本發(fā)明是與數(shù)字信號解析有關(guān)；特別是指一種邏輯分析儀及其探棒。

背景技術(shù)：

隨著數(shù)字科技的進步，如電子芯片、液晶屏幕(LCD)的圖像處理芯片、互補性氧化金屬半導(dǎo)體(Complementary Metal-Oxide Semiconductor，CMOS)、以及電荷耦合元件(Charge Coupled Device，CCD)等使用數(shù)字信號傳輸資料的電子裝置日漸普及。隨著數(shù)字科技的進步，如電子芯片、液晶屏幕(LCD)的圖像處理芯片、互補性氧化金屬半導(dǎo)體(Complementary Metal-Oxide Semiconductor，CMOS)、以及電荷耦合元件(Charge Coupled Device，CCD)等使用數(shù)字信號傳輸資料的電子裝置日漸普及。

當研發(fā)人員在研發(fā)具有上述電子裝置時，通常會利用邏輯分析儀來擷取電子裝置所輸出的數(shù)字信號，以與一基礎(chǔ)信號進行比對來分析上述所擷取的數(shù)字信號來判定上述電子裝置的設(shè)計是否正常。

然而，現(xiàn)有的邏輯分析儀于分析信號時，通常是將數(shù)字信號分析后，再將分析結(jié)果傳輸至計算機上顯示，而使得研發(fā)人員必須一邊將探棒接抵于電子裝置上，并一邊轉(zhuǎn)頭觀看計算機屏幕上顯示的分析結(jié)果，而此舉不僅徒增研發(fā)人員檢測時的困難度，當電子裝置的待檢測處數(shù)量較多而使用較多探棒時，則容易使得研發(fā)人員搞混各探棒對應(yīng)的檢測頻道，進而容易造成檢測作業(yè)的延宕。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明的目的用于提供一種邏輯分析儀及其探棒，可供研發(fā)人員快速且準確地知悉各探棒對應(yīng)的數(shù)字信號的分析結(jié)果。

緣以達成上述目的，本發(fā)明所提供邏輯分析儀包含一探棒、一第一傳輸線、一顯示屏、一第二傳輸線以及一主機。其中，該探棒用以接抵于一待測物上，以擷取該待測物輸出的數(shù)字信號。該第一傳輸線電性連接該探棒。該顯示屏設(shè)置于該探棒上。該第二傳輸線電性連接該顯示屏。該主機電性連接該第一傳輸線以及該第二傳輸線，并供與一計算機電性連接，并用通過該第一傳輸線接收該探棒擷取的數(shù)字信號，并分析該數(shù)字信號，且于分析后，將分析結(jié)果傳輸至該計算機上顯示，同時將部分所設(shè)定的參數(shù)信息通過該第二傳輸線傳導(dǎo)至該顯示屏上顯示。

由此，通過上述的設(shè)計，研發(fā)人員使用該邏輯分析儀時，便可通過該探棒上的顯示屏快速且準確地知悉該探棒所擷取的數(shù)字信號所對應(yīng)設(shè)定的參數(shù)信息。

附圖說明

為能更清楚地說明本發(fā)明，以下結(jié)合較佳實施例并配合附圖詳細說明如后，其中：

圖1是使用本發(fā)明較佳實施例邏輯分析儀的檢測系統(tǒng)。

圖2是本發(fā)明較佳實施例的探棒的立體圖。

具體實施方式

請參圖1所示，本發(fā)明一較佳實施例的邏輯分析儀是用以擷取并解析一待測物100所產(chǎn)生的數(shù)字信號，并將分析結(jié)果傳輸予一計算機200，且包含有一探棒10、一顯示屏30、一第一傳輸線21、一第二傳輸線22以及一主機40。其中：

該探棒10包含有一握持部12以及一探測部14。請參閱圖2，該握持部12是用以供研發(fā)人員握持，并以絕緣體制成，且該握持部12的頂端是呈一斜面121。該探測部14是以導(dǎo)體制成，并設(shè)置于該握持部12的底端，且于本實施例中，該探測部14一端是呈尖錐狀，用以接抵于該待測物100的待測部位上，以擷取該待測物100輸出的數(shù)字信號。當然，在實際實施上，該探測部14亦可是呈夾子形狀或是其他進行檢測時所須的形狀。

該顯示屏30是設(shè)置于該握持部12的斜面121上，而與該探測部14 分別位于該握持部12上相反位置的頂端與底端，于本實施例中，該顯示屏30是一液晶屏幕，當然在實際實施上，亦可使用其它可顯示字符的元件代替。

該第一傳輸線21與該第二傳輸線22的一端分別埋設(shè)于該握持部中12，且分別與該探測部14以及該顯示屏30電性連接，而通過將所述傳輸線21、22一端埋設(shè)于該握持部12中而呈一體的目的，在于避免線材過于混亂而影響研發(fā)人員的操作，當然，在實際實施上，還可將所述傳輸線21、22外露于該握持部12的外的部位包裹于一束套(圖未示)內(nèi)，而可避免所述傳輸線21、22產(chǎn)生線材相互纏繞而影響操作的情事發(fā)生。

該主機40設(shè)定有多個參數(shù)信息(如波形、頻率、觸發(fā)點、擷取的頻道等)，且電性連接該第一傳輸線21以及該第二傳輸線22，并供與該計算機200電性連接。如此一來，當研發(fā)人員進行檢測而將該探棒10的探測部14接抵于該待測物100的待測部位上時，該探棒10擷取的數(shù)字信號通過該第一傳輸線21傳送該主機40后，該主機40便依據(jù)所設(shè)定的參數(shù)信息進行分析，且于分析后，該主機40便將分析結(jié)果傳輸至該計算機200，使該計算機200的屏幕210上顯示分析結(jié)果(如波形、頻率、觸發(fā)點、擷取的頻道等)，同時將取樣頻率、觸發(fā)點與頻道名稱等較為基礎(chǔ)的部分所設(shè)定的參數(shù)信息通過該第二傳輸線22傳導(dǎo)至該握持部12上的該顯示屏30顯示。而在本實施例中，該主機40內(nèi)建有一編譯程序用以將該主機40分析的部分所設(shè)定的參數(shù)信息編譯成對應(yīng)的I²C信號后輸出至該第二傳輸線22，且該顯示屏30內(nèi)建有一對應(yīng)的解譯器，用以將解譯該第二傳輸線22傳輸?shù)腎²C信號，而取得該I²C信號對應(yīng)的部分所設(shè)定的參數(shù)信息(即取樣頻率、觸發(fā)點與頻道名稱)，以顯示于該顯示屏30上(如圖2)。

如此一來，研發(fā)人員便可于檢測時，直接由該顯示屏30上知悉所擷取的數(shù)字信號的基礎(chǔ)資料，而可快速且確實地知悉所設(shè)定的參數(shù)信息對比于該待測物100所產(chǎn)生的信號，而不會有誤視的情形發(fā)生。另外，通過將該探測部14與該顯示屏30分別設(shè)置于該握持部12相反兩端的設(shè)計，研發(fā)人員握持該握持部14而將該探測部14壓抵于該待測物100上進行檢測時，其手部便不會遮蔽到該顯示屏30的呈現(xiàn)，且通過將該顯示屏30設(shè)置于該握持部頂部12的斜面121，還可使得研發(fā)人員的視線可方便地直視該 顯示屏30，而可直接且方便地觀看該顯示屏30顯示的信息，進而大幅地增加檢測時的便利性。

綜上所述可知悉，研發(fā)人員使用該邏輯分析儀時，不僅可通過計算機200的屏幕210觀看分析結(jié)果，便可直接通過觀看該探棒10上的該顯示屏30，而可快速且準確地知悉該探棒10所擷取的數(shù)字信號對應(yīng)的參數(shù)信息，不僅方便研發(fā)人員操作，更可提升研發(fā)人員檢測與分析作業(yè)的效率。

另外，以上所述僅為本發(fā)明較佳可行實施例而已，凡是應(yīng)用本發(fā)明說明書及申請專利范圍所為的等效變化，理應(yīng)包含在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍內(nèi)。