技術(shù)編號：12112779
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電子元器件生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種AOI測試參數(shù)的調(diào)整方法和裝置。背景技術(shù)AOI(AutomaticOpticInspection，自動光學(xué)檢測)，是基于光學(xué)原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測的設(shè)備。其通過利用普通光線和激光掃描被檢測設(shè)備得到被檢測設(shè)備的圖像，將被檢測設(shè)備的圖像與標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行比較，檢測被檢測設(shè)備是否有加工缺陷，例如，是否偏孔，導(dǎo)線缺少等。然而在生產(chǎn)過程中，各種元器件種類繁多，比如，同型號的電容，其包裝文字位置會有些許差異。因此，在檢測時，需要針對不同的元器件調(diào)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。