1.一種用于感測輥上的材料的外表面的感測裝置，其特征在于，所述感測裝置包括：
紅外激光源，所述紅外激光源被配置成用于將紅外激光輻射引導至所述輥上的材料的所述外表面；
單光子雪崩二極管檢測器，所述單光子雪崩二極管檢測器被配置成用于接收來自所述輥上的材料的所述外表面的反射紅外激光輻射；以及
控制器，所述控制器被耦合至所述紅外激光源和所述單光子雪崩二極管檢測器以基于所述紅外激光輻射的飛行時間確定到所述輥上的材料的所述外表面的距離。
2.如權利要求1所述的感測裝置，其特征在于，所述單光子雪崩二極管檢測器包括單光子雪崩二極管陣列。
3.如權利要求1所述的感測裝置，其特征在于，所述紅外激光源、所述單光子雪崩二極管檢測器和所述控制器形成為單個集成電路。
4.如權利要求1所述的感測裝置，其特征在于，所述紅外激光源具有在800至900納米范圍內的工作波長。
5.如權利要求1所述的感測裝置，其特征在于，所述紅外激光源包括垂直腔表面發(fā)射激光器。
6.如權利要求1所述的感測裝置，其特征在于，所述控制器被配置成用于確定在所述輥上的材料的量。
7.如權利要求6所述的感測裝置，其特征在于，所述感測裝置進一步包括至少一個指示器；并且所述控制器被配置成用于基于所確定的在所述輥上的材料的量操作所述至少一個指示器。
8.如權利要求1所述的感測裝置，其特征在于，所述輥是分配輥；并且所述控制器被配置成用于確定來自所述分配輥的材料的進料速率。
9.如權利要求8所述的感測裝置，其特征在于，所述感測裝置進一步包括至少一個指示器；并且所述控制器被配置成用于基于所確定的來自所述分配輥的材料的進料速率操作所述至少一個指示器。
10.如權利要求1所述的感測裝置，其特征在于，所述輥是卷取輥；并且所述控制器被配置成用于確定材料到所述卷取輥上的卷取速率。
11.如權利要求10所述的感測裝置，其特征在于，所述感測裝置進一步包括至少一個指示器；并且所述控制器被配置成用于基于所確定的材料在所述卷取輥上的卷取速率操作所述至少一個指示器。
12.一種用于感測輥上的材料的外表面的感測裝置，其特征在于，所述感測裝置包括：
紅外激光源，所述紅外激光源被配置成用于將紅外激光輻射引導至所述輥上的材料的所述外表面，所述紅外激光源包括垂直腔表面發(fā)射激光器；
單光子雪崩二極管檢測器，所述單光子雪崩二極管檢測器被配置成用于接收來自所述輥上的材料的所述外表面的反射紅外激光輻射，所述單光子雪崩二極管檢測器包括單光子雪崩二極管陣列；以及
控制器，所述控制器被耦合至所述紅外激光源和所述單光子雪崩二極管檢測器以基于所述紅外激光輻射的飛行時間確定到所述輥上的材料的所述外表面的距離。
13.如權利要求12所述的感測裝置，其特征在于，所述紅外激光源、所述單光子雪崩二極管檢測器和所述控制器形成為單個集成電路。
14.如權利要求12所述的感測裝置，其特征在于，所述紅外激光源具有在800至900納米范圍內的工作波長。
15.如權利要求12所述的感測裝置，其特征在于，所述控制器 被配置成用于確定在所述輥上的材料的量。
16.如權利要求12所述的感測裝置，其特征在于，所述輥是分配輥；并且所述控制器被配置成用于確定來自所述分配輥的材料的進料速率。
17.如權利要求12所述的感測裝置，其特征在于，所述輥是卷取輥；并且所述控制器被配置成用于確定材料到所述卷取輥上的卷取速率。
18.如權利要求12所述的感測裝置，其特征在于，所述感測裝置進一步包括耦合至所述控制器的至少一個指示器。