本發(fā)明涉及通信電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片測試方法。
背景技術(shù)：
芯片在封裝廠封裝完成封裝后要進行封裝良率的測試。目前常用的測試方式是在自動化測試機上進行測試，測試機的基本測試原理是：
芯片的通用輸入輸出引腳(generalpurposeinput/outputpin，gpiopin)和測試機上的gpiopin相連，通過編程將芯片的gpiopin配置成輸出口，它可以輸出高電平或者低電平；測試機的gpiopin配置成輸入口，如果檢測到芯片發(fā)出的高電平或者低電平，那么表明芯片的gpiopin輸出功能沒有問題；反之將測試機的gpiopin配置成輸出口，它可以輸出高電平或者低電平，芯片的gpiopin配置成輸入，如果檢測到測試機發(fā)出的高電平或者低電平，那么表明芯片的gpiopin輸入功能沒有問題。
通過這種方法測試了芯片gpiopin的輸出輸入功能，同時也驗證了引腳沒有短路和斷路，表明這個芯片封裝沒有問題。
但是目前的芯片測試需要制作芯片測試板，用于與測試機連接測試，而且租用自動化測試機有租用費用，增加了芯片的成本。
技術(shù)實現(xiàn)要素：
本發(fā)明實施例提供一種芯片測試方法，用于降低現(xiàn)有技術(shù)中由于測試而增加的芯片生產(chǎn)成本。
一種芯片測試方法，所述方法包括：
將待測試芯片的通用輸入輸出引腳兩兩連接；
按照預(yù)設(shè)方式對成對的通用輸入輸出引腳進行配置；
判斷成對的通用輸入輸出引腳是否可以進行通信。
可見，使用該方法時，在對芯片進行測試的過程中，僅需要將芯片的兩個引腳兩兩進行連接，一個作為輸入端，一個作為輸出端，然后對其進行信號輸 入輸出操作，如果輸入端能夠接收到輸出端的信號，則確定輸出端的輸出功能正常，輸入端的輸入功能正常；反之亦然?？梢娫摲椒ㄔ跍y試過程中不需要制作芯片測試板，也不需要與測試機連接即可進行測試，因此可降低由于測試工作而增加的芯片生產(chǎn)成本。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹。
圖1為本發(fā)明實施例提供的一種芯片測試方法的流程圖。
具體實施方式
為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案，并使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明中技術(shù)方案作進一步詳細的說明。
使用本發(fā)明實施例提供的方法時，在對芯片進行測試的過程中，僅需要將芯片的兩個引腳兩兩進行連接，一個作為輸入端，一個作為輸出端，然后對其進行信號輸入輸出操作，如果輸入端能夠接收到輸出端的信號，則確定輸出端的輸出功能正常，輸入端的輸入功能正常；反之亦然?？梢娫摲椒ㄔ跍y試過程中不需要制作芯片測試板，也不需要與測試機連接即可進行測試，因此可降低由于測試工作而增加的芯片生產(chǎn)成本。如圖1所示，該方法包括：
步驟11，將待測試芯片的通用輸入輸出引腳兩兩連接；
步驟12，按照預(yù)設(shè)方式對成對的通用輸入輸出引腳進行配置；
步驟13，判斷成對的通用輸入輸出引腳是否可以進行通信。
具體的，所述按照預(yù)設(shè)方式對成對的通用輸入輸出引腳進行配置包括：
所述成對的通用輸入輸出引腳包括第一引腳和第二引腳；
將所述第一引腳配置為輸入端口，所述第二引腳配置為輸出端口；
所述判斷成對的通用輸入輸出引腳是否可以進行通信包括：
當?shù)诙_輸出高電平或者低電平時，判斷所述第一引腳是否可以接收到 所述高電平或者低電平；如果可以，則說明所述第一引腳可接收信號，所述第二引腳可發(fā)出信號。
具體的，所述按照預(yù)設(shè)方式對成對的通用輸入輸出引腳進行配置包括：
所述成對的通用輸入輸出引腳包括第一引腳和第二引腳；
將所述第一引腳配置為輸出端口，所述第二引腳配置為輸入端口；
所述判斷成對的通用輸入輸出引腳是否可以進行通信包括：
當?shù)谝灰_輸出高電平或者低電平時，判斷所述第二引腳是否可以接收到所述高電平或者低電平；如果可以，則說明所述第二引腳可接收信號，所述第一引腳可發(fā)出信號。
具體的，所述判斷成對的通用輸入輸出引腳是否可以進行通信包括：
當所述第一引腳可以輸出或者輸入來自所述第二引腳的輸入或者輸出信號時，確定所述對的通用輸入輸出引腳可進行通信。
以下以具體實施例進行介紹：
本發(fā)明實施例提供的一種芯片測試方法可僅依賴于芯片本身進行測試，不需要依賴于其他測試機器，因此可大大節(jié)約芯片的生產(chǎn)成本，具體過程如下：
步驟一，將待測試芯片的通用輸入輸出引腳兩兩連接；即將相對應(yīng)的兩個gpiopin引腳進行連接；
步驟二，按照預(yù)設(shè)方式對成對的通用輸入輸出引腳進行配置；具體的本步驟中包括如下內(nèi)容：
一對的通用輸入輸出引腳包括第一引腳和第二引腳；
配置方式一：
將第一引腳配置為輸入端口，同時將第二引腳配置為輸出端口；然后執(zhí)行步驟三；
配置方式二：
將第一引腳配置為輸出端口，同時將第二引腳配置為輸入端口；然后執(zhí)行步驟四；
步驟三，使用第一方式對引腳進行測試，具體如下：
當?shù)诙_輸出高電平或者低電平時，測試第一引腳是否可以接收到該高電平或者低電平；如果可以，則說明所述第一引腳可接收信號，所述第二引腳可發(fā)出信號；然后執(zhí)行步驟五；
步驟四，使用第二方式對引腳進行測試，具體如下：
當?shù)谝灰_輸出高電平或者低電平時，測試第二引腳是否可以接收到該高電平或者低電平；如果可以，則說明第二引腳可接收信號，第一引腳可發(fā)出信號；然后執(zhí)行步驟五；
步驟五，判斷成對的通用輸入輸出引腳是否可以進行通信；具體的，本步驟包括：
當?shù)谝灰_可完成輸入來自第二引腳的信號，或者向第二引腳發(fā)出信號，則說明第一引腳正常；并且，當?shù)诙_可完成輸入來自第一引腳的信號，或者向第一引腳發(fā)出信號，則說明第二引腳正常；此時可確定該成對的引腳是可以正常工作的。
對所有成對引腳完成步驟三至步驟五即可實現(xiàn)對該芯片的測試。
綜上所述，有益效果：
使用本發(fā)明提供的測試方法時，在對芯片進行測試的過程中，僅需要將芯片的兩個引腳兩兩進行連接，一個作為輸入端，一個作為輸出端，然后對其進行信號輸入輸出操作，如果輸入端能夠接收到輸出端的信號，則確定輸出端的輸出功能正常，輸入端的輸入功能正常；反之亦然?？梢娫摲椒ㄔ跍y試過程中不需要制作芯片測試板，也不需要與測試機連接即可進行測試，因此可降低由于測試工作而增加的芯片生產(chǎn)成本。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。