1.一種仿真方法，其特征在于，包括：
將設(shè)計完成的電路圖按照所述電路圖中的元器件的連接關(guān)系在仿真軟件中連接，以在所述仿真軟件中構(gòu)成待測試電路，其中，所述電路為單端正激勵變換器，
所述單端正激勵變換器中通過開關(guān)的周期性地通斷使所述單端正激勵變換器產(chǎn)生輸出；
通過輸入控件為所述仿真軟件中的元器件配置參數(shù)值；
通過所述輸入控件輸入所述開關(guān)的多個導(dǎo)通比；
在所述仿真軟件的所述電路對應(yīng)的位置設(shè)置參數(shù)檢查點；
依次根據(jù)所述多個導(dǎo)通比中的每一個導(dǎo)通比觸發(fā)所述仿真軟件中的所述待測試電路工作，并記錄所述每一個導(dǎo)通比下的參數(shù)檢查點輸出的參數(shù)；
根據(jù)所述參數(shù)檢查點輸出的參數(shù)確定所述電路工作是否正常。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述仿真軟件的所述電路對應(yīng)的位置設(shè)置參數(shù)檢查點包括：
在所述電路的一次繞組設(shè)置第一參數(shù)檢查點，其中，所述第一參數(shù)檢查點用于檢測所述電路的一次繞組電壓。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述仿真軟件的所述電路對應(yīng)的位置設(shè)置參數(shù)檢查點包括：
在所述電路的二次繞組設(shè)置第二參數(shù)檢查點，其中，所述第二參數(shù)檢查點用于檢測所述電路的二次繞組電壓。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的方法，其特征在于，在所述仿真軟件的所述電路對應(yīng)的位置設(shè)置參數(shù)檢查點包括：
在所述電路的一次繞組和/或二次繞組設(shè)置第三參數(shù)檢查點，其中，所述第三參數(shù)檢查點用于檢測所述電路的一次繞組和/或二次繞組的電流。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，
所述方法還包括：使用圖像化展示所述參數(shù)檢查點輸出的參數(shù)；
根據(jù)所述參數(shù)檢查點輸出的參數(shù)確定所述電路工作是否正常包括：將圖像化的所述參數(shù)與預(yù)先配置的圖形進行比對，根據(jù)圖像化的所述參數(shù)與所述預(yù)先配置的圖形的差別確定所述電路工作是否正常。
6.一種仿真裝置，其特征在于，包括：
連接單元，用于將設(shè)計完成的電路圖按照所述電路圖中的元器件的連接關(guān)系在仿真軟件中連接，以在所述仿真軟件中構(gòu)成待測試電路，其中，所述電路為單端正激勵變換器，所述單端正激勵變換器中包括開關(guān)的周期接通使所述單端正激勵變換器產(chǎn)生輸出；
配置單元，用于通過輸入控件為所述仿真軟件中的元器件配置參數(shù)值；
輸入單元，用于通過所述輸入控件輸入所述開關(guān)的多個導(dǎo)通比；
設(shè)置單元，用于在所述仿真軟件的所述電路對應(yīng)的位置設(shè)置參數(shù)檢查點；
觸發(fā)單元，用于依次根據(jù)所述多個導(dǎo)通比中的每一個導(dǎo)通比觸發(fā)所述仿真軟件中的所述待測試電路工作，并記錄所述每一個導(dǎo)通比下的參數(shù)檢查點輸出的參數(shù)；
確定單元，用于根據(jù)所述參數(shù)檢查點輸出的參數(shù)確定所述電路工作是否正常。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述設(shè)置單元包括：
第一設(shè)置模塊，用于在所述電路的一次繞組設(shè)置第一參數(shù)檢查點，其中，所述第一參數(shù)檢查點用于檢測所述電路的一次繞組電壓。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述設(shè)置單元包括：
第二設(shè)置模塊，用于在所述電路的二次繞組設(shè)置第二參數(shù)檢查點，其中，所述第二參數(shù)檢查點用于檢測所述電路的二次繞組電壓。
9.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的裝置，其特征在于，所述設(shè)置單元包括：
第三設(shè)置模塊，用于在所述電路的一次繞組和/或二次繞組設(shè)置第三參數(shù)檢查點，其中，所述第三參數(shù)檢查點用于檢測所述電路的一次繞組和/或二次繞組的電流。
10.根據(jù)權(quán)利要求6至8中任一項所述的裝置，其特征在于，
所述裝置還包括：展示單元，用于使用圖像化展示所述參數(shù)檢查點輸出的參數(shù)；
所述確定單元具體用于：將圖像化的所述參數(shù)與預(yù)先配置的圖形進行比對，根據(jù)圖像化的所述參數(shù)與所述預(yù)先配置的圖形的差別確定所述電路工作是否正常。