本發(fā)明涉及一種檢測裝置，特別是涉及一種晶體管檢測裝置。

背景技術(shù)：

晶體管(例如SO-8、SOT363、SOT23、SOT-113、TO92)在使用前一般需要進(jìn)行檢測，以驗(yàn)證其功能正常。以SO-8為例，其包括一個G極(柵極)引腳、三個S極(源極)引腳、四個D極(漏極)引腳。

請參閱圖1，圖1為晶體管功能測試的一電路圖。該功能測試為測試源極和漏極之間的電阻R_DS，該電路需要在晶體管10的源極和漏極之間串接第一電源11及第一電阻12，在晶體管10的柵極和漏極之間串接第二電源13及第二電阻14。

請參閱圖2，圖2繪示為圖1晶體管功能測試電路的實(shí)物連接示意圖。如圖所示，所述晶體管10的一個四個漏極引腳、三個源極引腳、一個柵極引腳分別通過第一焊點(diǎn)15、第二焊點(diǎn)16、第三焊點(diǎn)17焊接于印刷線路板18上，直流電源19提供上述第一電源11及第二電源13，再通過導(dǎo)線連接以形成圖1中的電路。所述導(dǎo)線的一端焊接在所述第一焊點(diǎn)15、第二焊點(diǎn)16、第三焊點(diǎn)17上，另一端連接所述第一電阻12、第二電阻14或所述直流電源19。

然而，采用上述方式連接的測試電路，由于是使用具有夾具的導(dǎo)線連接所述電子元器件，并且該些電子元器件焊接在一電路板上。一方面，在檢測時接線拆線的流程較繁瑣；另一方面，因?qū)Ь€的夾具的散熱性能較差，且高溫焊接后所述晶體管功能參數(shù)不良可能會導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)。

有鑒于此，實(shí)有必要開發(fā)一種晶體管檢測裝置，以解決上述問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

因此，本發(fā)明的目的是提供一種晶體管檢測裝置，解決晶體管功能測試時接線拆線流程繁瑣，以及因?qū)Ь€的夾具的散熱性能較差，且高溫焊接后所述晶體管功能參數(shù)不良導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)的問題。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的晶體管檢測裝置，用來檢測晶體管的性能，包括：

基板，其上設(shè)有若干個固定孔，所述固定孔之間存在一定間距；

電阻，其安插固定于所述基板的固定孔上；

彈簧引腳，具有一彈簧及兩導(dǎo)電引腳，所述兩導(dǎo)電引腳安裝于該彈簧之上，其中一導(dǎo)電引腳連接所述電阻的一端，另一導(dǎo)電引腳連接所述晶體管的其中一引腳；

電源，具有兩組電源輸出口，所述兩組電源輸出口各具有一正極輸出端口 和一負(fù)極輸出端口；

連接導(dǎo)線，其一端連接于所述電源上，另一端具有夾持件，所述夾持件對應(yīng)夾持所述電阻的另一端。

可選的，所述彈簧引腳的兩導(dǎo)電引腳可進(jìn)行旋轉(zhuǎn)。

可選的，所述電阻至少2個。

可選的，所述電阻阻值在10Ω姆至100KΩ之間。

可選的，所述電源為直流電源。

可選的，所述電阻的阻值對應(yīng)所述晶體管測試用電阻的阻值。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本發(fā)明的晶體管檢測裝置，只需依據(jù)測試所需求阻值的電阻，將其固定在所述基板上，再將所述彈簧引腳的其中一導(dǎo)電引腳連接所述電阻，另一導(dǎo)電引腳連接所述晶體管的柵極引腳、源極引腳或者漏極引腳上。由于是將電阻固定在基板上，而所述晶體管的柵極引腳、源極引腳、漏極引腳與電阻之間的連接是通過彈簧引腳連接來完成，無須焊接。因此，既解決了測試時接線拆線的繁瑣流程，又可避免因?qū)Ь€夾具的散熱性能差，且高溫焊接后所述晶體管功能參數(shù)不良導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)的問題。

【附圖說明】

圖1繪示晶體管功能測試的一電路圖。

圖2繪示圖1晶體管功能測試電路的實(shí)物連接示意圖。

圖3繪示本發(fā)明的晶體管檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4繪示本發(fā)明的晶體管檢測裝置一較佳實(shí)施例的裝置結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】

請參閱圖3，圖3繪示本發(fā)明塑膠補(bǔ)償植釘裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的晶體管功能測試裝置，用來檢測晶體管10的性能，其包括：

基板20，其上設(shè)有若干個固定孔，所述固定孔之間存在一定間距；

電阻21，其安插固定于所述基板20的固定孔上；

彈簧引腳22，具有一彈簧223及兩導(dǎo)電引腳，所述兩導(dǎo)電引腳安裝于所述彈簧223之上，其中一導(dǎo)電引腳221連接所述電阻21的一端，另一導(dǎo)電引腳222連接所述晶體管10的其中一引腳；

電源23，具有兩組電源輸出口(231，232)，所述兩組電源輸出口(231，232)各具有一正極輸出端口和一負(fù)極輸出端口；

連接導(dǎo)線24，其一端連接于所述電源23上，另一端具有夾持件25，所述夾持件25對應(yīng)夾持所述電阻21的另一端。

其中，所述彈簧引腳22的兩導(dǎo)電引腳可進(jìn)行旋轉(zhuǎn)。

其中，所述彈簧引腳22至少為2個，以便晶體管10放置方位不同時，使其柵極、源極或者漏極引腳通過所述彈簧引腳22便捷地連接至所述電阻21。

其中，所述電阻21至少為2個。

其中，所述電阻21的阻值在10Ω姆至100KΩ之間。

其中，所述電源23為直流電源。

其中，所述電阻21的阻值對應(yīng)所述晶體管測試用電阻的阻值。

其中，所述晶體管、電阻及彈簧引腳安插于所述基板之上，測試完成之后可拆卸，以利回收使用。

請?jiān)賲㈤唸D4，圖4繪示本發(fā)明的晶體管檢測裝置一較佳實(shí)施例的裝置結(jié)構(gòu)示意圖。

于本實(shí)施例中，該晶體管檢測裝置檢測晶體管10源極和漏極之間的電阻R_DS。

于本實(shí)施例中，所述第一彈簧引腳22的一導(dǎo)電引腳221連接所述第一電阻21的一端，另一導(dǎo)電引腳222連接所述晶體管10的漏極引腳。

于本實(shí)施例中，所述電源輸出口231的負(fù)極輸出端口通過連接導(dǎo)線24連接至所述晶體管10的源極引腳，其正極輸出端口通過連接導(dǎo)線24連接至第一電阻21的另一端。

于本實(shí)施例中，所述第二彈簧引腳26的一導(dǎo)電引腳262連接所述第二電阻27的一端，另一導(dǎo)電引腳261連接所述晶體管10的柵極引腳。

于本實(shí)施例中，所述電源輸出口232的負(fù)極輸出端口通過連接導(dǎo)線24連接至所述晶體管10的源極引腳，其正極輸出端口通過連接導(dǎo)線24連接至第二電阻27的另一端。

于本實(shí)施例中，所述晶體管10是以SO-8為例，其它類型的晶體管10(例如SOT363、SOT23、SOT-113、TO92)也可以使用上述測試裝置。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本發(fā)明的晶體管檢測裝置，只需依據(jù)測試所需求阻值的電阻21，將其固定在所述基板20上，再通過彈簧引腳(22，26)將所述晶體管的柵極引腳、源極引腳、漏極引腳與電阻之間直接連接，無須進(jìn)行焊接。因此，本發(fā)明的晶體管檢測裝置既解決了測試時接線拆線的繁瑣流程，又可避免因?qū)Ь€夾具的散熱性能差，且高溫焊接后所述晶體管功能參數(shù)不良導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)的問題。