1.一種AOI測試參數(shù)的調(diào)整方法，其特征在于，包括：
在顯示界面顯示被檢測設(shè)備的AOI測試結(jié)果，標記出所檢測到的問題器件；
檢測是否獲取到對其中一個問題器件的參數(shù)調(diào)整指令；
若是，則根據(jù)所述參數(shù)調(diào)整指令在所述顯示界面上同時顯示與所述問題器件對應(yīng)的參數(shù)設(shè)置表；
獲取在所述參數(shù)設(shè)置表內(nèi)輸入的測試參數(shù)，并更新所述問題器件的測試參數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述更新所述問題器件的測試參數(shù)的步驟之后，還包括：
根據(jù)更新的測試參數(shù)進行AOI測試，并輸出AOI測試結(jié)果至顯示界面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述檢測是否獲取到對其中一個問題器件的參數(shù)調(diào)整指令的步驟之前，還包括：
預(yù)先設(shè)置被檢測設(shè)備的每一器件的參數(shù)設(shè)置表，建立被檢測設(shè)備、被檢測設(shè)備的每一器件以及參數(shù)設(shè)置表的對應(yīng)關(guān)系。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述檢測是否獲取到對其中一個問題器件的參數(shù)調(diào)整指令的步驟之前，還包括：
預(yù)先設(shè)置參數(shù)調(diào)整指令并保存。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在在于，所述參數(shù)設(shè)置表懸浮顯示在所述顯示界面上。
6.一種AOI測試參數(shù)的調(diào)整裝置，其特征在于，包括：
標記模塊，用于在顯示界面顯示被檢測設(shè)備的AOI測試結(jié)果，標記出所檢測到的問題器件；
檢測模塊，用于檢測是否獲取到對其中一個所述問題器件的參數(shù)調(diào)整指令；
參數(shù)處理模塊，用于在檢測模塊的檢測結(jié)果為是時，根據(jù)所述參數(shù)調(diào)整指令在顯示界面上同時顯示與所述問題器件對應(yīng)的參數(shù)設(shè)置表；
更新模塊，用于獲取在所述參數(shù)設(shè)置表內(nèi)輸入的測試參數(shù)，并更新所述問題器件的測試參數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，還包括：
測試模塊，用于根據(jù)更新的測試參數(shù)進行AOI測試，并輸出AOI測試結(jié)果至顯示界面。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，還包括：
設(shè)置模塊，用于設(shè)置預(yù)先設(shè)置被檢測設(shè)備的每一器件的參數(shù)設(shè)置表，建立被檢測設(shè)備、被檢測設(shè)備的每一器件以及參數(shù)設(shè)置表的對應(yīng)關(guān)系。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，還包括：
存儲模塊，用于設(shè)置參數(shù)調(diào)整指令并保存。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在在于，所述參數(shù)處理模塊將所述參數(shù)設(shè)置表懸浮顯示在所述顯示界面上。