本發(fā)明涉及一種電子材料中消耗臭氧物質(zhì)含量的檢測(cè)方法，屬于電子電氣產(chǎn)品中有毒有害物質(zhì)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
消耗臭氧物質(zhì)是指破壞大氣臭氧層、危害人類(lèi)生存環(huán)境的物質(zhì)，以下簡(jiǎn)稱(chēng)ods。據(jù)科學(xué)研究表明，工業(yè)上大量生產(chǎn)和使用的全氯氟烴、全溴氟烴等物質(zhì)被釋放并上升到平流層時(shí)，受到強(qiáng)烈的太陽(yáng)紫外線uv-c的照射，分解出cl.自由基和br.自由基，這些自由基很快與臭氧進(jìn)行連鎖反應(yīng)，每個(gè)cl.自由基可以摧毀10萬(wàn)個(gè)臭氧分子。目前ods包括下列物質(zhì)：cfc、哈龍(halon)、四氯化碳、甲基氯仿溴甲烷以及hcfc、hbfc等含鹵化合物。ods常用于電子線路板、精密金屬零部件的清洗劑；滅火系統(tǒng)或手提滅火器中的滅火劑；冰箱、冷凍機(jī)、空調(diào)等制冷設(shè)備中的制冷劑等，其中電子工業(yè)材料是ods的主要產(chǎn)生渠道。
對(duì)于電子材料中是否存在消耗臭氧物質(zhì)以及含量是多少，需要一種方便、快捷的檢測(cè)方法來(lái)檢測(cè)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
針對(duì)電子材料中需要檢測(cè)消耗臭氧物質(zhì)的含量，本發(fā)明提供一種可以快速定量檢測(cè)電子材料中消耗臭氧物質(zhì)含量的方法。
本發(fā)明包括一種使用帶有頂空進(jìn)樣器的氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀(gc-ms)快速測(cè)試電子材料中消耗臭氧物質(zhì)的含量的簡(jiǎn)便方法。
附圖說(shuō)明
附圖1為本發(fā)明實(shí)施例的操作流程圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合具體的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明，所述是對(duì)本發(fā)明的解釋而不是限定。本領(lǐng)域技術(shù)人員可由說(shuō)明書(shū)所揭示的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)與功效。
本發(fā)明也可通過(guò)其他不同的具體實(shí)例加以實(shí)施或應(yīng)用，本說(shuō)明書(shū)中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)亦可基于不同觀點(diǎn)與應(yīng)用。
本發(fā)明實(shí)施例的操作流程圖如附圖1所示，在室溫條件下稱(chēng)取2g樣品于頂空瓶中，精確至±0.1mg，用移液管或其他定量移取裝置緩慢加入10ml去離子水作萃取劑，用封瓶器將頂空瓶密封并搖勻待測(cè)，采用相同的試劑，在相同的條件下進(jìn)行空白實(shí)驗(yàn)，再配置好標(biāo)準(zhǔn)曲線溶液，用帶有頂空進(jìn)樣器的氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀(gc-ms)定量分析，建立標(biāo)準(zhǔn)曲線后，測(cè)定空白、樣品溶液，依據(jù)每個(gè)試樣的出峰保留時(shí)間和定量離子，由標(biāo)準(zhǔn)曲線查得樣品中所含臭氧消耗物質(zhì)系列所對(duì)應(yīng)的各個(gè)物質(zhì)和濃度。
本發(fā)明的樣品前處理過(guò)程中，加入的萃取劑也可根據(jù)樣品的不同沸點(diǎn)分別選擇其他試劑或不同含量(如加入10ml甲醇；加入10ml乙醇和水的混合物；加入0～5ml的去離子水等)。
上述實(shí)施例僅為示例性說(shuō)明本發(fā)明的原理及功效，而并非用于限制本發(fā)明。任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員均可在不違背本發(fā)明精神及范疇的前提下，對(duì)上述實(shí)施進(jìn)行合理的修飾與變化。因此，本發(fā)明的所有權(quán)利保護(hù)范圍，應(yīng)以權(quán)利要求書(shū)的范圍為依據(jù)。