1.一種探測(cè)器晶體位置表的建立方法，其特征在于包括以下步驟：
根據(jù)正電子湮滅事例分布，統(tǒng)計(jì)后形成反映晶體陣列分布的二維直方圖；
采用多種探測(cè)方法分別檢測(cè)二維直方圖中的晶體，并獲得相應(yīng)的數(shù)種判定結(jié)果；
將相應(yīng)的數(shù)種判定結(jié)果進(jìn)行融合，并根據(jù)融合后的判定結(jié)果的置信度確定在所述融合結(jié)果中無(wú)需矯正的部分及需要矯正的部分；
對(duì)融合結(jié)果中需要矯正的部分進(jìn)行矯正，獲得矯正后的判定結(jié)果；
使用矯正后的判定結(jié)果對(duì)二維直方圖中的晶體進(jìn)行分割，獲得晶體位置表。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測(cè)器晶體位置表的建立方法，其特征在于，所述多種探測(cè)方法包括探測(cè)方法一及探測(cè)方法二，采用探測(cè)方法一檢測(cè)二維直方圖中的晶體，獲得第一判定結(jié)果，包括晶體的位置信息、行信息及列信息；采用探測(cè)方法二，檢測(cè)二維直方圖中的晶體，獲得第二判定結(jié)果，包括晶體的位置信息、行信息及列信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的探測(cè)器晶體位置表的建立方法，其特征在于，所述探測(cè)方法一與探測(cè)方法二為相同類型或不同類型的探測(cè)方法。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的探測(cè)器晶體位置表的建立方法，其特征在于，所述探測(cè)方法一為晶體中心探測(cè)法，所述探測(cè)方法二為晶體邊界探測(cè)法。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測(cè)器晶體位置表的建立方法，其特征在于，所述融合結(jié)果包括針對(duì)每個(gè)探測(cè)到的晶體位置計(jì)算一個(gè)置信度。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的探測(cè)器晶體位置表的建立方法，其特征在于，所 述置信度從高到低分級(jí)為一級(jí)融合、二級(jí)融合、三級(jí)融合；
一級(jí)融合是指多個(gè)判定結(jié)果在相同晶體位置的行列信息都相同，此位置的融合結(jié)果無(wú)需矯正；
二級(jí)融合是指多個(gè)判定結(jié)果在相同位置都探測(cè)到了晶體，但其行列信息不相同或部分相同，此位置的融合結(jié)果需要矯正不一致的行列信息；
三級(jí)融合是指多個(gè)判定結(jié)果中僅少數(shù)在此位置探測(cè)到了晶體，在融合結(jié)果中此位置及其行列信息將被暫時(shí)棄用。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的探測(cè)器晶體位置表的建立方法，其特征在于，所述矯正不一致的行列信息是指根據(jù)高置信度的晶體位置及其行列信息對(duì)低置信度的晶體位置進(jìn)行行列擬合，從而得到低置信度晶體位置的新的行列信息。
8.一種探測(cè)器晶體位置表的建立系統(tǒng)，包括：
探測(cè)器單元，所述探測(cè)器單元包括多個(gè)閃爍晶體及光電倍增管，所述閃爍晶體用于獲得光子信號(hào)，光電倍增管用于將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)；
采樣單元，用于對(duì)所述電信號(hào)進(jìn)行數(shù)字采樣，獲得反映光子事例的位置分布的數(shù)據(jù)；
控制及數(shù)據(jù)處理單元，用于對(duì)光子事例的位置分布的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，并形成反映晶體陣列分布的二維直方圖；其特征在于：
所述控制及數(shù)據(jù)處理單元對(duì)二維直方圖中的晶體采用多種晶體探測(cè)方法檢測(cè)，獲得多種判定結(jié)果，并將判定結(jié)果進(jìn)行融合，并根據(jù)融合結(jié)果的置信度對(duì)判定結(jié)果進(jìn)行自動(dòng)矯正；
使用矯正后的判定結(jié)果對(duì)二維直方圖中的晶體進(jìn)行分割，獲得晶體位置表。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的探測(cè)器晶體位置表的建立系統(tǒng)，其特征在于，所述探測(cè)器晶體位置表的建立系統(tǒng)還包括顯示單元，用于顯示二維直方圖以及探 測(cè)到的晶體。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的探測(cè)器晶體位置表的建立系統(tǒng)，其特征在于，還包括存儲(chǔ)單元，所述存儲(chǔ)單元用于保存融合結(jié)果，所述融合結(jié)果包括針對(duì)每個(gè)探測(cè)到的晶體位置計(jì)算一個(gè)置信度。