向檢波二極管,所述正向功率耦合器連接所述正向檢波二極管,用于對所述正向功率數(shù)據(jù)與反向功率數(shù)據(jù)進(jìn)行檢波處理,并將處理后的數(shù)據(jù)進(jìn)行輸出。
在一個(gè)具體實(shí)施方式中,所述反向功率耦合器與正向功率耦合器均為定向耦合器。
在一個(gè)具體實(shí)施方式中,所述定向耦合器為同軸耦合方式。
在一個(gè)具體實(shí)施方式中,所述反向檢波二極管與正向檢波二極管均為肖特基二極管。
具體的,定向耦合器是射頻功率反射計(jì)中的關(guān)鍵部件,采用同軸耦合方式,對于正向信號(hào)來說,耦合信號(hào)會(huì)在正向端口相互疊加,而在反向端口相互抵消。本發(fā)明采用雙定向耦合技術(shù),具有正向和反向兩個(gè)耦合部分,電路采取對稱結(jié)構(gòu),以保證信號(hào)的一致性。本發(fā)明是通過式功率計(jì),一個(gè)重要特點(diǎn)就是能夠在測量時(shí)不影響被測件的正常工作,定向耦合器的駐波比和插入損耗指標(biāo)就決定了測量過程中對信號(hào)的影響程度;定向耦合器的耦合度,它決定了檢波電路的信號(hào)大小,是能夠在實(shí)際需要的帶寬范圍內(nèi),滿足對最小功率和最大功率測量范圍的重要因素;定向耦合器的方向性指標(biāo),在很大程度上影響測量精度。
本發(fā)明采用檢波二極管進(jìn)行檢波,高頻二極管起始于點(diǎn)接觸技術(shù),但是點(diǎn)接觸二極管極為脆弱、不可重復(fù),且隨時(shí)間變化。隨著技術(shù)的發(fā)展,又產(chǎn)生了低勢壘肖特基(LBS)二極管技術(shù),這使其具有金屬——半導(dǎo)體結(jié)的二極管廣泛應(yīng)用于微波頻率,且堅(jiān)固耐用,重復(fù)性和可靠性也很高。這種二極管小信號(hào)輸入的i—v特性如圖2所示,其在原點(diǎn)附近的曲線表現(xiàn)為平方率區(qū)。
在數(shù)學(xué)上,檢波二極管服從于二極管方程
i=Is(eaV-1)
式中:a=q/nKT,
i是二極管電流:
V是跨在二極管上的凈電壓;
K是波爾茲曼常數(shù):
T是絕對溫度;
q是電子電荷;
n是適應(yīng)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的修正常數(shù)。
Is是飽和電流,且在給定溫度下為常數(shù);
為了更好的分析整流作用,常將上式寫成冪級(jí)數(shù)的形式:
i=Is[aV+(aV)2/2!+(aV)3/3!+…]
正是這一級(jí)數(shù)的二次及其它偶次項(xiàng)提供了整流作用。對于小信號(hào)的情況,只有二次項(xiàng)有意義,從而稱該二極管工作在平方律區(qū)域。在這一區(qū)域,輸出I(因而輸出v)正比于射頻輸入電壓的平方。當(dāng)v高得使四次項(xiàng)乃至更高次項(xiàng)變得重要時(shí),二極管的響應(yīng)便不再處于平方律區(qū),此后按準(zhǔn)平方律i—v區(qū)的規(guī)律整流,這個(gè)區(qū)域也稱為過渡區(qū)。在這個(gè)區(qū)域以上便進(jìn)入了線性檢波區(qū)(輸出V正比于輸入V)。
本項(xiàng)目所測功率的動(dòng)態(tài)范圍大,同時(shí)為了確保極小的插入損耗,因此在小功率測量時(shí)耦合到檢波二極管上的信號(hào)非常微弱,本發(fā)明應(yīng)用的檢波二極管其工作范圍包含了平方律檢波區(qū)、過渡區(qū)和線性檢波區(qū)。在一個(gè)完整的實(shí)施方式中,為獲得更加準(zhǔn)確的測量功率,后續(xù)還應(yīng)對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行線性校準(zhǔn)、頻響校準(zhǔn)和溫度補(bǔ)償,在此不再贅述。
上面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實(shí)施方式進(jìn)行了詳細(xì)說明,但本發(fā)明并不限制于上述實(shí)施方式,在不脫離本申請的權(quán)利要求的精神和范圍情況下,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以作出各種修改或改型。