本發(fā)明的實(shí)施方式涉及掃描鏈測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，本發(fā)明的實(shí)施方式涉及一種用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的裝置、芯片及方法。

背景技術(shù)：

本部分旨在為權(quán)利要求書(shū)中陳述的本發(fā)明的實(shí)施方式提供背景或上下文。此處的描述不因?yàn)榘ㄔ诒静糠种芯统姓J(rèn)是現(xiàn)有技術(shù)。

掃描鏈測(cè)試是可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)的一種重要方法，這種方法能夠從芯片外部設(shè)定電路中各個(gè)觸發(fā)器的狀態(tài)，并通過(guò)簡(jiǎn)單的掃描鏈設(shè)計(jì)，掃描觀測(cè)觸發(fā)器是否工作在正常狀態(tài)，以此來(lái)檢測(cè)電路的正確性。

隨著集成電路設(shè)計(jì)規(guī)模的逐步增大，掃描鏈測(cè)試中同時(shí)翻轉(zhuǎn)的電路數(shù)量越來(lái)越多，這可能會(huì)引起測(cè)試中瞬態(tài)電流增大，造成許多不可預(yù)測(cè)的錯(cuò)誤發(fā)生，甚至燒毀芯片。為了避免這些情況，可在掃描鏈測(cè)試過(guò)程中動(dòng)態(tài)調(diào)整芯片的模式，每種模式下，芯片所集成的各個(gè)硬核會(huì)有特定的狀態(tài)(例如處于工作狀態(tài)或關(guān)閉狀態(tài))，不同的模式下，硬核的狀態(tài)可能不同。

另一方面，掃描鏈測(cè)試的過(guò)程可以分為移位、捕獲、測(cè)試等階段，不同階段對(duì)芯片中各種硬核的狀態(tài)有不同的要求，因此，在掃描鏈測(cè)試的不同階段，也需要對(duì)芯片的模式進(jìn)行動(dòng)態(tài)調(diào)整。

此外，硬核的狀態(tài)對(duì)芯片的電流消耗、電源驅(qū)動(dòng)能力等也有較大影響。

綜上，在掃描鏈測(cè)試中動(dòng)態(tài)地調(diào)整芯片的模式(硬核的狀態(tài))，對(duì)掃描鏈測(cè)試的過(guò)程、芯片安全、及功耗控制等具有重要的意義。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

目前已有一種利用外部端口來(lái)調(diào)整芯片模式的方法，這種方法利用外部端口提供模式控制信號(hào)，芯片內(nèi)部包含一模式控制電路，該模式控制電路連接芯片集成的各個(gè)硬核，并根據(jù)模式控制信號(hào)來(lái)調(diào)整各個(gè)硬核的狀態(tài)，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)芯片模式的轉(zhuǎn)換。

這種方法雖然能夠?qū)崿F(xiàn)在掃描鏈測(cè)試中動(dòng)態(tài)地調(diào)整芯片模式，但是卻必需借助外部端口才能進(jìn)行，并且由于一個(gè)外部端口最多只能提供兩種模式控制信號(hào)，也就只能控制芯片實(shí)現(xiàn)兩種模式的轉(zhuǎn)換，當(dāng)需要在更多模式間進(jìn)行轉(zhuǎn)換時(shí)，就需要借助更多的外部端口。而在實(shí)際的芯片生產(chǎn)中，每增加一個(gè)外部端口，需要耗費(fèi)很高的成本，掃描鏈測(cè)試的效率也會(huì)受到限制。例如，某一芯片采用8個(gè)測(cè)試端口，理論上測(cè)試機(jī)臺(tái)的64個(gè)探針可以同時(shí)并行測(cè)試8個(gè)芯片，但是實(shí)際中至少需要一個(gè)端口提供模式控制信號(hào)，這樣測(cè)試機(jī)臺(tái)的64個(gè)探針最多就只能同時(shí)測(cè)7個(gè)芯片了。

可見(jiàn)目前這種利用外部端口提供模式控制信號(hào)來(lái)實(shí)現(xiàn)在掃描鏈測(cè)試中動(dòng)態(tài)調(diào)整芯片模式的方法，存在生產(chǎn)成本高、測(cè)試效率受限等缺點(diǎn)。

為了克服以上缺點(diǎn)，本發(fā)明提供一種用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的裝置及方法。

在本發(fā)明實(shí)施方式的第一方面中，提供了一種用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的裝置，包括：一模式切換電路；

所述模式切換電路的輸入端連接第一端口和第二端口，輸出端連接芯片的模式控制電路；其中，所述第一端口為掃描時(shí)鐘端口SCAN_CLK；所述第二端口為掃描輸入端口SCAN_IN或掃描使能端口SCAN_EN；

所述模式切換電路根據(jù)所述第一端口輸出的第一信號(hào)序列確定是否進(jìn)行模式切換，當(dāng)確定進(jìn)行模式切換時(shí)，根據(jù)所述第二端口輸出的第二信號(hào)序列生成一模式控制信號(hào)并傳輸給所述模式控制電路，以使所述模式控制電路根據(jù)所述模式控制信號(hào)控制所述芯片切換至一待切換模式。

在本發(fā)明實(shí)施方式的第二方面中，提供了一種用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的方法，包括：

通過(guò)第一端口接收第一信號(hào)序列，通過(guò)第二端口接收第二信號(hào)序列；其中，所述第一端口為掃描時(shí)鐘端口SCAN_CLK，所述第二端口為掃描輸入端口SCAN_IN或掃描使能端口SCAN_EN；

根據(jù)所述第一信號(hào)序列確定是否進(jìn)行模式切換，當(dāng)確定進(jìn)行模式切換時(shí)，根據(jù)所述第二信號(hào)序列生成一模式控制信號(hào)并傳輸給芯片的模式控制電路，以使所述模式控制電路根據(jù)所述模式控制信號(hào)控制所述芯片切換至一待切換模式。

在本發(fā)明實(shí)施方式的第三方面中，提供了一種用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的裝置，包括：一模式切換電路；

所述模式切換電路的輸入端連接第一端口、第二端口和第三端口，輸出端連接芯片的模式控制電路；

其中，所述第一端口為掃描時(shí)鐘端口SCAN_CLK；所述第二端口和所述第三端口為掃描輸入端口SCAN_IN、掃描使能端口SCAN_EN中的一種，且所述第二端口和所述第三端口為不同的端口；

所述模式切換電路根據(jù)所述第一端口輸出的第一信號(hào)序列確定是否進(jìn)行模式切換，當(dāng)確定進(jìn)行模式切換時(shí)，根據(jù)所述第二端口輸出的第二信號(hào)序列和所述第三端口輸出的第三信號(hào)序列生成一模式控制信號(hào)并傳輸給所述模式控制電路，以使所述模式控制電路根據(jù)所述模式控制信號(hào)控制所述芯片轉(zhuǎn)換至一待切換模式。

在本發(fā)明實(shí)施方式的第四方面中，提供了一種用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的方法，包括：

通過(guò)第一端口接收第一信號(hào)序列，通過(guò)第二端口接收第二信號(hào)序列，通過(guò)第三端口接收第二信號(hào)序列；其中，所述第一端口為掃描時(shí)鐘端口SCAN_CLK，所述第二端口和所述第三端口為掃描輸入端口SCAN_IN、掃描使能端口SCAN_EN中的一種，且所述第二端口和所述第三端口為不同的端口；

根據(jù)所述第一信號(hào)序列確定是否進(jìn)行模式切換，當(dāng)確定進(jìn)行模式切換時(shí)，根據(jù)所述第二信號(hào)序列和所述第三信號(hào)序列生成一模式控制信號(hào)并傳輸給所述模式控制電路，以使所述模式控制電路根據(jù)所述模式控制信號(hào)控制所述芯片轉(zhuǎn)換至一待切換模式。

借助于上述技術(shù)方案，本發(fā)明利用掃描鏈測(cè)試所用的SCAN_CLK、SCAN_IN、SCAN_EN等常規(guī)端口，向模式切換電路輸入特定的信號(hào)序列，模式切換電路自動(dòng)根據(jù)這些信號(hào)序列確定是否進(jìn)行模式切換，以及確定需要切換至哪一種模式，即，本發(fā)明是在提供模式切換電路的基礎(chǔ)上，復(fù)用掃描鏈測(cè)試所用的常規(guī)端口，實(shí)現(xiàn)在掃描鏈測(cè)試中動(dòng)態(tài)地調(diào)整芯片的模式。本發(fā)明無(wú)需借助外部端口，只需要提供該模式切換電路即可，相比于現(xiàn)有技術(shù)，可以低成本地實(shí)現(xiàn)在掃描鏈測(cè)試中動(dòng)態(tài)地調(diào)整芯片的模式，達(dá)到降低功耗和加大驅(qū)動(dòng)能力的目的。

附圖說(shuō)明

通過(guò)參考附圖閱讀下文的詳細(xì)描述，本發(fā)明示例性實(shí)施方式的上述以及其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)將變得易于理解。在附圖中，以示例性而非限制性的方式示出了本發(fā)明的若干實(shí)施方式，其中：

圖1為本發(fā)明示例性裝置一的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明示例性裝置一的模式切換電路的一種結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為實(shí)施例一提供的模式切換電路的具體結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為實(shí)施例一中采用的測(cè)試向量的示意圖；

圖5為本發(fā)明示例性裝置二的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6為本發(fā)明示例性裝置二的模式切換電路的一種結(jié)構(gòu)示意圖；

圖7為實(shí)施例二提供的模式切換電路的具體結(jié)構(gòu)示意圖；

圖8為實(shí)施例二中采用的測(cè)試向量的示意圖；

在附圖中，相同或?qū)?yīng)的標(biāo)號(hào)表示相同或?qū)?yīng)的部分。

具體實(shí)施方式

下面將參考若干示例性實(shí)施方式來(lái)描述本發(fā)明的原理和精神。應(yīng)當(dāng)理解，給出這些實(shí)施方式僅僅是為了使本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠更好地理解進(jìn)而實(shí)現(xiàn)本發(fā)明，而并非以任何方式限制本發(fā)明的范圍。相反，提供這些實(shí)施方式是為了使本公開(kāi)更加透徹和完整，并且能夠?qū)⒈竟_(kāi)的范圍完整地傳達(dá)給本領(lǐng)域的技術(shù)人員。

示例性裝置一

本發(fā)明提供一種用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的裝置，如圖1所示，包括：一模式切換電路；該模式切換電路的輸入端連接第一端口和第二端口，輸出端連接芯片的模式控制電路。

其中，所述第一端口為掃描時(shí)鐘端口SCAN_CLK；所述第二端口為掃描輸入端口SCAN_IN或掃描使能端口SCAN_EN。

所述模式切換電路根據(jù)所述第一端口輸出的第一信號(hào)序列確定是否進(jìn)行模式切換，當(dāng)確定進(jìn)行模式切換時(shí)，根據(jù)所述第二端口輸出的第二信號(hào)序列確定待切換模式，并根據(jù)該待切換模式生成一模式控制信號(hào)，然后將該模式控制信號(hào)傳輸給所述模式控制電路，以使所述模式控制電路根據(jù)所述模式控制信號(hào)控制所述芯片切換至一待切換模式。

實(shí)際上，模式控制電路的輸出端連接芯片集成的各個(gè)硬核(例如PLL、FLASH、OCO等等)，模式控制電路是根據(jù)所述模式控制信號(hào)控制各個(gè)硬核的狀態(tài)發(fā)生變化，從而使芯片切換至待切換模式。

如圖1所示，該模式切換電路連接的端口是掃描鏈測(cè)試所用的常規(guī)端口(SCAN_CLK以及SCAN_IN或SCAN_EN)，本發(fā)明利用這些常規(guī)端口向模式切換電路輸入第一信號(hào)序列和第二信號(hào)序列，模式切換電路自動(dòng)根據(jù)第一信號(hào)序列和第二信號(hào)序列確定是否進(jìn)行模式切換，以及確定需要切換至哪一種模式。即，本發(fā)明是在提供模式切換電路的基礎(chǔ)上，復(fù)用掃描鏈測(cè)試所用的常規(guī)端口，實(shí)現(xiàn)在掃描鏈測(cè)試中動(dòng)態(tài)地調(diào)整芯片的模式?？梢?jiàn)，本發(fā)明無(wú)需借助外部端口，只需要提供該模式切換電路即可。

具體實(shí)施時(shí)，可將該模式切換電路集成于芯片中。事實(shí)上，由于在芯片中集成電路的成本遠(yuǎn)低于設(shè)置端口的成本，因此，相比于目前借助外部端口來(lái)實(shí)現(xiàn)調(diào)整芯片模式的方法，本發(fā)明的實(shí)施成本更低，更有利于推廣和應(yīng)用。

具體實(shí)施時(shí)，可將第一信號(hào)序列和第二信號(hào)序列以測(cè)試向量的形式掃描輸入至第一端口(SCAN_CLK)和第二端口(SCAN_IN或SCAN_EN)。可選地，當(dāng)在掃描鏈測(cè)試中需要對(duì)芯片的模式進(jìn)行調(diào)整時(shí)(例如在不同的階段需要調(diào)整芯片模式，或者，出于降低功耗的考慮需要調(diào)整芯片模式)，可在正常的測(cè)試向量中插入一段包含第一信號(hào)序列和第二信號(hào)序列的測(cè)試向量，通過(guò)掃描該測(cè)試向量實(shí)現(xiàn)芯片模式的調(diào)整，然后繼續(xù)掃描正常的測(cè)試向量進(jìn)行掃描鏈測(cè)試。

可選地，如圖2所示，模式切換電路包括一識(shí)別單元和一運(yùn)算單元。

所述識(shí)別單元的輸入端連接所述第一端口和所述第二端口，輸出端連接所述運(yùn)算單元。所述運(yùn)算單元的輸出端連接所述模式控制電路。

所述識(shí)別單元根據(jù)所述第一端口輸出的第一信號(hào)序列確定是否進(jìn)行模式切換，并對(duì)所述第二端口輸出的第二信號(hào)序列進(jìn)行初步計(jì)算，當(dāng)確定進(jìn)行模式切換時(shí)，輸出所述初步計(jì)算的結(jié)果。

所述運(yùn)算單元中存儲(chǔ)有一預(yù)設(shè)模式表，該預(yù)設(shè)模式表包含的是預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)、模式控制信號(hào)和待切換模式之間的一一對(duì)應(yīng)關(guān)系。

所述運(yùn)算單元接收到所述識(shí)別單元初步計(jì)算的結(jié)果時(shí)，根據(jù)該預(yù)設(shè)模式表，即可確定與該初步計(jì)算的結(jié)果一致的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)，生成該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)的模式控制信號(hào)，然后將生成的模式控制信號(hào)輸出給所述模式控制電路，最終由模式控制電路控制芯片切換至該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的待切換模式。

實(shí)際的掃描鏈測(cè)試可能需要將芯片在多種模式(例如低功耗模式、高功耗模式以及多種中間模式)之間進(jìn)行切換，具體實(shí)施時(shí)，只需要在運(yùn)算單元存儲(chǔ)的預(yù)設(shè)模式表中設(shè)置這些模式及預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)、模式控制信號(hào)之間的一一對(duì)應(yīng)關(guān)系即可。其中，每種模式對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)是與識(shí)別單元采用的初步計(jì)算方法相關(guān)的，例如，對(duì)于同樣的第二信號(hào)序列，當(dāng)識(shí)別單元采用的初步計(jì)算方法有變化時(shí)，其計(jì)算結(jié)果也會(huì)不同，此時(shí)需要相應(yīng)的調(diào)整預(yù)設(shè)模式表中的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)。

可選地，具體實(shí)施時(shí)，識(shí)別單元可以采用計(jì)數(shù)器實(shí)現(xiàn)。其中，該計(jì)數(shù)器的復(fù)位端連接SCAN_CLK，時(shí)鐘端連接SCAN_IN(或SCAN_EN)。所述計(jì)數(shù)器的時(shí)鐘端對(duì)SCAN_IN輸入的第二信號(hào)序列的有效沿(例如上升沿)計(jì)數(shù)得到一計(jì)數(shù)結(jié)果，所述計(jì)數(shù)器的復(fù)位端在所述SCAN_CLK輸出的第一信號(hào)序列為時(shí)鐘信號(hào)時(shí)，復(fù)位端執(zhí)行復(fù)位功能，使所述計(jì)數(shù)結(jié)果歸零；所述計(jì)數(shù)器輸出所述計(jì)數(shù)結(jié)果。

事實(shí)上，由于本發(fā)明是復(fù)用了SCAN_CLK、SCAN_IN、SCAN_EN等端口，在正常進(jìn)行掃描鏈測(cè)試時(shí)，SCAN_CLK輸出的總是時(shí)鐘信號(hào)，計(jì)數(shù)器的復(fù)位端就總是會(huì)將計(jì)數(shù)結(jié)果歸零，只要保證預(yù)設(shè)模式表中各個(gè)模式對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)均不為零，即可使得運(yùn)算單元因不能確定待切入模式而不會(huì)生成模式控制信號(hào)，也就不會(huì)使芯片模式被調(diào)整，掃描鏈測(cè)試得以順利地進(jìn)行。當(dāng)需要調(diào)整芯片的模式時(shí)，只需令SCAN_CLK輸出時(shí)鐘信號(hào)以外的信號(hào)(例如一直保持為高電平或低電平的多個(gè)信號(hào))即可避免計(jì)數(shù)器的復(fù)位端執(zhí)行復(fù)位，使計(jì)數(shù)器的時(shí)鐘端對(duì)第二信號(hào)序列的有效沿計(jì)數(shù)的正常結(jié)果得以輸出至運(yùn)算單元。

可選地，具體實(shí)施時(shí)，運(yùn)算單元可以采用比較器實(shí)現(xiàn)。具體的，比較器的數(shù)量與待切換模式的數(shù)量相等，且比較器與待切換模式、模式控制信號(hào)和預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)之間具有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系，即該預(yù)設(shè)模式表存儲(chǔ)的關(guān)系，每個(gè)比較器中存儲(chǔ)有自身對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)，在接收到識(shí)別單元輸出的初步計(jì)算的結(jié)果時(shí)，將該初步計(jì)算的結(jié)果與自身對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，當(dāng)比較結(jié)果為一致時(shí)，生成并輸出自身對(duì)應(yīng)的模式控制信號(hào)。

應(yīng)當(dāng)注意，盡管在上文詳細(xì)描述中提及了模式切換電路的若干單元，但是這種劃分僅僅并非強(qiáng)制性的。實(shí)際上，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式，上文描述的兩個(gè)或更多單元的特征和功能可以在一個(gè)單元中具體化。反之，上文描述的一個(gè)單元的特征和功能可以進(jìn)一步劃分為由多個(gè)單元來(lái)具體化。

示例性方法一

本發(fā)明還提供一種用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的方法，包括：

步驟S11，通過(guò)第一端口接收第一信號(hào)序列，通過(guò)第二端口接收第二信號(hào)序列；其中，所述第一端口為掃描時(shí)鐘端口SCAN_CLK，所述第二端口為掃描輸入端口SCAN_IN或掃描使能端口SCAN_EN；

步驟S12，根據(jù)所述第一信號(hào)序列確定是否進(jìn)行模式切換，當(dāng)確定進(jìn)行模式切換時(shí)，根據(jù)所述第二信號(hào)序列生成一模式控制信號(hào)并傳輸給芯片的模式控制電路，以使所述模式控制電路根據(jù)所述模式控制信號(hào)控制所述芯片切換至一待切換模式。

可選地，在步驟S11之前，該用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的方法，還包括：

步驟S10-1，生成一段掃描鏈測(cè)試所用的測(cè)試向量，所述測(cè)試向量中對(duì)應(yīng)于所述第一端口的位置的數(shù)據(jù)為所述第一信號(hào)序列，對(duì)應(yīng)于所述第二端口的位置的數(shù)據(jù)為所述第二信號(hào)序列；

步驟S10-2，在掃描鏈測(cè)試中掃描所述測(cè)試向量，將掃描到的所述第一信號(hào)序列發(fā)送給所述第一端口，將掃描到的所述第二信號(hào)序列發(fā)送給所述第二端口。

可選地，該用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的方法，還包括：

步驟S13，確定在掃描鏈測(cè)試中掃描所述測(cè)試向量之前，所述第二端口輸出的信號(hào)值；

步驟S14，當(dāng)控制所述芯片由一原始模式切換至所述待切換模式，再由所述待切換模式切換至所述原始模式時(shí)，將所述第二信號(hào)序列中最后一個(gè)信號(hào)的值設(shè)置為所述信號(hào)值。

以上方法與示例性裝置一提供的用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的裝置基于相同的發(fā)明思想實(shí)現(xiàn)，其具體實(shí)施方式可參照前述對(duì)示例性裝置二的介紹，此處不再贅述。

應(yīng)當(dāng)注意，盡管上文以特定順序描述了本發(fā)明示例性方法一的操作，但是，這并非要求或者暗示必須按照該特定順序來(lái)執(zhí)行這些操作，或是必須執(zhí)行全部所示的操作才能實(shí)現(xiàn)期望的結(jié)果。附加地或備選地，可以省略某些步驟，將多個(gè)步驟合并為一個(gè)步驟執(zhí)行，和/或?qū)⒁粋€(gè)步驟分解為多個(gè)步驟執(zhí)行。

實(shí)施例一

本實(shí)施例中涉及N(N為自然數(shù))種芯片模式，記為待切換模式1～待切換模式N。

圖3所示為一模式切換電路的具體實(shí)施例，該模式切換電路包括計(jì)數(shù)器和比較器Comp1,Comp2,Comp3…,CompN。

如圖3所示，計(jì)數(shù)器的復(fù)位端Reset連接SCAN_CLK，計(jì)數(shù)器的時(shí)鐘端Clock連接SCAN_IN(也可以是SCAN_EN)，輸出端分別連接比較器Comp1,Comp2,Comp3…,CompN。每個(gè)比較器的輸出端連接芯片中已有的模式控制電路。模式控制電路的輸出端連接芯片集成的各個(gè)硬核。

比較器Comp1～CompN與預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)1～預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)N，模式控制信號(hào)1～模式控制信號(hào)N，待切換模式1～待切換模式N具有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系，當(dāng)比較器CompM(其中，1≤M≤N)接收的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)M一致時(shí)，比較器CompM生成并輸出模式控制信號(hào)M，該模式控制信號(hào)M對(duì)應(yīng)于待切換模式M。

以下列舉將芯片由高功耗模式切換至低功耗模式以配合IDDQ測(cè)試的過(guò)程：

步驟S21，如圖4所示，在掃描鏈測(cè)試的正常測(cè)試向量中插入一段用于切換模式的測(cè)試向量X，如圖4所示，測(cè)試向量X包含五行數(shù)據(jù)，其中，對(duì)應(yīng)于SCAN_CLK的數(shù)據(jù)為第一信號(hào)序列，即00000，對(duì)應(yīng)于SCAN_IN的數(shù)據(jù)為第二信號(hào)序列，即10101。

步驟S22，計(jì)數(shù)器的復(fù)位端由SCAN_CLK接收第一信號(hào)序列00000，由于不是時(shí)鐘信號(hào)，因此判斷需要進(jìn)行模式切換，計(jì)數(shù)器的時(shí)鐘端由SCAN_IN接收第二信號(hào)序列10101，并對(duì)其上升沿計(jì)數(shù)，計(jì)數(shù)結(jié)果為3，并將該技術(shù)結(jié)果分別輸出給比較器Comp1,Comp2,Comp3…,CompN。

步驟S23，比較器Comp1,Comp2,Comp3…,CompN分別將該技術(shù)結(jié)果3與自身存儲(chǔ)的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，其中存儲(chǔ)有預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)＝3的比較器的比對(duì)結(jié)果為一致，該比較器生成并輸出預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)＝3所對(duì)應(yīng)的模式控制信號(hào)給模式控制電路，其中，該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)＝3對(duì)應(yīng)于低功耗模式。

步驟S24，模式控制電路根據(jù)模式控制信號(hào)調(diào)整各個(gè)硬核的狀態(tài)，從而使整個(gè)芯片切換至低功耗模式。

步驟S25，輸入Call IDDQ，引入IDDQ測(cè)試。

步驟S26，待IDDQ測(cè)試完成后，繼續(xù)插入另一段用于切換模式的測(cè)試向量Y，如圖4所示，測(cè)試向量Y包含四行數(shù)據(jù)，其中，對(duì)應(yīng)于SCAN_CLK的數(shù)據(jù)為第一信號(hào)序列，即0000，對(duì)應(yīng)于SAN_IN的數(shù)據(jù)為第二信號(hào)序列，即1010。

步驟S27，計(jì)數(shù)器的復(fù)位端由SCAN_CLK接收第一信號(hào)序列0000，由于不是時(shí)鐘信號(hào)，因此判斷需要進(jìn)行模式切換，計(jì)數(shù)器的時(shí)鐘端由SCAN_IN接收第二信號(hào)序列1010，并對(duì)其上升沿計(jì)數(shù)，計(jì)數(shù)結(jié)果為2，并將該技術(shù)結(jié)果2分別輸出給比較器Comp1,Comp2,Comp3…,CompN。

步驟S28，比較器Comp1,Comp2,Comp3…,CompN分別將該技術(shù)結(jié)果與自身存儲(chǔ)的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，其中存儲(chǔ)有預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)＝2的比較器的比對(duì)結(jié)果為一致，該比較器生成并輸出預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)＝2所對(duì)應(yīng)的模式控制信號(hào)給模式控制電路，其中，該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)＝2對(duì)應(yīng)于高功耗模式。

步驟S29，模式控制電路根據(jù)模式控制信號(hào)調(diào)整各個(gè)硬核的狀態(tài)，從而使整個(gè)芯片切換回高功耗模式。

需要說(shuō)明的是，由于SCAN_IN是掃描鏈測(cè)試的數(shù)據(jù)輸入端口，其輸出的數(shù)據(jù)是對(duì)整個(gè)掃描鏈測(cè)試起到實(shí)際控制作用的，而本實(shí)施例是復(fù)用了SCAN_CLK和SCAN_IN，當(dāng)芯片由高功耗模式切換為低功耗模式，再切換回高功耗模式時(shí)，是通過(guò)在掃描鏈測(cè)試的正常測(cè)試向量中相繼插入了用于切換模式的測(cè)試向量X和測(cè)試向量Y，為了確保原本正在進(jìn)行的掃描鏈測(cè)試不受影響，需要確保測(cè)試向量Y的最后一行數(shù)據(jù)中SCAN_IN對(duì)應(yīng)的值(通過(guò)圖4可知為0)，與插入測(cè)試向量X之前正常測(cè)試向量的最后一行數(shù)據(jù)中SCAN_IN對(duì)應(yīng)的值保持一致(通過(guò)圖4可知為0)。只有這樣，才能使得芯片的其他部分因照常接收來(lái)自SCAN_IN的數(shù)據(jù)，而繼續(xù)正常的掃描鏈測(cè)試。

需要說(shuō)明的是，圖4中測(cè)試向量Y的第四行數(shù)據(jù)是用于控制芯片由低功耗模式退出時(shí)的穩(wěn)定等待時(shí)間。實(shí)際上，當(dāng)芯片進(jìn)行模式切換時(shí)都需要一段穩(wěn)定等待時(shí)間，可以將控制這段穩(wěn)定等待時(shí)間的數(shù)據(jù)寫(xiě)入用于切換模式的測(cè)試向量中，如圖4中的測(cè)試向量Y，也可以寫(xiě)在其他測(cè)試向量中，例如，圖4中通過(guò)測(cè)試向量X由高功耗模式切入低功耗模式時(shí)，也經(jīng)過(guò)了一段穩(wěn)定等待時(shí)間，但是測(cè)試向量X中沒(méi)有包含控制穩(wěn)定等待時(shí)間的數(shù)據(jù)，這部分?jǐn)?shù)據(jù)是IDDQ測(cè)試之前插入的。

示例性裝置二

本發(fā)明還提供另一種用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的裝置，如圖5所示，包括：一模式切換電路，該模式切換電路的輸入端連接第一端口、第二端口和第三端口，輸出端連接芯片的模式控制電路。

其中，所述第一端口為掃描時(shí)鐘端口SCAN_CLK。所述第二端口為掃描輸入端口SCAN_IN，第三端口為掃描使能端口SCAN_EN；或者，第二端口為掃描使能端口SCAN_EN，第三端口為掃描輸入端口SCAN_IN。

所述模式切換電路根據(jù)所述第一端口輸出的第一信號(hào)序列確定是否進(jìn)行模式切換，當(dāng)確定進(jìn)行模式切換時(shí)，根據(jù)所述第二端口輸出的第二信號(hào)序列和所述第三端口輸出的第三信號(hào)序列生成一模式控制信號(hào)并傳輸給所述模式控制電路，以使所述模式控制電路根據(jù)所述模式控制信號(hào)控制所述芯片轉(zhuǎn)換至一待切換模式。

實(shí)際上，模式控制電路的輸出端連接芯片集成的各個(gè)硬核，模式控制電路是根據(jù)所述模式控制信號(hào)控制各個(gè)硬核的狀態(tài)發(fā)生變化，從而使芯片切換至待切換模式。

如圖5所示，該模式切換電路連接的端口是掃描鏈測(cè)試所用的常規(guī)端口(SCAN_CLK以及SCAN_IN或SCAN_EN)，本發(fā)明利用這些常規(guī)端口向模式切換電路輸入第一信號(hào)序列、第二信號(hào)序列和第三信號(hào)序列，模式切換電路自動(dòng)根據(jù)這三種信號(hào)序列確定是否進(jìn)行模式切換，以及確定需要切換至哪一種模式。即，本發(fā)明是在提供模式切換電路的基礎(chǔ)上，復(fù)用掃描鏈測(cè)試所用的常規(guī)端口，實(shí)現(xiàn)在掃描鏈測(cè)試中動(dòng)態(tài)地調(diào)整芯片的模式?？梢?jiàn)，本發(fā)明無(wú)需借助外部端口，只需要提供該模式切換電路即可。

具體實(shí)施時(shí)，可將該模式切換電路集成于芯片中。事實(shí)上，由于在芯片中集成電路的成本遠(yuǎn)低于設(shè)置端口的成本，因此，相比于目前借助外部端口來(lái)實(shí)現(xiàn)調(diào)整芯片模式的方法，本發(fā)明的實(shí)施成本更低，更有利于推廣和應(yīng)用。

具體實(shí)施時(shí)，可將第一信號(hào)序列、第二信號(hào)序列和第三信號(hào)序列以測(cè)試向量的形式掃描輸入至第一端口(SCAN_CLK)、第二端口和第三端口(SCAN_IN和SCAN_EN)?？蛇x地，當(dāng)在掃描鏈測(cè)試中需要對(duì)芯片的模式進(jìn)行調(diào)整時(shí)(例如在不同的階段需要調(diào)整芯片模式，或者，出于降低功耗的考慮需要調(diào)整芯片模式)，可在正常的測(cè)試向量中插入一段包含第一信號(hào)序列、第二信號(hào)序列和第三信號(hào)序列的測(cè)試向量，通過(guò)掃描該測(cè)試向量實(shí)現(xiàn)芯片模式的調(diào)整，然后繼續(xù)掃描正常的測(cè)試向量進(jìn)行掃描鏈測(cè)試。

可選地，如圖6所示，模式切換電路包括一識(shí)別單元和一運(yùn)算單元。

所述識(shí)別單元的輸入端連接所述第一端口、所述第二端口和所述第三端口，輸出端連接所述運(yùn)算單元；所述運(yùn)算單元的輸出端連接所述模式控制電路。

所述識(shí)別單元根據(jù)所述第一端口輸出的第一信號(hào)序列確定是否進(jìn)行模式切換，并對(duì)所述第二端口輸出的第二信號(hào)序列和所述第三端口輸出的第三信號(hào)序列進(jìn)行初步計(jì)算，當(dāng)確定進(jìn)行模式切換時(shí)，輸出所述初步計(jì)算的結(jié)果。

所述運(yùn)算單元中存儲(chǔ)有一預(yù)設(shè)模式表，該預(yù)設(shè)模式表包含的是預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)、模式控制信號(hào)和待切換模式之間的一一對(duì)應(yīng)關(guān)系。

所述運(yùn)算單元接收到所述識(shí)別單元初步計(jì)算的結(jié)果時(shí)，根據(jù)該預(yù)設(shè)模式表，即可確定與該初步計(jì)算的結(jié)果一致的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)，生成該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)的模式控制信號(hào)，然后將生成的模式控制信號(hào)輸出給所述模式控制電路，最終由模式控制電路控制芯片切換至該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的待切換模式。

實(shí)際的掃描鏈測(cè)試可能需要將芯片在多種模式(例如低功耗模式、高功耗模式以及多種中間模式)之間進(jìn)行切換，具體實(shí)施時(shí)，只需要在運(yùn)算單元存儲(chǔ)的預(yù)設(shè)模式表中設(shè)置這些模式及預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)、模式控制信號(hào)之間的一一對(duì)應(yīng)關(guān)系即可。其中，每種模式對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)是與識(shí)別單元采用的初步計(jì)算方法相關(guān)的，例如，對(duì)于同樣的第二信號(hào)序列和第三信號(hào)序列，當(dāng)識(shí)別單元采用的初步計(jì)算方法有變化時(shí)，其計(jì)算結(jié)果也會(huì)不同，此時(shí)需要相應(yīng)的調(diào)整預(yù)設(shè)模式表中的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)。

可選地，具體實(shí)施時(shí)，識(shí)別單元可以采用移位寄存器實(shí)現(xiàn)。其中，該移位寄存器的復(fù)位端連接SCAN_CLK。時(shí)鐘端連接SCAN_IN，數(shù)據(jù)端連接SCAN_EN；或者，時(shí)鐘端連接SCAN_EN，數(shù)據(jù)端連接SCAN_IN。所述移位寄存器的時(shí)鐘端和數(shù)據(jù)端對(duì)第二信號(hào)序列和第三信號(hào)序列進(jìn)行移位處理，得到一移位序列；所述移位寄存器的復(fù)位端在所述第一端口輸出的第一信號(hào)序列為時(shí)鐘信號(hào)時(shí)，使所述移位序列歸零；所述移位寄存器輸出所述移位序列。

事實(shí)上，由于本發(fā)明是復(fù)用了SCAN_CLK、SCAN_IN、SCAN_EN等端口，在正常進(jìn)行掃描鏈測(cè)試時(shí)，SCAN_CLK輸出的總是時(shí)鐘信號(hào)，計(jì)數(shù)器的復(fù)位端就總是會(huì)將計(jì)數(shù)結(jié)果歸零，只要保證預(yù)設(shè)模式表中各個(gè)模式對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)均不為零，即可使得運(yùn)算單元因不能確定待切入模式而不會(huì)生成模式控制信號(hào)，也就不會(huì)使芯片模式被調(diào)整，掃描鏈測(cè)試得以順利地進(jìn)行。當(dāng)需要調(diào)整芯片的模式時(shí)，只需令SCAN_CLK輸出時(shí)鐘信號(hào)以外的信號(hào)(例如一直保持為高電平或低電平的多個(gè)信號(hào))即可避免計(jì)數(shù)器的復(fù)位端執(zhí)行復(fù)位，使計(jì)數(shù)器的時(shí)鐘端和數(shù)據(jù)端對(duì)第二信號(hào)序列和第三信號(hào)序列進(jìn)行移位處理得到的正常結(jié)果得以輸出至運(yùn)算單元。

可選地，具體實(shí)施時(shí)，運(yùn)算單元可以采用比較器實(shí)現(xiàn)。具體的，比較器的數(shù)量與待切換模式的數(shù)量相等，且比較器與待切換模式、模式控制信號(hào)和預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)之間具有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系，即該預(yù)設(shè)模式表存儲(chǔ)的關(guān)系，每個(gè)比較器中存儲(chǔ)有自身對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)，在接收到識(shí)別單元輸出的初步計(jì)算的結(jié)果時(shí)，將該初步計(jì)算的結(jié)果與自身對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，當(dāng)比較結(jié)果為一致時(shí)，生成并輸出自身對(duì)應(yīng)的模式控制信號(hào)。

應(yīng)當(dāng)注意，盡管在上文詳細(xì)描述中提及了模式切換電路的若干單元，但是這種劃分僅僅并非強(qiáng)制性的。實(shí)際上，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式，上文描述的兩個(gè)或更多單元的特征和功能可以在一個(gè)單元中具體化。反之，上文描述的一個(gè)單元的特征和功能可以進(jìn)一步劃分為由多個(gè)單元來(lái)具體化。

示例性方法二

本發(fā)明還提供一種用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的方法，包括：

步驟S31，通過(guò)第一端口接收第一信號(hào)序列，通過(guò)第二端口接收第二信號(hào)序列，通過(guò)第三端口接收第二信號(hào)序列；其中，所述第一端口為掃描時(shí)鐘端口SCAN_CLK，所述第二端口和所述第三端口為掃描輸入端口SCAN_IN、掃描使能端口SCAN_EN中的一種，且所述第二端口和所述第三端口為不同的端口；

步驟S32，根據(jù)所述第一信號(hào)序列確定是否進(jìn)行模式切換，當(dāng)確定進(jìn)行模式切換時(shí)，根據(jù)所述第二信號(hào)序列和所述第三信號(hào)序列生成一模式控制信號(hào)并傳輸給所述模式控制電路，以使所述模式控制電路根據(jù)所述模式控制信號(hào)控制所述芯片轉(zhuǎn)換至一待切換模式。

可選地，在步驟S31之前，該用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的方法，還包括：

步驟S30-1，生成一段掃描鏈測(cè)試所用的測(cè)試向量，所述測(cè)試向量中對(duì)應(yīng)于所述第一端口的位置的數(shù)據(jù)為所述第一信號(hào)序列，對(duì)應(yīng)于所述第二端口的位置的數(shù)據(jù)為所述第二信號(hào)序列，對(duì)應(yīng)于所述第三端口的位置的數(shù)據(jù)為所述第三信號(hào)序列；

步驟S30-2，在掃描鏈測(cè)試中掃描所述測(cè)試向量，將掃描到的所述第一信號(hào)序列發(fā)送給所述第一端口，將掃描到的所述第二信號(hào)序列發(fā)送給所述第二端口，將掃描到的所述第三信號(hào)序列發(fā)送給所述第三端口。

可選地，該用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的方法，還包括：

步驟S33，確定在掃描鏈測(cè)試中掃描所述測(cè)試向量之前，所述第二端口輸出的第二信號(hào)值，以及確定所述第三端口輸出的第三信號(hào)值；

步驟S34，當(dāng)控制所述芯片由一原始模式切換至所述待切換模式，再由所述待切換模式切換至所述原始模式時(shí)，將所述第二信號(hào)序列中最后一個(gè)信號(hào)的值設(shè)置為所述第二信號(hào)值，并將所述第三信號(hào)序列中最后一個(gè)信號(hào)的值設(shè)置為所述第三信號(hào)值。

以上方法與示例性裝置二提供的用于掃描鏈測(cè)試中調(diào)整芯片模式的裝置基于相同的發(fā)明思想實(shí)現(xiàn)，其具體實(shí)施方式可參照前述對(duì)示例性裝置二的介紹，此處不再贅述。

應(yīng)當(dāng)注意，盡管上文以特定順序描述了本發(fā)明示例性方法二的操作，但是，這并非要求或者暗示必須按照該特定順序來(lái)執(zhí)行這些操作，或是必須執(zhí)行全部所示的操作才能實(shí)現(xiàn)期望的結(jié)果。附加地或備選地，可以省略某些步驟，將多個(gè)步驟合并為一個(gè)步驟執(zhí)行，和/或?qū)⒁粋€(gè)步驟分解為多個(gè)步驟執(zhí)行。

實(shí)施例二

本實(shí)施例中涉及N(N為自然數(shù))種芯片模式，記為待切換模式1～待切換模式N。

圖7所示為一模式切換電路的具體實(shí)施例，該模式切換電路包括移位寄存器和比較器Comp1,Comp2,Comp3…,CompN。

如圖7所示，移位寄存器的復(fù)位端CLR連接SCAN_CLK，時(shí)鐘端Clock連接SCAN_EN(也可以是SCAN_IN)，數(shù)據(jù)端DATA連接SCAN_IN(也可以是SCAN_EN)，輸出端分別連接比較器Comp1,Comp2,Comp3…,CompN。每個(gè)比較器的輸出端連接芯片中已有的模式控制電路。模式控制電路的輸出端連接芯片集成的各個(gè)硬核。

比較器Comp1～CompN與預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)1～預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)N，模式控制信號(hào)1～模式控制信號(hào)N，待切換模式1～待切換模式N具有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系，當(dāng)比較器CompM(其中，1≤M≤N)接收的數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)M一致時(shí)，比較器CompM生成并輸出模式控制信號(hào)M，該模式控制信號(hào)M對(duì)應(yīng)于待切換模式M。

以下列舉將芯片由高功耗模式切換至低功耗模式以配合IDDQ測(cè)試的過(guò)程：

步驟S41，如圖8所示，在掃描鏈測(cè)試的正常測(cè)試向量中插入一段用于切換模式的測(cè)試向量X，如圖8所示，測(cè)試向量X包含八行數(shù)據(jù)，其中，對(duì)應(yīng)于SCAN_CLK的數(shù)據(jù)為第一信號(hào)序列，即00000000，對(duì)應(yīng)于SCAN_IN的數(shù)據(jù)為第二信號(hào)序列，即00001111，對(duì)應(yīng)于SCAN_EN的數(shù)據(jù)為第三信號(hào)序列，即01010101。

步驟S42，移位寄存器的復(fù)位端由SCAN_CLK接收第一信號(hào)序列00000000，由于不是時(shí)鐘信號(hào)，因此判斷需要進(jìn)行模式切換，移位寄存器的數(shù)據(jù)端由SCAN_IN接收第二信號(hào)序列00001111，移位寄存器的時(shí)鐘端由SCAN_EN接收第三信號(hào)序列01010101，并且對(duì)第二信號(hào)序列00001111和第三信號(hào)序列01010101進(jìn)行移位處理，得到移位序列0011，并將該移位序列0011輸出給比較器Comp1,Comp2,Comp3…,CompN。

步驟S43，比較器Comp1,Comp2,Comp3…,CompN分別將該移位序列0011與自身存儲(chǔ)的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，其中存儲(chǔ)有預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)＝0011的比較器的比對(duì)結(jié)果為一致，該比較器生成并輸出預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)＝0011所對(duì)應(yīng)的模式控制信號(hào)給模式控制電路，其中，該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)＝0011對(duì)應(yīng)于低功耗模式。

步驟S44，模式控制電路根據(jù)模式控制信號(hào)調(diào)整各個(gè)硬核的狀態(tài)，從而使整個(gè)芯片切換至低功耗模式。

步驟S45，輸入Call IDDQ，引入IDDQ測(cè)試。

步驟S46，待IDDQ測(cè)試完成后，繼續(xù)插入另一段用于切換模式的測(cè)試向量Y，如圖8所示，測(cè)試向量Y包含三行數(shù)據(jù)，其中，對(duì)應(yīng)于SCAN_CLK的數(shù)據(jù)為第一信號(hào)序列，即000，對(duì)應(yīng)于SCAN_IN的數(shù)據(jù)為第二信號(hào)序列，即000，對(duì)應(yīng)于SCAN_EN的數(shù)據(jù)為第三信號(hào)序列，即011。

步驟S47，移位寄存器的復(fù)位端由SCAN_CLK接收第一信號(hào)序列000，由于不是時(shí)鐘信號(hào)，因此判斷需要進(jìn)行模式切換，移位寄存器的數(shù)據(jù)端由SCAN_IN接收第二信號(hào)序列000，移位寄存器的時(shí)鐘端由SCAN_EN接收第三信號(hào)序列010，并且對(duì)第二信號(hào)序列000和第三信號(hào)序列010進(jìn)行移位處理，得到移位序列0110，并將該移位序列0110輸出給比較器Comp1,Comp2,Comp3…,CompN。

步驟S48，比較器Comp1,Comp2,Comp3…,CompN分別將該移位序列0110與自身存儲(chǔ)的預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，其中存儲(chǔ)有預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)＝0110的比較器的比對(duì)結(jié)果為一致，該比較器生成并輸出預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)＝0110所對(duì)應(yīng)的模式控制信號(hào)給模式控制電路，其中，該預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)＝0110對(duì)應(yīng)于高功耗模式。

步驟S49，模式控制電路根據(jù)模式控制信號(hào)調(diào)整各個(gè)硬核的狀態(tài)，從而使整個(gè)芯片切換回高功耗模式。

需要說(shuō)明的是，由于SCAN_IN是掃描鏈測(cè)試的數(shù)據(jù)輸入端口，SCAN_EN是掃描鏈測(cè)試的使能端口，這兩個(gè)端口輸出的數(shù)據(jù)是對(duì)整個(gè)掃描鏈測(cè)試起到實(shí)際控制作用的，而本實(shí)施例是復(fù)用了SCAN_CLK、SCAN_IN和SCAN_EN，當(dāng)芯片由高功耗模式切換為低功耗模式，再切換回高功耗模式時(shí)，是通過(guò)在掃描鏈測(cè)試的正常測(cè)試向量中相繼插入了用于切換模式的測(cè)試向量X和測(cè)試向量Y，為了確保原本正在進(jìn)行的掃描鏈測(cè)試不受影響，需要確保測(cè)試向量Y的最后一行數(shù)據(jù)中SCAN_IN對(duì)應(yīng)的值(通過(guò)圖8可知為0)與插入測(cè)試向量X之前正常測(cè)試向量的最后一行數(shù)據(jù)中SCAN_IN對(duì)應(yīng)的值保持一致(通過(guò)圖8可知為0)，同時(shí)需要確保測(cè)試向量Y的最后一行數(shù)據(jù)中SCAN_EN對(duì)應(yīng)的值(通過(guò)圖8可知為1)與插入測(cè)試向量X之前正常測(cè)試向量的最后一行數(shù)據(jù)中SCAN_EN對(duì)應(yīng)的值保持一致。只有這樣，才能使得芯片的其他部分因照常接收來(lái)自SCAN_IN和SCAN_EN的數(shù)據(jù)，而繼續(xù)正常的掃描鏈測(cè)試。

需要說(shuō)明的是，圖8中測(cè)試向量Y的第四行數(shù)據(jù)是用于控制芯片由低功耗模式退出時(shí)的穩(wěn)定等待時(shí)間。實(shí)際上，當(dāng)芯片進(jìn)行模式切換時(shí)都需要一段穩(wěn)定等待時(shí)間，可以將控制這段穩(wěn)定等待時(shí)間的數(shù)據(jù)寫(xiě)入用于切換模式的測(cè)試向量中，如圖8中的測(cè)試向量Y，也可以寫(xiě)在其他測(cè)試向量中，例如，圖8中通過(guò)測(cè)試向量X由高功耗模式切入低功耗模式時(shí)，也經(jīng)過(guò)了一段穩(wěn)定等待時(shí)間，但是測(cè)試向量X中沒(méi)有包含控制穩(wěn)定等待時(shí)間的數(shù)據(jù)，這部分?jǐn)?shù)據(jù)是IDDQ測(cè)試之前插入的。

以上所述的具體實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的具體實(shí)施例而已，并不用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

本領(lǐng)域技術(shù)人員還可以了解到本發(fā)明實(shí)施例列出的各種說(shuō)明性邏輯塊(illustrative logical block)，單元，和步驟可以通過(guò)電子硬件、電腦軟件，或兩者的結(jié)合進(jìn)行實(shí)現(xiàn)。為清楚展示硬件和軟件的可替換性(interchangeability)，上述的各種說(shuō)明性部件(illustrative components)，單元和步驟已經(jīng)通用地描述了它們的功能。這樣的功能是通過(guò)硬件還是軟件來(lái)實(shí)現(xiàn)取決于特定的應(yīng)用和整個(gè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)要求。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以對(duì)于每種特定的應(yīng)用，可以使用各種方法實(shí)現(xiàn)所述的功能，但這種實(shí)現(xiàn)不應(yīng)被理解為超出本發(fā)明實(shí)施例保護(hù)的范圍。

本發(fā)明實(shí)施例中所描述的各種說(shuō)明性的邏輯塊，或單元，或裝置都可以通過(guò)通用處理器，數(shù)字信號(hào)處理器，專用集成電路(ASIC)，現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列或其它可編程邏輯裝置，離散門或晶體管邏輯，離散硬件部件，或上述任何組合的設(shè)計(jì)來(lái)實(shí)現(xiàn)或操作所描述的功能。通用處理器可以為微處理器，可選地，該通用處理器也可以為任何傳統(tǒng)的處理器、控制器、微控制器或狀態(tài)機(jī)。處理器也可以通過(guò)計(jì)算裝置的組合來(lái)實(shí)現(xiàn)，例如數(shù)字信號(hào)處理器和微處理器，多個(gè)微處理器，一個(gè)或多個(gè)微處理器聯(lián)合一個(gè)數(shù)字信號(hào)處理器核，或任何其它類似的配置來(lái)實(shí)現(xiàn)。

本發(fā)明實(shí)施例中所描述的方法或算法的步驟可以直接嵌入硬件、處理器執(zhí)行的軟件模塊、或者這兩者的結(jié)合。軟件模塊可以存儲(chǔ)于RAM存儲(chǔ)器、閃存、ROM存儲(chǔ)器、EPROM存儲(chǔ)器、EEPROM存儲(chǔ)器、寄存器、硬盤(pán)、可移動(dòng)磁盤(pán)、CD-ROM或本領(lǐng)域中其它任意形式的存儲(chǔ)媒介中。示例性地，存儲(chǔ)媒介可以與處理器連接，以使得處理器可以從存儲(chǔ)媒介中讀取信息，并可以向存儲(chǔ)媒介存寫(xiě)信息?？蛇x地，存儲(chǔ)媒介還可以集成到處理器中。處理器和存儲(chǔ)媒介可以設(shè)置于ASIC中，ASIC可以設(shè)置于用戶終端中?？蛇x地，處理器和存儲(chǔ)媒介也可以設(shè)置于用戶終端中的不同的部件中。

在一個(gè)或多個(gè)示例性的設(shè)計(jì)中，本發(fā)明實(shí)施例所描述的上述功能可以在硬件、軟件、固件或這三者的任意組合來(lái)實(shí)現(xiàn)。如果在軟件中實(shí)現(xiàn)，這些功能可以存儲(chǔ)與電腦可讀的媒介上，或以一個(gè)或多個(gè)指令或代碼形式傳輸于電腦可讀的媒介上。電腦可讀媒介包括電腦存儲(chǔ)媒介和便于使得讓電腦程序從一個(gè)地方轉(zhuǎn)移到其它地方的通信媒介。存儲(chǔ)媒介可以是任何通用或特殊電腦可以接入訪問(wèn)的可用媒體。例如，這樣的電腦可讀媒體可以包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、CD-ROM或其它光盤(pán)存儲(chǔ)、磁盤(pán)存儲(chǔ)或其它磁性存儲(chǔ)裝置，或其它任何可以用于承載或存儲(chǔ)以指令或數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和其它可被通用或特殊電腦、或通用或特殊處理器讀取形式的程序代碼的媒介。此外，任何連接都可以被適當(dāng)?shù)囟x為電腦可讀媒介，例如，如果軟件是從一個(gè)網(wǎng)站站點(diǎn)、服務(wù)器或其它遠(yuǎn)程資源通過(guò)一個(gè)同軸電纜、光纖電纜、雙絞線、數(shù)字用戶線(DSL)或以例如紅外、無(wú)線和微波等無(wú)線方式傳輸?shù)囊脖话谒x的電腦可讀媒介中。所述的碟片(disk)和磁盤(pán)(disc)包括壓縮磁盤(pán)、鐳射盤(pán)、光盤(pán)、DVD、軟盤(pán)和藍(lán)光光盤(pán)，磁盤(pán)通常以磁性復(fù)制數(shù)據(jù)，而碟片通常以激光進(jìn)行光學(xué)復(fù)制數(shù)據(jù)。上述的組合也可以包含在電腦可讀媒介中。