本發(fā)明涉及一種電路板，尤其是指一種具有第一聯(lián)合測試工作群組連接接口以及第二聯(lián)合測試工作群組連接接口使測試電路板彼此之間形成串接的適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽的測試電路板。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有進行待測試機板中快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽的測試多半是采用單一測試電路板進行，然而采用單一測試電路板進行待測試機板中快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽的測試僅能測試單一快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽，往往會產(chǎn)生測試信號覆蓋欠缺的問題，而不利于生產(chǎn)測試使用。

綜上所述，可知現(xiàn)有技術(shù)中長期以來一直存在現(xiàn)有對于待測試機板中快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽的測試信號覆蓋欠缺的問題，因此有必要提出改進的技術(shù)手段，來解決此一問題。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

有鑒于現(xiàn)有技術(shù)存在現(xiàn)有對于待測試機板中快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽的測試信號覆蓋欠缺的問題，本發(fā)明遂揭露一種適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽的測試電路板，其中：

本發(fā)明所揭露的適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽的測試電路板，其包含：測試電路板，測試電路板更包含：快捷外設(shè)互聯(lián)標準(peripheralcomponentinterconnectexpress，pci-e)連接接口、第一聯(lián)合測試工作群組(jointtestactiongroup，jtag)連接接口、第二聯(lián)合測試工作群組連接接口、聯(lián)合測試工作群組信號處理芯片、至少一聯(lián)合測試工作群組控制芯片、至少一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換(analog-to-digitalconverter，adc)芯片、開關(guān)(switch)芯片以及電壓轉(zhuǎn)換芯片。

快捷外設(shè)互聯(lián)標準連接接口是用以插接于快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽以形成電性連接；第一聯(lián)合測試工作群組連接接口是用以與測試訪問端口(testaccessport，tap)控制器電性連接，或是用以與其他測試電路板的第二聯(lián)合測試工作群組連接接口電性連接，以與其他測試電路板形成串接；第二聯(lián)合測試工作群組連接接口是用以與其他測試電路板的第一聯(lián)合測試工作群組連接接口電性連接；聯(lián)合測試工作群組信號處理芯片分別與第一聯(lián)合測試工作群組以及第二聯(lián)合測試工作群組電性連接，用以提高第一聯(lián)合測試工作群組以及第二聯(lián)合測試工作群組所傳遞聯(lián)合測試工作群組信號的穩(wěn)定性；至少一聯(lián)合測試工作群組控制芯片，聯(lián)合測試工作群組控制芯片與聯(lián)合測試工作群組信號處理芯片電性連接，用以進行快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽腳位的檢測、狀態(tài)控制以及集成電路總線(inter-integratedcircuit，iic)的模擬；至少一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片是模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片與聯(lián)合測試工作群組控制芯片電性連接，用以進行快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽腳位的電壓檢測；開關(guān)芯片是分別與聯(lián)合測試工作群組控制芯片以及模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片電性連接，用以進行快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽腳位的特別信號的檢測，以使特別信號能通過聯(lián)合測試工作群組控制芯片或是通過模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片進行檢測；及電壓轉(zhuǎn)換芯片是用以通過快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽取得電源供應(yīng)并對電源進行轉(zhuǎn)換以提供聯(lián)合測試工作群組信號處理芯片、聯(lián)合測試工作群組控制芯片、模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片開關(guān)芯片所需要的工作電壓。

本發(fā)明所揭露的電路板如上，與現(xiàn)有技術(shù)之間的差異在于通過測試電路板所具有的第一聯(lián)合測試工作群組連接接口以及第二聯(lián)合測試工作群組連接接口使得測試電路板彼此之間可以行成串接，藉以減少測試訪問端口控制器中測試訪問端口數(shù)量的要求，并且本發(fā)明所提出的測試電路板提供對所有測試信號的測試信號覆蓋性，便于生產(chǎn)線的使用，進而降低測試電路板的成本。

通過上述的技術(shù)手段，本發(fā)明可以達成減少測試訪問端口控制器中測試訪問端口數(shù)量的要求與提供對所有測試信號的測試信號覆蓋性的技術(shù)功效。

附圖說明

圖1繪示為本發(fā)明適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽測試電路板的架構(gòu)示意圖。

圖2繪示為本發(fā)明適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽測試電路板測試時的架構(gòu)示意圖。

【符號說明】

10測試電路板

101第一測試電路板

102第二測試電路板

11快捷外設(shè)互聯(lián)標準連接接口

12第一聯(lián)合測試工作群組連接接口

13第二聯(lián)合測試工作群組連接接口

14聯(lián)合測試工作群組信號處理芯片

15聯(lián)合測試工作群組控制芯片

16模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片

17開關(guān)芯片

18電壓轉(zhuǎn)換芯片

20待測試機板

21中央處理器

22快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽

221第一快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽

222第二快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽

23復(fù)雜可編程邏輯元件

具體實施方式

以下將配合圖式及實施例來詳細說明本發(fā)明的實施方式，藉此對本發(fā)明 如何應(yīng)用技術(shù)手段來解決技術(shù)問題并達成技術(shù)功效的實現(xiàn)過程能充分理解并據(jù)以實施。

以下首先要說明本發(fā)明所揭露的適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽的測試電路板，并請參考「圖1」以及「圖2」所示，「圖1」繪示為本發(fā)明適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽測試電路板的架構(gòu)示意圖；「圖2」繪示為本發(fā)明適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽測試電路板測試時的架構(gòu)示意圖。

本發(fā)明所揭露的測試電路板10更包含：快捷外設(shè)互聯(lián)標準(peripheralcomponentinterconnectexpress，pci-e)連接接口11、第一聯(lián)合測試工作群組(jointtestactiongroup，jtag)連接接口12、第二聯(lián)合測試工作群組連接接口13、聯(lián)合測試工作群組信號處理芯片14、至少一聯(lián)合測試工作群組控制芯片15、至少一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換(analog-to-digitalconverter，adc)芯片16、開關(guān)(switch)芯片17以及電壓轉(zhuǎn)換芯片18。

待測試機板20更包含：中央處理器(centralprocessingunit，cpu)21、多個快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽22以及復(fù)雜可編程邏輯元件(complexprogrammablelogicdevice，cpld)23。

測試電路板10的快捷外設(shè)互聯(lián)標準連接接口11是用以提供測試電路板10插接于待測試機板20的快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽22上以使測試電路板10與待測試機板20形成電性連接，待測試機板20的每一個快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽22可以插接一個測試電路板10。

測試電路板10的第一聯(lián)合測試工作群組連接接口12是用以與測試訪問端口控制器30電性連接，或是測試電路板10的第一聯(lián)合測試工作群組連接接口12是用以與其他測試電路板10的第二聯(lián)合測試工作群組連接接口13電性連接，以使測試電路板10與其他測試電路板10形成串接。

具體而言，待測試機板20具有第一快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽221以及第二快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽222，第一測試電路板101插接于待測試機板20的第一快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽221，第二測試電路板102插接于待測試機板20的第二快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽222，第一測試電路板101的第一聯(lián)合測試工作群組連接接口12與測試訪問端口控制器30電性連接，第一測試電路板101的第二聯(lián)合測試工作群組連接接口13與第二測試電路板102的第一聯(lián)合測 試工作群組連接接口12電性連接，藉以使得第一測試電路板101以及第二測試電路板102形成串接，在此僅為舉例說明之，并不以此局限本發(fā)明的應(yīng)用范疇。

測試電路板10的聯(lián)合測試工作群組信號處理芯片14分別與測試電路板10的第一聯(lián)合測試工作群組12以及測試電路板10的第二聯(lián)合測試工作群組13電性連接，測試電路板10的聯(lián)合測試工作群組信號處理芯片14是用以提高測試電路板10的第一聯(lián)合測試工作群組12以及測試電路板10的第二聯(lián)合測試工作群組13所傳遞聯(lián)合測試工作群組信號的穩(wěn)定性。

待測試機板20的中央處理器21是用以提供邊界掃描(boundaryscan)模式以供測試電路板10進行檢測，待測試機板20的復(fù)雜可編程邏輯元件23是用以控制待測試機板20的電源狀態(tài)。

測試訪問端口控制器30亦與待測試機板20的中央處理器21以及待測試機板20的復(fù)雜可編程邏輯元件23電性連接，并且測試訪問端口控制器30控制待測試機板20的復(fù)雜可編程邏輯元件23以控制待測試機板20的電源供電狀態(tài)，測試訪問端口控制器30亦控制待測試機板20的中央處理器21以及待測試機板20的復(fù)雜可編程邏輯元件23至邊界掃描工作模式，以及測試訪問端口控制器30通過測試電路板10的第一聯(lián)合測試工作群組連接接口12控制測試電路板10至邊界掃描工作模式。

測試電路板10的聯(lián)合測試工作群組控制芯片15與測試電路板10的聯(lián)合測試工作群組信號處理芯片14電性連接，測試電路板10的聯(lián)合測試工作群組控制芯片15是用以進行待測試機板20的快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽22腳位的檢測、測試電路板10的狀態(tài)控制以及測試電路板10的中集成電路總線的模擬。

測試電路板10的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片16與測試電路板10的聯(lián)合測試工作群組控制芯片15電性連接，測試電路板10的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片16是用以進行待測試機板20的快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽腳位22的電壓檢測。

測試電路板10的開關(guān)芯片17是分別與測試電路板10的聯(lián)合測試工作群組控制芯片15以及測試電路板10的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片16電性連接，測試電路板10的開關(guān)芯片17是用以進行待測試機板20的快捷外設(shè)互聯(lián)標準 插槽22腳位的特別信號的檢測，以使特別信號能通過聯(lián)合測試工作群組控制芯片15或是通過模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片16進行檢測。

測試電路板10的電壓轉(zhuǎn)換芯片18是用以通過測試電路板10的快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽22取得電源供應(yīng)并對電源進行轉(zhuǎn)換以提供測試電路板10的聯(lián)合測試工作群組信號處理芯片14、測試電路板10的聯(lián)合測試工作群組控制芯片15、測試電路板10的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片開關(guān)芯片16以及測試電路板10的開關(guān)芯片17所需要的工作電壓。

測試訪問端口控制器30于待測試機板20復(fù)雜可編程邏輯元件23、待測試機板20的中央處理器21以及測試電路板10的邊界掃描工作模式下通過測試電路板10的聯(lián)合測試工作群組控制芯片14、測試電路板10的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片15以及測試電路板10的開關(guān)芯片16以進行待測試機板20的快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽22腳位的檢測、狀態(tài)控制以及集成電路總線的模擬、待測試機板20的快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽22腳位的電壓檢測以及待測試機板20的快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽22腳位的特別信號的檢測。

綜上所述，可知本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)之間的差異在于通過測試電路板所具有的第一聯(lián)合測試工作群組連接接口以及第二聯(lián)合測試工作群組連接接口使得測試電路板彼此之間可以行成串接，藉以減少測試訪問端口控制器中測試訪問端口數(shù)量的要求，并且本發(fā)明所提出的測試電路板提供對所有測試信號的測試信號覆蓋性，便于生產(chǎn)線的使用，進而降低測試電路板的成本。

藉由此一技術(shù)手段可以來解決現(xiàn)有技術(shù)所存在現(xiàn)有對于待測試機板中快捷外設(shè)互聯(lián)標準插槽的測試信號覆蓋欠缺的問題，進而達成減少測試訪問端口控制器中測試訪問端口數(shù)量的要求與提供對所有測試信號的測試信號覆蓋性的技術(shù)功效。

雖然本發(fā)明所揭露的實施方式如上，惟所述的內(nèi)容并非用以直接限定本發(fā)明的專利保護范圍。任何本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域中的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明所揭露的精神和范圍的前提下，可以在實施的形式上及細節(jié)上作些許的更動。本發(fā)明的專利保護范圍，仍須以所附的權(quán)利要求書所界定者為準。