技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種用于快中子通量的測(cè)量裝置及其測(cè)量方法，其中測(cè)量方法包括以下步驟：利用高密度聚乙烯層和鈦層將快中子轉(zhuǎn)換成次級(jí)光子；采集包含鈦能量為4.51keV的特征X射線的次級(jí)光子；分析處理采集的信號(hào)；分析并顯示出入射快中子通量。本發(fā)明利用多道分析器接收中子與高密度聚乙烯層和鈦層反應(yīng)生成的次級(jí)光子，通過分析所獲取次級(jí)光子中鈦的能量為4.51keV的特征X射線全能峰的計(jì)數(shù)來測(cè)量快中子通量。該方法具有中子通量測(cè)量精度高的優(yōu)點(diǎn)。

技術(shù)研發(fā)人員：單卿;孔智靈;賈文寶;凌永生;黑大千
受保護(hù)的技術(shù)使用者：南京航空航天大學(xué)
文檔號(hào)碼：201610646311
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.08
技術(shù)公布日：2016.12.07