本發(fā)明涉及機(jī)器人動(dòng)力系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域，具體的說是一種電路板網(wǎng)表快速提取方法。
背景技術(shù)：
機(jī)載電路板是各種機(jī)上電子產(chǎn)品的主要部件，其性能的好壞影響著電子產(chǎn)品的質(zhì)量。電路板網(wǎng)表信息是電路板維修的重要依據(jù)，由于受到產(chǎn)權(quán)保護(hù)等限制，部分電路板網(wǎng)表信息缺失，給機(jī)上電子產(chǎn)品保障造成障礙。目前，“抄板軟件”是電路板網(wǎng)表提取領(lǐng)域的主要實(shí)現(xiàn)手段。
“抄板軟件”進(jìn)行網(wǎng)表提取的方法是：在“抄板”軟件的輔助下，通過圖像處理技術(shù)對(duì)電路板走線圖像進(jìn)行處理，然后以電路板實(shí)物為參照，提取電路板網(wǎng)表信息。但該方法需要通過一些破壞性的手段對(duì)電路板進(jìn)行打磨處理以獲取清晰的PCB走線圖像，這就對(duì)電路板造成不可恢復(fù)的破壞。另外，該方法所有的電路板網(wǎng)表信息都需要由人工參照打磨過程中獲取的PCB走線圖像進(jìn)行提取，自動(dòng)化程度不高。
飛針在線測(cè)試儀主要采用電路在線測(cè)試技術(shù)，該技術(shù)是一種電路板的計(jì)算機(jī)自動(dòng)測(cè)試技術(shù)，它利用探針與待測(cè)的結(jié)點(diǎn)接觸，然后通過編程控制，在系統(tǒng)內(nèi)部構(gòu)成測(cè)試電路，然后進(jìn)行測(cè)量。利用飛針在線測(cè)試儀不僅可以檢測(cè)連線的通斷，還可以對(duì)電路板上的單個(gè)元器件進(jìn)行一系列的測(cè)量。目前，飛針在線測(cè)試儀主要應(yīng)用于電路板的檢測(cè)，在導(dǎo)入被測(cè)板網(wǎng)表信息的前提下，以驗(yàn)證網(wǎng)表的形式對(duì)被測(cè)板進(jìn)行測(cè)試，但該設(shè)備尚未被應(yīng)用于對(duì)電路板網(wǎng)表信息的提取。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
針對(duì)上述技術(shù)的缺陷，本發(fā)明提出一種電路板網(wǎng)表快速提取方法。
一種電路板網(wǎng)表快速提取方法，包括以下步驟：
(1)清除涂層：使用吹沙機(jī)將電路板表面的三防漆打磨清除；若電路板上安裝有BGA封裝器件，還需將BGA封裝器件取下，并在BGA封裝器件的焊盤上鍍錫；
(2)確定測(cè)試點(diǎn)：將被測(cè)板固定在飛針在線測(cè)試儀的測(cè)試區(qū)導(dǎo)軌上，利用飛針在線測(cè)試儀正、反面固定在移動(dòng)探針上的攝像頭對(duì)被測(cè)電路板實(shí)物進(jìn)行拍照，獲取被測(cè)電路板的正、反面圖像信息；
(3)設(shè)置測(cè)試點(diǎn)標(biāo)號(hào)：依次對(duì)每個(gè)測(cè)試點(diǎn)命名，為方便最后網(wǎng)表信息的提取，命名按照“器件標(biāo)號(hào)/引腳號(hào)”的原則；
(4)獲取測(cè)試點(diǎn)坐標(biāo)：在正、反面電路板圖像上依次獲取每個(gè)測(cè)試點(diǎn)相對(duì)于被測(cè)板的坐標(biāo)信息(xn，yn)；在被測(cè)板上選取對(duì)角線上的兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)、過孔或機(jī)械孔作為參考點(diǎn)，得到參考點(diǎn)相對(duì)于被測(cè)板的坐標(biāo)(xref，yref)和相對(duì)于飛針在線測(cè)試儀測(cè)試區(qū)的坐標(biāo)(Xref,Yref)后，將被測(cè)板中所有測(cè)試點(diǎn)轉(zhuǎn)換為相對(duì)于測(cè)試區(qū)的坐標(biāo)(Xn,Yn)，其中Xn＝xn+Xref-xref，Yn＝y(tǒng)n+Yref-yref；觀察被測(cè)電路板上的元器件，選擇一個(gè)已知引腳定義的集成芯片，將該集成芯片的GND腳對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)選為GND點(diǎn)；在飛針在線測(cè)試儀提供的可供二次開發(fā)的應(yīng)用軟件中，記錄每一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的名稱和相對(duì)于飛針在線測(cè)試儀測(cè)試區(qū)的坐標(biāo)信息，并將上述選擇的測(cè)試點(diǎn)標(biāo)記為GND點(diǎn)；
(5)將所有測(cè)試點(diǎn)劃分為多個(gè)網(wǎng)絡(luò)：在飛針在線測(cè)試儀提供的可供二次開發(fā)的應(yīng)用軟件中，設(shè)置通過兩根探針在測(cè)試點(diǎn)和GND點(diǎn)之間施加信號(hào)源激勵(lì)；飛針在線測(cè)試儀的探針根據(jù)每個(gè)測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)信息，自動(dòng)遍歷所有測(cè)試點(diǎn)，并施加激勵(lì)信號(hào)，同時(shí)探針會(huì)采回該測(cè)試點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)；應(yīng)用軟件中會(huì)建立一個(gè)測(cè)試點(diǎn)及其對(duì)應(yīng)響應(yīng)信號(hào)的映射表，比較每個(gè)測(cè)試點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，在映射表中將具有相同響應(yīng)信號(hào)的測(cè)試點(diǎn)賦予相同的網(wǎng)絡(luò)號(hào)；在被測(cè)電路板的所有測(cè)試點(diǎn)中選取一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，通過步驟(4)記錄的該點(diǎn)坐標(biāo)位置，將一根探針移動(dòng)到該測(cè)試點(diǎn)，另一根探針移動(dòng)到步驟(4)選定為GND的測(cè)試點(diǎn)；利用飛針在線測(cè)試儀的發(fā)送信號(hào)功能，在測(cè)試點(diǎn)與GND點(diǎn)之間施加交流電壓信號(hào)；利用飛針在線測(cè)試儀的采集信號(hào)功能，通過放置在所選測(cè)試點(diǎn)上的探針回采該點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，即該通路的電流信號(hào)，并在飛針在線測(cè)試儀中，建立測(cè)試點(diǎn)標(biāo)號(hào)與該點(diǎn)響應(yīng)信號(hào)的對(duì)照表；然后，選取下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，將探針移動(dòng)到該測(cè)試點(diǎn)處，放置在GND點(diǎn)上的探針不動(dòng)；重復(fù)飛針在線測(cè)試儀的上述測(cè)試工作，重復(fù)回采探針?biāo)跍y(cè)試點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，并將測(cè)試點(diǎn)標(biāo)號(hào)與響應(yīng)信號(hào)的對(duì)應(yīng)關(guān)系添加到建立的對(duì)照表中，直到被測(cè)電路板最后一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，得到包括被測(cè)電路板中所有測(cè)試點(diǎn)標(biāo)號(hào)與其響應(yīng)信號(hào)的對(duì)照關(guān)系的對(duì)照表；將對(duì)照表中第一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)號(hào)命名為Net1；讀取第二個(gè)測(cè)試點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，將此信號(hào)與第一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)比較，若相同則將第二個(gè)測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)號(hào)同樣命名為Net1，若不同則將第二個(gè)測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)號(hào)新建為Net2；按同樣方法，讀取第三個(gè)測(cè)試點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，與前兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)比較，若與第一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)相同，則將第三個(gè)測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)號(hào)命名為Net1，同理，若與第二個(gè)測(cè)試點(diǎn)相同，則命名為Net2，若都不相同，則新建名為Net3；以此類推，按響應(yīng)信號(hào)是否相同將對(duì)照表中所有測(cè)試點(diǎn)命名為不同的網(wǎng)絡(luò)名，并記錄在對(duì)照表中；
(6)相同網(wǎng)絡(luò)內(nèi)測(cè)試點(diǎn)的連接性測(cè)試：根據(jù)步驟(5)得到的對(duì)照表，將飛針在線測(cè)試儀的探針移動(dòng)到具有相同網(wǎng)絡(luò)號(hào)的測(cè)試點(diǎn)上；利用飛針在線測(cè)試儀的連接性測(cè)試，判斷探針?biāo)佑|的兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)是否相連：若相連，則維持原有網(wǎng)絡(luò)名不變；若不相同，則在映射表中將其中一個(gè)測(cè)試點(diǎn)重新命名一個(gè)新的網(wǎng)絡(luò)號(hào)；探針根據(jù)測(cè)試點(diǎn)坐標(biāo)信息和映射表中各測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)號(hào)，按照上述連接性測(cè)試的方法遍歷所有測(cè)試點(diǎn)后，檢驗(yàn)了步驟(5)中得到的映射表是否正確，并對(duì)錯(cuò)誤處進(jìn)行修改；
(7)網(wǎng)絡(luò)信息提?。簩⒋鎯?chǔ)在飛針在線測(cè)試儀二次開發(fā)軟件中的映射表導(dǎo)出；根據(jù)對(duì)映射表中網(wǎng)絡(luò)號(hào)的檢索，得出具有相同網(wǎng)絡(luò)號(hào)的測(cè)試點(diǎn)，即相連的元器件引腳，記錄在符合網(wǎng)表格式的文檔中；對(duì)所有網(wǎng)絡(luò)號(hào)整理完成后，得出包括被測(cè)電路板上所有元器件引腳連接關(guān)系的文檔；利用飛針在線測(cè)試儀的基本功能，即電路板檢測(cè)功能，對(duì)被測(cè)電路板上的電阻、電容、電感等基礎(chǔ)元器件的參數(shù)值進(jìn)行測(cè)量，將元器件標(biāo)號(hào)與參數(shù)值對(duì)應(yīng)關(guān)系添加到文檔中；被測(cè)電路板上的集成芯片，將元器件標(biāo)號(hào)與器件型號(hào)對(duì)應(yīng)關(guān)系添加到文檔中；該文檔即為被測(cè)電路板完整的網(wǎng)表信息。
本發(fā)明的有益效果是：
(1)采用接觸表面焊點(diǎn)測(cè)繪電路板連接關(guān)系信息，不會(huì)對(duì)被測(cè)電路板造成損壞；
(2)利用網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)分析法和連接性測(cè)試相結(jié)合，不需要對(duì)所有被測(cè)電路板上所有元器件引腳進(jìn)行兩兩連接性測(cè)試，縮短了網(wǎng)表信息提取時(shí)間；
(3)拓展飛針在線測(cè)試儀功能，將電路板在線測(cè)試技術(shù)應(yīng)用于電路板網(wǎng)表信息的提?。?/p>
(4)利用飛針在線測(cè)試系統(tǒng)的可按設(shè)定的坐標(biāo)位置自動(dòng)遍歷的特性，提高了自動(dòng)化程度。
附圖說明
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步說明。
圖1是本發(fā)明的操作步驟流程圖。
具體實(shí)施方式
為了使本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達(dá)成目的與功效易于明白了解，下面對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步闡述。
如圖1所示，一種電路板網(wǎng)表快速提取方法，包括以下步驟：
(1)清除涂層：使用吹沙機(jī)將電路板表面的三防漆打磨清除；若電路板上安裝有BGA封裝器件，還需將BGA封裝器件取下，并在BGA封裝器件的焊盤上鍍錫；
(2)確定測(cè)試點(diǎn)：將被測(cè)板固定在飛針在線測(cè)試儀的測(cè)試區(qū)導(dǎo)軌上，利用飛針在線測(cè)試儀正、反面固定在移動(dòng)探針上的攝像頭對(duì)被測(cè)電路板實(shí)物進(jìn)行拍照，獲取被測(cè)電路板的正、反面圖像信息；
(3)設(shè)置測(cè)試點(diǎn)標(biāo)號(hào)：依次對(duì)每個(gè)測(cè)試點(diǎn)命名，命名按照“器件標(biāo)號(hào)/引腳號(hào)”的原則；
(4)獲取測(cè)試點(diǎn)坐標(biāo)：在正、反面電路板圖像上依次獲取每個(gè)測(cè)試點(diǎn)相對(duì)于被測(cè)板的坐標(biāo)信息(xn，yn)；在被測(cè)板上選取對(duì)角線上的兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)、過孔或機(jī)械孔作為參考點(diǎn)，得到參考點(diǎn)相對(duì)于被測(cè)板的坐標(biāo)(xref，yref)和相對(duì)于飛針在線測(cè)試儀測(cè)試區(qū)的坐標(biāo)(Xref,Yref)后，將被測(cè)板中所有測(cè)試點(diǎn)轉(zhuǎn)換為相對(duì)于測(cè)試區(qū)的坐標(biāo)(Xn,Yn)，其中Xn＝xn+Xref-xref，Yn＝y(tǒng)n+Yref-yref；觀察被測(cè)電路板上的元器件，選擇一個(gè)已知引腳定義的集成芯片，將該集成芯片的GND腳對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)選為GND點(diǎn)；在飛針在線測(cè)試儀提供的可供二次開發(fā)的應(yīng)用軟件中，記錄每一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的名稱和相對(duì)于飛針在線測(cè)試儀測(cè)試區(qū)的坐標(biāo)信息，并將上述選擇的測(cè)試點(diǎn)標(biāo)記為GND點(diǎn)；
(5)將所有測(cè)試點(diǎn)劃分為多個(gè)網(wǎng)絡(luò)：在飛針在線測(cè)試儀提供的可供二次開發(fā)的應(yīng)用軟件中，設(shè)置通過兩根探針在測(cè)試點(diǎn)和GND點(diǎn)之間施加信號(hào)源激勵(lì)；飛針在線測(cè)試儀的探針根據(jù)每個(gè)測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)信息，自動(dòng)遍歷所有測(cè)試點(diǎn)，并施加激勵(lì)信號(hào)，同時(shí)探針會(huì)采回該測(cè)試點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)；應(yīng)用軟件中會(huì)建立一個(gè)測(cè)試點(diǎn)及其對(duì)應(yīng)響應(yīng)信號(hào)的映射表，比較每個(gè)測(cè)試點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，在映射表中將具有相同響應(yīng)信號(hào)的測(cè)試點(diǎn)賦予相同的網(wǎng)絡(luò)號(hào)；在被測(cè)電路板的所有測(cè)試點(diǎn)中選取一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，通過步驟(4)記錄的該點(diǎn)坐標(biāo)位置，將一根探針移動(dòng)到該測(cè)試點(diǎn)，另一根探針移動(dòng)到步驟(4)選定為GND的測(cè)試點(diǎn)；利用飛針在線測(cè)試儀的發(fā)送信號(hào)功能，在測(cè)試點(diǎn)與GND點(diǎn)之間施加交流電壓信號(hào)；利用飛針在線測(cè)試儀的采集信號(hào)功能，通過放置在所選測(cè)試點(diǎn)上的探針回采該點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，即該通路的電流信號(hào)，并在飛針在線測(cè)試儀中，建立測(cè)試點(diǎn)標(biāo)號(hào)與該點(diǎn)響應(yīng)信號(hào)的對(duì)照表；然后，選取下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，將探針移動(dòng)到該測(cè)試點(diǎn)處，放置在GND點(diǎn)上的探針不動(dòng)；重復(fù)飛針在線測(cè)試儀的上述測(cè)試工作，重復(fù)回采探針?biāo)跍y(cè)試點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，并將測(cè)試點(diǎn)標(biāo)號(hào)與響應(yīng)信號(hào)的對(duì)應(yīng)關(guān)系添加到建立的對(duì)照表中，直到被測(cè)電路板最后一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，得到包括被測(cè)電路板中所有測(cè)試點(diǎn)標(biāo)號(hào)與其響應(yīng)信號(hào)的對(duì)照關(guān)系的對(duì)照表；將對(duì)照表中第一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)號(hào)命名為Net1；讀取第二個(gè)測(cè)試點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，將此信號(hào)與第一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)比較，若相同則將第二個(gè)測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)號(hào)同樣命名為Net1，若不同則將第二個(gè)測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)號(hào)新建為Net2；按同樣方法，讀取第三個(gè)測(cè)試點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，與前兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)比較，若與第一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)相同，則將第三個(gè)測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)號(hào)命名為Net1，同理，若與第二個(gè)測(cè)試點(diǎn)相同，則命名為Net2，若都不相同，則新建名為Net3；以此類推，按響應(yīng)信號(hào)是否相同將對(duì)照表中所有測(cè)試點(diǎn)命名為不同的網(wǎng)絡(luò)名，并記錄在對(duì)照表中；
(6)相同網(wǎng)絡(luò)內(nèi)測(cè)試點(diǎn)的連接性測(cè)試：根據(jù)步驟(5)得到的對(duì)照表，將飛針在線測(cè)試儀的探針移動(dòng)到具有相同網(wǎng)絡(luò)號(hào)的測(cè)試點(diǎn)上；利用飛針在線測(cè)試儀的連接性測(cè)試，判斷探針?biāo)佑|的兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)是否相連：若相連，則維持原有網(wǎng)絡(luò)名不變；若不相同，則在映射表中將其中一個(gè)測(cè)試點(diǎn)重新命名一個(gè)新的網(wǎng)絡(luò)號(hào)；探針根據(jù)測(cè)試點(diǎn)坐標(biāo)信息和映射表中各測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)號(hào)，按照上述連接性測(cè)試的方法遍歷所有測(cè)試點(diǎn)后，檢驗(yàn)了步驟(5)中得到的映射表是否正確，并對(duì)錯(cuò)誤處進(jìn)行修改；
(7)網(wǎng)絡(luò)信息提?。簩⒋鎯?chǔ)在飛針在線測(cè)試儀二次開發(fā)軟件中的映射表導(dǎo)出；根據(jù)對(duì)映射表中網(wǎng)絡(luò)號(hào)的檢索，得出具有相同網(wǎng)絡(luò)號(hào)的測(cè)試點(diǎn)，即相連的元器件引腳，記錄在符合網(wǎng)表格式的文檔中；對(duì)所有網(wǎng)絡(luò)號(hào)整理完成后，得出包括被測(cè)電路板上所有元器件引腳連接關(guān)系的文檔；利用飛針在線測(cè)試儀的基本功能，即電路板檢測(cè)功能，對(duì)被測(cè)電路板上的電阻、電容、電感等基礎(chǔ)元器件的參數(shù)值進(jìn)行測(cè)量，將元器件標(biāo)號(hào)與參數(shù)值對(duì)應(yīng)關(guān)系添加到文檔中；被測(cè)電路板上的集成芯片，將元器件標(biāo)號(hào)與器件型號(hào)對(duì)應(yīng)關(guān)系添加到文檔中；該文檔即為被測(cè)電路板完整的網(wǎng)表信息。
以上顯示和描述了本發(fā)明的基本原理、主要特征和本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)。本行業(yè)的技術(shù)人員應(yīng)該了解，本發(fā)明不受上述實(shí)施例的限制，上述實(shí)施例和說明書中描述的只是本發(fā)明的原理，在不脫離本發(fā)明精神和范圍的前提下，本發(fā)明還會(huì)有各種變化和改進(jìn)，這些變化和改進(jìn)都落入要求保護(hù)的本發(fā)明內(nèi)。本發(fā)明要求保護(hù)范圍由所附的權(quán)利要求書及其等效物界定。