本發(fā)明屬于采用機械方法為特征的計量設備技術領域，具體的涉及一種內孔測量裝置。

背景技術：

在機械加工領域，加工齒圈時，內孔尺寸的精度要求很高，現有的內孔測量工具無法實現準確測量，隨著機械加工水平的不斷提高，現有的測量工具已經不能滿足人們的使用需求；關于內孔測量已經出現了很多設計，但是大多結構復雜、操作繁瑣、價格昂貴。因此，本發(fā)明旨在提出一種結構簡單、操作便捷的內孔測量工具，以滿足大直徑內孔的精確測量要求。

技術實現要素：

有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種內孔測量裝置，不僅能夠滿足內孔直徑的測量，而且具有結構簡單，測量精度高的優(yōu)點。

為達到上述目的，本發(fā)明提供如下技術方案：

一種內孔測量裝置，包括測量橫梁，所述測量橫梁的兩端分別設有調節(jié)機構；所述調節(jié)機構包括固定設置在所述測量橫梁端部的安裝座，所述安裝座上設有與所述測量橫梁垂直的滑孔，所述滑孔內設有滑柱，所述滑柱的一端設有與其垂直并與內孔端面配合的限位擋板，且所述安裝座上設有用于鎖定所述滑柱位置的位置鎖定機構；所述位置鎖定機構包括設置在所述安裝座上并與所述滑孔垂直的銷孔和與所述銷孔配合的鎖定銷，所述滑柱的外周壁上間隔地設有與所述鎖定銷配合的環(huán)形凹槽；兩個所述安裝座中，其中一個所述安裝座上設有與所述測量橫梁平行的定位頂桿，另一個所述安裝座上設有測量頭與所述測量橫梁平行的千分表。

進一步，所述安裝座上設有軸線與所述測量橫梁平行的安裝通孔。

進一步，所述定位頂桿上設有外螺紋，且所述定位頂桿延伸穿過對應的所述安裝通孔并采用與其螺紋配合的螺母限位固定。

進一步，所述千分表的測量頭延伸穿過對應的所述安裝通孔。

進一步，每一個所述安裝座上設有兩個滑孔，每一個所述滑孔內均設有滑柱。

進一步，所述安裝通孔設置在兩個所述滑孔之間。

本發(fā)明的有益效果在于：

本發(fā)明的內孔測量裝置，通過在測量橫梁的兩端分別設置調節(jié)機構，如此，利用滑孔和滑柱可方便地調節(jié)限位擋板的高度，進而調節(jié)測量橫梁的高度，以提高測量精度；通過在安裝座上設置銷孔和鎖定銷，利用鎖定銷與環(huán)形凹槽之間的限位配合關系，可鎖定滑柱的位置；通過在測量橫梁兩端的兩個安裝座上安裝定位頂桿和千分表，使用時，將定位頂桿頂在內孔內壁上，并使千分表的測量頭與內孔的內壁接觸配合，轉動測量橫梁，讀取千分表的最大讀數，即可測量內孔的直徑，具有結構簡單，測量精度高的優(yōu)點。

附圖說明

為了使本發(fā)明的目的、技術方案和有益效果更加清楚，本發(fā)明提供如下附圖進行說明：

圖1為本發(fā)明內孔測量裝置實施例的結構示意圖；

圖2為圖1的俯視圖；

圖3為滑柱和限位擋板的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本發(fā)明作進一步說明，以使本領域的技術人員可以更好的理解本發(fā)明并能予以實施，但所舉實施例不作為對本發(fā)明的限定。

如圖1所示，為本發(fā)明內孔測量裝置實施例的結構示意圖。本實施例的內孔測量裝置，包括測量橫梁1，測量橫梁1的兩端分別設有調節(jié)機構。本實施例的調節(jié)機構包括固定設置在測量橫梁1端部的安裝座2，安裝座2上設有與測量橫梁1垂直的滑孔，滑孔內設有滑柱3，滑柱3的一端設有與其垂直并與內孔端面配合的限位擋板4，且安裝座2上設有用于鎖定滑柱3位置的位置鎖定機構。本實施例的位置鎖定機構包括設置在安裝座2上并與滑孔垂直的銷孔8和與銷孔8配合的鎖定銷，滑柱3的外周壁上間隔地設有與鎖定銷配合的環(huán)形凹槽9。兩個安裝座2中，其中一個安裝座2上設有與測量橫梁1平行的定位頂桿5，另一個安裝座2上設有測量頭與測量橫梁1平行的千分表6。

進一步，安裝座2上設有軸線與測量橫梁1平行的安裝通孔，本實施例的定位頂桿5上設有外螺紋，且定位頂桿5延伸穿過對應的安裝通孔并采用與其螺紋配合的螺母7限位固定。調節(jié)螺母7的位置，可以橫向調節(jié)定位頂桿5的位置。本實施例的千分表6的測量頭延伸穿過對應的安裝通孔。

進一步，每一個安裝座2上設有兩個滑孔，每一個滑孔內均設有滑柱3，安裝通孔設置在兩個滑孔之間，采用該結構的安裝座2，支撐結構更加穩(wěn)定。

本實施例的內孔測量裝置，通過在測量橫梁的兩端分別設置調節(jié)機構，如此，利用滑孔和滑柱可方便地調節(jié)限位擋板的高度，進而調節(jié)測量橫梁的高度，以提高測量精度；通過在安裝座上設置銷孔和鎖定銷，利用鎖定銷與環(huán)形凹槽之間的限位配合關系，可鎖定滑柱的位置；通過在測量橫梁兩端的兩個安裝座上安裝定位頂桿和千分表，使用時，將定位頂桿頂在內孔內壁上，并使千分表的測量頭與內孔的內壁接觸配合，轉動測量橫梁，讀取千分表的最大讀數，即可測量內孔的直徑，具有結構簡單，測量精度高的優(yōu)點。

以上所述實施例僅是為充分說明本發(fā)明而所舉的較佳的實施例，本發(fā)明的保護范圍不限于此。本技術領域的技術人員在本發(fā)明基礎上所作的等同替代或變換，均在本發(fā)明的保護范圍之內。本發(fā)明的保護范圍以權利要求書為準。