本發(fā)明涉及檢測裝置、檢測方法、處理裝置以及處理方法。

本申請基于2014年6月30日在日本申請的特愿2014-134352號要求優(yōu)先權(quán)，并將其內(nèi)容援引于此。

背景技術(shù)：

作為顯示立體圖像的方式，已知稱作FPR(Film Patterned Retarder：薄膜式圖案緩沖)方式的方式。在FPR方式的3D液晶顯示器中，為了分離右眼用圖像和左眼用圖像，在液晶面板的表面配置稱作FPR薄膜的圖案化相位差薄膜(參照專利文獻1)。

FPR薄膜包括右眼用偏振圖案列和左眼用偏振圖案列。右眼用偏振圖案列和左眼用偏振圖案列對應(yīng)于液晶面板的右眼用像素列和左眼用像素列而交替地配置。右眼用偏振圖案列和左眼用偏振圖案列互相在滯相軸的方向上正交。在配置有右眼用偏振圖案列和左眼用偏振圖案列的有效區(qū)域的外側(cè)，也有時會配置校準用的偏振圖案列。

在先技術(shù)文獻

專利文獻

專利文獻1：JP特開2012-32445號公報

技術(shù)實現(xiàn)要素：

發(fā)明要解決的課題

在FPR薄膜中，以微細的寬度形成多個偏振圖案列。因此，在將FPR薄膜切斷為給定的寬度或形狀，或者將FPR薄膜粘合到液晶面板時，必須準確地檢測偏振圖案列的位置，并基于該位置來校準FPR薄膜。

例如，在專利文獻1中，作為偏振圖案列的檢測裝置，記載有從FPR薄膜的下表面?zhèn)日丈涔獠腇PR薄膜的上表面?zhèn)扔蓴z像機拍攝的裝置。

在FPR薄膜與光源之間配置偏振片，在FPR薄膜與攝像機之間從FPR薄膜側(cè)依次配置相位差板(1/4波長板)和偏振片。右眼用偏振圖案列和左眼用偏振圖案列沿著薄膜的長邊方向延伸。這些偏振圖案列伴隨著FPR薄膜的開卷以及搬送而連續(xù)地被檢測。

但是，在專利文獻1的結(jié)構(gòu)中，由于在FPR薄膜的下表面?zhèn)仍O(shè)置有光源，因此無法在FPR薄膜的下表面?zhèn)扰渲弥С畜w。由此，必須在FPR薄膜未被支承體支承的不穩(wěn)定的位置處進行偏振圖案列的檢測。雖然也考慮在支承體設(shè)置貫通孔，但僅由通過貫通孔的光無法充分地對FPR薄膜進行照明。

此外，在FPR薄膜的最外表面設(shè)置保護用薄膜、分離用薄膜等保護薄膜。保護薄膜具有雙折射性，無意識地產(chǎn)生相位差。如果不存在保護薄膜，則右眼用偏振圖案列和左眼用偏振圖案列顯示為明圖案和暗圖案，但如果存在保護薄膜，則明圖案和暗圖案的對比度降低，無法明確地區(qū)分兩者。因此，在進行光學(xué)測定之前，需要剝離保護薄膜等的工夫。

此外，雖然FPR薄膜被粘合到液晶面板的顯示面?zhèn)鹊钠衿谋砻?，但近來也討論了將偏振片和FPR薄膜進行了一體化的偏振片一體型的FPR薄膜粘合到液晶面板的表面的情況。在該結(jié)構(gòu)中，由于偏振片的面內(nèi)的光學(xué)軸的偏差，上述的明圖案和暗圖案的對比度進一步降低，更加難以區(qū)分兩者。

本發(fā)明的目的在于提供一種能高精度地檢測偏振圖案列的檢測裝置、檢測方法、處理裝置以及處理方法。

用于解決課題的手段

本發(fā)明的第一方式所涉及的檢測裝置，檢測光學(xué)薄膜的多個偏振圖案列，該光學(xué)薄膜從第一面?zhèn)瘸虻诙鎮(zhèn)纫来卧O(shè)置有相位差層、圖案化相位差層以及偏振元件層，該圖案化相位差層包括滯相軸的方向互不相同的上述多個偏振圖案列，其中，上述檢測裝置包括：支承體，具有對上述光學(xué)薄膜的上述第一面進行支承的支承面，在上述支承面內(nèi)的至少一部分具有對從上述第二面?zhèn)认蛏鲜龅谝幻鎮(zhèn)韧高^了上述光學(xué)薄膜的光進行反射的反射面；光源部，從上述光學(xué)薄膜的上述第二面?zhèn)瘸蛭挥谏鲜龇瓷涿嫔系纳鲜龉鈱W(xué)薄膜照射光；攝像部，從上述光學(xué)薄膜的上述第二面?zhèn)扰臄z位于上述反射面上的上述光學(xué)薄膜的反射光像；濾色器，設(shè)置在從上述光源部朝向上述攝像部的上述光的光路上，通過吸收或者反射給定的波長成分的光來調(diào)整上述多個偏振圖案列的反射光像的對比度；以及圖案檢測部，基于上述光學(xué)薄膜的上述反射光像，來檢測位于上述反射面上的上述多個偏振圖案列。

在本發(fā)明的第一方式所涉及的檢測裝置中，上述圖案檢測部能夠基于上述多個偏振圖案列的反射光像的亮度或者顏色的差異，來檢測上述多個偏振圖案列。

本發(fā)明的第二方式所涉及的檢測裝置，檢測光學(xué)薄膜的多個偏振圖案列，該光學(xué)薄膜從第一面?zhèn)瘸虻诙鎮(zhèn)纫来卧O(shè)置有相位差層、偏振元件層以及圖案化相位差層，該圖案化相位差層包括滯相軸的方向互不相同的上述多個偏振圖案列，其中，上述檢測裝置包括：支承體，具有對上述光學(xué)薄膜的上述第一面進行支承的支承面，在上述支承面內(nèi)的至少一部分具有對從上述第二面?zhèn)认蛏鲜龅谝幻鎮(zhèn)韧高^了上述光學(xué)薄膜的光進行反射的反射面；光源部，從上述光學(xué)薄膜的上述第二面?zhèn)瘸蛭挥谏鲜龇瓷涿嫔系纳鲜龉鈱W(xué)薄膜照射光；偏振片，設(shè)置在從上述光源部朝向上述光學(xué)薄膜的上述光的光路上；攝像部，從上述光學(xué)薄膜的上述第二面?zhèn)扰臄z位于上述反射面上的上述光學(xué)薄膜的反射光像；濾色器，設(shè)置在從上述光源部朝向上述攝像部的上述光的光路上，通過吸收或者反射給定的波長成分的光來調(diào)整上述多個偏振圖案列的反射光像的對比度；以及圖案檢測部，基于上述光學(xué)薄膜的上述反射光像，來檢測位于上述反射面上的上述多個偏振圖案列。

在本發(fā)明的第二方式所涉及的檢測裝置中，上述圖案檢測部能夠基于上述多個偏振圖案列的反射光像的亮度或者顏色的差異，來檢測上述多個偏振圖案列。

在本發(fā)明的第二方式所涉及的檢測裝置中，能夠包括：調(diào)整部，對上述偏振片的偏振軸與上述偏振圖案列的滯相軸的相對角度進行調(diào)整。

本發(fā)明的第一方式所涉及的檢測方法，是檢測光學(xué)薄膜的多個偏振圖案列的檢測方法，該光學(xué)薄膜從第一面?zhèn)瘸虻诙鎮(zhèn)纫来卧O(shè)置有相位差層、圖案化相位差層以及偏振元件層，該圖案化相位差層包括滯相軸的方向互不相同的上述多個偏振圖案列，其中，上述檢測方法包括：支承步驟，通過支承體對上述光學(xué)薄膜的上述第一面進行支承，該支承體具有對上述光學(xué)薄膜的上述第一面進行支承的支承面，并在上述支承面內(nèi)的至少一部分具有對從上述第二面?zhèn)认蛏鲜龅谝幻鎮(zhèn)韧高^了上述光學(xué)薄膜的光進行反射的反射面；照射步驟，從上述光學(xué)薄膜的上述第二面?zhèn)瘸蛭挥谏鲜龇瓷涿嫔系纳鲜龉鈱W(xué)薄膜照射光；攝像步驟，從上述光學(xué)薄膜的上述第二面?zhèn)扰臄z位于上述反射面上的上述光學(xué)薄膜的反射光像；對比度調(diào)整步驟，通過由設(shè)置在上述光的光路上的濾色器吸收或者反射給定的波長成分的光，來調(diào)整上述多個偏振圖案列的反射光像的對比度；以及圖案檢測步驟，基于上述光學(xué)薄膜的上述反射光像，來檢測位于上述反射面上的上述多個偏振圖案列。

在本發(fā)明的第一方式所涉及的檢測方法中，能夠在上述圖案檢測步驟中，基于上述多個偏振圖案列的反射光像的亮度或者顏色的差異，來檢測上述多個偏振圖案列。

本發(fā)明的第二方式所涉及的檢測方法，是檢測光學(xué)薄膜的多個偏振圖案列的檢測方法，該光學(xué)薄膜從第一面?zhèn)瘸虻诙鎮(zhèn)纫来卧O(shè)置有相位差層、偏振元件層以及圖案化相位差層，該圖案化相位差層包括滯相軸的方向互不相同的上述多個偏振圖案列，其中，上述檢測方法包括：支承步驟，通過支承體對上述光學(xué)薄膜的上述第一面進行支承，該支承體具有對上述光學(xué)薄膜的上述第一面進行支承的支承面，并在上述支承面內(nèi)的至少一部分具有對從上述第二面?zhèn)认蛏鲜龅谝幻鎮(zhèn)韧高^了上述光學(xué)薄膜的光進行反射的反射面；照射步驟，經(jīng)由偏振片從上述光學(xué)薄膜的上述第二面?zhèn)瘸蛭挥谏鲜龇瓷涿嫔系纳鲜龉鈱W(xué)薄膜照射光；攝像步驟，從上述光學(xué)薄膜的上述第二面?zhèn)扰臄z位于上述反射面上的上述光學(xué)薄膜的反射光像；對比度調(diào)整步驟，通過由設(shè)置在上述光的光路上的濾色器吸收或者反射給定的波長成分的光，來調(diào)整上述多個偏振圖案列的反射光像的對比度；以及圖案檢測步驟，基于上述光學(xué)薄膜的上述反射光像，來檢測位于上述反射面上的上述多個偏振圖案列。

在本發(fā)明的第二方式所涉及的檢測方法中，能夠在上述圖案檢測步驟中，基于上述多個偏振圖案列的反射光像的亮度或者顏色的差異，來檢測上述多個偏振圖案列。

在本發(fā)明的第二方式所涉及的檢測方法中，能夠包括：調(diào)整步驟，對上述偏振片的偏振軸與上述偏振圖案列的滯相軸的相對角度進行調(diào)整。

本發(fā)明的第一方式所涉及的處理裝置，利用本發(fā)明的第一方式所涉及的檢測裝置來檢測光學(xué)薄膜的多個偏振圖案列，并基于上述偏振圖案列的位置對上述光學(xué)薄膜進行給定的處理，該光學(xué)薄膜從第一面?zhèn)瘸虻诙鎮(zhèn)纫来卧O(shè)置有相位差層、圖案化相位差層以及偏振元件層，該圖案化相位差層包括滯相軸的方向互不相同的上述多個偏振圖案列。

本發(fā)明的第二方式所涉及的處理裝置，利用本發(fā)明的第二方式所涉及的檢測裝置來檢測光學(xué)薄膜的多個偏振圖案列，并基于上述偏振圖案列的位置對上述光學(xué)薄膜進行給定的處理，該光學(xué)薄膜從第一面?zhèn)瘸虻诙鎮(zhèn)纫来卧O(shè)置有相位差層、偏振元件層以及圖案化相位差層，該圖案化相位差層包括滯相軸的方向互不相同的上述多個偏振圖案列。

本發(fā)明的第一方式所涉及的處理方法，利用本發(fā)明的第一方式所涉及的檢測方法來檢測光學(xué)薄膜的多個偏振圖案列，并基于上述偏振圖案列的位置對上述光學(xué)薄膜進行給定的處理，該光學(xué)薄膜從第一面?zhèn)瘸虻诙鎮(zhèn)纫来卧O(shè)置有相位差層、圖案化相位差層以及偏振元件層，該圖案化相位差層包括滯相軸的方向互不相同的上述多個偏振圖案列。

本發(fā)明的第二方式所涉及的處理方法，利用本發(fā)明的第二方式所涉及的檢測方法來檢測光學(xué)薄膜的多個偏振圖案列，并基于上述偏振圖案列的位置對上述光學(xué)薄膜進行給定的處理，該光學(xué)薄膜從第一面?zhèn)瘸虻诙鎮(zhèn)纫来卧O(shè)置有相位差層、偏振元件層以及圖案化相位差層，該圖案化相位差層包括滯相軸的方向互不相同的上述多個偏振圖案列。

另外，本發(fā)明中的“對光學(xué)薄膜進行給定的處理”是指，基于偏振圖案列的位置來控制光學(xué)薄膜相對于被粘合物的位置，或者在對光學(xué)薄膜進行切割加工時，控制光學(xué)薄膜在寬度方向上的偏移。

發(fā)明效果

根據(jù)本發(fā)明，能夠提供一種能高精度地檢測偏振圖案列的檢測裝置、檢測方法、處理裝置以及處理方法。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的第一實施方式所涉及的檢測裝置的示意圖。

圖2為本發(fā)明的第一實施方式的變形例所涉及的檢測裝置的示意圖。

圖3為本發(fā)明的第二實施方式所涉及的檢測裝置的示意圖。

圖4為本發(fā)明的第二實施方式的變形例所涉及的檢測裝置的示意圖。

圖5為表示光學(xué)薄膜的一例的剖視圖。

圖6為表示光學(xué)薄膜的反射光像的光量分布以及顏色分布的圖。

圖7為本發(fā)明的第三實施方式所涉及的檢測裝置的示意圖。

圖8為說明液晶面板和光學(xué)薄膜的相對粘合位置的調(diào)整方法的圖。

圖9A為說明由粘合滾筒向液晶面板粘合光學(xué)薄膜的粘合工序的圖。

圖9B為說明由粘合滾筒向液晶面板粘合光學(xué)薄膜的粘合工序的圖。

圖10為本發(fā)明的第四實施方式所涉及的檢測裝置的示意圖。

圖11為表示光學(xué)薄膜的一例的俯視圖。

圖12為切割加工裝置的示意圖。

具體實施方式

[第一實施方式]

圖1為本發(fā)明的第一實施方式所涉及的檢測裝置DA1的示意圖。

圖2為本發(fā)明的第一實施方式的變形例所涉及的檢測裝置的示意圖。

本實施方式的檢測裝置DA1包括支承體B1、攝像單元U1和圖案檢測部IP1。檢測裝置DA1檢測在光學(xué)薄膜OP1中包括的偏振圖案列OP12a、OP12b。

光學(xué)薄膜OP1至少包括相位差層OP11、圖案化相位差層OP12和偏振元件層OP13。從光學(xué)薄膜OP1的第一面(由支承體B1支承的一側(cè)的面)OP1a側(cè)朝向第二面(與由支承體B1支承的一側(cè)相反的一側(cè)的面)OP1b側(cè)，依次設(shè)置有相位差層OP11、圖案化相位差層OP12和偏振元件層OP13。光學(xué)薄膜OP1中的除相位差層OP11之外的部分為光學(xué)薄膜主體部OPC1。

圖案化相位差層OP12包括滯相軸RTAX的方向互不相同的多個偏振圖案列OP12a、OP12b。圖案化相位差層OP12例如包括滯相軸RTAX的方向互相正交的第一偏振圖案列OP12a和第二偏振圖案列OP12b。從光學(xué)薄膜OP1的法線方向觀察，第一偏振圖案列OP12a的滯相軸RTAX例如相對于偏振元件層OP13的偏振軸(透過軸)PLAX而呈順時針旋轉(zhuǎn)45°的角度。從光學(xué)薄膜OP1的法線方向觀察，第二偏振圖案列OP12b的滯相軸RTAX例如相對于偏振元件層OP13的偏振軸PLAX而呈逆時針旋轉(zhuǎn)45°的角度。第一偏振圖案列OP12a和第二偏振圖案列OP12b在與其長邊方向正交的方向上交替地配置。

相位差層OP11作為光學(xué)薄膜主體部OPC1的保護薄膜(保護用薄膜)，設(shè)置為能相對于光學(xué)薄膜主體部OPC1而剝離。保護薄膜通常通過二軸延伸來制造，具有雙折射性。保護薄膜與圖案化相位差層OP12、偏振元件層OP13等相比，無法充分地控制相位差。因此，保護薄膜會對透過了圖案化相位差層OP12的光無意識地賦予相位差。這種相位差會使光學(xué)測定的精度降低，因此應(yīng)排除，但是在本實施方式中，積極地利用這種相位差，來進行偏振圖案列OP12a、OP12b的檢測。關(guān)于這一點，在后面敘述。

光學(xué)薄膜OP1能包括相位差層OP11、圖案化相位差層OP12以及偏振元件層OP13以外的層。例如，能將圖5所示的光學(xué)薄膜OP3的一部分或者全部用作光學(xué)薄膜OP1。

圖5的光學(xué)薄膜OP3在厚度方向上依次包括第一相位差層(保護用薄膜)OP31、基材層OP33、光取向?qū)覱P34、圖案化相位差層OP35、第一粘接層OP36、偏振元件層OP37、第二粘接層OP38、偏振元件保護層OP39、粘附層OP40以及第二相位差層(分離用薄膜)OP41。光學(xué)薄膜OP3中的除第一相位差層OP31和第二相位差層OP41之外的部分為光學(xué)薄膜主體部OP42。

第一相位差層OP31與圖1的相位差層OP11對應(yīng)，圖案化相位差層OP35與圖1的圖案化相位差層OP12對應(yīng)，偏振元件層OP37與圖1的偏振元件層OP13對應(yīng)，光學(xué)薄膜主體部OP42與圖1的光學(xué)薄膜主體部OPC1對應(yīng)。在本實施方式中，例如能將從光學(xué)薄膜OP3剝離第二相位差層OP41而得到的光學(xué)薄膜OP45用作光學(xué)薄膜OP1。

以下，說明光學(xué)薄膜OP3的具體的結(jié)構(gòu)。

<偏振元件層>

偏振元件層OP37在入射的光中使具有某方向的振動面的光透過并吸收具有與該振動面正交的振動面的光。經(jīng)由偏振元件層OP37射出的光成為直線偏振光。

作為偏振元件層OP37，例如能夠采用通過以下工序制造而得到的偏振薄膜，即，對聚乙烯醇系樹脂薄膜進行單軸延伸的工序、通過由二色性染料對聚乙烯醇系樹脂薄膜進行染色而使二色性染料吸附的工序、由硼酸水溶液對吸附有二色性染料的聚乙烯醇系樹脂薄膜進行處理的工序、和在基于硼酸水溶液的處理后進行水洗的工序。

聚乙烯醇系樹脂能夠通過對聚乙酸乙烯酯系樹脂進行皂化而得到。聚乙酸乙烯酯系樹脂除了作為乙酸乙烯酯的均聚物的聚乙酸乙烯酯之外，還可以為乙酸乙烯酯和能與乙酸乙烯酯共聚的其他的單體的共聚物。作為能與乙酸乙烯酯共聚的其他的單體，例如能夠舉出不飽和羧酸類、烯烴類、乙烯基醚類、不飽和磺酸類、具有銨基的丙烯酰胺類等。

作為二色性染料，例如可采用碘、二色性的有機染料。在采用碘作為二色性染料的情況下，能夠采用在含有碘以及碘化鉀的水溶液中浸漬聚乙烯醇系樹脂薄膜并染色的方法。

聚乙烯醇系樹脂薄膜的單軸延伸可以在基于二色性染料的染色之前進行，也可以與基于二色性染料的染色同時進行，還可以在基于二色性染料的染色之后例如硼酸處理中進行。

關(guān)于偏振元件層OP37的厚度，例如能夠設(shè)為平均厚度為5μm以上且40μm以下。

<圖案化相位差層>

圖案化相位差層OP35將入射的直線偏振光作為兩種偏振狀態(tài)的光射出。圖案化相位差層OP35形成于光取向?qū)覱P34上。

光取向?qū)覱P34對于具有液晶性的材料(以下稱作液晶材料)而具有取向限制力。光取向?qū)覱P34采用聚合性的光取向材料來形成。作為光取向材料，采用的是通過被偏振光曝光從而發(fā)現(xiàn)取向限制力的材料。在通過向光取向材料曝光偏振光而發(fā)現(xiàn)取向限制力的基礎(chǔ)上聚合，從而形成保持了取向限制力的光取向?qū)覱P34。作為這種光取向材料，能夠采用通常公知的材料。

光取向?qū)覱P34例如包括取向限制力的方向互相正交的第一取向區(qū)域和第二取向區(qū)域。第一取向區(qū)域和第二取向區(qū)域分別在與光學(xué)薄膜OP3的一邊平行的方向上呈帶狀延伸。第一取向區(qū)域和第二取向區(qū)域在與自身的延伸方向正交的方向上交替設(shè)置。

圖案化相位差層OP35包括與光取向?qū)覱P34的第一取向區(qū)域?qū)?yīng)的第一偏振圖案列OP35a和與第二取向區(qū)域?qū)?yīng)的第二偏振圖案列OP35b。第一偏振圖案列OP35a和第二偏振圖案列OP35b的滯相軸互相正交。第一偏振圖案列OP35a使直線偏振光變化為第一圓偏振光。第二偏振圖案列OP35b使直線偏振光變化為旋轉(zhuǎn)方向與第一圓偏振光不同的第二圓偏振光。

圖案化相位差層OP35采用具有聚合性的官能團的液晶材料來形成。根據(jù)光取向?qū)覱P34所具有的第一取向區(qū)域以及第二取向區(qū)域的取向限制力使液晶材料在2個方向上排列，進而使液晶材料所具有的聚合性的官能團反應(yīng)，維持所采用的液晶材料的液晶相并使其固化，從而得到圖案化相位差層OP35。作為這種聚合性的液晶材料，能夠采用通常公知的材料。

<基材層>

基材層OP33用作對光取向?qū)覱P34以及圖案化相位差層OP35進行支承的基材。光取向?qū)覱P34以及圖案化相位差OP35通過在基材層OP33的表面涂敷光取向材料以及液晶材料，由此來形成。

作為基材層OP33的形成材料，例如能夠舉出三乙?；w維素(TAC)系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、聚乙烯醇系樹脂、聚苯乙烯系樹脂、(甲基)丙烯酸酯系樹脂、包含環(huán)狀聚烯烴系樹脂、聚丙烯系樹脂在內(nèi)的聚烯烴系樹脂、聚芳酯系樹脂、聚酰亞胺系樹脂、聚酰胺系樹脂等。

關(guān)于基材層OP33的厚度，例如能夠設(shè)為平均厚度為40μm以上且100μm以下。

<偏振元件保護層>

作為偏振元件保護層OP39的形成材料，能夠采用與上述的基材層OP33同樣的材料。作為這種材料，例如能夠舉出三乙?；w維素(TAC)系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、聚乙烯醇系樹脂、聚苯乙烯系樹脂、(甲基)丙烯酸酯系樹脂、包含環(huán)狀聚烯烴系樹脂、聚丙烯系樹脂在內(nèi)的聚烯烴系樹脂、聚芳酯系樹脂、聚酰亞胺系樹脂、聚酰胺系樹脂等。

關(guān)于偏振元件保護層OP39的厚度，例如能夠設(shè)為平均厚度為5μm以上且80μm以下。

<粘接層>

第一粘接層OP36以及第二粘接層OP38的形成材料，例如可舉出以采用了聚乙烯醇系樹脂或者聚氨酯樹脂的組成物作為主成分并溶解到水中或者使其分散到水中的水系粘接劑、含有光固化性樹脂和光陽離子聚合引發(fā)劑等的無溶劑的光固化性粘接劑。從制造時的體積收縮小、厚度的控制容易的觀點出發(fā)，作為第一粘接層OP36以及第二粘接層OP38的形成材料，優(yōu)選采用光固化性粘接劑，更優(yōu)選采用紫外線固化型粘接劑。

作為紫外線固化型粘接劑，只要以液狀的能涂敷的狀態(tài)提供，就能采用一直以來在偏振片的制造中使用的各種粘接劑。從耐候性、聚合性等觀點出發(fā)，紫外線固化型粘接劑優(yōu)選含有陽離子聚合性的化合物、例如環(huán)氧化合物、更具體地來說如JP特開2004-245925號公報所記載的那樣的在分子內(nèi)不具有芳香環(huán)的環(huán)氧化合物，作為紫外線固化性成分之一的粘接劑。

作為這種環(huán)氧化合物，例如可舉出對以雙酚A二縮水甘油醚為代表例的芳香族環(huán)氧化合物的原料的芳香族多羥基化合物進行核氫化，將其縮水甘油醚化而得到的氫化環(huán)氧化合物、在分子內(nèi)至少具有一個與脂環(huán)式環(huán)結(jié)合的環(huán)氧基的脂環(huán)式環(huán)氧化合物、脂肪族多羥基化合物的縮水甘油醚為代表例的脂肪族環(huán)氧化合物等。

在紫外線固化型粘接劑中，除了以環(huán)氧化合物作為代表例的陽離子聚合性化合物之外，調(diào)配通過聚合引發(fā)劑、尤其通過紫外線的照射而產(chǎn)生陽離子種或者路易斯酸，用于使陽離子聚合性化合物的聚合開始的光陽離子聚合引發(fā)劑。進而，在紫外線固化型粘接劑中，還可以調(diào)配通過加熱開始聚合的熱陽離子聚合引發(fā)劑、此外還有光增感劑等各種添加劑。

第一粘接層OP36以及第二粘接層OP38的形成材料可以相同，或者，也可以不同，但從生產(chǎn)率的觀點出發(fā)，在得到適度的粘接力的前提下，優(yōu)選采用相同的粘接劑來形成第一粘接層OP36以及第二粘接層OP38。

關(guān)于第一粘接層OP36以及第二粘接層OP38的厚度，例如能夠設(shè)為平均厚度為0.5μm以上且5μm以下。

<粘附層>

粘附層OP40例如用于將光學(xué)薄膜OP45粘合于液晶面板的顯示面。作為形成粘附層OP40的粘附劑，可舉出例如以丙烯酸系樹脂、有機硅系樹脂、聚酯、聚氨酯、聚醚等作為基礎(chǔ)樹脂的粘附劑。其中，以丙烯酸系樹脂作為基礎(chǔ)樹脂的丙烯酸系粘附劑由于在光學(xué)的透明性方面優(yōu)良，保持適度的濕潤性、凝聚力，進而在耐候性、耐熱性等方面優(yōu)良，在加熱、加濕的條件下難以產(chǎn)生浮起或剝離等的剝離問題，因此適合采用。

在構(gòu)成丙烯酸系粘附劑的丙烯酸系樹脂中，適合采用酯部分具有甲基、乙基、丁基或者2-乙基己基那樣的碳原子數(shù)為20以下的烷基的丙烯酸烷基酯、和(甲基)丙烯酸、(甲基)丙烯酸-2-羥基乙酯那樣的含官能團的(甲基)丙烯酸系單體的丙烯酸系共聚物。

包含這種丙烯酸系共聚物的粘附層OP40在粘合到液晶面板之后具有某些不良狀況從而需要剝離的情況下，不會在玻璃基板產(chǎn)生殘留糊料等，能夠較容易地進行剝離。優(yōu)選丙烯酸系共聚物的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度為25℃以下，更優(yōu)選為0℃以下。此外，該丙烯酸系共聚物通常具有10萬以上的重量平均分子量。

關(guān)于粘附層OP40的厚度，例如能夠設(shè)為平均厚度為1μm以上且40μm以下。

<第一相位差層>

第一相位差層(保護用薄膜)OP31與基材層OP33一起保護圖案化相位差層OP35。第一相位差層OP31設(shè)置為相對于基材層OP33自由剝離。

第一相位差層OP31采用在透明樹脂薄膜形成粘附/剝離性的樹脂層或者附著性的樹脂層，并賦予較弱的粘附性的相位差層。作為透明樹脂薄膜，例如能夠舉出聚對苯二甲酸乙二醇酯、聚萘二甲酸乙二醇酯、聚乙烯、以及聚丙烯那樣的熱可塑性樹脂的擠出薄膜、對它們進行組合的共擠出薄膜、將它們在單軸或者二軸上延伸的薄膜等。作為透明樹脂薄膜，優(yōu)選采用透明性以及均質(zhì)性優(yōu)良、且廉價的聚對苯二甲酸乙二醇酯或者聚乙烯的單軸或者二軸延伸薄膜。

作為粘附/剝離性的樹脂層，例如能夠舉出丙烯酸系粘附劑、天然橡膠系粘附劑、苯乙烯-丁二烯共聚樹脂系粘附劑、聚異丁烯系粘附劑、乙烯基醚系樹脂粘附劑、有機硅系樹脂粘附劑等。此外，作為附著性的樹脂層，例如能夠舉出乙烯-乙酸乙烯酯共聚樹脂等。作為粘附/剝離性的樹脂層，優(yōu)選采用透明性優(yōu)良的丙烯酸系粘附劑。

關(guān)于第一相位差層OP31的厚度，例如能夠設(shè)為平均厚度為15μm以上且75μm以下。

<第二相位差層>

第二相位差層(分離用薄膜)OP41覆蓋粘附層OP40來保護粘附層OP40。第二相位差層OP41設(shè)置為相對于粘附層OP40自由剝離。作為第二相位差層OP41，能夠采用與第一相位差層OP31同樣的透明樹脂薄膜。

關(guān)于第二相位差層OP41的厚度，例如能夠設(shè)為平均厚度為15μm以上且75μm以下。

返回到圖1，支承體B1具有對光學(xué)薄膜OP1的第一面OP1a進行支承的支承面B1a。支承體B1在支承面B1a內(nèi)的至少一部分，具有對從第二面OP1b側(cè)向第一面OP1a側(cè)透過了光學(xué)薄膜OP1的光進行反射的反射面RS1。反射面RS1的材料、結(jié)構(gòu)沒有特別限定。反射面RS1可以通過對支承體B1的表面進行鏡面加工來形成，也可以通過在支承體B1的表面配置金屬反射膜、反射型偏振片等的反射部件來形成。此外，支承面B1a可以整體成為反射面RS1，也可以僅支承面B1a的一部分區(qū)域成為反射面RS1。支承體B1只要能穩(wěn)定地保持光學(xué)薄膜OP1即可。支承體B1的形狀沒有特別限定，能夠采用板狀、柱狀、筒狀等任意的形狀。支承面B1a的形狀也能夠采用平面、彎曲面等任意的形狀。

攝像單元U1包括光源部IL1、攝像部CM1和濾色器CF1。攝像單元U1例如使光源部IL1和攝像部CM1接近地一體保持，以使得透過一個偏振圖案列并由反射面RS1反射的光會透過相同的一個偏振圖案列并入射到攝像部CM1。

光源部IL1朝向位于反射面RS1上的光學(xué)薄膜OP1，從光學(xué)薄膜OP1的第二面OP1b側(cè)照射光。濾色器CF1設(shè)置在從光源部IL1朝向攝像部CM1的光的光路上。濾色器CF1通過吸收或者反射給定的波長成分的光來調(diào)整多個偏振圖案列OP12a、OP12b的反射光像的對比度(反射光像的亮度之比)。濾色器CF1例如設(shè)置在從光源部IL1朝向光學(xué)薄膜OP1的光的光路上，但如圖2所示，也可以設(shè)置在從光學(xué)薄膜OP1朝向攝像部CM1的光的光路上、光學(xué)薄膜OP1與反射面RS1之間的光的光路上。

作為光源部IL1，能夠采用LED等公知的光源。光源部IL1例如朝向光學(xué)薄膜OP1照射白色光，但光源部IL1照射的光并不限于此。在本實施方式中，能夠根據(jù)相位差層OP11、圖案化相位差層OP12以及偏振元件層OP13的相位差、波長分散特性等，從光源部IL1照射適當?shù)牟ㄩL的光。

作為濾色器CF1，可以采用吸收給定的波長成分的光并透過剩余的波長成分的光的吸收型的濾光器，也可以采用反射給定的波長成分的光并透過剩余的波長成分的光的反射型的濾光器。作為吸收型的濾光器以及反射型的濾光器，能夠采用公知的濾光器。

攝像部CM1從光學(xué)薄膜OP1的第二面OP1b側(cè)拍攝位于反射面RS1上的光學(xué)薄膜OP1的反射光像。作為攝像部CM1，能夠采用CCD攝像機等公知的攝像部件。

圖案檢測部IP1基于光學(xué)薄膜OP1的反射光像來檢測位于反射面RS1上的偏振圖案列OP12a、OP12b，并提取偏振圖案列OP12a、OP12b的邊界線的位置信息。作為圖案檢測部IP1，能夠采用公知的圖像處理部件。由攝像部CM1拍攝到的反射光像的圖像信號通過圖案檢測部IP1變換為被數(shù)字數(shù)據(jù)化的圖像數(shù)據(jù)，實施顏色提取處理、二值化處理等公知的圖像處理。

關(guān)于第一偏振圖案列OP12a和第二偏振圖案列OP12b，滯相軸RTAX相對于偏振元件層OP13的偏振軸PLAX所構(gòu)成的方向互不相同。因此，透過偏振元件層OP13、圖案化相位差層OP12以及相位差層OP11并由反射面RS1進行反射從而再次透過了相位差層OP11、圖案化相位差層OP12以及偏振元件層OP13的光的亮度、顏色，在透過了第一偏振圖案列OP12a時和透過了第二偏振圖案列OP12b時不同。由此，圖案檢測部IP1基于第一偏振圖案列OP12a和第二偏振圖案列OP12b的反射光像的亮度或者顏色的差異，來檢測第一偏振圖案列OP12a和第二偏振圖案列OP12b。

在本實施方式中，通過由濾色器CF1對照射到光學(xué)薄膜OP1的光的波長進行變換，從而能夠使第一偏振圖案列OP12a和第二偏振圖案列OP12b的反射光像的亮度或者顏色有較大不同。由此，第一偏振圖案列OP12a和第二偏振圖案列OP12b的檢測變得容易。

例如，圖6中所示的(a)表示在光源部IL1的前面不配置濾色器CF1并從光源部IL1照射了白色光的情況下的光學(xué)薄膜OP1的反射光像的顏色分布。圖6中所示的(b)表示在光源部IL1的前面不配置濾色器CF1并從光源部IL1照射了白色光的情況下的光學(xué)薄膜OP1的光量分布。圖6中所示的(c)表示在光源部IL1的前面配置濾色器CF1并從光源部IL1照射了白色光的情況下的光學(xué)薄膜OP1的反射光像的光量分布。

如圖6中的(a)以及(b)所示，產(chǎn)生以下那樣的現(xiàn)象，即，如果從光源部IL1照射白色光，則例如透過第一偏振圖案列OP12a并入射到攝像部CM1的光為紅色R且光量也大，相對于此，透過第二偏振圖案列OP12b并入射到攝像部CM1的光為綠色G且光量也小。

另一方面，如圖6中的(c)所示，如果在光源部IL1的前面配置例如吸收或者反射綠色G的光并透過紅色R的光的濾色器CF1，則幾乎不包括紅色R的第二偏振圖案列OP12b的反射光像變黑。由此，第一偏振圖案列OP12a的反射光像的亮度與第二偏振圖案列OP12b的反射光像的亮度之比(以下稱作“第一偏振圖案列與第二偏振圖案列的反射光像的對比度”)變大，第一偏振圖案列OP12a和第二偏振圖案列OP12b的檢測變得容易。

作為濾色器CF1，也能夠采用吸收或者反射紅色R的光并透過綠色G的光的濾色器。但是，采用透過顯示得更明亮的顏色(在圖6中例如為紅色R)的濾色器，在提高第一偏振圖案列OP12a與第二偏振圖案列OP12b的反射光像的對比度上更有利。

如上述那樣，第一偏振圖案列OP12a與第二偏振圖案列OP12b的反射光像的對比度根據(jù)入射到光學(xué)薄膜OP1的光的波長而不同。濾色器CF1對從光源部IL1照射的光的波長進行變換，以使得：與不采用濾色器CF1的情況相比，第一偏振圖案列OP12a與第二偏振圖案列OP12b的反射光像的對比度相對地變大。

其結(jié)果，例如，如圖6中的(b)所示，在從光源部IL1照射的第一光的波長分布中，即使在第一偏振圖案列OP12a與第二偏振圖案列OP12b的反射光像的對比度不充分的情況下，也能通過濾色器CF1將第一光的波長變換為不同的波長，從而如圖6中的(c)所示那樣實現(xiàn)高的對比度。

圖案檢測部IP1通過對反射光像的圖像數(shù)據(jù)實施顏色提取處理、二值化處理等公知的圖像處理，由此來檢測第一偏振圖案列OP12a以及第二偏振圖案列OP12b。關(guān)于顏色提取處理、二值化處理，也能選擇任一個處理來使用，但也能并用兩者來使用。例如，圖案檢測部IP1在反射光像的圖像數(shù)據(jù)中，提取具有顯示得明亮的顏色(在圖6中所示的(c)中例如為紅色R)的部分，對提取出的圖像數(shù)據(jù)進一步進行二值化處理，由此將第一偏振圖案列OP12a和第二偏振圖案列OP12b作為明圖案和暗圖案來檢測。上述那樣的顏色提取處理、二值化處理的算法在大多數(shù)情況下是公知的，不限于特定的檢測方法。

如上那樣，在本實施方式的檢測裝置DA1中，使透過了偏振元件層OP13以及圖案化相位差層OP12的光經(jīng)由相位差層OP11入射到反射面RS1，并使由反射面RS1反射的光再次經(jīng)由相位差層OP11入射到圖案化相位差層OP12以及偏振元件層OP13。因此，在由攝像部CM1拍攝的反射光像中，顏色、亮度不同的多個圖案列與第一偏振圖案列OP12a和第二偏振圖案列OP12b對應(yīng)地顯示。在本實施方式中，從光源部IL1照射的光的一部分由濾色器CF1吸收或者反射，以使得第一偏振圖案列OP12a與第二偏振圖案列OP12b的反射光像的對比度變大。由此，如果對該反射光像的圖像數(shù)據(jù)實施顏色提取處理、二值化處理等的圖像處理，則能夠高精度地檢測第一偏振圖案列OP12a和第二偏振圖案列OP12b。

例如，當相位差層OP11未設(shè)置在圖案化相位差層OP12與反射面RS1之間的情況下，由攝像部CM1拍攝的反射光像成為整面為黑色的圖像。由此，無法檢測第一偏振圖案列OP12a和第二偏振圖案列OP12b。通過相位差層OP11設(shè)置在圖案化相位差層OP12與反射面RS1之間，從而會產(chǎn)生從偏振元件層OP13漏出的光，該光的顏色、亮度也在透過了第一偏振圖案列OP12a時和透過了第二偏振圖案列OP12b時不同。

相位差層OP11與圖案化相位差層OP12、偏振元件層OP13等相比，無法充分地控制其相位差，因此在光學(xué)測定中產(chǎn)生不良狀況的情況較多。因此，需要在光學(xué)測定之前預(yù)先剝離相位差層等的工夫，但在本實施方式中，積極地利用相位差層OP11的相位差，不剝離相位差層OP11地檢測偏振圖案列OP12a、OP12b。由此，能夠提供一種能高精度且有效地檢測偏振圖案列OP12a、OP12b的檢測裝置以及檢測方法。

[第二實施方式]

圖3為本發(fā)明的第二實施方式所涉及的檢測裝置DA2的示意圖。

圖4為本發(fā)明的第二實施方式的變形例所涉及的檢測裝置的示意圖。

本實施方式的檢測裝置DA2包括支承體B2、攝像單元U2、圖案檢測部IP2和調(diào)整部PLR。檢測裝置DA2檢測在光學(xué)薄膜OP2中包括的偏振圖案列OP23a、OP23b。

光學(xué)薄膜OP2至少包括相位差層OP21、偏振元件層OP22和圖案化相位差層OP23。從光學(xué)薄膜OP2的第一面(由支承體B2支承的一側(cè)的面)OP2a側(cè)朝向第二面(與由支承體B2支承的一側(cè)相反的一側(cè)的面)OP2b側(cè)，依次設(shè)置有相位差層OP21、偏振元件層OP22和圖案化相位差層OP23。光學(xué)薄膜OP2中的除相位差層OP21之外的部分為光學(xué)薄膜主體部OPC2。

圖案化相位差層OP23包括滯相軸RTAX的方向互不相同的多個偏振圖案列OP23a、OP23b。圖案化相位差層OP23例如包括滯相軸RTAX的方向互相正交的第一偏振圖案列OP23a和第二偏振圖案列OP23b。從光學(xué)薄膜OP2的法線方向觀察，第一偏振圖案列OP23a的滯相軸RTAX例如相對于偏振元件層OP22的偏振軸(透過軸)PLAX1而呈順時針旋轉(zhuǎn)45°的角度。從光學(xué)薄膜OP2的法線方向觀察，第二偏振圖案列OP23b的滯相軸RTAX例如相對于偏振元件層OP22的偏振軸PLAX1而呈逆時針旋轉(zhuǎn)45°的角度。第一偏振圖案列OP23a和第二偏振圖案列OP23b在與其長邊方向正交的方向上交替地配置。

相位差層OP21作為光學(xué)薄膜主體部OPC2的保護薄膜(分離用薄膜)，設(shè)置為能相對于光學(xué)薄膜主體部OPC2而剝離。保護薄膜通常通過二軸延伸制造，具有雙折射性。保護薄膜與圖案化相位差層OP23、偏振元件層OP22等相比，無法充分控制相位差。因此，保護薄膜會對透過了圖案化相位差層OP23的光無意識地賦予相位差。這種相位差會使光學(xué)測定的精度降低，因此應(yīng)排除，但是在本實施方式中，積極地利用這種相位差，來進行偏振圖案列OP23a、OP23b的檢測。關(guān)于這一點，在后面敘述。

光學(xué)薄膜OP2能包括相位差層OP21、偏振元件層OP22以及圖案化相位差層OP23以外的層。在本實施方式中，例如，能將圖5所示的光學(xué)薄膜OP3用作光學(xué)薄膜OP2。在該情況下，第二相位差層OP41與圖3的相位差層OP21對應(yīng)，偏振元件層OP37與圖3的偏振元件層OP22對應(yīng)，圖案化相位差層OP35與圖3的圖案化相位差層OP23對應(yīng)，光學(xué)薄膜主體部OP42與圖3的光學(xué)薄膜主體部OPC2對應(yīng)。

支承體B2具有對光學(xué)薄膜OP2的第一面OP2a進行支承的支承面B2a。支承體B1在支承面B2a內(nèi)的至少一部分，具有對從第二面OP2b側(cè)向第一面OP2a側(cè)透過了光學(xué)薄膜OP2的光進行反射的反射面RS2。反射面RS2的材料、結(jié)構(gòu)沒有特別限定。反射面RS2可以通過對支承體B2的表面進行鏡面加工來形成，也可以通過在支承體B2的表面配置金屬反射膜、反射型偏振片等反射部件來形成。此外，支承面B2a可以整體成為反射面RS2，電可以僅支承面B2a的一部分區(qū)域成為反射面RS2。

支承體B2只要能穩(wěn)定地保持光學(xué)薄膜OP2即可。支承體B2的形狀沒有特別限定，能夠采用板狀、柱狀、筒狀等任意的形狀。支承面B2a的形狀也能夠采用平面、彎曲面等任意的形狀。

攝像單元U2包括光源部IL2、攝像部CM2、偏振片PLF和濾色器CF2。攝像單元U2例如使光源部IL2和攝像部CM2接近地一體保持，以使得透過一個偏振圖案列并由反射面RS2反射的光會透過相同的一個偏振圖案列并入射到攝像部CM2。

光源部IL2朝向位于反射面RS2上的光學(xué)薄膜OP2，從光學(xué)薄膜OP2的第二面OP2b側(cè)照射光。偏振片PLF設(shè)置在從光源部IL2朝向光學(xué)薄膜OP2的光的光路上。從光源部IL2照射的光透過偏振片PLF而變換為直線偏振光。作為光源部IL2，能夠采用LED等公知的光源。光源部IL2例如朝向光學(xué)薄膜OP2照射白色光，但光源部IL2照射的光并不限于此。在本實施方式中，能夠根據(jù)相位差層OP21、偏振元件層OP22、圖案化相位差層OP23以及偏振片PLF的相位差、波長分散特性等，從光源部IL2照射適當?shù)牟ㄩL的光。

濾色器CF2設(shè)置在從光源部IL2朝向攝像部CM2的光的光路上。濾色器CF2通過吸收或者反射給定的波長成分的光來調(diào)整多個偏振圖案列OP23a、OP23b的反射光像的對比度(反射光像的亮度之比)。濾色器CF2例如設(shè)置在從光源部IL2朝向光學(xué)薄膜OP2的光的光路上，但如圖4所示，也可以設(shè)置在從光學(xué)薄膜OP2朝向攝像部CM2的光的光路上、光學(xué)薄膜OP2與反射面RS2之間的光的光路上。濾色器CF2可以設(shè)置在偏振片PLF與光學(xué)薄膜OP2之間的光路上，也可以設(shè)置在光源部IL2與偏振片PLF之間的光路上。

作為濾色器CF2，可以采用吸收給定的波長成分的光并透過剩余的波長成分的光的吸收型的濾光器，也可以采用反射給定的波長成分的光并透過剩余的波長成分的光的反射型的濾光器。作為吸收型的濾光器以及反射型的濾光器，能夠采用公知的濾光器。

攝像部CM2從光學(xué)薄膜OP2的第二面OP2b側(cè)拍攝位于反射面RS2上的光學(xué)薄膜OP2的反射光像。作為攝像部CM2，能夠采用CCD攝像機等公知的攝像部件。

圖案檢測部IP2基于光學(xué)薄膜OP2的反射光像來檢測位于反射面RS2上的偏振圖案列OP23a、OP23b，并提取偏振圖案列OP23a、OP23b的邊界線的位置信息。作為圖案檢測部IP2，能夠采用公知的圖像處理部件。由攝像部CM2拍攝到的反射光像的圖像信號通過圖案檢測部IP2變換為被數(shù)字數(shù)據(jù)化的圖像數(shù)據(jù)，實施顏色提取處理、二值化處理等公知的圖像處理。

關(guān)于第一偏振圖案列OP23a和第二偏振圖案列OP23b，滯相軸RTAX相對于偏振片PLF的偏振軸(透過軸)PLAX2所構(gòu)成的方向互不相同。因此，透過偏振片PLF、圖案化相位差層OP23、偏振元件層OP22以及相位差層OP21并由反射面RS2反射從而再次透過了相位差層OP21、偏振元件層OP22以及圖案化相位差層OP23的光的亮度、顏色，在透過了第一偏振圖案列OP23a時和透過了第二偏振圖案列OP23b時不同。由此，圖案檢測部IP2基于第一偏振圖案列OP23a和第二偏振圖案列OP23b的反射光像的亮度或者顏色的差異，來檢測第一偏振圖案列OP23a和第二偏振圖案列OP23b。

在本實施方式中，通過由濾色器CF2對照射到光學(xué)薄膜OP2的光的波長進行變換，從而能使第一偏振圖案列OP23a和第二偏振圖案列OP23b的反射光像的亮度或者顏色有較大不同。由此，第一偏振圖案列OP23a和第二偏振圖案列OP23b的檢測變得容易。

圖案檢測部IP2通過對反射光像的圖像數(shù)據(jù)實施顏色提取處理、二值化處理等公知的圖像處理，由此來檢測第一偏振圖案列OP23a以及第二偏振圖案列OP23b。關(guān)于顏色提取處理、二值化處理，也能選擇任一個處理來使用，但也能并用兩者來使用。例如，圖案檢測部IP2在反射光像的圖像數(shù)據(jù)中，提取具有顯示得明亮的顏色的部分，對提取出的圖像數(shù)據(jù)進一步進行二值化處理，由此將第一偏振圖案列OP23a和第二偏振圖案列OP23b作為明圖案和暗圖案來檢測。上述那樣的顏色提取處理、二值化處理的算法在大多數(shù)情況下是公知的，不限于特定的檢測方法。

調(diào)整部PLR調(diào)整偏振片PLF的偏振軸PLAX2與偏振圖案列OP23a、OP23b的滯相軸RTAX的相對角度。通過調(diào)整部PLR調(diào)整第一偏振圖案列OP23a以及第二偏振圖案列OP23b的滯相軸RTAX相對于偏振片PLF的偏振軸PLAX2而構(gòu)成的角度，從而能夠增大第一偏振圖案列OP23a與第二偏振圖案列OP23b的反射光像的非對稱性(顏色、亮度等的差異)。由此，圖案檢測部IP2能夠高精度地檢測位于反射面RS2上的偏振圖案列OP23a、OP23b。

另外，例如，通過調(diào)整部PLR將偏振片PLF粘貼到能旋轉(zhuǎn)的夾具之后，作業(yè)人員一邊確認光學(xué)薄膜OP2的反射光像一邊使粘貼到能旋轉(zhuǎn)的夾具的偏振片PLF按每個夾具旋轉(zhuǎn)，從而能夠進行上述的偏振片PLF的偏振軸PLAX2和偏振圖案列OP23a、OP23b的滯相軸RTAX的相對角度的調(diào)整。在該情況下，能夠設(shè)為如下的次序，即，作業(yè)人員一邊確認光學(xué)薄膜OP2的反射光像一邊使夾具旋轉(zhuǎn)，在判斷為第一偏振圖案列OP23a與第二偏振圖案列OP23b的非對稱性最大的位置處，停止夾具的旋轉(zhuǎn)。另一方面，通過調(diào)整部PLR利用省略圖示的電動機等使夾具旋轉(zhuǎn)，從而也能自動地進行上述的相對角度的調(diào)整。此外，上述的相對角度的調(diào)整可以在每一次的工序中實施，但也可以在卷料輥(參照圖12中的符號R1)更換時確認光學(xué)薄膜OP2的反射光像，在該反射光像中的非對稱性大的情況下不進行相對角度的調(diào)整，僅在非對稱性小且圖案識別不良時進行調(diào)整。

如上那樣，在本實施方式的檢測裝置DA2中，也是積極地利用相位差層OP21的相位差，不剝離相位差層OP21地檢測偏振圖案列OP23a、OP23b。因此，能夠提供一種能高精度且有效地檢測偏振圖案列OP23a、OP23b的檢測裝置以及檢測方法。在本實施方式中，從光源部IL2照射的光的一部分由濾色器CF2吸收或者反射，以使得第一偏振圖案列OP23a與第二偏振圖案列OP23b的反射光像的對比度變大。進而，在本實施方式中，通過調(diào)整部PLR能夠增大第一偏振圖案列OP23a與第二偏振圖案列OP23b的反射光像的非對稱性。由此，偏振圖案列OP23a、OP23b的檢測精度提高。

[第三實施方式]

圖7為本發(fā)明的第三實施方式所涉及的檢測裝置DA3的示意圖。

圖8為說明對液晶面板P和光學(xué)薄膜F1的相對粘合位置進行調(diào)整的方法的圖。

圖9A以及圖9B為說明向液晶面板P粘合光學(xué)薄膜F1的粘合工序的圖。

如圖7所示，本實施方式的檢測裝置DA3包括支承體(粘合滾筒)32、攝像單元35和圖案檢測部IP3。檢測裝置DA3檢測在光學(xué)薄膜F1中包括的偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖8)。

如圖7～圖9A、圖9B所示，本實施方式的檢測裝置DA3構(gòu)成了基于偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖8)的位置(例如，偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置)將光學(xué)薄膜F1校準并粘合到液晶面板P的粘合裝置13的一部分。粘合裝置13除了檢測裝置DA3之外，還包括控制裝置25、驅(qū)動裝置42、粘合臺41、攝像單元36等。支承體32為將保持于保持面32a的光學(xué)薄膜F1粘合到液晶面板P的滾筒狀的粘合部件。由此，以下將“支承體”標記為“粘合滾筒”來進行說明。

光學(xué)薄膜F1與圖1所示的光學(xué)薄膜OP1同樣地，至少從第一面(由粘合滾筒32支承的一側(cè)的面)側(cè)朝向第二面(與由粘合滾筒32支承的一側(cè)相反的一側(cè)的面)側(cè)，依次包括相位差層、圖案化相位差層和偏振元件層。在本實施方式中，例如能夠?qū)D5所示的光學(xué)薄膜OP45用作光學(xué)薄膜F1。偏振圖案列APAa以及偏振圖案列DPAa與圖5的第一偏振圖案列OP35a對應(yīng)，偏振圖案列APAb以及偏振圖案列DPAb與圖5的第二偏振圖案列OP35b對應(yīng)。

如圖7所示，光學(xué)薄膜F1為包括與液晶面板P的顯示區(qū)域?qū)χ玫挠行^(qū)域AC、和與位于液晶面板P的顯示區(qū)域的周邊部的周邊區(qū)域?qū)χ玫闹苓厖^(qū)域SR在內(nèi)的片狀的薄膜。

如圖7以及圖8所示，在有效區(qū)域AC中，滯相軸的方向互不相同的多個偏振圖案列DPAa、DPAb與液晶面板P的多個像素列對應(yīng)地設(shè)置。在液晶面板P的顯示區(qū)域，交替地配置顯示右眼用圖像的右眼用像素列和顯示左眼用圖像的左眼用像素列。因此，在有效區(qū)域AC中，交替地配置與右眼用像素列對應(yīng)的右眼用偏振圖案列DPAa、和與左眼用像素列對應(yīng)的左眼用偏振圖案列DPAb。

在周邊區(qū)域SR中，交替地配置滯相軸的方向與右眼用偏振圖案列DPAa平行的第一偏振圖案列APAa、和滯相軸的方向與左眼用偏振圖案列DPAb平行的第二偏振圖案列APAb。設(shè)置于周邊區(qū)域SR的偏振圖案列APAa、APAb能夠單獨地或者與設(shè)置于有效區(qū)域AC的偏振圖案列DPAa、DPAb一起，用作用于使光學(xué)薄膜F1與液晶面板P校準的校準基準。為了使偏振圖案列APAa、APAb的檢測變得容易，例如能使設(shè)置于周邊區(qū)域SR的偏振圖案列APAa、APAb之中的至少一個偏振圖案列的寬度比設(shè)置于有效區(qū)域AC的偏振圖案列DPAa、DPAb的寬度寬。

如圖7所示，粘合滾筒32具有與光學(xué)薄膜F1的寬度方向平行的圓筒狀的保持面32a。保持面32a為對光學(xué)薄膜F1的第一面(圖5的第一相位差層OP31的下表面)進行支承的支承面。保持面32a例如具有比光學(xué)薄膜F1的粘合面(圖5的粘附層OP40的表面)弱的粘貼力，光學(xué)薄膜F1的表面保護薄膜(圖5的第一相位差層OP31)能反復(fù)地被粘貼、剝離。粘合滾筒32例如通過在金屬制的滾筒的外周面纏繞粘附片來制作。該粘附片的表面成為保持面32a。保持面32a的寬度方向中央部為保持光學(xué)薄膜F1的保持區(qū)域FA。

粘合滾筒32在保持面32a內(nèi)的多處，具有對從第二面?zhèn)认虻谝幻鎮(zhèn)韧高^了光學(xué)薄膜F1的光進行反射的反射面39。反射面39例如通過在保持面32a的表面配置金屬反射膜、反射型偏振片等反射部件來形成。

反射面39在保持面32a內(nèi)被設(shè)置在配置有成為校準基準的偏振圖案列的部分。配置有反射面39的位置成為能檢測偏振圖案列的檢測區(qū)域。能夠?qū)⒃O(shè)置于保持面32a的多個檢測區(qū)域之中的一個或者多個檢測區(qū)域中所檢測到的偏振圖案列設(shè)為校準基準。在本實施方式中，例如在保持區(qū)域FA的中央部和兩端部，分別沿著粘合滾筒32的旋轉(zhuǎn)方向而以互相相等的間隔來設(shè)置同一形狀的多個反射面39。保持區(qū)域FA的中央部所設(shè)置的反射面39與光學(xué)薄膜F1的有效區(qū)域AC的中央部對置。保持區(qū)域FA的端部所設(shè)置的反射面39與光學(xué)薄膜F1的有效區(qū)域AC和周邊區(qū)域SR的邊界線對置。

驅(qū)動裝置42使粘合滾筒32繞著旋轉(zhuǎn)軸RA旋轉(zhuǎn)，并且使粘合滾筒32在與旋轉(zhuǎn)軸RA正交的水平方向以及鉛垂方向上移動。驅(qū)動裝置42與控制裝置25電連接，通過控制裝置25來控制驅(qū)動裝置42的驅(qū)動。

攝像單元35包括光源部35a、攝像部35b和濾色器35d。攝像單元35例如使光源部35a和攝像部35b接近地一體保持，以使得透過一個偏振圖案列并由反射面39反射的光會透過相同的一個偏振圖案列并入射到攝像部35b。在圖7中，為了方便，僅表示了一個攝像單元35，但攝像單元35例如能夠與反射面39的設(shè)置位置相對應(yīng)地在粘合滾筒32的寬度方向(與旋轉(zhuǎn)軸RA平行的方向)上設(shè)置多個。此外，可以設(shè)置使攝像單元35在粘合滾筒32的寬度方向上移動的移動機構(gòu)，并通過一個攝像單元35來檢測多個檢測區(qū)域的偏振圖案列。

光源部35a朝向位于反射面39上的光學(xué)薄膜F1，從光學(xué)薄膜F1的第二面?zhèn)日丈涔狻V色器35d設(shè)置在從光源部35a朝向攝像部35b的光的光路上。濾色器35d通過吸收或者反射給定的波長成分的光來調(diào)整多個偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的反射光像的對比度(反射光像的亮度之比)。濾色器35d例如設(shè)置在從光源部35a朝向光學(xué)薄膜F1的光的光路上，但也可設(shè)置在從光學(xué)薄膜F1朝向攝像部35b的光的光路上、光學(xué)薄膜F1與反射面39之間的光的光路上。

作為光源部35a，能夠采用LED等公知的光源。光源部35a例如朝向光學(xué)薄膜F1照射白色光，但光源部35a照射的光并不限于此。例如，能夠根據(jù)在光學(xué)薄膜F1中包括的相位差層、圖案化相位差層以及偏振元件層的相位差、波長分散特性等，從光源部35a照射適當?shù)牟ㄩL的光。

作為濾色器35d，可以采用吸收給定的波長成分的光并透過剩余的波長成分的光的吸收型的濾光器，也可以采用反射給定波長成分的光并透過剩余的波長成分的光的反射型的濾光器。作為上述那樣的吸收型的濾光器以及反射型的濾光器，能夠采用公知的濾光器。

攝像部35b從光學(xué)薄膜F1的第二面?zhèn)扰臄z位于反射面39上的光學(xué)薄膜F1的反射光像。作為攝像部35b，能夠采用CCD攝像機等公知的攝像部件。

圖案檢測部IP3基于光學(xué)薄膜F1的反射光像來檢測位于反射面39上的偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖8)，并提取偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置信息。作為圖案檢測部IP3，能夠采用公知的圖像處理部件。由攝像部35b拍攝到的反射光像的圖像信號通過圖案檢測部IP3變換為被數(shù)字數(shù)據(jù)化的圖像數(shù)據(jù)，實施顏色提取處理、二值化處理等公知的圖像處理。如上所述，滯相軸的方向不同的兩個偏振圖案列的反射光像的顏色、亮度互不相同。因此，通過對圖像數(shù)據(jù)實施顏色提取處理、二值化處理等圖像處理，從而能夠高精度地檢測偏振圖案列。

在本實施方式中，通過濾色器35d對照射到光學(xué)薄膜F1的光的波長進行變換，從而能夠使偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖8)的反射光像的亮度或者顏色有較大不同。由此，偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的檢測變得容易。

控制裝置25取得圖案檢測部IP3提取出的偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖8)的邊界線的位置信息?？刂蒲b置25基于偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置信息來確認光學(xué)薄膜F1相對于粘合滾筒32的配置位置。控制裝置25基于偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置信息，通過驅(qū)動裝置(未圖示)使粘合臺41(參照圖8)分別在與粘合滾筒32的旋轉(zhuǎn)軸RA正交的方向以及與粘合滾筒32的旋轉(zhuǎn)軸RA平行的方向上移動，或者通過旋轉(zhuǎn)裝置(未圖示)使粘合臺41在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn)。由此，進行為了調(diào)整在粘合臺41保持的液晶面板P、和在粘合滾筒32保持的光學(xué)薄膜F1的相對粘合位置的校準。

控制裝置25構(gòu)成為包括計算機系統(tǒng)。計算機系統(tǒng)包括CPU等運算處理部、存儲器、硬盤等存儲部。圖案檢測部IP3的功能通過運算處理部來實現(xiàn)。控制裝置25包括能執(zhí)行與計算機系統(tǒng)的外部裝置的通信的接口，綜合地控制檢測裝置DA3、驅(qū)動裝置42以及粘合臺41(參照圖8)等外部裝置的動作。

以下，采用圖8，說明液晶面板P與光學(xué)薄膜F1的相對粘合位置的調(diào)整方法。在圖8中，右部分的圖為在粘合滾筒32粘貼的光學(xué)薄膜F1的配置位置的說明圖，左部分的圖為在粘合臺41保持的液晶面板P的配置位置的說明圖，下部分的圖為粘合臺41的調(diào)整量的說明圖。在圖8中，為了方便，省略反射面39的圖示。

如圖8的右部分所示，通過攝像單元35拍攝在保持面32a粘貼保持的光學(xué)薄膜F1的角部。在光學(xué)薄膜F1，在與沿著粘合滾筒32的旋轉(zhuǎn)軸的一邊平行的方向上排列設(shè)置有多個偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb。攝像單元35伴隨著粘合滾筒32的旋轉(zhuǎn)而拍攝沿著該旋轉(zhuǎn)方向的光學(xué)薄膜F1的一邊的兩角部。

圖7所示的圖案檢測部IP3基于由攝像單元35拍攝到的光學(xué)薄膜F1的角部的反射光像，來檢測位于光學(xué)薄膜F1的角部的偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb，并提取偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置信息。此外，圖案檢測部IP3檢測位于光學(xué)薄膜F1的角部的偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPA之中的特定的2個偏振圖案列(例如，最接近有效區(qū)域的周邊區(qū)域的2個偏振圖案列APAa、APAb)的邊界線的端部的位置，作為光學(xué)薄膜F1的角部的位置EGP。由圖案檢測部IP3檢測出的光學(xué)薄膜F1的角部的位置EGP成為將光學(xué)薄膜F1粘合到液晶面板P時的光學(xué)薄膜F1的校準基準。

在以下的說明中，將由攝像單元35拍攝的光學(xué)薄膜F1的2個角部之間的沿著粘合滾筒32的周向的距離稱為攝像機間距離Lc。攝像機間距離Lc與上述的沿著光學(xué)薄膜F1的旋轉(zhuǎn)方向的一邊的長度大概相等。

例如，在伴隨著粘合滾筒32的旋轉(zhuǎn)而光學(xué)薄膜F1僅移動攝像機間距離Lc時，光學(xué)薄膜F1的角部EGP的位置從起點Ep1移動到終點Ep2。由攝像單元35以及圖案檢測部IP3檢測到的起點Ep1以及終點Ep2的位置信息被發(fā)送到控制裝置25?？刂蒲b置25如圖8的下部分所示，基于攝像機間距離Lc、和與粘合滾筒32的旋轉(zhuǎn)軸平行的方向上的起點Ep1和終點Ep2之間的距離Le(以下稱作起點/終點偏差Le。)，算出校正角度α(tanα＝Le/Lc)。

如圖8的左部分所示，通過后述的攝像單元36(參照圖9A以及圖9B)拍攝在粘合臺41保持的液晶面板P的角部。例如，對于液晶面板P的各角部賦予標記Pm(例如，在本實施方式中為3個標記Pm1、Pm2、Pm3)。由攝像單元36檢測到的第一標記Pm1、第二標記Pm2以及第三標記Pm3的位置信息被發(fā)送到控制裝置25。控制裝置25基于攝像單元36的檢測信息來控制粘合臺41的驅(qū)動，進行在粘合臺41保持的液晶面板P的校準。控制裝置25基于校正角度α來對省略圖示的旋轉(zhuǎn)裝置進行驅(qū)動控制，使粘合臺41在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn)角度α。由此，進行液晶面板P相對于粘合滾筒32的校準。

以下，采用圖9A以及圖9B，說明由粘合滾筒32向液晶面板P粘合光學(xué)薄膜F1的粘合工序。

如圖9A所示，控制裝置25使粘合滾筒32移動到粘合臺41的上方的給定位置?？刂蒲b置25基于光學(xué)薄膜F1的角部EGP的位置信息、和液晶面板P的第一標記Pm1、第二標記Pm2以及第三標記Pm3的位置信息，來進行粘合滾筒32和粘合臺41的校準，以使得光學(xué)薄膜F1的右眼用偏振圖案列DPAa以及左眼用偏振圖案列DPAb與設(shè)置于液晶面板P的右眼用像素以及左眼用像素呈平面地重疊。

控制裝置25通過在粘合時使粘合滾筒32下降，從而成為在保持面32a粘貼的光學(xué)薄膜F1的前端部被從上方按壓到液晶面板P的端部的狀態(tài)。

粘合滾筒32下降，以使得成為光學(xué)薄膜F1被按壓到液晶面板P的狀態(tài)。此時，粘合滾筒32通過將被保持面32a保持的光學(xué)薄膜F1按壓到液晶面板P來旋轉(zhuǎn)，由此將光學(xué)薄膜F1粘合到液晶面板P。

如圖9B所示，控制裝置25在粘合時，伴隨著粘合滾筒32的旋轉(zhuǎn)，使粘合臺41在與粘合滾筒32的旋轉(zhuǎn)軸正交的方向上相對移動。在本實施方式中，粘合滾筒32逆時針旋轉(zhuǎn)，粘合臺41朝紙面右方向移動。此外，也可構(gòu)成為，不使粘合臺41移動，使粘合滾筒32旋轉(zhuǎn)的同時使粘合滾筒32朝紙面左方向移動。

例如，粘合滾筒32的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動、和基于粘合臺41的液晶面板P的移動動作同步地進行。由此，能夠抑制在光學(xué)薄膜F1與液晶面板P之間產(chǎn)生摩擦。由此，能夠抑制偏離的同時使光學(xué)薄膜F1向液晶面板P進行粘合。

粘合滾筒32例如具有比光學(xué)薄膜F1的粘合面(圖5的粘附層OP40的表面)弱的粘貼力，能反復(fù)粘貼、剝離光學(xué)薄膜F1的表面保護薄膜(圖5的第一相位差層OP31)，因此，粘合面?zhèn)缺话磯旱揭壕姘錚的光學(xué)薄膜F1從保持面32a剝離并粘合到液晶面板P側(cè)。

雖然省略了圖示，但在液晶面板P的粘合光學(xué)薄膜F1的面相反的一側(cè)的面，粘合有偏振片、提高亮度的薄膜等光學(xué)薄膜。由此，可提供能立體顯示的光學(xué)顯示設(shè)備。

如上那樣，在本實施方式的檢測裝置DA3中，也與第一實施方式同樣，能高精度且有效地檢測偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb。本實施方式的粘合裝置13基于由檢測裝置DA3提取出的偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置信息來進行光學(xué)薄膜F1與液晶面板P的校準，因此能夠提高光學(xué)薄膜F1和液晶面板P的粘合精度。由此，能夠提供顯示質(zhì)量優(yōu)良的光學(xué)顯示設(shè)備。

[第四實施方式]

圖10為第四實施方式所涉及的檢測裝置DA4的示意圖。

圖11為表示光學(xué)薄膜F2的示意結(jié)構(gòu)的俯視圖。

圖12為切割加工裝置50的示意圖。

本實施方式的檢測裝置DA4包括支承體61、攝像單元62、圖案檢測部IP4和調(diào)整部63。檢測裝置DA4對在光學(xué)薄膜F2中包括的偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖11)進行檢測。

如圖10～圖12所示，本實施方式的檢測裝置DA3構(gòu)成了將光學(xué)薄膜F2沿著切割線SL1、SL2、SL3進行切割加工的切割加工裝置50的一部分。切割加工裝置50除了檢測裝置(第一檢測裝置)DA4之外，還包括薄膜提供部51、薄膜纏繞部52、53、邊料纏繞部54、第一偏移控制部55、第二偏移控制部56、第二檢測裝置57、切斷部58以及控制裝置70等。

光學(xué)薄膜F2與圖3所示的光學(xué)薄膜OP2同樣地，至少從第一面(由支承體61支承的一側(cè)的面)側(cè)朝向第二面(與由支承體61支承的一側(cè)相反的一側(cè)的面)側(cè)，依次包括相位差層、偏振元件層和圖案化相位差層。在本實施方式中，例如能將圖5所示的光學(xué)薄膜OP3用作光學(xué)薄膜F2。

如圖11所示，光學(xué)薄膜F2為在與長邊方向正交的寬度方向上交替地包括有效區(qū)域AC和周邊區(qū)域SR的長條狀的薄膜。有效區(qū)域AC例如為與圖8所示的液晶面板P的顯示區(qū)域?qū)χ玫牟糠?，周邊區(qū)域SR為與位于液晶面板P的顯示區(qū)域的周邊部的周邊區(qū)域?qū)χ玫牟糠帧?/p>

光學(xué)薄膜F2具有與多個液晶面板對應(yīng)的量(圖11中例如為與兩個液晶面板對應(yīng)的量)的寬度。光學(xué)薄膜F2采用后述的切割加工裝置50(參照圖12)沿著切割線SL1、SL2、SL3被切斷。切割線SL1、SL2、SL3被設(shè)定在周邊區(qū)域SR內(nèi)。由此，光學(xué)薄膜F2被分割為具有與一個液晶面板對應(yīng)的量的寬度的多個長條薄膜。分割得到的一個長條薄膜被剪切為液晶面板P的尺寸，采用圖9A以及圖9B所示的粘合裝置13而粘合到液晶面板P。

光學(xué)薄膜F2的有效區(qū)域AC以及周邊區(qū)域SR的結(jié)構(gòu)與在第三實施方式中所說明的結(jié)構(gòu)相同。由此，在此，省略其詳細的說明。切割線SL1、SL2、SL3例如被設(shè)定在設(shè)置于周邊區(qū)域SR的偏振圖案列APAa、APAb的邊界線的位置。

如圖10所示，支承體61具有與光學(xué)薄膜F2的寬度方向平行的圓柱狀的支承面61a。支承體61例如為構(gòu)成光學(xué)薄膜F2的搬送路徑FCL(參照圖12)的多個搬送輥中的一個搬送輥。支承體61支承光學(xué)薄膜F2的第一面(圖5的第二相位差層41的上表面)，并且伴隨著光學(xué)薄膜F2的搬送而旋轉(zhuǎn)。支承體61例如為實施了鏡面加工而成的金屬制的輥，支承面61a整體成為反射面。

攝像單元62包括光源部62a、攝像部62b、偏振片62c和濾色器62d。攝像單元62例如使光源部62a和攝像部62b接近地一體保持，以使得透過一個偏振圖案列并由反射面(支承面61a)反射的光會透過相同的一個偏振圖案列并入射到攝像部62b。

光源部62a朝向位于反射面上的光學(xué)薄膜F2，從光學(xué)薄膜F2的第二面(圖5的第一相位差層OP31的下表面)側(cè)照射光。偏振片62c設(shè)置在從光源部62a朝向光學(xué)薄膜F2的光的光路上。從光源部62a照射的光透過偏振片62c而變換為直線偏振光。作為光源部62a，能夠采用LED等公知的光源。光源部62a例如朝向光學(xué)薄膜F2照射白色光，但光源部62a照射的光不限于此。例如，能夠根據(jù)在光學(xué)薄膜F2中包括的相位差層、圖案化相位差層以及偏振元件層、偏振片62c的相位差、波長分散特性等，從光源部62a照射適當?shù)牟ㄩL的光。

濾色器62d被設(shè)置在從光源部62a朝向攝像部62b的光的光路上。濾色器62d通過吸收或者反射給定的波長成分的光來調(diào)整多個偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的反射光像的對比度(反射光像的亮度之比)。濾色器62d例如被設(shè)置在從光源部62a朝向光學(xué)薄膜F2的光的光路上，但也可設(shè)置在從光學(xué)薄膜F2朝向攝像部62b的光的光路上、光學(xué)薄膜F2與反射面(支承面61a)之間的光的光路上。濾色器62d可以設(shè)置在偏振片62c與光學(xué)薄膜F2之間的光路上，也可以設(shè)置在光源部62a與偏振片62c之間的光路上。

作為濾色器62d，可以采用吸收給定的波長成分的光并透過剩余的波長成分的光的吸收型的濾光器，也可以采用反射給定的波長成分的光并透過剩余的波長成分的光的反射型的濾光器。作為上述那樣的吸收型的濾光器以及反射型的濾光器，能夠采用公知的濾光器。

攝像部62b從光學(xué)薄膜F2的第二面?zhèn)扰臄z位于反射面上的光學(xué)薄膜F2的反射光像。作為攝像部62b，能夠采用CCD攝像機等公知的攝像部件。

圖案檢測部IP4基于光學(xué)薄膜F2的反射光像來檢測位于反射面上的偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb，并提取偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖11)的邊界線的位置信息。作為圖案檢測部IP4，能夠采用公知的圖像處理部件。由攝像部62b拍攝到的反射光像的圖像信號通過圖案檢測部IP4變換為被數(shù)字數(shù)據(jù)化的圖像數(shù)據(jù)，實施顏色提取處理、二值化處理等公知的圖像處理。如上述那樣，滯相軸的方向不同的兩個偏振圖案列的反射光像的顏色、亮度互不相同。因此，通過對圖像數(shù)據(jù)實施顏色提取處理、二值化處理等圖像處理，從而能夠高精度地檢測偏振圖案列。

在本實施方式中，通過濾色器62d對照射到光學(xué)薄膜F2的光的波長進行變換，從而能使偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖11)的反射光像的亮度或者顏色有較大不同。由此，偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的檢測變得容易。

調(diào)整部63對偏振片62c的偏振軸和偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖11)的滯相軸的相對角度進行調(diào)整。通過調(diào)整部63調(diào)整偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的滯相軸相對于偏振片62c的偏振軸而構(gòu)成的角度，從而能夠增大偏振圖案列APAa、DPAa與偏振圖案列APAb、DPAb的反射光像的非對稱性(顏色、亮度等的差異)。由此，圖案檢測部IP4能夠高精度地檢測位于反射面上的偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb。

控制裝置70取得圖案檢測部IP4提取出的偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置信息。控制裝置70基于偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置信息，來確認光學(xué)薄膜F2相對于支承體61的配置位置?？刂蒲b置70基于偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置信息，來檢測實際的光學(xué)薄膜F2的行駛位置相對于預(yù)先設(shè)定的行駛位置而偏離何種程度。

控制裝置70通過圖12所示的第一偏移控制部55使薄膜提供部51在與光學(xué)薄膜F2的搬送方向正交的寬度方向上移動，以使得減小光學(xué)薄膜F2的行駛位置的偏離。

控制裝置70構(gòu)成為包括計算機系統(tǒng)。計算機系統(tǒng)包括CPU等運算處理部、存儲器、硬盤等存儲部。圖案檢測部IP4的功能通過運算處理部來實現(xiàn)?？刂蒲b置70包括能執(zhí)行與計算機系統(tǒng)的外部裝置的通信的接口，綜合地控制第一檢測裝置DA4、薄膜提供部51、薄膜纏繞部52、53、邊料纏繞部54、第一偏移控制部55、第二偏移控制部56、第二檢測裝置57以及切斷部58等外部裝置的動作。

以下，采用圖12來說明切割加工裝置50的結(jié)構(gòu)。

薄膜提供部51保持纏繞有光學(xué)薄膜F2的卷料輥R1，并且將光學(xué)薄膜F2沿著其長邊方向陸續(xù)放出。在從薄膜提供部51陸續(xù)放出的光學(xué)薄膜F2的搬送路徑FCL中，從搬送方向上游側(cè)依次配置有第一偏移控制部55、第一檢測裝置DA4、第二偏移控制部56、第二檢測裝置57以及切斷部58。

采用第一檢測裝置DA4來檢測從薄膜提供部51陸續(xù)放出的光學(xué)薄膜F2的剛剛陸續(xù)放出之后的行駛位置。第一檢測裝置DA4檢測設(shè)置于光學(xué)薄膜F2的多個偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖11)?？刂蒲b置70基于由第一檢測裝置DA4檢測到的多個偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的位置(例如，偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置)，來檢測光學(xué)薄膜F2的行駛位置的偏離，控制第一偏移控制部55來控制光學(xué)薄膜F2的寬度方向的偏移。

采用第二檢測裝置57來檢測由第一偏移控制部55控制偏移之后的光學(xué)薄膜F2的行駛位置。第二檢測裝置57檢測設(shè)置于光學(xué)薄膜F2的多個偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖11)。控制裝置70基于由第二檢測裝置57檢測到的多個偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的位置(例如，偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置)，來檢測光學(xué)薄膜F2的行駛位置的偏離，控制第二偏移控制部56來控制光學(xué)薄膜F2的寬度方向的偏移。

第一偏移控制部55例如基于由第一檢測裝置DA4以及控制裝置70檢測到的光學(xué)薄膜F2的行駛位置的偏離，使由薄膜提供部51陸續(xù)放出光學(xué)薄膜F2的位置(卷料輥R1的位置)在光學(xué)薄膜F2的寬度方向上移動。通過第一偏移控制部55來粗略地控制光學(xué)薄膜F2的行駛位置的偏離。

第二檢測裝置57具有與第一檢測裝置DA4相同的結(jié)構(gòu)。第二檢測裝置57通過攝像單元67拍攝由支承體66的反射面反射的光學(xué)薄膜F2的反射光像，基于其攝像結(jié)果來檢測位于反射面上的偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖11)，并提取偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置信息。

控制裝置70取得第二檢測裝置57提取出的偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(參照圖11)的邊界線的位置信息?？刂蒲b置70基于偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置信息來確認光學(xué)薄膜F2相對于支承體66的配置位置。控制裝置70基于偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置信息，來檢測實際的光學(xué)薄膜F2的行駛位置相對于預(yù)先設(shè)定的行駛位置而偏離何種程度?？刂蒲b置70控制第二偏移控制部56來調(diào)整光學(xué)薄膜F2的行駛位置，以使得光學(xué)薄膜F2的行駛位置與預(yù)先設(shè)定的行駛位置一致。

第二偏移控制部56例如基于由第二檢測裝置57以及控制裝置70檢測到的光學(xué)薄膜F2的行駛位置的偏離，使支承光學(xué)薄膜F2的第一引導(dǎo)輥64以及第二引導(dǎo)輥65相對于光學(xué)薄膜F2的搬送方向而傾斜。第一引導(dǎo)輥64和第二引導(dǎo)輥65配置為旋轉(zhuǎn)軸互相平行。第二偏移控制部56使第一引導(dǎo)輥64和第二引導(dǎo)輥65的旋轉(zhuǎn)軸的方向相對于光學(xué)薄膜F2的行駛方向而一體傾斜。由此，光學(xué)薄膜F2的行駛位置在寬度方向上被微調(diào)整，光學(xué)薄膜F2在預(yù)先設(shè)定的行駛位置行駛。

此外，第二偏移控制部56也可為使支承光學(xué)薄膜F2的一根引導(dǎo)輥相對于光學(xué)薄膜F2的搬送方向而傾斜的結(jié)構(gòu)。

搬送到切斷部58的光學(xué)薄膜F2的行駛位置通過第一偏移控制部55以及第二偏移控制部56被精密地控制。第一偏移控制部55以及第二偏移控制部56的結(jié)構(gòu)并不限于上述的結(jié)構(gòu)。作為第一偏移控制部55，優(yōu)選能夠比第二偏移控制部56更大程度地調(diào)整光學(xué)薄膜F2的行駛位置。作為第二偏移控制部56，優(yōu)選能夠比第一偏移控制部105更精密地調(diào)整光學(xué)薄膜F1的行駛位置。

此外，第一偏移控制部55、第一檢測裝置DA4、第二偏移控制部56以及第二檢測裝置57的配置并不限于上述的情況。第一檢測裝置DA4可以在第一偏移控制部55的上游側(cè)，也可以在下游側(cè)。第二檢測裝置57可以在第二偏移控制部56的上游側(cè)，也可以在下游側(cè)。第二檢測裝置57只要比通過第一偏移控制部55控制光學(xué)薄膜F2的寬度方向的偏移的位置更靠下游側(cè)、且比通過切斷部58切斷光學(xué)薄膜F2的位置更靠上游側(cè)，來檢測光學(xué)薄膜F2的多個偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb即可。第二偏移控制部56只要比通過第一偏移控制部55控制光學(xué)薄膜F2的寬度方向的偏移的位置更靠下游側(cè)、且比通過切斷部58切斷光學(xué)薄膜F2的位置更靠上游側(cè)，來控制光學(xué)薄膜F2的寬度方向的偏移即可。

切斷部58沿著圖11中所示的切割線SL1、SL2、SL3切斷光學(xué)薄膜F2。切斷部58例如能夠由切斷刀、激光剪切器等構(gòu)成。切斷部58以與切割線SL1、SL2、SL3的配置間隔相同的間隔，在光學(xué)薄膜F2的寬度方向上配置多個?？刂蒲b置70通過第一偏移控制部55以及第二偏移控制部56來控制光學(xué)薄膜F2的行駛位置，以使得在切斷部58的正下方配置切割線SL1、SL2、SL3。切斷部58在比通過第一偏移控制部55以及第二偏移控制部56控制光學(xué)薄膜F2的寬度方向的偏移的位置更靠下游側(cè)，將光學(xué)薄膜F2沿著與其搬送方向平行的切割線SL1、SL2、SL3來切斷。

由切斷部58在寬度方向上被分割的光學(xué)薄膜F2之中的包括有效區(qū)域AC的部分，通過薄膜纏繞部52、53纏繞，并作為具有與一個液晶面板對應(yīng)的量的寬度的長條狀薄膜的卷料輥R2、R3來提供。由切斷部58被分割的光學(xué)薄膜F2之中的不包括有效區(qū)域AC的部分，通過邊料纏繞部54纏繞，被廢棄。

如上那樣，在本實施方式的第一檢測裝置DA4以及第二檢測裝置57中，電與第二實施方式同樣地，能高精度且有效地檢測偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb。本實施方式的切割加工裝置50基于由第一檢測裝置DA4以及第二檢測裝置57檢測到的偏振圖案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的邊界線的位置信息，來控制光學(xué)薄膜F2的行駛位置。因此，能夠高精度地進行行駛位置的控制。此外，由于采用第一偏移控制部55和第二偏移控制部56以兩階段地進行行駛位置的控制，因此能夠幾乎消除光學(xué)薄膜F2的行駛位置的偏離。由此，減少由于行駛位置的偏離而錯誤地切斷有效區(qū)域AC的可能性，成品率得以提高。此外，由于能夠縮窄考慮到行駛位置的偏離的剩余部分(周邊區(qū)域)的寬度，因此光學(xué)薄膜F2的浪費減少，制造成本降低。

以上，參照附圖對本發(fā)明所涉及的優(yōu)選的實施方式例進行了說明，但本發(fā)明并不限于所涉及的例子。在上述的例子中所示的各構(gòu)成部件的各種形狀、組合等只是一個例子，在不脫離本發(fā)明的主旨的范圍中，能基于設(shè)計要求等進行各種變更。

例如，在上述的實施方式中，作為具備本發(fā)明所涉及的檢測裝置的處理裝置的一例，舉出粘合裝置、切割加工裝置，但處理裝置并不限于此。本發(fā)明所涉及的檢測裝置以及檢測方法能夠適用于需要基于偏振圖案列的位置進行處理的各種處理裝置以及處理方法。

此外，在上述的實施方式中，說明了兩種偏振圖案列作為在圖案化相位差層中包括的偏振圖案列。但是，在圖案化相位差層中包括的偏振圖案列不限于兩種，也可設(shè)為三種以上。這種情況下，多個偏振圖案列的反射光像的亮度、顏色等也互不相同。由此，圖案檢測部能夠基于多個偏振圖案列的反射光像的亮度或者顏色的差異來檢測多個偏振圖案列。

在該情況下，濾色器例如能夠調(diào)整多個偏振圖案列的反射光像的對比度，以使得多個偏振圖案列的反射光像的對比度較之于不采用上述濾色器的情況而相對變大。

上述的“多個偏振圖案列的反射光像的對比度較之于不采用濾色器的情況而相對變大”意味著，從成為圖案檢測部的檢測對象的多個偏振圖案列之中提取全部互相相鄰的兩個偏振圖案列的組合，針對提取出的所有的組合算出兩個偏振圖案列的反射光像的亮度之比時，針對所有的組合算出的上述比中最小的比的值較之于不采用上述濾色器的情況而相對變大。

產(chǎn)業(yè)上的可利用性

根據(jù)本發(fā)明所涉及的檢測裝置、檢測方法、處理裝置以及處理方法，能夠提供可高精度地檢測偏振圖案列的檢測裝置、檢測方法、處理裝置以及處理方法。

符號說明

13...粘合裝置(處理裝置)、32...粘合滾筒(支承體)、32a...保持面(支承面)、35a...光源部、35b...攝像部、35d...濾色器、39...反射面、50...切割加工裝置(處理裝置)、57...第二檢測裝置、61...支承體、61a...支承面、62a...光源部、62b...攝像部、62c...偏振片、62d...濾色器、63...調(diào)整部、APAa、APAb、DPAa、DPAb...偏振圖案列、B1、B2...支承體、B1a、B2a...支承面、CF1、CF2...濾色器、CM1、CM2...攝像部、DA1、DA2、DA3、DA4...檢測裝置、F1、F2...光學(xué)薄膜、IL1、IL2...光源部、IP1、IP2、IP3、IP4...圖案檢測部、OP1、OP2、OP3、OP45...光學(xué)薄膜、OP1a、OP2a...第一面、OP1b、OP2b...第二面、OP11、OP21、OP31、OP41...相位差層、OP12、OP23、OP35...圖案化相位差層、OP12a、OP12b、OP23a、OP23b...偏振圖案列、OP13、OP22、OP37...偏振元件層、PLAX2...偏振片的偏振軸、PLF...偏振片、PLR...調(diào)整部、RS1、RS2...反射面、RTAX...偏振圖案列的滯相軸。