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一種顯示裝置的靜電放電檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法與流程

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一種顯示裝置的靜電放電檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法與流程

本發(fā)明屬于顯示技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種顯示裝置的靜電放電檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法。



背景技術(shù):

靜電放電(Electro-Static discharge,ESD)是指具有不同靜電電位的物體互相靠近或直接接觸引起的電荷轉(zhuǎn)移。靜電放電是非常常見(jiàn)也很難避免的現(xiàn)象。

液晶顯示裝置在生產(chǎn)及使用中,容易受到超過(guò)自身元器件承受能力的靜電放電沖擊,并在產(chǎn)品無(wú)法耗散或釋放電荷時(shí),造成部分抗ESD閾值低的器件失效。因此,靜電放電會(huì)導(dǎo)致液晶顯示裝置良率降低,成本增加,產(chǎn)能下降,故在顯示裝置生產(chǎn)中需要進(jìn)行ESD測(cè)試,以確保顯示裝置不會(huì)因?yàn)镋SD而造成系統(tǒng)故障。

發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下問(wèn)題:目前檢測(cè)液晶顯示裝置的ESD主要是靠人工檢測(cè)來(lái)完成,由于該測(cè)試過(guò)程比較繁瑣,耗時(shí)耗力,空氣放電時(shí),檢測(cè)的槍頭與顯示裝置的距離人工把握不是很準(zhǔn)確,會(huì)造成測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有的檢測(cè)液晶顯示裝置的ESD過(guò)程繁瑣,測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確的問(wèn)題,提供一種顯示裝置的靜電放電檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法。

解決本發(fā)明技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是:

一種顯示裝置的靜電放電檢測(cè)裝置,包括:

放電模塊;用于對(duì)顯示裝置的待檢測(cè)位置施放第一電壓;

位移模塊;所述位移模塊與所述放電模塊連接,用于將所述放電模塊移動(dòng)至顯示裝置的待檢測(cè)位置;

圖像處理模塊;用于采集所述待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像;

導(dǎo)電模塊,用于將放電模塊施放的所述待檢測(cè)位置的第一電壓導(dǎo)出;

控制模塊,所述控制模塊與位移模塊、圖像處理模塊、導(dǎo)電模塊連接,用于控制位移模塊、圖像處理模塊、導(dǎo)電模塊運(yùn)行。

優(yōu)選的是,所述圖像處理模塊包括預(yù)存單元,用于預(yù)存正常圖像;所述圖像處理模塊將采集的所述待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像與所述正常圖像對(duì)比,并判斷待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像是否正常。

優(yōu)選的是,所述導(dǎo)電模塊包括靜電刷。

優(yōu)選的是,所述檢測(cè)裝置還包括記錄模塊,所述記錄模塊與所述圖像處理模塊連接,用于將圖像處理模塊判斷的待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像不正常時(shí)所對(duì)應(yīng)的待檢測(cè)位置進(jìn)行記錄。

本發(fā)明還提供一種顯示裝置的靜電放電檢測(cè)方法,包括以下步驟:

S1、在控制模塊的控制下,位移模塊將放電模塊移動(dòng)至顯示裝置的一個(gè)待檢測(cè)位置;

S2、放電模塊對(duì)所述待檢測(cè)位置施放第一電壓;

S3、圖像處理模塊采集待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像,并判斷待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像是否正常;若待檢測(cè)顯示裝置出現(xiàn)無(wú)法恢復(fù)的異常,則結(jié)束檢測(cè);若待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像正常,或者,待檢測(cè)顯示裝置出現(xiàn)可以恢復(fù)的異常,,則進(jìn)行下一步驟;

S4、導(dǎo)電模塊將所述待檢測(cè)位置的第一電壓導(dǎo)出;

S5、重復(fù)步驟S2-S4 3-10次;

S6、位移模塊將放電模塊移動(dòng)至另一個(gè)待檢測(cè)位置,重復(fù)步驟S2-S5直至完成所有待檢測(cè)位置的檢測(cè);

S7、改變第一電壓值重復(fù)步驟S1-S6。

優(yōu)選的是,還包括向圖像處理模塊預(yù)存的正常圖像的步驟;步驟S3所述判斷待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像是否正常是將所述采集的待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像與圖像處理模塊預(yù)存的正常圖像對(duì)比,,并判斷待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像是否正常。

優(yōu)選的是,還包括記錄模塊將圖像處理模塊判斷的待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像不正常時(shí)所對(duì)應(yīng)的待檢測(cè)位置進(jìn)行記錄的步驟。

優(yōu)選的是,步驟S3還包括判斷待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像正?;虍惓5燃?jí)的步驟,所述判斷的方法為:若待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像正常,則判定為A級(jí)正常;若待檢測(cè)顯示裝置出現(xiàn)異常,但能夠自動(dòng)恢復(fù),則判定為B級(jí)異常;若待檢測(cè)顯示裝置出現(xiàn)異常,無(wú)法自動(dòng)恢復(fù),需要手動(dòng)恢復(fù)或重啟恢復(fù),則判定為C級(jí)異常;若待檢測(cè)顯示裝置出現(xiàn)異常,自動(dòng)或手動(dòng)或重啟都無(wú)法恢復(fù),判定為D級(jí)異常。

優(yōu)選的是,步驟S2所述施放第一電壓包括接觸放電、空氣放電中的任一種。

優(yōu)選的是,所述接觸放電電壓值范圍為0~±12kV;所述空氣放電電壓值范圍為0~±18kV。

本發(fā)明的顯示裝置的靜電放電檢測(cè)裝置中,位移模塊與放電模塊連接,將所述放電模塊移動(dòng)至顯示裝置的待檢測(cè)位置,可以準(zhǔn)確控制測(cè)試位置。圖像處理模塊采集待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像,判斷待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像是否正常,判斷客觀、準(zhǔn)確;節(jié)省人工操作,還方便對(duì)不良產(chǎn)品進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。本發(fā)明的顯示裝置的靜電放電檢測(cè)裝置適用于檢測(cè)各種液晶顯示裝置。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明的實(shí)施例1的顯示裝置的靜電放電檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2為本發(fā)明的實(shí)施例2的顯示裝置的靜電放電檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖3為本發(fā)明的實(shí)施例3的顯示裝置的靜電放電檢測(cè)方法的流程示意圖;

圖4為本發(fā)明的實(shí)施例3的顯示裝置的靜電放電位置示意圖;

其中,附圖標(biāo)記為:10、顯示裝置;11、芯片;12、柔性線路板;1、放電模塊;2、位移模塊;3、圖像處理模塊;4、導(dǎo)電模塊;5、控制模塊;6、記錄模塊。

具體實(shí)施方式

為使本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案,下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述。

實(shí)施例1:

本實(shí)施例提供一種顯示裝置10的靜電放電檢測(cè)裝置,如圖1所示,包括放電模塊1、位移模塊2、圖像處理模塊3、導(dǎo)電模塊4以及控制模塊5。

其中,放電模塊1用于對(duì)顯示裝置10的待檢測(cè)位置施放第一電壓;位移模塊2與所述放電模塊1連接,用于將所述放電模塊1移動(dòng)至顯示裝置10的待檢測(cè)位置;圖像處理模塊3用于采集所述待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像;導(dǎo)電模塊4,用于將放電模塊1施放的所述待檢測(cè)位置的第一電壓導(dǎo)出;控制模塊5與位移模塊2、圖像處理模塊3、導(dǎo)電模塊4連接,用于控制位移模塊2、圖像處理模塊3、導(dǎo)電模塊4運(yùn)行。

本實(shí)施例的顯示裝置10的靜電放電檢測(cè)裝置中,位移模塊2與放電模塊1連接,將所述放電模塊1移動(dòng)至顯示裝置10的待檢測(cè)位置,通過(guò)控制模塊5控制位移模塊2,位移模塊2將放電模塊準(zhǔn)確移動(dòng)到測(cè)試位置。圖像處理模塊3采集待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像,人工根據(jù)采集的圖像即可快速判斷待檢測(cè)顯示裝置是否正常,判斷客觀、準(zhǔn)確;機(jī)械控制,節(jié)省人工操作,還方便對(duì)不良產(chǎn)品進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。本發(fā)明的顯示裝置10的靜電放電檢測(cè)裝置適用于檢測(cè)各種液晶顯示裝置10。

實(shí)施例2:

本實(shí)施例提供一種顯示裝置10的靜電放電檢測(cè)裝置,如圖2所示,包括放電模塊1、位移模塊2、圖像處理模塊3、導(dǎo)電模塊4、記錄模塊6以及控制模塊5。

其中,放電模塊1;用于對(duì)顯示裝置10的待檢測(cè)位置施放第一電壓;位移模塊2與所述放電模塊1連接,用于將所述放電模塊1移動(dòng)至顯示裝置10的待檢測(cè)位置;圖像處理模塊3用于采集所述待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像;導(dǎo)電模塊4用于將放電模塊1施放的所述待檢測(cè)位置的第一電壓導(dǎo)出;控制模塊5與位移模塊2、圖像處理模塊3、導(dǎo)電模塊4連接,用于控制位移模塊2、圖像處理模塊3、導(dǎo)電模塊4運(yùn)行;記錄模塊6與所述圖像處理模塊3連接,用于將圖像處理模塊3判斷的待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像不正常時(shí)所對(duì)應(yīng)的待檢測(cè)位置進(jìn)行記錄。

優(yōu)選的是,所述圖像處理模塊3包括預(yù)存單元,用于預(yù)存顯示裝置10的正常圖像;所述圖像處理模塊將采集的所述待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像與所述正常圖像對(duì)比,并判斷待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像是否正常

也就是說(shuō),圖像處理模塊3采集待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像后通過(guò)與預(yù)存的顯示裝置10的正常圖像做對(duì)比來(lái)判斷待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像是否正常,這樣的判斷結(jié)果更客觀、更準(zhǔn)確。具體的,圖像處理模塊3包括照相機(jī)或攝像頭等設(shè)備,采用這些設(shè)備拍攝圖像,且在拍攝圖像過(guò)程中應(yīng)避免外界環(huán)境光線的干擾,保證圖像采集的數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。具體的,圖像處理模塊3還包括圖像處理器等來(lái)分析判斷待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像是否正常。

優(yōu)選的是,所述導(dǎo)電模塊4包括靜電刷。

也就是說(shuō),放電模塊1每次放電前,都要使用靜電刷刷在顯示裝置10的GND區(qū)域,將電荷導(dǎo)出,確保每次放電電荷不累加,以使測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確。需要說(shuō)明的是,顯示裝置10采用上述的靜電刷將靜電導(dǎo)出,還可以通過(guò)載板接地,以使電荷導(dǎo)出。

實(shí)施例3:

本實(shí)施例提供一種顯示裝置10的靜電放電檢測(cè)方法,如圖3所示,包括以下步驟:

S1、在控制模塊5的控制下,位移模塊2將放電模塊1移動(dòng)至顯示裝置10的一個(gè)待檢測(cè)位置。

需要說(shuō)明的是,如圖4所示,通常檢測(cè)一個(gè)顯示裝置10的八到十幾個(gè)位置的ESD,包括顯示面板上幾個(gè)位置(字母標(biāo)號(hào)),以及芯片11(IC)柔性線路板12(FPC)上背面漏銅區(qū)域兩個(gè)位置。具體的檢測(cè)位置的個(gè)數(shù)以及檢測(cè)位置可以根據(jù)顯示裝置10的大小以及像素等進(jìn)行改變和調(diào)整。

其中,顯示裝置10的靜電放電測(cè)試前,首先設(shè)置控制模塊5的各項(xiàng)參數(shù),例如待測(cè)試的顯示裝置10的測(cè)試點(diǎn)的個(gè)數(shù)、放電方式、放電模型、初始電壓、測(cè)試電壓增加的幅度等。

S2、放電模塊1對(duì)所述待檢測(cè)位置施放第一電壓。也就是說(shuō),控制模塊5設(shè)置好參數(shù)后,需要先將顯示裝置10點(diǎn)亮,放電裝置按照設(shè)定位置和順序進(jìn)行放電。

優(yōu)選的是,步驟S2所述施放第一電壓包括接觸放電、空氣放電中的任一種。具體的,所述接觸放電電壓值范圍為0~±8kV。所述空氣放電電壓值范圍為0~±12kV。

S3、圖像處理模塊3采集待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像,并判斷待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像是否正常;若待檢測(cè)顯示裝置出現(xiàn)無(wú)法恢復(fù)的異常,則結(jié)束檢測(cè);若待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像正常,或者,待檢測(cè)顯示裝置出現(xiàn)可以恢復(fù)的異常,則進(jìn)行下一步驟。具體的,所述判斷待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像是否正常是將所述采集的待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像與圖像處理模塊3預(yù)存的正常圖像對(duì)比,并判斷待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像是否正常。

在此給出一種具體的判斷方法:若待檢測(cè)顯示裝置10顯示的圖像正常,不出現(xiàn)任何功能顯示異常,則此點(diǎn)處在這個(gè)電壓級(jí)別的結(jié)果判定為A級(jí)正常;上電測(cè)試過(guò)程中及測(cè)試結(jié)束后,顯示裝置10出現(xiàn)閃屏、漏光、變暗、顯示屏失效等顯示/功能異常,但能夠自動(dòng)恢復(fù)正常工作的狀態(tài),恢復(fù)時(shí)間為1s以內(nèi),判定為B級(jí)異常;上電測(cè)試過(guò)程中及測(cè)試結(jié)束后,顯示裝置10出現(xiàn)閃屏、漏光、變暗、TP失效等顯示/功能異常,恢復(fù)時(shí)間超過(guò)1s或無(wú)法自動(dòng)恢復(fù)正常工作的狀態(tài),需要手動(dòng)操作,比如恢復(fù)(reset)、重啟等操作才能恢復(fù)正常工作狀態(tài),此時(shí)判定為C級(jí)異常;上電測(cè)試過(guò)程中及測(cè)試結(jié)束后,顯示裝置10出現(xiàn)顯示/功能異常,形成永久性損壞,無(wú)法通過(guò)自動(dòng)恢復(fù)或者手動(dòng)操作恢復(fù)或者重啟恢復(fù),判定為D級(jí)異常,然后記錄模塊6將圖像處理模塊3判斷的待檢測(cè)顯示裝置顯示的圖像不正常時(shí)所對(duì)應(yīng)的待檢測(cè)位置進(jìn)行記錄。需要說(shuō)明的是,這里如果待檢測(cè)顯示裝置被判定為D級(jí)異常,則結(jié)束檢測(cè)。

S4、導(dǎo)電模塊4將所述待檢測(cè)位置的第一電壓導(dǎo)出。也就是說(shuō),放電模塊1每次放電前,都要使用靜電刷刷在顯示裝置10的GND區(qū)域,將電荷導(dǎo)出,確保每次放電電荷不累加,以使測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確。需要說(shuō)明的是,顯示裝置10不能直接與大地相連;可以理解的是,顯示裝置10還可以通過(guò)載板接地,以使電荷導(dǎo)出。

S5、重復(fù)步驟S2-S4 3-10次。

S6、位移模塊2將放電模塊1移動(dòng)至另一個(gè)待檢測(cè)位置,重復(fù)步驟S2-S5直至完成所有待檢測(cè)位置的檢測(cè);

S7、改變第一電壓值重復(fù)步驟S1-S6。

表1可以更直觀的看出某顯示裝置10具體的測(cè)試流程。也就是說(shuō),在ESD測(cè)試過(guò)程中,如圖中S7a、S7b、S7c的流程所示,測(cè)試是從0開(kāi)始,逐漸增加施加的第一電壓,若顯示裝置10能通過(guò)2kV的電壓,則將第一電壓增加為4kV。需要說(shuō)明的是,第一電壓包括正負(fù)兩性的,即逐漸增加施加的第一電壓是從0開(kāi)始,逐漸增加至正負(fù)12kV的絕對(duì)值。其中,對(duì)10個(gè)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸放電測(cè)試及空氣放電測(cè)試,每個(gè)測(cè)試點(diǎn),每個(gè)電壓值放電10次,相鄰的兩次放電的時(shí)間間隔應(yīng)大于顯示裝置10自動(dòng)恢復(fù)正常工作狀態(tài)以及電荷導(dǎo)出的時(shí)間,通常根據(jù)實(shí)際操作可控制在幾秒范圍內(nèi)。

表1

顯然,上述各實(shí)施例的具體實(shí)施方式還可進(jìn)行許多變化;例如:第一電壓值以及其增加的幅度等可以根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整。

可以理解的是,以上實(shí)施方式僅僅是為了說(shuō)明本發(fā)明的原理而采用的示例性實(shí)施方式,然而本發(fā)明并不局限于此。對(duì)于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言,在不脫離本發(fā)明的精神和實(shí)質(zhì)的情況下,可以做出各種變型和改進(jìn),這些變型和改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。

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