技術編號：11690287
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種電子材料中消耗臭氧物質(zhì)含量的檢測方法，屬于電子電氣產(chǎn)品中有毒有害物質(zhì)檢測技術領域。背景技術消耗臭氧物質(zhì)是指破壞大氣臭氧層、危害人類生存環(huán)境的物質(zhì)，以下簡稱ODS。據(jù)科學研究表明，工業(yè)上大量生產(chǎn)和使用的全氯氟烴、全溴氟烴等物質(zhì)被釋放并上升到平流層時，受到強烈的太陽紫外線UV-C的照射，分解出Cl.自由基和Br.自由基，這些自由基很快與臭氧進行連鎖反應，每個Cl.自由基可以摧毀10萬個臭氧分子。目前ODS包括下列物質(zhì)：CFC、哈龍(Halon)、四氯化碳、甲基氯仿溴甲烷以及HCFC、H...
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