1.一種硒化鉛紅外探測器校準(zhǔn)方法,其特征在于,包括:
步驟1:使用高強(qiáng)光照射硒化鉛紅外探測器的焦平面,采集硒化鉛紅外傳感器的探測單元的飽和電阻Rs;
步驟2:將所述焦平面對準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)黑體,采集所述探測單元的黑暗電阻Rd;
步驟3:重復(fù)步驟1和步驟2,完成多次數(shù)據(jù)的采集,重復(fù)次數(shù)為8-10次;
步驟4:獲取探測單元的第一校正參數(shù)C,C為飽和電阻的平均值;
步驟5:獲取探測單元的第二校正參數(shù)A,A為所述黑暗電阻平均值和第一校正參數(shù)的差;
步驟6:使用光照強(qiáng)度為Sm的光照射所述焦平面,采集硒化鉛紅外傳感器的探測單元的電阻Rm;
步驟7:計(jì)算探測單元的第三校正參數(shù)B:
B=-Log[(Rm–C)/A]/Sm;
步驟8:通過公式R=A*Exp(-B*S)+C對探測單元的電阻R進(jìn)行校正。
2.如權(quán)利要求1所述的硒化鉛紅外探測器校準(zhǔn)方法,其特征在于,所述步驟2中將所述焦平面通過光學(xué)系統(tǒng)與標(biāo)準(zhǔn)黑體對準(zhǔn),黑體輻射均勻照射在所述焦平面上,并充滿硒化鉛紅外探測器的整個視場。
3.如權(quán)利要求2所述的硒化鉛紅外探測器校準(zhǔn)方法,其特征在于,將黑體輻射源的溫度控制在預(yù)設(shè)溫度定標(biāo)點(diǎn)上。
4.如權(quán)利要求1所述的硒化鉛紅外探測器校準(zhǔn)方法,其特征在于,所述步驟8之后,所述方法還包括:
步驟9:根據(jù)所述步驟8中的校正結(jié)果得出校正后的圖像。
5.如權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的硒化鉛紅外探測器校準(zhǔn)方法,其特征在于,所述校正方法中采用的光源均為紅外光源。